通信信息電纜故障測試儀及測試方法
【專利說明】
[0001]技術領域:
本發(fā)明涉及一種通信信息電纜故障測試儀及測試方法。
[0002]【背景技術】:
傳統(tǒng)的通信信息電纜故障測試中，人們曾使用過高靈敏度的電橋測試混線，地氣，絕緣不良等電阻性障礙點的位置，且取得了比較好的效果，但是操作復雜，計算繁瑣，不易掌握，且無法測試斷線障礙點的位置。
[0003]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
本發(fā)明的目的是提供一種通信信息電纜故障測試儀及測試方法。
[0004]上述的目的通過以下的技術方案實現(xiàn):
一種通信信息電纜故障測試儀，其組成包括:微控制器MCU，所述的微控制器MCU分別與邏輯單元CPLD和光電隔離器連接，所述的光電隔離器分別與RS232接口和程序輸入接口連接，所述的微控制器MCU分別與液晶顯示LCD和鍵盤連接，所述的邏輯單元CPLD分別與波形RAM和脈沖發(fā)生器、地址信號發(fā)生器、數(shù)據(jù)RAM連接，所述的地址信號發(fā)生器和波形RAM與告訴ADC采樣電路連接。
[0005]所述的通信信息電纜故障測試儀，所述的微控制器MCU采用AT89C58，測試范圍lkv_35kv通信電纜，測試距離lkm_15km。
[0006]一種利用所述的通信信息電纜故障測試儀的測試方法，通過微控制器AT89C58構成單片機系統(tǒng)，為控制與CPLD、存儲單元ARM、IXD液晶顯示、RS232通信接口、鍵盤和高速ADC電路構成整個控制系統(tǒng)，在CPLD邏輯單元為邏輯譯碼、地址發(fā)生器和脈沖控制，完成對通信信息電纜脈沖信號的發(fā)生、控制采樣，存儲單元由速度為12ns的高速RAM構成，存放通信信息電纜采樣波形數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)RAM存放處理后的波形數(shù)據(jù)，同時可將采集到的數(shù)據(jù)通過系統(tǒng)的RS232接口上傳到PC計算機保存、分析。
[0007]有益效果:
1.本發(fā)明在測量使用時可以代替?zhèn)鹘y(tǒng)的脈沖式測量，對通信電纜加上足夠高的電壓，電纜會發(fā)生介質擊穿現(xiàn)象，在擊穿瞬間故障點放電電弧短路，在放點前后產(chǎn)生電壓躍變，躍變電壓會在通信電纜故障點和電纜端頭之間來回反射，本發(fā)明測試儀可以將電纜端頭瞬時躍變電壓及來回反射波形記錄下來，別可知道波形來回發(fā)射的時間，在根據(jù)電波在電纜中的傳播速度根據(jù)算式可以得出故障點到測試端的距離。
[0008]本發(fā)明結構簡單，測量精度準確，誤差范圍較小，在1cnHBOcm之間。
[0009]【附圖說明】:
附圖1是本發(fā)明的結構示意圖。
[0010]附圖2是本發(fā)明ADC尚速米樣電路不意圖。
[0011]附圖3是本發(fā)明地址發(fā)生器和波形存儲器電路圖。
[0012]【具體實施方式】:
實施例1:
一種通信信息電纜故障測試儀，其組成包括:微控制器MCU，所述的微控制器MCU分別與邏輯單元CPLD和光電隔離器連接，所述的光電隔離器分別與RS232接口和程序輸入接口連接，所述的微控制器MCU分別與液晶顯示LCD和鍵盤連接，所述的邏輯單元CPLD分別與波形RAM和脈沖發(fā)生器、地址信號發(fā)生器、數(shù)據(jù)RAM連接，所述的地址信號發(fā)生器和波形RAM與告訴ADC采樣電路連接。
[0013]實施例2:
根據(jù)實施例1所述的通信信息電纜故障測試儀，所述的微控制器MCU采用AT89C58，測試范圍lkm_35km通信電纜，測試距離lkm_15km。
[0014]實施例3:
根據(jù)實施例1或2所述的通信信息電纜故障測試儀的測試方法，通過微控制器AT89C58構成單片機系統(tǒng)，為控制與CPLD、存儲單元ARM、IXD液晶顯示、RS232通信接口、鍵盤和高速ADC電路構成整個控制系統(tǒng)，在CPLD邏輯單元為邏輯譯碼、地址發(fā)生器和脈沖控制，完成對通信信息電纜脈沖信號的發(fā)生、控制采樣，存儲單元由速度為12ns的高速RAM構成，存放通信信息電纜采樣波形數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)RAM存放處理后的波形數(shù)據(jù)，同時可將采集到的數(shù)據(jù)通過系統(tǒng)的RS232接口上傳到PC計算機保存、分析。
【主權項】
1.一種通信信息電纜故障測試儀，其組成包括:微控制器MCU，其特征是:所述的微控制器MCU分別與邏輯單元CPLD和光電隔離器連接，所述的光電隔離器分別與RS232接口和程序輸入接口連接，所述的微控制器MCU分別與液晶顯示LCD和鍵盤連接，所述的邏輯單元CPLD分別與波形RAM和脈沖發(fā)生器、地址信號發(fā)生器、數(shù)據(jù)RAM連接，所述的地址信號發(fā)生器和波形RAM與ADC采樣電路連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的通信信息電纜故障測試儀，其特征是:所述的微控制器MCU采用AT89C58，測試范圍lkv-35kv通信電纜，測試距離lkm_15km。
3.一種利用權利要求1或2所述的通信信息電纜故障測試儀的測試方法，其特征是:通過微控制器AT89C58構成單片機系統(tǒng)，為控制與CPLD、存儲單元ARM、IXD液晶顯示、RS232通信接口、鍵盤和高速ADC電路構成整個控制系統(tǒng)，在CPLD邏輯單元為邏輯譯碼、地址發(fā)生器和脈沖控制，完成對通信信息電纜脈沖信號的發(fā)生、控制采樣，存儲單元由速度為12ns的高速RAM構成，存放通信信息電纜采樣波形數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)RAM存放處理后的波形數(shù)據(jù)，同時將采集到的數(shù)據(jù)通過系統(tǒng)的RS232接口上傳到PC計算機保存、分析。
【專利摘要】通信信息電纜故障測試儀及測試方法。傳統(tǒng)的通信信息電纜故障測試中操作復雜，計算繁瑣，不易掌握，且無法測試斷線障礙點的位置。一種通信信息電纜故障測試儀， 其組成包括：微控制器 MCU ，所述的微控制器 MCU 分別與邏輯單元 CPLD 和光電隔離器連接，所述的光電隔離器分別與 RS232 接口和程序輸入接口連接，所述的微控制器 MCU 分別與液晶顯示 LCD 和鍵盤連接，所述的邏輯單元 CPLD 分別與波形 RAM 和脈沖發(fā)生器、地質信號發(fā)生器、數(shù)據(jù) RAM 連接，所述的地址信號發(fā)生器和波形 RAM 與告訴 ADC 采樣電路連接。 本發(fā)明用于通信信息電纜故障測試儀及測試方法。
【IPC分類】G01R31-08
【公開號】CN104569743
【申請?zhí)枴緾N201510043076
【發(fā)明人】王忠禮, 馬惜平, 山傳文, 程艷明, 危厚琴
【申請人】北華大學
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2015年1月28日