專利名稱：光驅(qū)內(nèi)重試次數(shù)計算的方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及光盤裝置內(nèi)的數(shù)據(jù)讀取，特別是涉及一種在光盤裝置上決定重試動作次數(shù)的最大值的方法和裝置。
背景技術：
光驅(qū)(CD-ROM drives)的特色就在于其能在高速下(像是16倍速或24倍速)讀取數(shù)據(jù)，但是仍然有可能發(fā)生讀取錯誤的情形。讀取錯誤往往是起因于讀取訊號其低信噪比(SNR)，這也阻礙了數(shù)據(jù)檢測的精準性。在一開始的讀取工作時，如果一個記錄在盤片上的數(shù)據(jù)區(qū)塊(data block)無法正確讀取時，光驅(qū)便執(zhí)行重試的動作。因為在讀取動作時出現(xiàn)的噪聲，其強度和特性是多變的，如果信噪比足夠大到能精確的恢復該數(shù)據(jù)區(qū)塊的話，在重試動作期間重讀該數(shù)據(jù)區(qū)塊可能導致至少一個成功的讀取動作。因此，往往進行多數(shù)次重試動作以達到成功地回復該數(shù)據(jù)區(qū)塊。因為光驅(qū)在一個盤片周期內(nèi)只能重試一次，大量的重試動作導致了俱增的潛時延遲(latency)。此外，在某些情況，即便無限制的增加重試的次數(shù)，信噪比也可能從未高到足以回復該數(shù)據(jù)區(qū)塊，這也就是說，該數(shù)據(jù)區(qū)塊是永遠無法回復了。
已知關于重新讀取方法描述如下。第一個常用的方法就是維持一個固定的重試次數(shù)，這個重試次數(shù)是根據(jù)盤片每單位時間旋轉(zhuǎn)的數(shù)目(換言之就是盤片轉(zhuǎn)速)，來當作重試的預定次數(shù)。第二個方法就是在第一個方法無法更正錯誤時，暫時地降低盤片轉(zhuǎn)速再重試，如果讀取成功的話，再把盤片轉(zhuǎn)速加速到原先的速度。第三個方法就是在第一個方法無法更正錯誤時，降低盤片轉(zhuǎn)速再重試，如果讀取成功的話，維持轉(zhuǎn)速在降低后的速度。
前述關于重試的方法各有其優(yōu)缺點。第一個方法因為盤片讀取重試次數(shù)一直都維持在一預定次數(shù)，可以通過重試來修復對某數(shù)據(jù)區(qū)塊的解讀的機會有限，因此其錯誤校正能力(error correction capability)較低。第二個方法因為暫時的將盤片轉(zhuǎn)速減速，可以降低噪聲的大小和數(shù)量，因此有較好的錯誤校正能力，但是卻增加了系統(tǒng)的負擔。也就是說因為上述的方法，會使得轉(zhuǎn)軸馬達(spindle motor)轉(zhuǎn)速頻繁的改變。在錯誤更正后，盤片的轉(zhuǎn)速也回復到原先的轉(zhuǎn)速時，這會使得第二個方法有可能損害盤片。也就是說，盤片的損害可能是歸因于盤片轉(zhuǎn)速突然的改變。這也可能造成盤片的損害區(qū)域產(chǎn)生更進一步的讀取錯誤，而且增加在辨認有損害傾向區(qū)域數(shù)據(jù)的困難。第三個方法也是使用到降低轉(zhuǎn)速的方法，但不同的是，第三個方法在錯誤發(fā)生后，轉(zhuǎn)速就維持不變，如果有錯誤發(fā)生就再降低轉(zhuǎn)速，但這樣會造成數(shù)據(jù)傳送速度變得緩慢的缺點。
就拿已經(jīng)紀錄數(shù)字聲訊數(shù)據(jù)的盤片來說，在讀取處理模式下，光驅(qū)的讀取頭讀到的數(shù)據(jù)，經(jīng)由譯碼器處理后，暫時寫在緩沖器(buffer)里。在緩沖器里譯碼后的數(shù)據(jù)很快就會被緩沖器清除掉，以便讓新的數(shù)據(jù)能夠?qū)懭?。為能讓聲音讀取處理的順暢沒有間斷，試圖重試動作的次數(shù)一定要有限制，這樣一來，在執(zhí)行下一個新的數(shù)據(jù)讀取動作前，重試動作就能結(jié)束而不影響讀取處理的順暢。當數(shù)據(jù)緩沖器的內(nèi)容是空的時候，下一個數(shù)據(jù)段的讀取是不考慮錯誤的發(fā)生。
數(shù)字音源擷取(″DAE″)，也就是一般所說的″轉(zhuǎn)文件″，就是將盤片上的音軌以不同的編碼壓縮格式(像是WAV、MP3等等)，藉由建立一個檔案(或是一群檔案)來復制到一硬盤或其它儲存介質(zhì)。如此一來，試圖重試次數(shù)就必需要夠大，以便能盡可能準確的復制盤片上的數(shù)據(jù)。
然而，如上述關于重試的方法，重試的次數(shù)已經(jīng)固定住了，自然無法精準的復制盤片上的數(shù)據(jù)。因此，對一個固件設計師來說，想要確定一個重試次數(shù)，使其足以滿足盤片上音源的讀取處理和擷取兩者，基本上是不可能的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為一關于光盤裝置內(nèi)重試次數(shù)計算的方法和裝置，而且對于讀取處理和擷取兩者都能達到最佳化的效果。
本發(fā)明提供一種當光盤裝置上發(fā)生讀取錯誤時，決定試圖重試動作次數(shù)的最大值的方法。這個方法包含了下列步驟，接收光盤裝置的讀取頭傳來的射頻訊號；檢測該射頻訊號的包絡；當包絡電平低于預定的閾值(predetermined threshold)時，致能一瑕疵訊號；在該瑕疵訊號的致能期間內(nèi)，產(chǎn)生中斷脈沖；藉由該中斷脈沖，決定該試圖重試動作次數(shù)的最大值。
本發(fā)明還提供一當光盤裝置上發(fā)生讀取錯誤時，一個試圖重試動作次數(shù)的最大值的裝置。這個裝置包含了一射頻處理器，用以接收和放大一來自光盤裝置的讀取頭的射頻訊號；一包絡檢測器，用以輸出一射頻訊號的包絡；一瑕疵檢測器，當該包絡電平低于一預定的閾值時，致能一個瑕疵訊號，在該瑕疵訊號致能期間產(chǎn)生中斷脈沖；一系統(tǒng)控制器，根據(jù)該中斷脈沖，用以決定該試圖重試動作次數(shù)的最大值。


圖1為一根據(jù)本發(fā)明的一實施例所繪的光盤裝置方塊圖。
圖2示出了圖1的光盤裝置中，RFAM、SBAD、DEF和中斷訊號Interrupt的波形圖。
圖3為一流程圖，用以表示圖1中，當光盤裝置上發(fā)生讀取錯誤時，一個決定試圖重試動作次數(shù)的最大值的方法。
附圖符號說明100～光盤200～光學頭210～錯誤訊號產(chǎn)生器220～聚焦/跟蹤控制器電路230～射頻訊號放大器240～包絡檢測器250～瑕疵檢測器300～馬達310～馬達控制器電路320～滑動馬達330～滑動馬達控制電路430～激光驅(qū)動電路500～系統(tǒng)控制器具體實施方式
圖1為一根據(jù)本發(fā)明的一實施例所繪的光盤裝置方塊圖。在圖1中，光盤100可以是一高密度紀錄的介質(zhì)。光學頭200為一內(nèi)建有用以錄制或讀取處理的半導體激光、不同型式的鏡片、光訊號檢測器和其它相似的裝置。
在本實施例中，數(shù)據(jù)從光盤100上被紀錄或讀取處理。為了提供更精確的聚焦(focus)和跟蹤(tracking)，本實施例藉由錯誤訊號產(chǎn)生器210產(chǎn)生的聚焦/跟蹤(focus/tracking)錯誤訊號FE/TE，輸入一聚焦/跟蹤控制器電路220來直接控制一物鏡(圖上并沒有繪出)。一系統(tǒng)控制器500用以針對如光學頭200、溝軌(land/groove)轉(zhuǎn)換等所作的各種補償發(fā)布指令。射頻訊號放大器230用以放大一自光學頭傳送來的射頻模擬訊號至預定的電平，且輸出一訊號RFAM。該放大過后的射頻訊號RFAM被送至包絡檢測器240，用以產(chǎn)生放大后射頻訊號RFAM的包絡訊號SBAD。
瑕疵檢測器250用以輸出一中斷訊號Interrupt。當包絡訊號SBAD的電平下降到比預定的閾值還低時，瑕疵檢測器250內(nèi)的訊號DEF(圖上并沒有繪出)將會持續(xù)被致能，直到包絡訊號SBAD的電平超過閾值。本實施例的一種可能做法是，訊號DEF是以一預定的時間周期作周期性的檢測。對每次的檢測來說，如果訊號DEF的致能被檢測到，則在該訊號Interrupt內(nèi)產(chǎn)生中斷脈沖。本實施例的另一種可能做法則是，對每次的檢測來說，中斷脈沖的產(chǎn)生只有在訊號DEF內(nèi)有檢測到電平的變化時才會產(chǎn)生中斷脈沖。
本實施例的裝置可進一步的包含一盤片旋轉(zhuǎn)馬達300、一馬達控制電路310、一用以移動光學頭200的滑動馬達(slider motor)320和一滑動馬達控制電路330。這些組件都是由系統(tǒng)控制器500控制，且皆為熟知的盤片讀取處理器中的一部分。
圖2表示了訊號RFAM、SBAD、DEF和Interrupt的波形。訊號RFAM的波形是藉由讀取盤片上其中一個數(shù)據(jù)區(qū)塊所得到的。特別要注意到，射頻訊號在P1、P2和P3這三個時期，訊號都有下降的情形，這可能是因為數(shù)據(jù)錯誤、盤片瑕疵等等的原因。也因為如此，包絡訊號SBAD也這P1、P2和P3這些期間內(nèi)下降。在P1、P2和P3期間內(nèi)，當訊號SBAD的電平低于一預先決定的閾值電平TH時，訊號DEF會被致能(被往上推)。而且當訊號SBAD的電平值又超過閾值電平TH時，訊號DEF就會被去能(de-assert，被往下拉)。本實施例的一種可能做法是，中斷脈沖在P1、P2和P3這些周期內(nèi)周期性的產(chǎn)生，如波形圖訊號Interrupt(1)所示。本實施例的另一種可能做法則是，中斷脈沖只有在訊號DEF的電平轉(zhuǎn)變時才會產(chǎn)生，如波形圖訊號Interrupt(2)所示。進一步來說，要注意到的關鍵是在一個期間內(nèi)有多少中斷脈沖產(chǎn)生。換句話來說，中斷脈沖的分布和形式都不是關鍵所在。
圖3為一流程圖，用以表示圖1中，當光盤裝置上發(fā)生讀取錯誤時，一個決定試圖重試動作次數(shù)的最大值的方法。
從光盤片100中擷取關于讀取ECC數(shù)據(jù)段的數(shù)據(jù)(步驟10)，如此一個ECC數(shù)據(jù)段(換言之為16個扇區(qū)(sector))被讀取處理(步驟S11)。接下來，從每個扇區(qū)來的數(shù)據(jù)會藉由解調(diào)器(圖1上未繪出)來解調(diào)(步驟S12)。在去交錯后(步驟S13)，執(zhí)行包含了PI錯誤修正(步驟S14)和PO錯誤修正(步驟S15)的ECC錯誤修正。如果ECC錯誤修正正確，ECC譯碼也被完成(步驟S17)。接下來就是執(zhí)行讀取主要數(shù)據(jù)和ID數(shù)據(jù)的動作。
如果在步驟15與步驟17之間的步驟S16中判斷該錯誤修正無法執(zhí)行的話，在16個扇區(qū)中，該個無法執(zhí)行ECC修正的扇區(qū)將被取出(extracted)(步驟S18)。
在步驟S27中，系統(tǒng)控制器500根據(jù)中斷訊號Interrupt內(nèi)的中斷脈沖數(shù)目，從RC1、RC2和RC3中選取一個值，用來當作重試次數(shù)最大值的參數(shù)。在此，一種可能的做法是，系統(tǒng)控制器500在一個錯誤數(shù)據(jù)段的讀取期間，計算中斷訊號Interrupt內(nèi)中斷脈沖的總數(shù)N。如果N比閾值N1大，在閾值N1與另一閾值N2之間，比閾值N2小的話，RC1、RC2和RC3各自被選定，也就是說RC1＜RC2＜RC3且N1＞N2。簡單來說，如果N值比較小，那最大重試次數(shù)值就比較大或N值比較大，最大重試次數(shù)值比較小。換句話說，N值越大，RC值(RC1、RC2、RC3)越小。
相對的，另一種可能的作法則是，系統(tǒng)控制器500根據(jù)僅在訊號DEF電平轉(zhuǎn)變時產(chǎn)生脈沖的中斷訊號Interrupt，從RC1、RC2和RC3中選取一個值，用來當作重試次數(shù)最大值的參數(shù)。系統(tǒng)控制器500在一個錯誤數(shù)據(jù)段的讀取期間，計算訊號Interrupt內(nèi)該讀取期間的總長度L，該讀取期間是介于一奇數(shù)編號和一偶數(shù)編號的中斷脈沖之間。如果L比閾值L1大、在閾值L1與另一閾值L2之間、比閾值L2小的話，RC1、RC2和RC3各自被選定，也就是說RC1＜RC2＜RC3且L1＞L2。簡單來說，如果長度L值比較短，那最大重試次數(shù)值就比較大或最大重試次數(shù)值比較小，長度L值比較長。
在接下來的步驟S19中，讀取處理重試要件都已經(jīng)被設定好。在一個讀取處理重試動作中，如果數(shù)據(jù)不能被正確的讀取處理，光盤片上該相同的數(shù)據(jù)段會再次被讀取。當執(zhí)行讀取處理重試動作時，信息可以在相同的要件或是修改過的要件下被重新讀取。如果讀取處理要件被修改過，系統(tǒng)控制器500可以在聚焦/跟蹤控制器電路220中去改變聚焦或跟蹤要件。當然，系統(tǒng)控制器500也可以是通過馬達控制電路310來更改馬達轉(zhuǎn)速。
隨著選擇好一讀取處理要件，該無法執(zhí)行ECC修正的扇區(qū)被讀取處理，且執(zhí)行數(shù)據(jù)解調(diào)(步驟S20)。接著，ECC錯誤修正在新的讀取扇區(qū)執(zhí)行。在步驟S22中，新的讀取扇區(qū)中的數(shù)據(jù)被加到存有前次讀取數(shù)據(jù)的扇區(qū)中，如此一來ECC修正就可被執(zhí)行了(該數(shù)據(jù)被儲存在像是SRAM的內(nèi)存中)。同時，如果該數(shù)據(jù)段的ECC錯誤修正可被執(zhí)行，ECC譯碼也被完成(步驟S17)。如果步驟S23中ECC錯誤修正無法執(zhí)行，在步驟S24中重試次數(shù)會被加1。
在步驟S28中，系統(tǒng)控制器500判斷重試次數(shù)是否已經(jīng)超過步驟S27所選擇的最大值。如果是的話，系統(tǒng)控制器500將會在步驟S29回報ECC錯誤。除此之外，跳回步驟S18。在這個實施例中，不同的重試要件都會在步驟S19設定好。
如圖3所示的方法中，步驟S27同樣也可以運用在寫入重試動作時，決定最大重試次數(shù)。
雖然本發(fā)明已以具體實施例披露如上，然其僅為了易于說明本發(fā)明的技術內(nèi)容，而并非將本發(fā)明狹義地限定于該實施例，本領域的技術人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下，可作些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍以本發(fā)明的權利要求為準。
權利要求
1.一種決定試圖重試動作的最大次數(shù)的方法，應用在光盤裝置上發(fā)生讀取錯誤時，該方法包含了下列步驟接收來自光驅(qū)讀取頭的射頻訊號；檢測該射頻訊號的包絡；當該包絡電平低于預定值時，致能一瑕疵訊號；在該瑕疵訊號的致能期間產(chǎn)生中斷脈沖；以及根據(jù)該中斷脈沖來決定試圖重試動作次數(shù)的最大值。
2.如權利要求1所述的決定試圖重試動作的最大次數(shù)的方法，在該瑕疵訊號的致能期間內(nèi)，該中斷脈沖是在一預定時間間隔內(nèi)周期性的產(chǎn)生。
3.如權利要求2所述的決定試圖重試動作的最大次數(shù)的方法，該試圖重試動作次數(shù)的最大值的決定，是根據(jù)在一個數(shù)據(jù)區(qū)塊讀取期間內(nèi)，讀取錯誤所產(chǎn)生的該中斷脈沖的總次數(shù)。
4.如權利要求3所述的決定試圖重試動作的最大次數(shù)的方法，當中斷脈沖的總次數(shù)為大于一第一閾值、在該第一閾值和一第二閾值之間、低于該第二閾值時，分別選定一第一、第二和第三值作為重試次數(shù)的最大值，且該第一閾值比該第二閾值大，該第一值比該第二值小，而且該第二值比該第三值小。
5.如權利要求1所述的決定試圖重試動作的最大次數(shù)的方法，該中斷脈沖的產(chǎn)生只根據(jù)該瑕疵訊號內(nèi)電平的轉(zhuǎn)變。
6.如權利要求5所述的決定試圖重試動作的最大次數(shù)的方法，該試圖重試動作的最大次數(shù)的決定，是根據(jù)在一造成讀取錯誤的數(shù)據(jù)區(qū)塊讀取期間內(nèi)，在一對奇數(shù)和偶數(shù)編號的脈沖中周期的總長度。
7.如權利要求6所述的決定試圖重試動作的最大次數(shù)的方法，當周期的總長度大于該第一閾值、在該第一閾值和該第二閾值之間、比該第二閾值低時，分別選定一第一、第二和第三值作為重試次數(shù)的最大值，且該第一閾值比該第二閾值大，該第一值比該第二值小，而且該第二值比該第三值小。
8.一個決定試圖重試動作次數(shù)最大值的裝置，應用在光盤裝置發(fā)生讀取錯誤時，其中包含一射頻處理器，用以接收和放大射頻訊號，其訊號來該自光盤裝置的讀取頭；一包絡檢測器，根據(jù)該射頻訊號處理器的結(jié)果，用以輸出一該射頻訊號的包絡；一瑕疵檢測器，當該包絡電平低于預定的閾值時致能一瑕疵訊號，在該瑕疵訊號的致能期間內(nèi)產(chǎn)生中斷脈沖，該包絡檢測器的輸出是由該瑕疵檢測器所接收；且一系統(tǒng)控制器，根據(jù)該中斷脈沖用以決定該試圖重試動作的最大次數(shù)，該瑕疵檢測器的輸出是由該系統(tǒng)控制器接收。
9.如權利要求8所述的決定試圖重試動作次數(shù)最大值的裝置，該中斷脈沖是在該瑕疵訊號的致能期間內(nèi)，以一預定的時間間隔周期性的產(chǎn)生，且該中斷脈沖是藉由瑕疵檢測器接收。
10.如權利要求9所述的決定試圖重試動作次數(shù)最大值的裝置，系統(tǒng)控制器是根據(jù)在一造成讀取錯誤的數(shù)據(jù)區(qū)塊讀取期間內(nèi)中斷脈沖的總量來決定試圖重試動作次數(shù)的最大值。
11.如權利要求10所述的決定試圖重試動作次數(shù)最大值的裝置，當該中斷脈沖的總量大于一第一閾值、在該第一閾值和一第二閾值之間、比第該二閾值低時，分別選定一第一、第二和第三值作為重試次數(shù)的最大值，且該第一閾值比第二閾值大，該第一值比該第二值小，而且該第二值比該第三值小。
12.如權利要求8所述的決定試圖重試動作次數(shù)最大值的裝置，該中斷脈沖的產(chǎn)生是僅根據(jù)該瑕疵訊號內(nèi)電平的轉(zhuǎn)變，且該中斷脈沖是藉由該瑕疵檢測器接收。
13.如權利要求12所述的決定試圖重試動作次數(shù)最大值的裝置，該系統(tǒng)控制器決定該試圖重試動作次數(shù)的最大值時，是根據(jù)該瑕疵訊號在一造成讀取錯誤的數(shù)據(jù)區(qū)塊讀取期間內(nèi)，該瑕疵訊號在一對奇數(shù)和偶數(shù)編號的中斷脈沖中周期的總長度。
14.如權利要求13所述的決定試圖重試動作次數(shù)最大值的裝置，當該周期的總長度大于一第一閾值、在該第一閾值和一第二閾值之間、比該第二閾值小時，分別選定一第一、第二和第三值作為重試次數(shù)的最大值，且該第一閾值比該第二閾值大，該第一值比該第二值小，而且該第二值比該第三值小。
全文摘要
當光驅(qū)上發(fā)生讀取錯誤時，一種決定試圖重試動作次數(shù)的最大值的方法，這個方法包含了下列步驟接收來自光學機讀取頭的射頻訊號；檢測該射頻訊號的包絡；當該包絡電平低于預定值時，致能(asserting)一瑕疵訊號；在該瑕疵訊號的致能期間(assertion)產(chǎn)生中斷脈沖；以及根據(jù)該中斷脈沖來決定該試圖重試動作次數(shù)的最大值。
文檔編號G06F11/00GK1627379SQ200410100358
公開日2005年6月15日 申請日期2004年12月9日 優(yōu)先權日2004年2月6日
發(fā)明者朱斯廉 申請人:威盛電子股份有限公司