一種抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置及測量方法
【專利摘要】本發(fā)明提出了一種抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置及方法。針對具有同步特征的微弱電流脈沖信號的強度測量,以典型的電荷靈敏前置放大器作為積分電路,包括高精度同步門控數(shù)據(jù)采集電路,降低并扣除隨機噪聲數(shù)據(jù)處理算法。本發(fā)明在積分電路中不設(shè)置開關(guān)電路,避免了注入電荷的影響,可用于法拉第探測器等微弱電流信號的同步測量;本發(fā)明在測量中不必等待積分電壓輸出穩(wěn)定,而是可在放大器動態(tài)范圍內(nèi)的任意初值開始測量,具備實時性;本發(fā)明提供了同步測量方式與傳統(tǒng)非同步測量方式的校正方法,并且可通過設(shè)置數(shù)據(jù)采集延遲時間參數(shù)和算法實現(xiàn)同步和非同步測量方式的自由切換。
【專利說明】
一種抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置及測量 方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及質(zhì)譜學(xué)領(lǐng)域中的離子探測器弱電流脈沖測量,具體涉及一種抗隨機噪 聲的弱信號同步積分測量裝置及測量方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 目前質(zhì)譜儀器中常用法拉第杯離子探測器作為基本的離子探測手段,主要原因在 于法拉第杯離子探測器對離子無歧視、線性度好、測試同位素比值精度高。為法拉第離子探 測器配備的前置放大器、數(shù)據(jù)采集電路一般采用高增益低噪聲前置放大器和高精度模數(shù)轉(zhuǎn) 換器,非同步數(shù)據(jù)采集。當面臨周期性脈沖離子流的測量時,傳統(tǒng)的非同步測量方法只能給 出信號電流和噪聲電流的總體平均值,不能區(qū)別非信號時段的噪聲,而如果采用門控積分 器,又面臨門開關(guān)的注入電荷對積分電壓的影響。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003] 為了解決現(xiàn)有非同步測量方法只能給出信號電流和噪聲電流的總體平均值,不能 區(qū)別非信號時段的噪聲,而如果采用門控積分器,又面臨門開關(guān)的注入電荷對積分電壓的 影響的技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量方法。
[0004] 本發(fā)明的技術(shù)解決方案如下:
[0005] 本發(fā)明所提供的抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置,包括積分電路、 數(shù)據(jù)采集電路、數(shù)據(jù)累加器、可編程延遲脈沖發(fā)生器及計算機,所述積分電路用于對被測信 號進行積分,其特殊之處在于:
[0006] 所述積分電路不含門控開關(guān);
[0007] 所述的數(shù)據(jù)采集電路,其數(shù)據(jù)采集時刻受外部脈沖的控制,用于將模擬電壓值轉(zhuǎn) 換為數(shù)字值;
[0008] 所述數(shù)據(jù)累加器用于存儲、累加所采集的數(shù)據(jù),并按照設(shè)定程序發(fā)送給計算機;
[0009] 所述可編程脈沖發(fā)生器根據(jù)計算機設(shè)定參數(shù)產(chǎn)生同步延遲脈沖,或產(chǎn)生非同步脈 沖,用于控制模數(shù)轉(zhuǎn)換器的數(shù)據(jù)采集;
[0010] 所述計算機用于控制數(shù)據(jù)采集過程,對采集的數(shù)據(jù)進行實時處理,以獲得期望的 測試數(shù)據(jù)。
[0011] 以上為本發(fā)明的同步積分測量裝置的結(jié)構(gòu),其中的不含控制開關(guān)的積分電路,可 采用以下結(jié)構(gòu)形式:
[0012] 第一種形式:積分器包括第一放大器A1、第二放大器A2、積分電容Cf、泄放電阻Rf、 電阻Ri及電阻R2,
[0013]所述第一放大器A1的正向輸入端接地,第一放大器A1的反向輸入端輸入待測電流 信號,所述積分電容Cf連接在第一放大器的反向輸入端與輸出端之間,所述泄放電阻Rf與積 分電容Cf并聯(lián);
[0014] 所述第二放大器A2的反向輸入端通過電阻心與第一放大器A1的輸出端連接,所述 第二放大器A2的正向輸入端接地,所述第二放大器A2的輸出端與數(shù)據(jù)采集電路的輸入端連 接。
[0015] 第二種形式:積分器包括第一放大器A1、第二放大器A2、第二放大器A3、積分電容 Cf、泄放電阻Rf、電阻Ri、電阻R 2、電阻R3及電阻R4,
[0016]所述第一放大器A1的正向輸入端接地,第一放大器A1的反向輸入端輸入待測電流 信號,第二放大器A2的正向輸入端與第一放大器A1的輸出端連接,第二放大器A2的反向輸 入端通過電阻R3接地,所述電阻R 4設(shè)置在第二放大器A2的反向輸入端與第二放大器A2的輸 出端之間,所述積分電容Cf設(shè)置在第一放大器A1的反向輸入端與第二放大器A2的輸出端之 間,所述泄放電阻Rf與積分電容C f并聯(lián);
[0017]所述第三放大器A3的反向輸入端通過電阻心與第二放大器A2的輸出端連接,所述 第三放大器A3的正向輸入端接地,所述第三放大器A3的輸出端與數(shù)據(jù)采集電路的輸入端連 接。
[0018] 第三種形式:積分器包括第一放大器A1、第二放大器A2、第二放大器A3、積分電容 Cf、泄放電阻Rf、電阻Ri、電阻R2、電阻R3及電阻R4,
[0019]所述第一放大器A1的正向輸入端輸入待測電流信號,第一放大器A1的反向輸入端 接地,第二放大器A2的正向輸入端接地,第二放大器A2的反向輸入端通過電阻心與第一放 大器A1的輸出端連接,所述電阻R 2設(shè)置在第二放大器A2的反向輸入端與第二放大器A2的輸 出端之間,所述積分電容Cf設(shè)置在第一放大器A1的正向輸入端與第二放大器A2的輸出端之 間,所述泄放電阻Rf與積分電容C f并聯(lián);
[0020]所述第三放大器A3的反向輸入端通過電阻R3與第二放大器A2的輸出端連接,所述 第三放大器A3的正向輸入端接地,所述第三放大器A3的輸出端與數(shù)據(jù)采集電路的輸入端連 接。
[0021 ]上述三種積分電路均為常用的積分電路,其中第一種電路比較簡單,但是對第一 運算放大器的要求較高;第二、三種電路中的積分部分采用兩個放大器,便于實現(xiàn)系統(tǒng)所需 的高輸入阻抗和帶寬性能。
[0022] 再進一步的,本發(fā)明的可編程脈沖延遲發(fā)生器的脈沖延遲時間可設(shè)置為為隨機數(shù) 或連續(xù)掃描,從而可以將采集方式變?yōu)榉峭讲杉蛲綍r間掃描采集,從而實現(xiàn)同步測 量方法與非同步測量方法的無縫切換。
[0023] 本發(fā)明抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量方法,適用于外同步信號與被測 脈沖信號具有穩(wěn)定的延遲關(guān)系的系統(tǒng),其特殊之處在于:
[0024]測試過程包括以下步驟:
[0025] 1)積分
[0026] 用積分電路對微弱電流脈沖信號進行積分,得到電壓信號;
[0027] 2)電壓采集
[0028] 外同步信號經(jīng)可設(shè)置的延遲時間產(chǎn)生控制脈沖,控制ADC的數(shù)據(jù)采樣時刻,對于任 一周期,采集測量周期起始時刻的電壓Vak、信號結(jié)束后延遲tp時刻的電壓V bk,、周期末時刻 的電壓VTk;
[0029] 3)計算
[0033] Qk=isk ? tw (7)
[0034] 其中:A=l/RfCf,Cf為積分電容,R f表示泄放電阻;
[0035] T表不信號重復(fù)周期;
[0036] tb = ts + tw+tP,ts表示自同步起始到待測電流信號出現(xiàn)的時間延遲,t w待測信號持 續(xù)時間,tP待測電流信號結(jié)束后的一小段延遲時間;
[0037] Vbk表不tb時刻的電壓;
[0038] VTk表不周期末的電壓VTk
[0039] Vak為t = 0時初始電壓。
[0040] 對于多周期測量,在步驟2之后進行步驟4與步驟5,
[0041] 4)累加
[0042] 對多個周期的起始時刻電壓Vak及tb時刻輸出電壓Vbk分別進行累加得到累加電壓
[0043] 5)計算
[0044] 通過公式8-10計算得到多個周期的平均噪聲電流、平均信號電流及平均累積電 荷;
[0048] 為提高測量精度,本發(fā)明的測量方法還包括對公式6和公式9計算的電流進行校正 的步驟,具體為:
[0049] 當積分電路進入穩(wěn)態(tài)后,通過采用非同步采樣對周期性電壓信號進行遍歷性采 樣,得到輸入電流的總的均值;
[0050] 設(shè)同步測量得到的電流均值與實際信號電流的期望值存在系數(shù)gs,則利用如下關(guān) 系式求得系數(shù)值gs;
[0030] 通過公式5-7計算得到任一周期的噪聲電流ink、信號電流isk及累積電荷Q k;
[0052]其中,為同步測量的信號電流均值、i nsyn為同步測量噪聲電流均值、為非同 步測量的綜合電流均值。
[0053]該系數(shù)值可對同步測量模式中得到的測試數(shù)據(jù)進行校正。
[0054]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,優(yōu)點是:
[0055]本發(fā)明采用常規(guī)的電荷靈敏前置放大器作為積分器,積分電路中無開關(guān),通過反 饋電阻放電,避免了開關(guān)注入電荷的影響,同時在采集數(shù)據(jù)上采用門控數(shù)據(jù)采集方式,利用 算法校正得到離子流強度的期望值。由于在方法上測量積分前后兩點的數(shù)據(jù),避免了隨機 噪聲對測量的影響。同時本發(fā)明的數(shù)據(jù)采集和處理具有實時性,不必等待積分器輸出電壓 進入穩(wěn)態(tài),從而十分適用于快速質(zhì)量掃描和跳峰測量模式。
【附圖說明】
[0056]圖1-1、圖1-2、圖1-3分別為二種積分電路不意圖;
[0057]圖2同步積分測量裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
[0058] 圖3非穩(wěn)態(tài)同步數(shù)據(jù)采集波形示意圖;
[0059] 圖4穩(wěn)態(tài)非同步采集波形示意圖。
【具體實施方式】
[0060] 以下結(jié)合本發(fā)明的基本原理對本發(fā)明進行詳細說明。
[0061] 對于周期性的來自探測器的電流信號,假設(shè)信號重復(fù)周期為T,以任選時刻為時間 坐標零點,延遲ts后出現(xiàn)感興趣的電流信號,其持續(xù)時間設(shè)為U。在任一第k周期內(nèi)的U時間 范圍,信號電流強度一般為一先增大后減小的時域波形。由于我們僅關(guān)心電流的累積電荷 Qk,為簡單起見,將電流信號i Sk視為累積電荷在1^范圍內(nèi)的平均值。而在整個周期內(nèi),噪聲 電流ink保持不變,由此可用如下的函數(shù)表示電流信號:
[0063] 其中k = 0,l,2,...代表第k周期數(shù)。
[0064] 對于如圖1的積分電路,其電壓隨時間變化的微分方程為:
[0066] 其中A=l/RfCf,Cf為積分電容。
[0067]在第k周期內(nèi),設(shè)t = 0時初始電壓為Vak,則輸出電壓可按時間分為三段表示:
[0069] 其中,用Vsk表示t = ts時的電壓,Vwk表示t = ts+tw時的電壓。
[0070] 消去中間電壓Vsk、Vwk,并用Vbk表示tb = ts+tw+tp時的電壓,其中0〈tp〈T-t s-tw,則tb 時刻輸出電壓Vbk與初始電壓Vak的的關(guān)系為:
[0072]由于上式中含有噪聲電流,可利用本周期末的電壓VTk(實際等于下一周期的起始 電壓Va(k+1))和Vb(t = tb)之間不含有信號電流的特點,求出ink。
[0074]利用式(3)、(4),可得到噪聲電流、信號電流以及累積電荷的表達式:
[0077] Qk=isk ? tw (7)
[0078] 式(5)、(6)、(7)說明,對于任一周期,通過測量三個時刻的電壓,即周期起始時刻、 信號結(jié)束后延遲知,以及周期結(jié)束時刻,可計算得到該周期內(nèi)噪聲、信號各自的平均電流強 度。顯然該算法每個周期僅代表該周期內(nèi)的信號強度。這一特點也同時表明,當感興趣的電 流脈沖是非周期性,但相對外同步脈沖具有嚴格延遲關(guān)系時,仍可用上述的公式計算。
[0079] 本發(fā)明提出采用同步數(shù)據(jù)采集卡,分別測量相對同步脈沖一定延遲的一組電壓, 通過上述公式可得到感興趣的信號累積電荷。對于所需的積分器而言,由于輸入端不含有 常規(guī)積分電路配置的模擬開關(guān),完全避免了開關(guān)注入電荷對積分結(jié)果的影響,對于提高測 試系統(tǒng)對脈沖弱電流信號的檢測能力非常重要。受數(shù)據(jù)采集卡采樣時間、信號相對同步源 延遲時間晃動的影響,測試中t s、tP設(shè)置為0并不是不現(xiàn)實的,而應(yīng)選擇相對較小的值,主要 保證數(shù)據(jù)采集電路中采樣器在積分器電壓緩變時采樣,而不是在輸出電壓變化率較大的信 號積分期間采樣。可通過測試數(shù)據(jù),以使V bk_Vak差最大并適當展寬為選擇ts、t^依據(jù)。
[0080] 多周期測量:
[0081] 對于數(shù)據(jù)精度要求高的情況,需利用較長時間進行多周期測量,得到累積電荷并 求平均。對于具有固定周期的信號和噪聲電流,實際上只需每周期測量V ak和Vbk兩個數(shù)據(jù)。 如完成k+1次數(shù)據(jù)采集,對于噪聲電流和信號電流,利用式(5)、(6)的線性特征,多周期測量 的均值可表示為:
[0084]信號累積電荷的均值為:
[0085] (1〇)
[0086]根據(jù)上式,在數(shù)據(jù)采集中,采集卡需保存并向計算機上報的數(shù)據(jù)為:Val、Va(k+1)、 ,而其它參數(shù)如U、tp、tb等可根據(jù)脈沖發(fā)生器的設(shè)置參數(shù)和積分器的輸出信號 的實際參數(shù)給出。
[0087] 穩(wěn)態(tài)情況
[0088] 很顯然,無論積分器的初始電壓如何,如果信號和噪聲電流保持不變并持續(xù)足夠 長的時間,積分器的輸出將呈現(xiàn)在一定直流電壓附近上下波動并周期性重復(fù)的情況。因為 各周期的噪聲電流和信號電流不變,為簡化,將式(1)表示為:
[0090]由式⑶、(4),并令ts = 0、tP = 0,在周期性重復(fù)的情況下,本周期末的電壓VTk等于 起始電壓Vak,從而可求出輸出波形電壓的高、低兩個極值:
[0093]由此,可寫出輸出電壓的兩段式表示式:
[0095]對電壓V在(0,T)范圍內(nèi)積分并求平均即可得到信號和噪聲電流的平均值,積分結(jié) 果如下:
[0097]由此可知,在電路進入穩(wěn)態(tài)時,通過測量輸出電壓的均值可得到輸入電流信號和 噪聲的綜合平均值。對于本發(fā)明所使用的硬件電路,在實際的數(shù)據(jù)采集時,可采用非同步采 樣或同步掃描延遲時間的方式實現(xiàn)對周期性電壓信號的遍歷性采樣,從而得到輸入電流的 均值。
[0099] 其中Vm為非同步采集的電壓值,m應(yīng)取較大值。
[0100] 對于穩(wěn)態(tài)輸出波形,通過同步采集方式,如式(8)、(9),同樣可分別得到1"、匕的平 均值。
[0101]由式(12)、(13)可知,在穩(wěn)態(tài)情況下,采用非同步測量方法得到的含噪聲電流的均 值與本發(fā)明提出的同步測量方法得到的結(jié)果是完全一致的。
[0102]如前所述,本發(fā)明用tw時間寬度的等效矩形波來近似信號電流脈沖,這一近似可 能導(dǎo)致式(6)、(9)計算的電流值與實際電流出現(xiàn)微小差異,這一差異在高精度同位素分析 時可能帶來一定的偏差。而對于非同步測量,由于其嚴格的線性和平均特征,不存在測試偏 差的問題。為了校正同步測量的這一偏差,可利用穩(wěn)態(tài)條件下的非同步測量數(shù)據(jù)進行校正。 設(shè)同步測量得到電流均值與實際信號電流的期望值存在系數(shù)g s,則可利用如下關(guān)系式進行 系數(shù)校正。
[0104] 其中,):#、ins、n分別為同步測量的信號電流均值、同步測量噪聲電流均值、非 同步測量的綜合電流均值。
[0105] 在實際測量中,可通過設(shè)置數(shù)據(jù)采集卡的同步脈沖延遲時間為隨機數(shù)或連續(xù)掃 描,將采集方式變?yōu)榉峭讲杉?,從而實現(xiàn)兩種測量方法的無縫切換。
[0106] 以激光共振電離質(zhì)譜儀的離子探測系統(tǒng)為例,由于共振電離是ns級激光脈沖所激 發(fā)的,共振電離的離子信號到達法拉第探測后,探測器的輸出電流是脈沖式的。而噪聲主要 由非共振電離方式產(chǎn)生,其隨時間緩慢變化,屬于需要屏蔽的部分。利用本發(fā)明的多周期同 步采集方式,可同時得到信號電流和噪聲電流的數(shù)據(jù),從而對于提高系統(tǒng)的信噪比,使儀器 的選擇性指標得到進一步提尚。
【主權(quán)項】
1. 一種抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置,包括積分電路、數(shù)據(jù)采集電路、 數(shù)據(jù)累加器、可編程延遲脈沖發(fā)生器及計算機,所述積分電路用于對被測信號進行積分,其 特征在于: 所述積分電路是不含門控開關(guān)的; 所述的數(shù)據(jù)采集電路,其數(shù)據(jù)采集時刻受外部脈沖的控制,用于將模擬電壓值轉(zhuǎn)換為 數(shù)字值; 所述數(shù)據(jù)累加器用于存儲、累加所采集的數(shù)據(jù),并按照設(shè)定程序發(fā)送給計算機; 所述可編程脈沖發(fā)生器根據(jù)計算機設(shè)定參數(shù)產(chǎn)生同步延遲脈沖,或產(chǎn)生非同步脈沖, 用于控制模數(shù)轉(zhuǎn)換器的數(shù)據(jù)采集; 所述計算機用于控制數(shù)據(jù)采集過程,對采集的數(shù)據(jù)進行實時處理,以獲得期望的測試 數(shù)據(jù)。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置,其特征在于: 所述積分電路包括第一放大器A1、第二放大器A2、積分電容Cf、泄放電阻Rf、電阻Ri及電 阻R2, 所述第一放大器A1的正向輸入端接地,第一放大器A1的反向輸入端輸入待測電流信 號,所述積分電容C f連接在第一放大器的反向輸入端與輸出端之間,所述泄放電阻Rf與積分 電容Cf并聯(lián); 所述第二放大器A2的反向輸入端通過電阻心與第一放大器A1的輸出端連接,所述第二 放大器A2的正向輸入端接地,所述第二放大器A2的輸出端與數(shù)據(jù)采集電路的輸入端連接。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置,其特征在于: 所述積分電路包括第一放大器A1、第二放大器A2、第二放大器A3、積分電容Cf、泄放電阻 Rf、電阻Ri、電阻R2、電阻R3及電阻R4, 所述第一放大器A1的正向輸入端接地,第一放大器A1的反向輸入端輸入待測電流信 號,第二放大器A2的正向輸入端與第一放大器A1的輸出端連接,第二放大器A2的反向輸入 端通過電阻R3接地,所述電阻R4設(shè)置在第二放大器A2的反向輸入端與第二放大器A2的輸出 端之間,所述積分電容Cf設(shè)置在第一放大器A1的反向輸入端與第二放大器A2的輸出端之 間,所述泄放電阻Rf與積分電容C f并聯(lián); 所述第三放大器A3的反向輸入端通過電阻心與第二放大器A2的輸出端連接,所述第三 放大器A3的正向輸入端接地,所述第三放大器A3的輸出端與數(shù)據(jù)采集電路的輸入端連接。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置,其特征在于: 所述積分電路包括第一放大器A1、第二放大器A2、第二放大器A3、積分電容Cf、泄放電阻 Rf、電阻Ri、電阻R2、電阻R3及電阻R4, 所述第一放大器A1的正向輸入端輸入待測電流信號,第一放大器A1的反向輸入端接 地,第二放大器A2的正向輸入端接地,第二放大器A2的反向輸入端通過電阻Ri與第一放大 器A1的輸出端連接,所述電阻R 2設(shè)置在第二放大器A2的反向輸入端與第二放大器A2的輸出 端之間,所述積分電容Cf設(shè)置在第一放大器A1的正向輸入端與第二放大器A2的輸出端之 間,所述泄放電阻Rf與積分電容C f并聯(lián); 所述第三放大器A3的反向輸入端通過電阻R3與第二放大器A2的輸出端連接,所述第三 放大器A3的正向輸入端接地,所述第三放大器A3的輸出端與數(shù)據(jù)采集電路的輸入端連接。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量裝置,其特征在于: 所述可編程脈沖延遲發(fā)生器的脈沖延遲時間為隨機數(shù)或連續(xù)掃描。6. -種抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量方法,適用于外同步信號與被測脈沖 信號具有穩(wěn)定的延遲關(guān)系的系統(tǒng),特征在于: 測試過程包括以下步驟: 1) 積分 用積分電路對微弱電流脈沖信號進行積分,得到電壓信號; 2) 電壓采集 外同步信號經(jīng)可設(shè)置的延遲時間產(chǎn)生控制脈沖,控制ADC的數(shù)據(jù)采樣時刻,對于任一周 期,采集測量周期起始時刻的電壓Vak、信號延遲tp時刻的電壓Vbk,、周期末時刻的電壓V Tk; 3) 計算 通過公式5-7計算得到任一周期的噪聲電流ink、信號電流isk及累積電荷Qk;Qk=isk ? tw (7) 其中:A = 1 /Rf Cf,Cf為積分電容,Rf表示泄放電阻; T表示信號重復(fù)周期; tb = ts + tw+tp,ts表示自同步起始到待測電流信號出現(xiàn)的時間延遲,tw待測信號持續(xù)時 間,tp待測電流信號結(jié)束后的一小段延遲時間; Vbk表不tb時刻的電壓; VTk表不周期末的電壓VTk; Vak為t = 0時初始電壓。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量方法,其特征在于: 對于多周期測量,在步驟2之后進行步驟4與步驟5, 4) 累加 對多個周期的起始時刻電壓Vak及tb時刻輸出電壓Vbk分別進行累加得到累加電壓5) 計算 通過公式8-10計算得到多個周期的平均噪聲電流、平均信號電流及平均累積電荷;(10)。8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的抗隨機噪聲的無開關(guān)弱信號同步積分測量方法,其特征在 于: 還包括對公式6和公式9計算的電流進行校正的步驟,具體為: 當積分電路進入穩(wěn)態(tài)后,通過采用非同步采樣對周期性電壓信號進行遍歷性采樣,得 到輸入電流的總的均值; 設(shè)同步測量得到的電流均值與實際信號電流的期望值存在系數(shù)gs,則利用如下關(guān)系式 求得系數(shù)值gs;其中,為同步測量的信號電流均值、i ns yn為同步測量噪聲電流均值、為非同步測 量的綜合電流均值; 該系數(shù)值可對同步測量模式中得到的測試數(shù)據(jù)進行校正。
【文檔編號】G01R19/25GK106053930SQ201610532172
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年7月6日
【發(fā)明人】翟利華, 何資星, 鄧虎, 韋冠, 韋冠一, 徐江, 袁祥龍, 李靜雅, 李志明
【申請人】西北核技術(shù)研究所