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      一種板件平整度檢測治具的制作方法

      文檔序號:9324445閱讀:258來源:國知局
      一種板件平整度檢測治具的制作方法
      【技術領域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種板件平整度檢測治具,屬于檢測治具技術領域。
      【背景技術】
      [0002]目前,板件的平整度檢測一般還是通過人工測量,人工測量存在人為誤差大,測量結果精度低,可靠性差等問題;目前也出現(xiàn)了一些自動化的板件平整度檢測治具,但是存在不能同時檢測板件橫向、縱向、上表面和下表面的平整度的問題,故測量結果仍然不夠精確。

      【發(fā)明內容】

      [0003]本發(fā)明所要解決的技術問題是,提供一種可同時檢測板件橫向、縱向、上表面和下表面的平整度的板件平整度檢測治具;進一步地,本發(fā)明提供一種方便取出板件的板件平整度檢測治具。
      [0004]為解決上述技術問題,本發(fā)明采用的技術方案為:
      一種板件平整度檢測治具,其特征在于:包括:底板,所述底板的左右兩邊對稱設置有立板,兩所述立板的相對面頂端均設置有倒T型支撐平臺,所述倒T型支撐平臺包括水平段和垂直段,所述水平段的側壁與所述立板相連;兩所述倒T型支撐平臺相對的所述水平段上設置有若干用于穿過板件的定位柱和若干缺口,所述缺口內設置有磁吸裝置,所述垂直段的頂端通過倒L型板材與所述立板的頂端相連并形成儲物空間,所述儲物空間內設置有若干第一平整度檢測儀,所述垂直段與所述第一平整度檢測儀的檢測口相對應位置均設置有第一檢測孔,所述底板的前端設置有二級臺階平臺,所述二級臺階平臺的兩級臺階上分別設置有用于檢測所述板件上表面平整度的第二平整度檢測儀和用于檢測所述板件下表面平整度的第三平整度檢測儀,所述第二平整度檢測儀和第三平整度檢測儀的前面均設置有擋板,所述擋板與所述第二平整度檢測儀或第三平整度檢測儀的檢測口相對應位置均設置有第二檢測孔。
      [0005]所述底板上設置有方便取出所述板件的通孔。
      [0006]所述定位柱的個數(shù)為至少4個。
      [0007]所述缺口和磁吸裝置的個數(shù)相同且均為至少4個。
      [0008]所述磁吸裝置為強磁鐵,所述板件的材質為磁吸材質。
      [0009]所述立板的長度小于所述底板左邊或右邊的長度,且所述立板的一端與所述底板的后端對齊。
      [0010]所述底板的形狀為方形。
      [0011]所述第一平整度檢測儀、第二平整度檢測儀和第三平整度檢測儀均為激光檢測儀。
      [0012]所述缺口用于放置磁吸裝置,所述磁吸裝置用于磁吸所述板件O
      [0013]兩垂直段上的第一檢測孔的位置一一相對應。
      [0014]本發(fā)明提供的一種板件平整度檢測治具,若干第一平整度檢測儀的設置,用于檢測板件橫向的平整度;第二平整度檢測儀的設置,用于檢測板件縱向上表面的平整度;第三平整度檢測儀的設置,用于檢測板件縱向下表面的平整度;故本發(fā)明可全方位檢測板件的平整度,檢測結果真實可靠,精確度高;通孔的設置,便于檢測后將板件取出。本發(fā)明提供的一種板件平整度檢測治具,可全方位檢測板件的平整度,檢測結果真實可靠,精確度高。
      【附圖說明】
      [0015]圖1為本發(fā)明的結構示意圖;
      圖2為圖1的俯視圖。
      【具體實施方式】
      [0016]下面結合附圖對本發(fā)明作更進一步的說明。
      [0017]如圖1-2所示,一種板件平整度檢測治具,其特征在于:包括:底板1,所述底板I的左右兩邊對稱設置有立板2,兩所述立板2的相對面頂端均設置有倒T型支撐平臺3,所述倒T型支撐平臺3包括水平段和垂直段,所述水平段的側壁與所述立板2相連;兩所述倒T型支撐平臺3相對的所述水平段上設置有若干用于穿過板件的定位柱4和若干缺口 5,所述缺口 5內設置有磁吸裝置6,所述垂直段的頂端通過倒L型板材7與所述立板2的頂端相連并形成儲物空間8,所述儲物空間8內設置有若干第一平整度檢測儀,所述垂直段與所述第一平整度檢測儀的檢測口相對應位置均設置有第一檢測孔9,所述底板I的前端設置有二級臺階平臺10,所述二級臺階平臺10的兩級臺階上分別設置有用于檢測所述板件上表面平整度的第二平整度檢測儀和用于檢測所述板件下表面平整度的第三平整度檢測儀,所述第二平整度檢測儀和第三平整度檢測儀的前面均設置有擋板11,所述擋板11與所述第二平整度檢測儀或第三平整度檢測儀的檢測口相對應位置均設置有第二檢測孔12。
      [0018]所述底板I上設置有方便取出所述板件的通孔。
      [0019]所述定位柱4的個數(shù)為至少4個。
      [0020]所述缺口 5和磁吸裝置6的個數(shù)相同且均為至少4個。
      [0021 ] 所述磁吸裝置6為強磁鐵,所述板件的材質為磁吸材質。
      [0022]所述立板2的長度小于所述底板I左邊或右邊的長度,且所述立板2的一端與所述底板I的后端對齊。
      [0023]所述底板I的形狀為方形。
      [0024]所述第一平整度檢測儀、第二平整度檢測儀和第三平整度檢測儀均為激光檢測儀。
      [0025]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式,應當指出:對于本技術領域的普通技術人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進和潤飾,這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。
      【主權項】
      1.一種板件平整度檢測治具,其特征在于:包括:底板(I),所述底板(I)的左右兩邊對稱設置有立板(2),兩所述立板(2)的相對面頂端均設置有倒T型支撐平臺(3),所述倒T型支撐平臺(3)包括水平段和垂直段,所述水平段的側壁與所述立板(2)相連;兩所述倒T型支撐平臺(3)相對的所述水平段上設置有若干用于穿過板件的定位柱(4)和若干缺口(5),所述缺口(5)內設置有磁吸裝置(6),所述垂直段的頂端通過倒L型板材(7)與所述立板(2)的頂端相連并形成儲物空間(8),所述儲物空間(8)內設置有若干第一平整度檢測儀,所述垂直段與所述第一平整度檢測儀的檢測口相對應位置均設置有第一檢測孔(9),所述底板(I)的前端設置有二級臺階平臺(10),所述二級臺階平臺(10)的兩級臺階上分別設置有用于檢測所述板件上表面平整度的第二平整度檢測儀和用于檢測所述板件下表面平整度的第三平整度檢測儀,所述第二平整度檢測儀和第三平整度檢測儀的前面均設置有擋板(11),所述擋板(11)與所述第二平整度檢測儀或第三平整度檢測儀的檢測口相對應位置均設置有第二檢測孔(12)。2.根據(jù)權利要求1所述的一種板件平整度檢測治具,其特征在于:所述底板(I)上設置有方便取出所述板件的通孔。3.根據(jù)權利要求1所述的一種板件平整度檢測治具,其特征在于:所述定位柱(4)的個數(shù)為至少4個。4.根據(jù)權利要求1所述的一種板件平整度檢測治具,其特征在于:所述缺口(5)和磁吸裝置(6)的個數(shù)相同且均為至少4個。5.根據(jù)權利要求1所述的一種板件平整度檢測治具,其特征在于:所述磁吸裝置(6)為強磁鐵,所述板件的材質為磁吸材質。6.根據(jù)權利要求1所述的一種板件平整度檢測治具,其特征在于:所述立板(2)的長度小于所述底板(I)左邊或右邊的長度,且所述立板(2)的一端與所述底板(I)的后端對齊。7.根據(jù)權利要求1所述的一種板件平整度檢測治具,其特征在于:所述底板(I)的形狀為方形。8.根據(jù)權利要求1所述的一種板件平整度檢測治具,其特征在于:所述第一平整度檢測儀、第二平整度檢測儀和第三平整度檢測儀均為激光檢測儀。
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種板件平整度檢測治具,其特征在于:包括:底板(1),所述底板(1)的左右兩邊對稱設置有立板(2),兩所述立板(2)的相對面頂端均設置有倒T型支撐平臺(3),所述倒T型支撐平臺(3)包括水平段和垂直段,所述水平段的側壁與所述立板(2)相連;兩所述倒T型支撐平臺(3)相對的所述水平段上設置有若干用于穿過板件的定位柱(4)和若干缺口(5),所述缺口(5)內設置有磁吸裝置(6),所述垂直段的頂端通過倒L型板材(7)與所述立板(2)的頂端相連并形成儲物空間(8)。本發(fā)明提供的一種板件平整度檢測治具,可全方位檢測板件的平整度,檢測結果真實可靠,精確度高。
      【IPC分類】G01B11/30
      【公開號】CN105043307
      【申請?zhí)枴緾N201510475772
      【發(fā)明人】周建榮
      【申請人】蘇州金牛精密機械有限公司
      【公開日】2015年11月11日
      【申請日】2015年8月6日
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