專利名稱：測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)和測量數(shù)據(jù)同步方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種多個(gè)測量器或傳感器等測量設(shè)備(以下稱為單元)與計(jì)算機(jī)等數(shù) 據(jù)處理裝置連接的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)和測量數(shù)據(jù)同步方法，特別是涉及一種測量設(shè)備的數(shù) 量不限、能夠確保各測量設(shè)備之間的測量數(shù)據(jù)保持同步的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)和測量數(shù)據(jù)同 步方法。
背景技術(shù)：
在使用多個(gè)單元對被測對象的各種物理量例如溫度、電壓等進(jìn)行測量的情況下， 或在多個(gè)位置對被測對象的物理量進(jìn)行測量的情況下，必須確保多個(gè)單元間的測量結(jié)果的 同步。測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)能夠確保多個(gè)單元分別測量的測量數(shù)據(jù)的同步。數(shù)據(jù)同步的方法 主要分為2大類，即利用硬件進(jìn)行數(shù)據(jù)同步和利用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)同步。
在現(xiàn)有的利用硬件進(jìn)行數(shù)據(jù)同步的技術(shù)中，在對多個(gè)單元間的數(shù)據(jù)進(jìn)行同步的情 況下，向各單元發(fā)送用于數(shù)據(jù)同步的同步信號(hào)，并按照該同步信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)的收集，由此確 保數(shù)據(jù)同步。在該方法中，由于必須向各單元供給同步信號(hào)，所以需要特別的硬件構(gòu)造。但 是，如果追加特別的硬件構(gòu)造，則不僅成本提高，而且使系統(tǒng)整體變得復(fù)雜，開發(fā)的工時(shí)數(shù) 也增加。此外，由于硬件的限制(連接的單元數(shù)量、同步信號(hào)線的長度)，難以實(shí)現(xiàn)高速化、 多通道化。
為了解決利用硬件進(jìn)行數(shù)據(jù)同步的方法中存在的上述問題，對比文件1中提出一 種利用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)同步的方法。在該方法中，如圖7所示，數(shù)據(jù)處理裝置300將基準(zhǔn)時(shí)刻 輸出到信號(hào)線100上；作為測量設(shè)備的單元401 40η從該信號(hào)線取得該基準(zhǔn)時(shí)刻，并將至 少由該基準(zhǔn)時(shí)刻和對被測對象進(jìn)行測量而得到的測量數(shù)據(jù)構(gòu)成的組數(shù)據(jù)輸出到信號(hào)線100 上；數(shù)據(jù)處理裝置300從信號(hào)線取得單元401 40η輸出的組數(shù)據(jù)，并根據(jù)該組數(shù)據(jù)中的基 準(zhǔn)時(shí)刻進(jìn)行單元間的數(shù)據(jù)同步。
對比文件1 日本特開2003-24258
發(fā)明內(nèi)容
在上述對比文件1的數(shù)據(jù)同步方法中，不需要用于向各單元供給同步信號(hào)的特別 硬件構(gòu)造，但是由于單元要記錄數(shù)據(jù)處理裝置的基準(zhǔn)時(shí)刻并且再次將該基準(zhǔn)時(shí)刻發(fā)送回?cái)?shù) 據(jù)處理裝置，所以在單元的硬件中必須具有能夠?qū)崿F(xiàn)該功能的固件。即，具有這樣的固件的 單元之間能夠進(jìn)行同步處理，但是對于其他不具有這樣的固件的單元，不能進(jìn)行同步處理。
本發(fā)明就是鑒于上述對比文件1中存在的問題而提出的，其目的在于提供一種測 量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)和測量數(shù)據(jù)同步方法，即使不具有特別的硬件構(gòu)造和特別的固件，也能夠 進(jìn)行測量數(shù)據(jù)的同步處理。本發(fā)明提供一種測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其對來自于多個(gè)測量設(shè)備 的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行同步處理，其特征在于，具有信號(hào)線；多個(gè)測量設(shè)備，其將至少由對被測 對象進(jìn)行測量而得到的測量數(shù)據(jù)、進(jìn)行所述測量的測量時(shí)刻以及用于標(biāo)識(shí)該測量設(shè)備的測 量設(shè)備ID構(gòu)成的組數(shù)據(jù)，發(fā)送到所述信號(hào)線上；以及數(shù)據(jù)處理裝置，其從所述信號(hào)線取得來自于所述多個(gè)測量設(shè)備的所述組數(shù)據(jù)，根據(jù)所述組數(shù)據(jù)中的所述測量設(shè)備ID，取得預(yù)先 存儲(chǔ)的與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值，然后利用該測量時(shí)刻校正值對所述組數(shù) 據(jù)中的所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正。
該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理裝置可以根據(jù)校正后的測量時(shí)刻對所述組數(shù)據(jù) 中的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行重新采樣處理。
該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理裝置可以具有組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)從所述多 個(gè)測量設(shè)備經(jīng)由信號(hào)線輸入的所述組數(shù)據(jù)；校正值存儲(chǔ)部，其將測量設(shè)備ID和與該測量設(shè) 備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值進(jìn)行關(guān)聯(lián)而存儲(chǔ)；以及同步運(yùn)算部，其從所述組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部取 得所述組數(shù)據(jù)，根據(jù)所述組數(shù)據(jù)中的所述測量設(shè)備ID，從所述校正值存儲(chǔ)部取得與該測量 設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值，然后利用該測量時(shí)刻校正值對所述組數(shù)據(jù)中的所述測量 時(shí)刻進(jìn)行校正，并進(jìn)行所述重新采樣處理。
該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)的同步運(yùn)算部可以具有測量時(shí)刻校正部，其從所述組數(shù)據(jù) 存儲(chǔ)部取得所述組數(shù)據(jù)，根據(jù)所述組數(shù)據(jù)中的所述測量設(shè)備ID，從所述校正值存儲(chǔ)部取得 與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值，然后利用該測量時(shí)刻校正值對所述組數(shù)據(jù)中的 所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正；時(shí)刻校正后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)由所述測量時(shí)刻校正部進(jìn)行了時(shí) 刻校正后的組數(shù)據(jù)；以及重新采樣處理部，其對存儲(chǔ)在時(shí)刻校正后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部中的組數(shù)據(jù) 進(jìn)行重新采樣處理，所述測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)還具有同步后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)由所述同步 運(yùn)算部進(jìn)行了同步處理后的組數(shù)據(jù)。
該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)的測量時(shí)刻校正部可以根據(jù)下式進(jìn)行測量時(shí)刻校正校正后 的測量時(shí)刻=測量時(shí)刻/測量時(shí)刻校正值。
根據(jù)以上的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，由于不需要向各測量設(shè)備提供同步信號(hào)，所以不 需要用于此的特別的硬件構(gòu)造。另外，由于不需要測量設(shè)備記錄基準(zhǔn)時(shí)刻并再次將該基準(zhǔn) 時(shí)刻發(fā)送回?cái)?shù)據(jù)處理裝置，所以不需要在測量設(shè)備的硬件中設(shè)置用于此的特別的固件。
另外，根據(jù)該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，由于通過測量設(shè)備ID來識(shí)別每個(gè)測量設(shè)備，分 別進(jìn)行同步處理，所以能夠進(jìn)行符合用戶要求的同步處理。
本發(fā)明的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理裝置還具有實(shí)時(shí)時(shí)鐘部，其提供用于對 所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正的基準(zhǔn)時(shí)刻；以及校正值運(yùn)算部，其以規(guī)定的更新周期定期地從所 述組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部取得所述組數(shù)據(jù)、從所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘部取得所述基準(zhǔn)時(shí)刻，然后利用該組數(shù) 據(jù)中的測量時(shí)刻和所述基準(zhǔn)時(shí)刻計(jì)算所述測量時(shí)刻校正值，并且將計(jì)算出的所述測量時(shí)刻 校正值與對應(yīng)的測量設(shè)備ID關(guān)聯(lián)而存儲(chǔ)在所述校正值存儲(chǔ)部中。該實(shí)時(shí)時(shí)鐘部可以取得 所述數(shù)據(jù)處理裝置本身的時(shí)鐘時(shí)刻，作為所述基準(zhǔn)時(shí)刻，或者也可以從外部時(shí)鐘取得所述 基準(zhǔn)時(shí)刻。
該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)的校正值運(yùn)算部根據(jù)下式計(jì)算測量時(shí)刻校正值，
測量時(shí)刻校正值=(tUNIT1-tUNno)/ (tETC1-tETc0)
其中，tKra是開始所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNITO是開始所述更新周期時(shí)的所 述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻，tETC1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNIT1是到達(dá)所述更新周 期時(shí)的所述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻。
該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)的校正值運(yùn)算部也可以根據(jù)下式計(jì)算測量時(shí)刻校正值，
測量時(shí)刻校正值=(tUNIT1-tUNnoo)/ (tETci-tETcoo)
其中，tKT·是開始同步時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNIT00是開始同步時(shí)的所述組數(shù)據(jù)中的測量 時(shí)刻，tETC1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，traiT1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的所述組數(shù)據(jù) 中的測量時(shí)刻。
根據(jù)以上的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，由于利用預(yù)先存儲(chǔ)在校正值存儲(chǔ)部中的測量時(shí)刻 校正值進(jìn)行測量時(shí)刻校正處理，所以在測量開始之后立刻就能夠進(jìn)行同步處理。另外，由于 以規(guī)定的更新周期對該測量時(shí)刻校正值進(jìn)行更新，所以能夠?qū)⒃摳轮芷趦?nèi)測量設(shè)備的時(shí) 鐘的變動(dòng)情況反映在測量時(shí)刻校正值中，從而能夠減小同步結(jié)果的誤差。
本發(fā)明還提供一種測量數(shù)據(jù)同步方法，其對來自于多個(gè)測量設(shè)備的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行 同步處理，其特征在于，多個(gè)測量設(shè)備將至少由對被測對象進(jìn)行測量而得到的測量數(shù)據(jù)、進(jìn) 行所述測量的測量時(shí)刻以及用于標(biāo)識(shí)該測量設(shè)備的測量設(shè)備ID構(gòu)成的組數(shù)據(jù)，發(fā)送到信 號(hào)線上，數(shù)據(jù)處理裝置從所述信號(hào)線取得來自于所述多個(gè)測量設(shè)備的所述組數(shù)據(jù)，根據(jù)所 述組數(shù)據(jù)中的所述測量設(shè)備ID，取得預(yù)先存儲(chǔ)的與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值， 然后利用該測量時(shí)刻校正值對所述組數(shù)據(jù)中的所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正。
在該測量數(shù)據(jù)同步方法中，所述數(shù)據(jù)處理裝置可以根據(jù)校正后的測量時(shí)刻對所述 組數(shù)據(jù)中的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行重新采樣處理，并存儲(chǔ)重新采樣處理后的組數(shù)據(jù)。
在該測量數(shù)據(jù)同步方法中，可以根據(jù)下式進(jìn)行測量時(shí)刻校正校正后的測量時(shí)刻 =測量時(shí)刻/測量時(shí)刻校正值。
該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)的測量時(shí)刻校正部可以根據(jù)下式進(jìn)行測量時(shí)刻校正校正后 的測量時(shí)刻=測量時(shí)刻/測量時(shí)刻校正值。
根據(jù)以上的測量數(shù)據(jù)同步方法，由于不需要向各測量設(shè)備提供同步信號(hào)，所以不 需要用于此的特別的硬件構(gòu)造。另外，由于不需要測量設(shè)備記錄基準(zhǔn)時(shí)刻并再次將該基準(zhǔn) 時(shí)刻發(fā)送回?cái)?shù)據(jù)處理裝置，所以不需要在測量設(shè)備的硬件中設(shè)置用于此的特別的固件。
另外，根據(jù)該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，由于通過測量設(shè)備ID來識(shí)別每個(gè)測量設(shè)備，分 別進(jìn)行同步處理，所以能夠進(jìn)行符合用戶要求的同步處理。
在本發(fā)明的測量數(shù)據(jù)同步方法中，所述數(shù)據(jù)處理裝置可以以規(guī)定的更新周期定期 地利用基準(zhǔn)時(shí)刻和所述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻，計(jì)算所述測量時(shí)刻校正值，并且將計(jì)算出的 所述測量時(shí)刻校正值與對應(yīng)的測量設(shè)備ID關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)。
在該測量數(shù)據(jù)同步方法中，所述基準(zhǔn)時(shí)刻可以由所述數(shù)據(jù)處理裝置本身的時(shí)鐘產(chǎn) 生，也可以由外部時(shí)鐘產(chǎn)生。
在該測量數(shù)據(jù)同步方法中，可以根據(jù)下式計(jì)算測量時(shí)刻校正值，
測量時(shí)刻校正值=(tUNIT1-tUNno)/ (tETC1-tETc0)
其中，tKra是開始所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNITO是開始所述更新周期時(shí)的所 述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻，tETC1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNIT1是到達(dá)所述更新周 期時(shí)的所述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻。
在該測量數(shù)據(jù)同步方法中，也可以根據(jù)下式計(jì)算測量時(shí)刻校正值，
測量時(shí)刻校正值=(tUNIT1-tUNnoo)/ (tETci-tETcoo)
其中，tKT·是開始同步時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNIT00是開始同步時(shí)的所述組數(shù)據(jù)中的測量 時(shí)刻，tETC1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，traiT1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的所述組數(shù)據(jù) 中的測量時(shí)刻。
根據(jù)以上的測量數(shù)據(jù)同步方法，由于利用預(yù)先存儲(chǔ)的測量時(shí)刻校正值進(jìn)行測量時(shí) 刻校正處理，所以在測量開始之后立刻就能夠進(jìn)行同步處理。另外，由于以規(guī)定的更新周期 對該測量時(shí)刻校正值進(jìn)行更新，所以能夠?qū)⒃摳轮芷趦?nèi)測量設(shè)備的時(shí)鐘的變動(dòng)情況反映 在測量時(shí)刻校正值中，從而能夠減小同步結(jié)果的誤差。


圖1表示本發(fā)明的整體構(gòu)成。
圖2表示數(shù)據(jù)處理裝置30的具體構(gòu)成。
圖3表示同步運(yùn)算部35的具體構(gòu)成。
圖4表示測量數(shù)據(jù)同步處理的整體流程。
圖5表示時(shí)刻校正處理(SlO)的具體處理流程。
圖6表示校正值更新處理的流程。
圖7表示現(xiàn)有的利用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)同步的系統(tǒng)整體構(gòu)成。
具體實(shí)施方式
以下根據(jù)附圖，對本發(fā)明的具體實(shí)施方式
進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖1示出了本發(fā)明的整體構(gòu)成。其中，數(shù)據(jù)處理裝置30例如是計(jì)算機(jī)等具有數(shù)據(jù) 處理能力的裝置，其與通用信號(hào)線10連接。測量部40由多個(gè)測量器或傳感器等測量設(shè)備 (以下稱為單元)41 如(η為自然數(shù))構(gòu)成，各單元41 如與通用信號(hào)線10連接，從而 與數(shù)據(jù)處理裝置30進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。此外，數(shù)據(jù)處理裝置30和各單元41 如具有通用通 信電路10Α，通過該通用通信電路10進(jìn)行數(shù)據(jù)的輸入輸出。
圖2示出了數(shù)據(jù)處理裝置30的具體構(gòu)成。數(shù)據(jù)處理裝置30具有組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部 31，其存儲(chǔ)通過通用通信電路10輸入的單元41 如的數(shù)據(jù)，其中，來自單元41 如的數(shù) 據(jù)中至少包括用于識(shí)別單元41 如的單元ID、單元41 如的測量數(shù)據(jù)和該測量數(shù)據(jù)的 時(shí)刻(以下稱為測量時(shí)刻)，即該組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中存儲(chǔ)的是該單元ID、測量數(shù)據(jù)及測量 時(shí)刻對應(yīng)關(guān)聯(lián)的組數(shù)據(jù)；RTC (Real Time Clock，實(shí)時(shí)時(shí)鐘部)33，其取得數(shù)據(jù)處理裝置30 的時(shí)鐘的當(dāng)前時(shí)刻，作為時(shí)刻校正處理的基準(zhǔn)；校正值運(yùn)算部32，其以規(guī)定的更新周期定 期地從組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31取得組數(shù)據(jù)以及從RTC取得數(shù)據(jù)處理裝置30的時(shí)刻，然后根據(jù)組 數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻和RTC的時(shí)刻計(jì)算用于時(shí)刻校正處理的校正值；校正值存儲(chǔ)部34，其將 由校正值運(yùn)算部32計(jì)算出的校正值和單元ID構(gòu)成的組數(shù)據(jù)對應(yīng)存儲(chǔ)；同步運(yùn)算部35，其 從組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31取得組數(shù)據(jù)，根據(jù)組數(shù)據(jù)中的單元ID，從校正值存儲(chǔ)部34取得對應(yīng)于該 單元的校正值，利用該校正值對組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻進(jìn)行校正，然后對校正了測量時(shí)刻的 組數(shù)據(jù)進(jìn)行重新采樣處理，由此對組數(shù)據(jù)進(jìn)行同步處理；以及同步后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部36，其存 儲(chǔ)由同步運(yùn)算部35進(jìn)行了同步處理后的組數(shù)據(jù)。
圖3示出了同步運(yùn)算部35的具體構(gòu)成。同步運(yùn)算部35具有測量時(shí)刻校正部351， 其利用來自于校正值存儲(chǔ)部34的校正值，對來自于組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31的組數(shù)據(jù)中的測量時(shí) 刻進(jìn)行校正；時(shí)刻校正后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部352，其存儲(chǔ)由測量時(shí)刻校正部351進(jìn)行了時(shí)刻校正后 的組數(shù)據(jù)；以及重新采樣處理部353，其對存儲(chǔ)在時(shí)刻校正后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部352中的組數(shù)據(jù)進(jìn) 行重新采樣處理，然后輸出給同步后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部36。
以下對于本發(fā)明的處理過程進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖4示出了本發(fā)明的測量數(shù)據(jù)同步處理的整體流程。具體的講，如果開始同步 處理，則在步驟SlO中對組數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)刻校正處理，在步驟S20中對進(jìn)行了時(shí)刻校正處理 的組數(shù)據(jù)進(jìn)行重新采樣處理，在步驟S30中存儲(chǔ)進(jìn)行了重新采樣處理后的數(shù)據(jù)(即同步 處理后的組數(shù)據(jù))，然后在步驟S40中判斷是否對之后的組數(shù)據(jù)繼續(xù)進(jìn)行同步處理。如 果繼續(xù)(“Y”)，則返回步驟SlO ；如果不再繼續(xù)(“N”)，則結(jié)束同步處理。同步處理后 的組數(shù)據(jù)，存儲(chǔ)在同步后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部36中，用于后續(xù)處理或顯示。關(guān)于重新采樣處理，可 以采用現(xiàn)有的線性插值(Linear-Interpolation)、最近點(diǎn)(Nearest-Point)、積分平均 (Integral-Average)、最大最小平均(Min-Max-Average)等各種算法，在這里不再詳細(xì)說 明。以下僅對作為本發(fā)明要點(diǎn)的時(shí)刻校正處理進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖5示出了時(shí)刻校正處理(SlO)的具體處理流程。開始時(shí)刻校正處理后，在步驟 SlOl中，單元41 如分別將至少由對被測對象進(jìn)行測量而得到的測量數(shù)據(jù)、進(jìn)行測量的測 量時(shí)刻以及用于標(biāo)識(shí)該單元的單元ID構(gòu)成的組數(shù)據(jù)發(fā)送到數(shù)據(jù)線10上，數(shù)據(jù)處理裝置30 從數(shù)據(jù)線10取得來自于單元41 如的組數(shù)據(jù)，存儲(chǔ)在組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中，同步運(yùn)算部35 的測量時(shí)刻校正部351從組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31按順序讀入該組數(shù)據(jù)。
在步驟S102中，測量時(shí)刻校正部351從校正值存儲(chǔ)部取得用于時(shí)刻校正的校正 值。具體的講，測量時(shí)刻校正部351根據(jù)所讀入的組數(shù)據(jù)中的單元ID，檢索校正值存儲(chǔ)部 34中存儲(chǔ)的對應(yīng)于該單元ID的校正值。如果是第一次對該單元ID所對應(yīng)的單元進(jìn)行同步 處理，則校正值存儲(chǔ)部34中沒有對應(yīng)于該單元ID的校正值。此時(shí)，將校正值設(shè)定為1，即在 最初時(shí)認(rèn)為該單元的測量時(shí)刻沒有誤差，不需要校正。
在取得了組數(shù)據(jù)和對應(yīng)的校正值之后，在步驟S103中，由測量時(shí)刻校正部351對 組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻進(jìn)行校正。具體的講，利用下式(1)進(jìn)行計(jì)算。
校正后的測量時(shí)刻=測量時(shí)刻/校正值(1)
由此得到校正后的測量時(shí)刻。
在步驟S104中，將測量時(shí)刻被校正了的組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在時(shí)刻校正后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部352 中。然后，結(jié)束時(shí)刻校正處理。
在上述步驟S102中，取得存儲(chǔ)在校正值存儲(chǔ)部34中的用于時(shí)刻校正處理的校正 值。對于該校正值，由校正值運(yùn)算部32以規(guī)定的更新周期定期地進(jìn)行更新。以下，對于該 校正值的更新處理進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖6示出了校正值更新處理的流程。在一開始同步處理的同時(shí)，開始該校正值更 新處理。首先，在步驟S510中，由校正值運(yùn)算部32取得來自于RTC33的時(shí)刻tKTra和來自于 組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31的組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻tUNITO。然后，在步驟S520中判斷是否到達(dá)規(guī)定的 更新周期。該更新周期可以由用戶事先設(shè)定，例如設(shè)定為6小時(shí)，即從開始同步處理，每隔 6小時(shí)就進(jìn)行一次校正值更新處理。
如果在步驟S520中判斷沒有到達(dá)規(guī)定的更新周期(“N”)，則重復(fù)步驟S520的判 斷。如果在步驟S520中判斷到達(dá)規(guī)定的更新周期(“Y”)，則進(jìn)入步驟S530。在步驟S530 中，再次取得當(dāng)前的RTC的時(shí)刻tKra和組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻tUNIT1。然后，在步驟S540中， 根據(jù)取得的時(shí)刻信息tKTai、tUNITO、tKTC1、tram，利用下式⑵計(jì)算校正值。
校IE值 一 (tUNITi_tUNIT0) / (tRTC1_tRTC0)(2)
即，校正值=單元的經(jīng)過時(shí)間/RTC的經(jīng)過時(shí)間。
計(jì)算出新的校正值之后，在步驟S550中，用該新的校正值和其對應(yīng)的單元ID構(gòu)成 的組數(shù)據(jù)更新原來存儲(chǔ)在校正值存儲(chǔ)部34中的數(shù)據(jù)。然后，在步驟S560中，將tKra的值賦 給t·，將tram的值賦給traiTO，以用于下一次的校正值更新處理。即，在下一次的校正值更 新處理中，以上一次取得的RTC時(shí)刻和測量時(shí)刻為基準(zhǔn)來計(jì)算經(jīng)過時(shí)間。
以上例示了利用開始更新周期時(shí)的時(shí)刻(基準(zhǔn)時(shí)刻和測量時(shí)刻)和到達(dá)更新周期 時(shí)的時(shí)刻(基準(zhǔn)時(shí)刻和測量時(shí)刻)來計(jì)算校正值的方法，但本發(fā)明的校正值計(jì)算不限于該 方法。例如，可以利用同步開始時(shí)的時(shí)刻(基準(zhǔn)時(shí)刻和測量時(shí)刻)和到達(dá)更新周期時(shí)的時(shí) 刻(基準(zhǔn)時(shí)刻和測量時(shí)刻)來計(jì)算校正值。即，在步驟S510中取得同步開始時(shí)的RTC33的 基準(zhǔn)時(shí)刻為tKTra(1、組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻為traiTO(1，在步驟S540中，校正值=(traiT1-traiT00)/ (tETC1-tETcoo)。由于每次計(jì)算校正值時(shí)都使用同步開始時(shí)的時(shí)刻tKTra(1和tUNITO(1，所以不需要 對時(shí)刻和重新賦值的步驟S560。
為了便于理解本發(fā)明，舉例說明說明本發(fā)明的處理過程。由于對于單元41 如 中的每一個(gè)單元的組數(shù)據(jù)的處理都是同樣的，以下僅以單元41為進(jìn)行說明。
例如，測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)從時(shí)刻10:00:00開始同步處理，此時(shí)RTC33的時(shí)刻tKTra 為10 00 00。數(shù)據(jù)處理裝置30通過通用通信電路IOA將單元41此時(shí)發(fā)送到通用信號(hào)線10 上的組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中，假設(shè)該組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻traiTO為9:58:00。同步 運(yùn)算部35根據(jù)該組數(shù)據(jù)中的單元ID (單元41的ID)，檢索校正值存儲(chǔ)部34中是否存儲(chǔ)有 對應(yīng)于該單元ID的校正值。如果存在對應(yīng)的校正值，則讀入該校正值；如果沒有對應(yīng)的校 正值，則將校正值賦值為1。然后，同步運(yùn)算部35利用該校正值，對單元41的組數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí) 刻校正。
在開始同步處理的時(shí)刻10:00:00，同時(shí)也開始校正值更新處理。但由于是剛剛 開始處理，所以還沒有到達(dá)規(guī)定的更新周期(例如6小時(shí))，此時(shí)不進(jìn)行校正值的更新。 當(dāng)測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)運(yùn)行到時(shí)刻16:00:00，到達(dá)規(guī)定的更新周期。此時(shí)RTC33的時(shí)刻 tKTC1為16:00:00，假設(shè)此時(shí)單元41的組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻15:58:01，則校正值= (traiTi-traiTo)/(tETC1-tETco) = 6小時(shí)1秒/6小時(shí)=1+5X 10_5。在隨后的同步處理中，同步 運(yùn)算部35使用該更新后的校正值進(jìn)行校正。
根據(jù)以上的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，由于不需要向各單元(測量設(shè)備)提供同步信號(hào)， 所以不需要用于此的特別的硬件構(gòu)造。另外，由于不需要單元記錄基準(zhǔn)時(shí)刻并再次將該基 準(zhǔn)時(shí)刻發(fā)送回?cái)?shù)據(jù)處理裝置，所以不需要在單元的硬件中設(shè)置用于此的特別的固件。
另外，根據(jù)該測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，由于通過單元ID來識(shí)別每個(gè)單元，分別進(jìn)行同 步處理，所以能夠進(jìn)行符合用戶要求的同步處理。
另外，根據(jù)以上的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，由于利用預(yù)先存儲(chǔ)在校正值存儲(chǔ)部中的測 量時(shí)刻校正值進(jìn)行測量時(shí)刻校正處理，所以在測量開始之后立刻就能夠進(jìn)行同步處理。另 外，由于以規(guī)定的更新周期對該測量時(shí)刻校正值進(jìn)行更新，所以能夠?qū)⒃摳轮芷趦?nèi)單元 的時(shí)鐘的變動(dòng)情況反映在測量時(shí)刻校正值中，從而能夠減小同步結(jié)果的誤差。
以上對本發(fā)明的具體實(shí)施方式
進(jìn)行了說明，但本發(fā)明不限于以上實(shí)施方式，只要 不脫離本發(fā)明的主旨，可以進(jìn)行各種變形。例如，在以上的說明中，RTC33取得數(shù)據(jù)處理裝 置30本身的時(shí)鐘時(shí)刻作為基準(zhǔn)時(shí)刻，但也可以從外部時(shí)鐘取得基準(zhǔn)時(shí)刻。
權(quán)利要求
1.一種測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其對來自于多個(gè)測量設(shè)備的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行同步處理，其特 征在于，具有信號(hào)線；多個(gè)測量設(shè)備，其將至少由對被測對象進(jìn)行測量而得到的測量數(shù)據(jù)、進(jìn)行所述測量的 測量時(shí)刻以及用于標(biāo)識(shí)該測量設(shè)備的測量設(shè)備ID構(gòu)成的組數(shù)據(jù)，發(fā)送到所述信號(hào)線上；以 及數(shù)據(jù)處理裝置，其從所述信號(hào)線取得來自于所述多個(gè)測量設(shè)備的所述組數(shù)據(jù)，根據(jù)所 述組數(shù)據(jù)中的所述測量設(shè)備ID，取得預(yù)先存儲(chǔ)的與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值， 然后利用該測量時(shí)刻校正值對所述組數(shù)據(jù)中的所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理裝置根據(jù)校正后的測量時(shí)刻對所述組數(shù)據(jù)中的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行重新采樣處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于， 所述數(shù)據(jù)處理裝置具有組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)從所述多個(gè)測量設(shè)備經(jīng)由信號(hào)線輸入的所述組數(shù)據(jù)； 校正值存儲(chǔ)部，其將測量設(shè)備ID和與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值進(jìn)行關(guān)聯(lián) 而存儲(chǔ)；以及同步運(yùn)算部，其從所述組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部取得所述組數(shù)據(jù)，根據(jù)所述組數(shù)據(jù)中的所述測量 設(shè)備ID，從所述校正值存儲(chǔ)部取得與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值，然后利用該測 量時(shí)刻校正值對所述組數(shù)據(jù)中的所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正，并進(jìn)行所述重新采樣處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于， 所述同步運(yùn)算部具有測量時(shí)刻校正部，其從所述組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部取得所述組數(shù)據(jù)，根據(jù)所述組數(shù)據(jù)中的所述 測量設(shè)備ID，從所述校正值存儲(chǔ)部取得與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值，然后利用 該測量時(shí)刻校正值對所述組數(shù)據(jù)中的所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正；時(shí)刻校正后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)由所述測量時(shí)刻校正部進(jìn)行了時(shí)刻校正后的組數(shù)據(jù)；以及重新采樣處理部，其對存儲(chǔ)在時(shí)刻校正后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部中的組數(shù)據(jù)進(jìn)行重新采樣處理， 所述測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)還具有同步后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)由所述同步運(yùn)算部進(jìn)行了重 新采樣處理后的組數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于，所述測量時(shí)刻校正部根據(jù) 下式進(jìn)行測量時(shí)刻校正，校正后的測量時(shí)刻=測量時(shí)刻/測量時(shí)刻校正值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任意一項(xiàng)所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于， 所述數(shù)據(jù)處理裝置還具有實(shí)時(shí)時(shí)鐘部，其提供用于對所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正的基準(zhǔn)時(shí)刻；以及 校正值運(yùn)算部，其以規(guī)定的更新周期定期地從所述組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部取得所述組數(shù)據(jù)、從 所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘部取得所述基準(zhǔn)時(shí)刻，然后利用該組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻和所述基準(zhǔn)時(shí)刻計(jì)算 所述測量時(shí)刻校正值，并且將計(jì)算出的所述測量時(shí)刻校正值與對應(yīng)的測量設(shè)備ID關(guān)聯(lián)而存儲(chǔ)在所述校正值存儲(chǔ)部中。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于，所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘部取得所述數(shù)據(jù)處理裝置本身的時(shí)鐘時(shí)刻，作為所述基準(zhǔn)時(shí)刻。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于， 所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘部從外部時(shí)鐘取得所述基準(zhǔn)時(shí)刻。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于， 所述校正值運(yùn)算部根據(jù)下式計(jì)算測量時(shí)刻校正值，測量時(shí)刻校正值=(tUniT1_tUniT0) / (tKTC1-tKTC0)其中，tKTC。是開始所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNIT。是開始所述更新周期時(shí)的所述組 數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻，tKra是到達(dá)所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNIT1是到達(dá)所述更新周期時(shí) 的所述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其特征在于， 所述校正值運(yùn)算部根據(jù)下式計(jì)算測量時(shí)刻校正值，測量時(shí)亥Ij校正值=(tralT1-tranoo) / (tETci-tETcoo)其中，trtcoo是開始同步時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，traITO(l是開始同步時(shí)的所述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí) 刻，tETC1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，traIT1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的所述組數(shù)據(jù)中 的測量時(shí)刻。
11.一種測量數(shù)據(jù)同步方法，其對來自于多個(gè)測量設(shè)備的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行同步處理，其特 征在于，多個(gè)測量設(shè)備將至少由對被測對象進(jìn)行測量而得到的測量數(shù)據(jù)、進(jìn)行所述測量的測量 時(shí)刻以及用于標(biāo)識(shí)該測量設(shè)備的測量設(shè)備ID構(gòu)成的組數(shù)據(jù)，發(fā)送到信號(hào)線上，數(shù)據(jù)處理裝置從所述信號(hào)線取得來自于所述多個(gè)測量設(shè)備的所述組數(shù)據(jù)，根據(jù)所述組 數(shù)據(jù)中的所述測量設(shè)備ID，取得預(yù)先存儲(chǔ)的與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值，然后 利用該測量時(shí)刻校正值對所述組數(shù)據(jù)中的所述測量時(shí)刻進(jìn)行校正。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測量數(shù)據(jù)同步方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理裝置根據(jù)校正后的測量時(shí)刻對所述組數(shù)據(jù)中的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行重新采樣 處理，并存儲(chǔ)重新采樣處理后的組數(shù)據(jù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測量數(shù)據(jù)同步方法，其特征在于， 根據(jù)下式進(jìn)行測量時(shí)刻校正，校正后的測量時(shí)刻=測量時(shí)刻/測量時(shí)刻校正值。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測量數(shù)據(jù)同步方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理裝置以規(guī)定的更新周期定期地利用基準(zhǔn)時(shí)刻和所述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí) 刻，計(jì)算所述測量時(shí)刻校正值，并且將計(jì)算出的所述測量時(shí)刻校正值與對應(yīng)的測量設(shè)備ID 關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測量數(shù)據(jù)同步方法，其特征在于， 所述基準(zhǔn)時(shí)刻由所述數(shù)據(jù)處理裝置本身的時(shí)鐘產(chǎn)生。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測量數(shù)據(jù)同步方法，其特征在于， 所述基準(zhǔn)時(shí)刻由外部時(shí)鐘產(chǎn)生。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測量數(shù)據(jù)同步方法，其特征在于，根據(jù)下式計(jì)算測量時(shí)刻校正值， 測量時(shí)刻校正值=(t腿T1_t腿T0) / (tKTC1_tKTC0)其中，tKTC。是開始所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNIT。是開始所述更新周期時(shí)的所述組 數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻，tKra是到達(dá)所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，tUNIT1是到達(dá)所述更新周期時(shí) 的所述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻。
18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測量數(shù)據(jù)同步方法，其特征在于， 根據(jù)下式計(jì)算測量時(shí)刻校正值， 測量時(shí)亥Ij校正值=(tralT1-tranoo) / (tETci-tETcoo)其中，tKT■是開始同步時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，traITO(l是開始同步時(shí)的所述組數(shù)據(jù)中的測量時(shí) 刻，tETC1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的基準(zhǔn)時(shí)刻，traIT1是到達(dá)所述更新周期時(shí)的所述組數(shù)據(jù)中 的測量時(shí)刻。
全文摘要
本發(fā)明提供一種測量數(shù)據(jù)同步系統(tǒng)，其對來自于多個(gè)測量設(shè)備的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行同步處理，其特征在于，具有信號(hào)線；多個(gè)測量設(shè)備，其將至少由測量數(shù)據(jù)、測量時(shí)刻以及測量設(shè)備ID構(gòu)成的組數(shù)據(jù)，發(fā)送到信號(hào)線上；以及數(shù)據(jù)處理裝置，其從所述信號(hào)線取得組數(shù)據(jù)，根據(jù)組數(shù)據(jù)中的測量設(shè)備ID，取得預(yù)先存儲(chǔ)的與該測量設(shè)備ID對應(yīng)的測量時(shí)刻校正值，然后利用該測量時(shí)刻校正值對組數(shù)據(jù)中的測量時(shí)刻進(jìn)行校正。根據(jù)該同步系統(tǒng)，由于不需要向各測量設(shè)備提供同步信號(hào)，所以不需要用于此的特別的硬件構(gòu)造。另外，由于不需要測量設(shè)備記錄基準(zhǔn)時(shí)刻并再次將該基準(zhǔn)時(shí)刻發(fā)送回?cái)?shù)據(jù)處理裝置，所以不需要在測量設(shè)備的硬件中設(shè)置用于此的特別的固件。
文檔編號(hào)G04G7/00GK102033487SQ200910180120
公開日2011年4月27日 申請日期2009年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月29日
發(fā)明者周偉, 李峰厚, 谷詰靖宏 申請人:橫河電機(jī)株式會(huì)社