一種機(jī)外校位方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種機(jī)外校位方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在現(xiàn)行的電子、機(jī)械器件加工過程中，一般需要將被加工件或被檢測件直接放置在加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備上，然后再對被加工件或被檢測件進(jìn)行校正、定位，之后進(jìn)行再加工或檢驗(yàn)，在對被加工件或被檢測件校正、定位的過程中，需要將加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備處于停機(jī)狀態(tài)(即:加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備是間歇性工作的，停機(jī)率較高)，甚至，在加工或檢測過程中需要重復(fù)或多次進(jìn)行校正、定位。采用上述方式，大大降低了加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備的工作效率，進(jìn)而影響了生產(chǎn)效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明實(shí)施例所要解決的技術(shù)問題是:提供一種機(jī)外校位方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中被加工件或被檢測件在加工或檢測過程中，需要重復(fù)校正、定位，導(dǎo)致加工機(jī)床或檢測設(shè)備停機(jī)，影響生廣效率的冋題。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案是:一種機(jī)外校位方法，包括以下步驟:
[0005](I)、選用與加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備相適配的定位夾具并將所述定位夾具定位于基準(zhǔn)座上；
[0006](2)、將被加工件或被檢測件裝夾至所述定位夾具上；
[0007](3)、通過校正裝置對所述被加工件或被檢測件的平行度和所述被加工件或被檢測件表面的平面度進(jìn)行校正；
[0008](4)、將所述定位夾具連同校正好的所述被加工件或被檢測件一起移至與電控單元相連的三坐標(biāo)定位機(jī)上；
[0009](5)、通過所述三坐標(biāo)定位機(jī)對所述定位夾具進(jìn)行坐標(biāo)定位并找出所述定位夾具所在的中心坐標(biāo)；
[0010]￠)、通過所述三坐標(biāo)定位機(jī)對所述被加工件或被檢測件進(jìn)行坐標(biāo)定位并找出所述被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)；
[0011](7)、將所述定位夾具所在的中心坐標(biāo)和所述被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)傳至所述電控單元；
[0012](8)、將所述定位夾具連同校正好的所述被加工件或被檢測件一起移至與電控單元相連的所述加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備上；
[0013](9)、根據(jù)步驟(7)中坐標(biāo)值，所述加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備完成被加工件或被檢測件的加工或檢測。
[0014]作為一種改進(jìn)，在步驟(7)中，通過所述三坐標(biāo)定位機(jī)計(jì)算出所述定位夾具所在的中心坐標(biāo)與所述被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)之間的中心距，并將所述中心距傳至所述電控單元；
[0015]在步驟(9)中，輔以所述中心距，所述加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備完成被加工件或被檢測件的加工或檢測。
[0016]作為進(jìn)一步的改進(jìn)，所述定位夾具為圓形定位夾具。
[0017]由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種機(jī)外校位方法的有益效果是:
[0018]采用上述步驟后，實(shí)現(xiàn)了對被加工件或被檢測件的校正、定位在加工機(jī)床或檢測設(shè)備的外部完成，校正、定位完成后直接移動至加工機(jī)床或檢測設(shè)備上進(jìn)行加工或檢測，省去了在加工或檢測過程中對加工件校正、定位的工序，且無需在加工或檢測過程中進(jìn)行重復(fù)或多次校正、定位，進(jìn)而與傳統(tǒng)相比，節(jié)省了生產(chǎn)時間，大大降低了加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備的停機(jī)率，保證了工作的連續(xù)性，進(jìn)而大大提高了加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備的工作效率和生產(chǎn)效率。
[0019]由于加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備輔以中心距完成對被加工件或被檢測件的加工或檢測，從而通過固定的中心距，起到輔助校驗(yàn)加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備在加工或檢測時，被加工件或被檢測件的中心坐標(biāo)及定位夾具的中心坐標(biāo)是否正確的目的，保證了加工或檢測的精確度。
[0020]由于定位夾具為圓形定位夾具，從而便于快速找正定位夾具的中心坐標(biāo)，提高了機(jī)外校正的工作效率。
【具體實(shí)施方式】
[0021]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合實(shí)施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0022]一種機(jī)外校位方法，包括以下步驟:
[0023](I)、選用與加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備相適配的定位夾具并將定位夾具定位于基準(zhǔn)座上;
[0024](2)、將被加工件或被檢測件裝夾至定位夾具上；
[0025](3)、通過校正裝置對被加工件或被檢測件的平行度和被加工件或被檢測件表面的平面度進(jìn)行校正，若為方形被加工件，則需要對被加工件的至少兩個側(cè)面進(jìn)行平行度校正；
[0026](4)、將定位夾具連同校正好的被加工件或被檢測件一起移至與電控單元相連的三坐標(biāo)定位機(jī)上；
[0027](5)、通過三坐標(biāo)定位機(jī)對定位夾具進(jìn)行坐標(biāo)定位并找出定位夾具所在的中心坐標(biāo)；
[0028](6)、通過三坐標(biāo)定位機(jī)對被加工件或被檢測件進(jìn)行坐標(biāo)定位并找出被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)；
[0029](7)、將定位夾具所在的中心坐標(biāo)和被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)傳至電控單元；通過三坐標(biāo)定位機(jī)計(jì)算出定位夾具所在的中心坐標(biāo)與被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)之間的中心距，并將中心距傳至至電控單元；
[0030](8)、將定位夾具連同校正好的被加工件或被檢測件一起移至與電控單元相連的加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備上；
[0031](9)、根據(jù)步驟(7)中坐標(biāo)值，輔以中心距，加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備完成被加工件或被檢測件的加工或檢測。
[0032]該定位夾具優(yōu)選為圓形的EROWA定位夾具，也可以為正方形的定位夾具，便于三坐標(biāo)定位機(jī)快速準(zhǔn)確的找出定位夾具的中心點(diǎn)；該定位夾具還可以為作為本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)定位功能的其他定位夾具。
[0033]綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種機(jī)外校位方法，實(shí)現(xiàn)了對被加工件或被檢測件的校正、定位在加工機(jī)床或檢測設(shè)備的外部完成，校正、定位完成后直接移動至加工機(jī)床或檢測設(shè)備上進(jìn)行加工或檢測，省去了在加工或檢測過程中對加工件校正、定位的工序，且無需在加工或檢測過程中進(jìn)行重復(fù)或多次校正、定位，進(jìn)而與傳統(tǒng)相比，節(jié)省了生產(chǎn)時間，大大降低了加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備的停機(jī)率，保證了工作的連續(xù)性，進(jìn)而大大提高了加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備的工作效率和生產(chǎn)效率。
[0034]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種機(jī)外校位方法，其特征在于，包括以下步驟: (1)、選用與加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備相適配的定位夾具并將所述定位夾具定位于基準(zhǔn)座上; (2)、將被加工件或被檢測件裝夾至所述定位夾具上； (3)、通過校正裝置對所述被加工件或被檢測件的平行度和所述被加工件或被檢測件表面的平面度進(jìn)行校正； (4)、將所述定位夾具連同校正好的所述被加工件或被檢測件一起移至與電控單元相連的三坐標(biāo)定位機(jī)上； (5)、通過所述三坐標(biāo)定位機(jī)對所述定位夾具進(jìn)行坐標(biāo)定位并找出所述定位夾具所在的中心坐標(biāo)； (6)、通過所述三坐標(biāo)定位機(jī)對所述被加工件或被檢測件進(jìn)行坐標(biāo)定位并找出所述被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)； (7)、將所述定位夾具所在的中心坐標(biāo)和所述被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)傳至所述電控單元； (8)、將所述定位夾具連同校正好的所述被加工件或被檢測件一起移至與電控單元相連的所述加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備上； (9)、根據(jù)步驟(7)中坐標(biāo)值，所述加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備完成被加工件或被檢測件的加工或檢測。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種機(jī)外校位方法，其特征在于，在步驟(7)中，通過所述三坐標(biāo)定位機(jī)計(jì)算出所述定位夾具所在的中心坐標(biāo)與所述被加工件或被檢測件所在的中心坐標(biāo)之間的中心距，并將所述中心距傳至所述電控單元； 在步驟(9)中，輔以所述中心距，所述加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備完成被加工件或被檢測件的加工或檢測。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種機(jī)外校位方法，其特征在于，所述定位夾具為圓形定位夾具。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種機(jī)外校位方法，包括以下步驟：選用與加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備相適配的定位夾具并定位于基準(zhǔn)座上；將被加工件或被檢測件裝夾至定位夾具上；通過校正裝置對被加工件或被檢測件的平行度和平面度進(jìn)行校正；將定位夾具連同校正好的被加工件或被檢測件一起移至與電控單元相連的三坐標(biāo)定位機(jī)上；通過三坐標(biāo)定位機(jī)對定位夾具和被加工件或被檢測件進(jìn)行坐標(biāo)定位并分別找出中心坐標(biāo)并將中心坐標(biāo)傳至電控單元；將定位夾具連同校正好的被加工件或被檢測件一起移至與電控單元相連的加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備上；根據(jù)坐標(biāo)值，加工機(jī)床或檢驗(yàn)設(shè)備完成被加工件或被檢測件的加工或檢測。實(shí)現(xiàn)了在機(jī)外完成校正、定位，降低了停機(jī)率，提高了生產(chǎn)效率。
【IPC分類】G01D11-00, B23Q3-00
【公開號】CN104864896
【申請?zhí)枴緾N201510312887
【發(fā)明人】周廣森, 肖廣超, 李翔
【申請人】歌爾聲學(xué)股份有限公司
【公開日】2015年8月26日
【申請日】2015年6月9日