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      主機(jī)板測(cè)試器具的制作方法

      文檔序號(hào):6382456閱讀:319來(lái)源:國(guó)知局
      專(zhuān)利名稱(chēng):主機(jī)板測(cè)試器具的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試器具,應(yīng)用于主機(jī)板的測(cè)試,特別是一種得以快速地對(duì)主機(jī)板做測(cè)試,并減少主機(jī)板的測(cè)試成本及測(cè)試時(shí)間的主機(jī)板測(cè)試器具。
      背景技術(shù)
      在主機(jī)板制作完成后,生產(chǎn)廠商必須要于出貨前,對(duì)主機(jī)板上所設(shè)置的各主要組件做測(cè)試,以確認(rèn)主機(jī)板的效能屬于良品范圍中。
      對(duì)主機(jī)板上所設(shè)置的各主要組件做測(cè)試,可分為在對(duì)設(shè)置于主機(jī)板的中央處理器做散熱測(cè)試時(shí),需將散熱器(測(cè)試組件)置于中央處理器的表面,以獲得散熱結(jié)果,而在對(duì)設(shè)置于主機(jī)板的光驅(qū)插槽做良率測(cè)試時(shí),則必須使光驅(qū)(測(cè)試組件)插置于光驅(qū)插槽,才得以獲知測(cè)試結(jié)果,至于在對(duì)設(shè)置于主機(jī)板的各個(gè)連接頭做良率測(cè)試時(shí),則必須使對(duì)應(yīng)這些連接頭的外部的連接頭(測(cè)試組件)插置于主機(jī)板的連接頭,以獲得測(cè)試結(jié)果。所以一個(gè)一個(gè)組件做測(cè)試,將使得測(cè)試主機(jī)板的工作相當(dāng)?shù)姆睆?fù),而無(wú)法增快測(cè)試主機(jī)板的速度,且亦不能減少測(cè)試主機(jī)板的成本,況且一再地插拔各個(gè)測(cè)試組件,將會(huì)造成測(cè)試組件以極快的速度耗損。

      發(fā)明內(nèi)容
      鑒于已知技術(shù)中的不足,本實(shí)用新型的主要目的乃是提供一種主機(jī)板測(cè)試器具,以快速地全方位地對(duì)主機(jī)板進(jìn)行測(cè)試,并減少主機(jī)板的測(cè)試成本及測(cè)試時(shí)間。
      為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型所揭示的主機(jī)板測(cè)試器具,包括有活動(dòng)板及測(cè)試平臺(tái),其中活動(dòng)板用以承載主機(jī)板,而測(cè)試平臺(tái)供活動(dòng)板可活動(dòng)地設(shè)置,測(cè)試平臺(tái)包括有連接頭測(cè)試模塊、推進(jìn)器、中央處理器散熱模塊及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊。連接頭測(cè)試模塊與推進(jìn)器分別設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)的相對(duì)端,而中央處理器散熱模塊及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊則相對(duì)主機(jī)板的中央處理器及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽地位置設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)。因此,在推進(jìn)器推動(dòng)該活動(dòng)板,而使主機(jī)板邊端的連接器插置于連接頭測(cè)試模塊后,使中央處理器散熱模塊貼附于主機(jī)板的中央處理器,及使磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊插置于主機(jī)板的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽,便可以對(duì)主機(jī)板做測(cè)試。
      為使對(duì)本實(shí)用新型的目的、構(gòu)造特征及其功能有進(jìn)一步的了解,現(xiàn)配合附圖做以詳細(xì)說(shuō)明。


      圖1為本實(shí)用新型的示意圖;圖2、3為本實(shí)用新型的推進(jìn)器的示意圖及使用動(dòng)作圖;圖4、5為本實(shí)用新型的中央處理器散熱模塊的示意圖及使用動(dòng)作圖;及圖6、7、8為本實(shí)用新型的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊的示意圖及使用動(dòng)作圖。
      圖中符號(hào)說(shuō)明10活動(dòng)板11推拉件20測(cè)試平臺(tái)21連接頭測(cè)試模塊211 連接器22推進(jìn)器221 軸部222 座體
      223 頂塊224 連接件225 把手23中央處理器散熱模塊231 底座232 板手233 連桿234 被動(dòng)桿24磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊241 限制件2411 凸端242 樞轉(zhuǎn)件243 移動(dòng)板244 磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器2441 插槽245 定位件2451 導(dǎo)軌2452 導(dǎo)軌入口2453 拉桿246 施力件25滑軌30主機(jī)板31中央處理器32磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽33連接器40散熱器具體實(shí)施方式
      如圖1所示,根據(jù)本實(shí)用新型所揭示的主機(jī)板測(cè)試器具,包括有活動(dòng)板10及測(cè)試平臺(tái)20,其中活動(dòng)板10用以承載主機(jī)板30,并包括有推拉件11,而測(cè)試平臺(tái)20供活動(dòng)板10可活動(dòng)地設(shè)置,且包括有連接頭測(cè)試模塊21、推進(jìn)器22、中央處理器散熱模塊23及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊24。連接頭測(cè)試模塊21與推進(jìn)器22分別設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)20的相對(duì)端,而中央處理器散熱模塊23及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊24則相對(duì)主機(jī)板30的中央處理器31及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽32設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)20。
      如圖1所示,連接頭測(cè)試模塊21包括有復(fù)數(shù)個(gè)連接器211,連接器211分別對(duì)應(yīng)于主機(jī)板30邊端的連接器33,以對(duì)主機(jī)板30做測(cè)試。
      如圖2所示,測(cè)試平臺(tái)20還包括有對(duì)應(yīng)活動(dòng)板10的兩滑軌25,以在推進(jìn)器22推動(dòng)活動(dòng)板30時(shí),引導(dǎo)活動(dòng)板30相對(duì)測(cè)試平臺(tái)20移動(dòng)。
      如圖2、圖3所示,推進(jìn)器22包括有軸部221、座體222、頂塊223、連接件224及呈彎折狀的把手225,軸部221的一端穿過(guò)設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)20的座體222,而與頂塊223連接,且連接件224的一端樞接于軸部221的另一端,另一端樞接于把手225的彎折處,且把手225的一端相對(duì)于軸部221地,樞接于座體222,因此便可帶動(dòng)把手225的另一端,連動(dòng)連接件224,而使軸部221帶動(dòng)頂塊223,推動(dòng)活動(dòng)板10,而使主機(jī)板30邊端的連接器33插置于連接頭測(cè)試模塊21。
      具體的測(cè)試過(guò)程如圖1所示,對(duì)主機(jī)板30做測(cè)試時(shí),將推進(jìn)器22推動(dòng)活動(dòng)板10,而使主機(jī)板30邊端的連接器33插置于連接頭測(cè)試模塊21后,使中央處理器散熱模塊23貼附于主機(jī)板30的中央處理器31,及使磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊24插置于主機(jī)板30的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽32,至于在測(cè)試主機(jī)板30的后,更可將中央處理器散熱模塊23與主機(jī)板30的中央處理器31分離,及使磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊24與主機(jī)板30的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽32分離后,透過(guò)拉動(dòng)推拉件11,使主機(jī)板30邊端的連接器33與連接頭測(cè)試模塊21分離。
      如圖4、圖5所示,中央處理器散熱模塊23包括有底座231、板手232、連桿233及被動(dòng)桿234,底座231固設(shè)于測(cè)試平臺(tái)20,且板手232的一端樞接于底座231的一端,而連桿233的兩端則分別樞接于板手232的另一端及被動(dòng)桿234的一端,被動(dòng)桿234的另一端樞接于底座23 1的另一端,且被動(dòng)桿234設(shè)置有散熱器40,因此推動(dòng)板手232便可連動(dòng)連桿233,使被動(dòng)桿234樞轉(zhuǎn),因而散熱器40便可貼附于主機(jī)板30的中央處理器31。
      如圖6、圖7、圖8所示,磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊24包括有限制件241、樞轉(zhuǎn)件242、移動(dòng)板243、磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器244及定位件245,限制件241固設(shè)于測(cè)試平臺(tái)20,并具有凸端2411,樞轉(zhuǎn)件242固設(shè)于移動(dòng)板243,并供磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器244的一端樞設(shè),移動(dòng)板243可移動(dòng)地設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)20,而定位件245包括有導(dǎo)軌2451,且導(dǎo)軌2451于接近限制件241的一端,開(kāi)設(shè)有可供限制件241通過(guò)的導(dǎo)軌入口2452,且定位件245包括有拉桿2453,并固設(shè)于磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器244的側(cè)端,因此在拉動(dòng)拉桿2453,而使磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器244相對(duì)樞轉(zhuǎn)件242樞轉(zhuǎn),使磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器244的插槽2441對(duì)應(yīng)于主機(jī)板30的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽32,而限制件241的凸端2411通過(guò)導(dǎo)軌2451的導(dǎo)軌入口2452后,推動(dòng)移動(dòng)板243,使定位件245透過(guò)限制件241的凸端2411的導(dǎo)引,而使磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器244的插槽2441插置于主機(jī)板30的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽32。
      當(dāng)然,磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊24更可設(shè)置有施力件246(如圖1所示)。在測(cè)試主機(jī)板30時(shí),推動(dòng)移動(dòng)板243,主機(jī)板30測(cè)試后,拉動(dòng)移動(dòng)板243。
      以上所述者,僅為本實(shí)用新型其中的較佳實(shí)施例而已,并非用來(lái)限定本實(shí)用新型的實(shí)施范圍;即凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)專(zhuān)利范圍所作的均等變化與修飾,皆為本實(shí)用新型專(zhuān)利范圍所涵蓋。
      權(quán)利要求1.一種主機(jī)板測(cè)試器具,其包括有一活動(dòng)板,用以承載主機(jī)板;及一測(cè)試平臺(tái),其特征在于,該活動(dòng)板對(duì)應(yīng)測(cè)試平臺(tái)可活動(dòng)地設(shè)置,測(cè)試平臺(tái)包括有一連接頭測(cè)試模塊、一推進(jìn)器、一中央處理器散熱模塊及一磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊,該連接頭測(cè)試模塊與該推進(jìn)器分別設(shè)置于該測(cè)試平臺(tái)的相對(duì)端,而該中央處理器散熱模塊及該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊則相對(duì)主機(jī)板的中央處理器及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽的位置設(shè)置于該測(cè)試平臺(tái),因此,在該推進(jìn)器推動(dòng)該活動(dòng)板,而使主機(jī)板邊端的連接器插置于該連接頭測(cè)試模塊后,使該中央處理器散熱模塊貼附于主機(jī)板的中央處理器,及使該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊插置于主機(jī)板的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽,以對(duì)主機(jī)板做測(cè)試。
      2.如權(quán)利要求1所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該活動(dòng)板更包括有一推拉件,以于該推進(jìn)器推動(dòng)該活動(dòng)板,而使主機(jī)板邊端的連接器插置于該連接頭測(cè)試模塊后,透過(guò)拉動(dòng)該推拉件,使該主機(jī)板邊端的連接器與該連接頭測(cè)試模塊分離。
      3.如權(quán)利要求1所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該測(cè)試平臺(tái)包括有對(duì)應(yīng)該活動(dòng)板的兩滑軌,以在該推進(jìn)器推動(dòng)該活動(dòng)板時(shí),引導(dǎo)該活動(dòng)板相對(duì)該測(cè)試平臺(tái)移動(dòng)。
      4.如權(quán)利要求1所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該連接頭測(cè)試模塊包括有復(fù)數(shù)個(gè)連接器,該連接器分別對(duì)應(yīng)于主機(jī)板邊端的連接器,以對(duì)主機(jī)板做測(cè)試。
      5.如權(quán)利要求1所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該推進(jìn)器包括有一軸部、一座體、一頂塊、一連接件及呈彎折狀的一把手,該軸部的一端穿過(guò)設(shè)置于該測(cè)試平臺(tái)的該座體,而與該頂塊連接,且該連接件的一端樞接于該軸部的另一端,另一端樞接于該把手的彎折處,且該把手的一端相對(duì)于該軸部地,樞接于該座體,因此便可帶動(dòng)該把手的另一端,連動(dòng)該連接件,而使該軸部帶動(dòng)該頂塊,推動(dòng)該活動(dòng)板,而使主機(jī)板邊端的連接器插置于該連接頭測(cè)試模塊。
      6.如權(quán)利要求1所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該中央處理器散熱模塊包括有一底座、一板手、一連桿及一被動(dòng)桿,該底座固設(shè)于該測(cè)試平臺(tái),且該板手的一端樞接于該底座的一端,而該連桿的兩端則分別樞接于該板手的另一端及該被動(dòng)桿的一端,該被動(dòng)桿的另一端樞接于該底座的另一端,因此推動(dòng)該板手便可連動(dòng)該連桿,使該被動(dòng)桿樞轉(zhuǎn)。
      7.如權(quán)利要求6所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該被動(dòng)桿設(shè)置有一散熱器,因此在推動(dòng)該板手,而造成該被動(dòng)桿樞轉(zhuǎn)后,該散熱器便可貼附于主機(jī)板的中央處理器。
      8.如權(quán)利要求1所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊包括有一限制件、一樞轉(zhuǎn)件、一移動(dòng)板、一磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器及一定位件,該限制件固設(shè)于該測(cè)試平臺(tái),該樞轉(zhuǎn)件固設(shè)于該移動(dòng)板,并供該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的一端樞設(shè),該移動(dòng)板可移動(dòng)地設(shè)置于該測(cè)試平臺(tái),而該定位件則固設(shè)于該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的側(cè)端,以在該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器相對(duì)該樞轉(zhuǎn)件樞轉(zhuǎn),使該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的插槽對(duì)應(yīng)于主機(jī)板的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽后,推動(dòng)該移動(dòng)板,使該定位件透過(guò)該限制件的導(dǎo)引,而使該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的插槽插置于主機(jī)板的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽。
      9.如權(quán)利要求8所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該定位件包括有一導(dǎo)軌,且該導(dǎo)軌接近該限制件的一端,開(kāi)設(shè)有可供該限制件通過(guò)的一導(dǎo)軌入口。
      10.如權(quán)利要求9所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該限制件有一凸端,以通過(guò)該導(dǎo)軌入口,而引導(dǎo)該定位件移動(dòng),使該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的插槽插置于主機(jī)板的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽。
      11.如權(quán)利要求8所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,該定位件包括有一拉桿,以使該磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器相對(duì)該樞轉(zhuǎn)件樞轉(zhuǎn)。
      12.如權(quán)利要求8所述的主機(jī)板測(cè)試器具,其特征在于,磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊更包括有一施力件,以推動(dòng)與拉動(dòng)該移動(dòng)板。
      專(zhuān)利摘要一種主機(jī)板測(cè)試器具,包括有活動(dòng)板及測(cè)試平臺(tái),其中活動(dòng)板用以承載主機(jī)板,而測(cè)試平臺(tái)供活動(dòng)板可活動(dòng)地設(shè)置,且包括有對(duì)應(yīng)于主機(jī)板設(shè)置的連接頭測(cè)試模塊、推進(jìn)器、中央處理器散熱模塊及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊,以在推進(jìn)器將活動(dòng)板推動(dòng),使主機(jī)板邊端的連接器插置于連接頭測(cè)試模塊后,令中央處理器散熱模塊貼附于主機(jī)板的中央處理器,及使磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器測(cè)試模塊插置于主機(jī)板的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器插槽,以便對(duì)主機(jī)板做測(cè)試。
      文檔編號(hào)G06F11/22GK2613817SQ03201388
      公開(kāi)日2004年4月28日 申請(qǐng)日期2003年1月20日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月20日
      發(fā)明者黃仲文 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司
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