專利名稱：面向特征的測試程序的開發(fā)與執(zhí)行的制作方法
背景技術：
本發(fā)明涉及用于目標測試系統(tǒng)的資源限制管理單元，涉及用于某些目標測試系統(tǒng)上的測試專用設備的測試程序的設置環(huán)境，并且涉及用于使測試程序的執(zhí)行適應特定目標測試系統(tǒng)的方法。
在測試集成電路的公司中可能使用多種不同類型或硬件配置的自動測試系統(tǒng)(ATE)。例如，測試程序可能在位于公司的R&D部門的高端機器上被開發(fā)。在測試程序開發(fā)(包括測試程序創(chuàng)建和在實際ATE上的交互調試)完成之后，測試程序可能在制造臺(floor)的不太高級的測試系統(tǒng)上被執(zhí)行。因此，在第一ATE(自動測試設備)上開發(fā)的測試程序不得不在另一種類型或硬件配置的ATE上運行。于是出現(xiàn)如下問題，即如何實現(xiàn)測試程序在不同類型或硬件配置的ATE之間的兼容性。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于改進不同測試系統(tǒng)之間的測試程序兼容性。該目的被獨立權利要求解決。從屬權利要求示出優(yōu)選實施例。
根據本發(fā)明實施例的設置環(huán)境適合于生成測試程序的特征規(guī)范，所述測試程序包含至少一個測試。該設置環(huán)境包含特征規(guī)范模塊，其適合于逐個測試地定義指示執(zhí)行各個測試所需的目標測試系統(tǒng)能力的特征規(guī)范。該設置環(huán)境還包括存儲裝置，其適合于將所述特征規(guī)范與所述測試程序存儲在一起。
根據本發(fā)明實施例的設置環(huán)境允許針對測試程序中的每個測試單獨定義目標測試系統(tǒng)需要支持的特征。如果目標測試系統(tǒng)支持某一測試所需的特征，該測試則將可以在該目標測試系統(tǒng)上執(zhí)行。如果目標測試系統(tǒng)不支持某一測試所需的特征，該測試則不得不被擱置或被脫機處理。利用該設置環(huán)境，測試程序的每個測試可被裝配指示用于執(zhí)行該測試的最小需求的特征規(guī)范。無論何時需要將這種測試程序加載到目標ATE，都可以容易地針對測試程序的每個測試單獨確定該測試是否可以在目標測試系統(tǒng)上執(zhí)行。
在開發(fā)測試時，用戶例如可能希望利用更高級的特征。在此情況下，測試將僅運行在一些高端測試系統(tǒng)上。但是，如果用戶將其自身限制到簡單特征，測試則將在幾乎所有目標測試系統(tǒng)上執(zhí)行。根據本發(fā)明實施例，在開發(fā)測試程序的單個測試之前，實現(xiàn)了一方面的測試程序兼容性與另一方面的特征可用性之間的折衷。
通過向測試程序中的每個測試分配特征規(guī)范，可以在不同類型或硬件配置的ATE上使用一個或同一測試程序。取代針對一個特定目標測試系統(tǒng)開發(fā)一個測試程序的方式，針對整個范圍的目標測試系統(tǒng)(包括低端和高端測試系統(tǒng))開發(fā)一個測試程序是可能的。在目標測試系統(tǒng)的一部分上，特征規(guī)范允許確定可以在各個平臺上執(zhí)行的各個測試子集。雖然目標測試系統(tǒng)可能變化，但測試程序只用開發(fā)一次并且隨后在目標測試系統(tǒng)上只需維護單個測試程序。因此，用于測試程序開發(fā)和維護的總成本被降低。此外，不同目標測試系統(tǒng)之間的互操作性被提高，這是因為在第一ATE上開發(fā)的測試程序可被容易地轉移到另一類型的ATE。例如，如果公司擁有被用于R&D的高端測試系統(tǒng)，并且在制造時使用一個或多個低端機器，在R&D部分開發(fā)的測試程序也可以在制造時的測試系統(tǒng)上被執(zhí)行。
根據另一優(yōu)選實施例，該設置環(huán)境還適合于逐個測試地定義針對至少一個測試的測試設置。該測試設置例如可以包括在執(zhí)行測試前加載到每管腳測試器資源的設置和參數。該設置環(huán)境允許交互地定義各個測試的測試設置。
根據優(yōu)選實施例，該設置環(huán)境還適合于通過向測試器資源分配管腳名來定義管腳配置。另一方面，定義允許的參數范圍的特征集合可以被分配給管腳名。另一方面，針對每個管腳名，可以指定相應的測試設置，以被加載到測試器資源。
根據優(yōu)選實施例，交互式的設置環(huán)境是自動測試設備(ATE)的一個完整部分。在該自動測試設備上開發(fā)的測試程序是針對一組所需目標測試系統(tǒng)而非在特定ATE上開發(fā)的。因此，將通過明確的用戶動作而非“偶然發(fā)生”來實現(xiàn)硬件兼容性。
根據另一優(yōu)選實施例，特征規(guī)范包含針對單獨的管腳的特征集合。對于每個測試，通過指定被利用的每個測試器管腳的特征集合來設置特征規(guī)范。因此，可能例如包含諸如電壓電平、向量速率等之類的特征的特征集合與所需目標測試系統(tǒng)的每管腳測試器資源相對應地被設置。如果針對某一測試，目標測試系統(tǒng)的每管腳測試器資源與特征集合匹配，該測試則可以在各個目標測試系統(tǒng)上執(zhí)行。
根據另一優(yōu)選實施例，所述特征規(guī)范指示目標測試系統(tǒng)用于執(zhí)行各個測試的部分上所需的最小硬件資源。例如，特征規(guī)范可能參考某種類型的目標測試設備。
根據另一優(yōu)選實施例，用戶可以通過參考某種類型的測試器資源(例如特定測試通道或儀器類型)或參考目標系統(tǒng)的測試器資源的某種性能級別來指定每管腳特征集合。因此，該特征集合被限制到各個測試器資源支持的特征。此外，用戶可以通過參考不同類型的測試器資源或性能級別的交集來指定每管腳特征集合。在此情況下，該特征集合被限制到交集的每個測試器資源所支持的那些特征。測試系統(tǒng)可以包含不同類型的具有不同能力的測試器資源。通過逐個管腳地參考測試器資源的類型或它們的交集，特征規(guī)范可以單獨適應于可用的每管腳測試器資源。
根據另一優(yōu)選實施例，用戶可以手工設置某一測試的特征規(guī)范。出于該目的，特征規(guī)范模塊可以包含交互式編輯裝置，其允許逐個測試地輸入所需參數。用戶可以逐個管腳地提供所需參數，以便生成每管腳特征集合。
在優(yōu)選實施例中，所述特征規(guī)范包含以下各項中的至少一個最小/最大電壓電平、最小/最大電壓范圍、最小/最大電流、最小/最大頻率和周期、最小/最大數據速率、波形資源的數目、定時資源的數目、定時分辨率、周期和頻率分辨率、向量存儲器深度、定序器存儲器深度、波形存儲器深度、位分辨率。特征規(guī)范還可以包含其他參數以指示所需測試系統(tǒng)能力。
根據又一實施例，用戶可以通過選擇多個系統(tǒng)定義的特征規(guī)范之一來設置特征規(guī)范。通過參考預先定義的特征標識符，可以更快速地執(zhí)行設置特征規(guī)范的任務。
根據又一優(yōu)選實施例，系統(tǒng)定義的特征規(guī)范可以用手工指定的特征來部分或全面替換。
根據替換實施例，根據預先定義的外部標準的測試器描述可被用作設置特征規(guī)范的基礎。
根據又一優(yōu)選實施例，針對某一測試的特征規(guī)范是通過參考當前測試系統(tǒng)的能力來生成的。當前測試系統(tǒng)的特征例如可以通過訪問當前系統(tǒng)的模型文件或通過執(zhí)行實際ATE硬件的自動檢測來獲得，所述模型文件包含關于當前系統(tǒng)的信息。
根據優(yōu)選實施例，不同特征規(guī)范可被提供給測試程序的不同測試。對于測試程序的不同測試，可能需要目標測試系統(tǒng)的不同能力。在目標測試系統(tǒng)的一部分上，這允許逐個測試地確定目標測試系統(tǒng)是否能夠執(zhí)行各個測試。如果特征規(guī)范是逐個管腳地設置的，則可能存在與不同測試相關的不同每管腳特征集合。
在優(yōu)選實施例中，設置環(huán)境適合于根據特征規(guī)范來限制用戶可以在開發(fā)測試程序時利用的特征。在該實施例中，設置環(huán)境適合于僅向特征規(guī)范所描述的特征提供訪問權限和/或忽略不符合特征規(guī)范的輸入。因此，可以確認的是，當設置某一測試時，只有在特征規(guī)范中定義的特征被使用。
根據優(yōu)選實施例，所述設置環(huán)境適合于根據所述特征規(guī)范來限制測試設置的參數范圍。當指定測試設置時，用戶被限制到特征規(guī)范的設置和參數范圍。該設置環(huán)境適合于忽略超出特征規(guī)范定義的限度的用戶輸入。如果特征規(guī)范對應于某一目標ATE的特征，該設置環(huán)境則將表現(xiàn)得像該目標ATE一樣。
根據另一優(yōu)選實施例，該設置環(huán)境包括交叉檢驗設施，其適合于連續(xù)監(jiān)視正被開發(fā)的測試的特征是否與所需目標ATE的能力匹配。如果它們不匹配，所述交叉檢驗設施則將通知用戶。在此情況下，所述交叉檢驗設施例如可以提供如何限制當前測試的特征的建議。
本發(fā)明的實施例還涉及包含上述設置環(huán)境的ATE系統(tǒng)軟件。根據優(yōu)選實施例，該設置環(huán)境適合于交互式地指定和修改特征規(guī)范。
根據本發(fā)明實施例的資源限制管理單元包括適合于接收測試程序和針對所述測試程序中的至少一個測試的特征規(guī)范的接口。所述特征規(guī)范指示執(zhí)行某一測試所需的測試系統(tǒng)能力。該資源限制管理單元還包括特征規(guī)范評價裝置。該特征規(guī)范評價裝置適合于逐個測試地將各個測試的特征規(guī)范與所述目標測試系統(tǒng)的能力相比較，以用于針對每個測試確定目標測試系統(tǒng)是否能夠執(zhí)行各個測試。該特征規(guī)范評價裝置還適合于在目標測試系統(tǒng)的能力允許執(zhí)行所述測試的情況下發(fā)起測試執(zhí)行。
在目標測試系統(tǒng)的一部分上，針對測試程序中的至少某些測試，指示執(zhí)行測試所需的能力的特征規(guī)范被接收。通過比較每個測試的特征規(guī)范與目標測試系統(tǒng)的屬性，可以逐個測試地確定可用資源是否允許執(zhí)行各個測試。如果針對某一測試的特征規(guī)范與目標測試系統(tǒng)的能力匹配，則將發(fā)起測試執(zhí)行。
測試程序例如可以包括與當前測試系統(tǒng)的能力匹配的測試以及需要在當前測試系統(tǒng)上無法獲得的特征的測試。在此情況下，資源限制管理單元適合于發(fā)起與可用資源匹配的那些測試的執(zhí)行。通過實現(xiàn)上述資源限制管理單元，可以在范圍從低端到高端的多種不同的目標測試系統(tǒng)上運行包括簡單測試和更高級測試的測試程序。測試程序兼容性的問題被資源限制管理單元自動考慮到。用戶不需要跟蹤不同目標測試系統(tǒng)的不同測試程序版本，因為單個測試程序版本可被用于不同的目標測試系統(tǒng)。
在優(yōu)選實施例中，資源限制管理單元適合于擱置具有與可用測試器資源不匹配的特征規(guī)范的測試。例如，在不太高級的目標測試系統(tǒng)上，只有測試程序的小子集可被執(zhí)行，而在高端機器上，測試的大子集(甚至全部)可能被執(zhí)行。
根據優(yōu)選實施例，資源限制管理單元包括脫機處理設施，其適合于應對可用的測試器資源無法執(zhí)行的那些測試。無論何時資源限制管理單元確定某一測試的特征規(guī)范與可用測試器資源不匹配，就用測試的脫機處理來代替實際的測試執(zhí)行。
在優(yōu)選實施例中，脫機處理設施在可用的測試器資源不允許執(zhí)行某一測試時生成仿真的測試結果。在這些情況下，實際的測試執(zhí)行被測試的仿真所取代。因此，目標測試系統(tǒng)將測試程序中的所有測試的測試結果記入日志，由此指示出尚未被實際執(zhí)行的測試的結果數據。
根據另一優(yōu)選實施例，資源限制管理單元包括設置加載器單元。在執(zhí)行測試程序中的一個測試之前，至少一個相應的設置被加載到測試系統(tǒng)的硬件。對應于某一測試的一個或多個設置將僅僅在測試的特征規(guī)范與可用的測試器資源匹配的情況下被加載。
在優(yōu)選實施例中，針對一個測試的特征規(guī)范包括多個特征集合。針對每個管腳，至少針對測試所利用的每個管腳，指定相應的特征集合。根據又一優(yōu)選實施例，特征規(guī)范評價裝置適合于針對測試期間利用的每個管腳確定相應的特征集合是否與相應的每管腳測試器資源匹配。通過針對測試期間利用的每個管腳，逐個管腳地比較特征集合與測試器資源，可以確定測試作為整體是否可被執(zhí)行。
本發(fā)明可以由一個或多個合適的軟件程序來部分或全部地體現(xiàn)或支持，所述軟件程序可被存儲在任意種類的數據載體上或以其他方式由數據載體提供，并且所述軟件程序可以在任意合適的數據處理單元中執(zhí)行。軟件程序或例程優(yōu)選地被用于使測試程序的執(zhí)行適應于特定目標測試系統(tǒng)。


通過結合附圖參考以下對優(yōu)選實施例的更詳細描述，可以更好地理解并且更容易地覺察本發(fā)明實施例的其他目的和很多附加優(yōu)點。在實質上或功能上相同或相似的特征將利用相同的標號來引用。
圖1給出不同硬件和軟件版本的概觀；圖2示出測試程序開發(fā)的過程；圖3描繪允許特征的集合可如何限制到三個目標ATE T1、T2、T3的交集；圖4示出實際上執(zhí)行ATE測試程序的目標ATE；圖5示出測試程序TP，其包含9個測試以及三個不同測試系統(tǒng)T1、T2、T3的能力；以及圖6描繪兩種不同數據模型，它們提供了測試設置和特征設置之間的相互關系。
具體實施例方式
自動測試設備(ATE)一般包含ATE系統(tǒng)軟件和多種測試器資源(通道卡和/或儀器)，其中測試器資源受控于用于提供測試信號到被測設備(DUT)并從DUT接收測試信號的測試程序。在用戶的測試臺上，可能存在多種具有通道卡的ATE，這些通道卡具有不同產品代(productgeneration)和速度/性能類。此外，可能存在不同版本的ATE系統(tǒng)軟件，被用來加載、開發(fā)、執(zhí)行和保存測試程序，從而導致相應的測試程序版本。用戶一般希望測試程序在提供相同能力的不同硬件資源之間以及在不同軟件版本之間具有兼容性。
圖1示出不同測試器資源和測試程序版本的示例。沿軸1，示出兩個不同產品代的每管腳(per-pin)測試器資源過去的硬件代被稱為“第A代”，新的硬件代被稱為“第B代”。第A代包含三個不同的速度/性能類“L”(低成本)、“M”(中等成本)和“H”(高端)。提供了從低成本到高端的接替式特征集合的速度/性能類“L”、“M”、“H”沿軸2示出。第B代包含速度類“LII”(低成本)、“MII”(中等成本)和“HII”(高端)，它們沿軸3示出。該圖的第三維度對應于各個軟件版本。沿軸4，指示了包含版本1.0、2.0、2.1、2.1.1、2.2的不同測試程序版本。
例如，用戶可能已經開發(fā)出針對過去的產品代(例如針對“第A代”)系統(tǒng)的測試程序?，F(xiàn)在，用戶購買了一個或多個“第B代”系統(tǒng)，并希望升級他的舊測試程序，因此他希望利用“第B代”系統(tǒng)提供的新特征來測試某一設備。另一用戶可能已經購買了針對其R&D場所的ATE系統(tǒng)的狀態(tài)，但在制造場所，具有過去的產品代的測試系統(tǒng)仍舊在使用。在此情況下，測試程序在更有能力的測試系統(tǒng)(例如“第B代”測試系統(tǒng))上被開發(fā)，但是希望該測試程序在能力更低的“第A代”系統(tǒng)上運行。根據另一示例，用戶可能出于降低成本的緣故而修改他的測試程序。所有需要“M”或“MII”能力的測試被省略，并且修改的測試程序希望在“L”和“LII”測試器資源上運行。
一般而言，用戶希望在提供相同能力的不同硬件資源之間以及在不同軟件版本之間具有兼容性。測試程序兼容性需要處理以下不同方面包括由不同軟件版本生成的測試程序的兼容性(軟件兼容性)以及針對不同硬件資源生成的測試程序的兼容性(硬件兼容性)，由此硬件兼容性包含不同硬件代(例如“第A代”和“第B代”)之間的兼容性以及提供了從低成本到高端的接替式特征集合的不同速度/性能類之間的兼容性。當然，測試程序兼容性可以僅僅針對不同軟件版本或不同測試器資源的公共特征集合來實現(xiàn)。
一般而言，兼容性聲明包含關于前向兼容性以及關于后向兼容性的聲明。如果系統(tǒng)與其自身后期的版本兼容(例如可利用更晚版本讀取數據)，該系統(tǒng)則是前向可兼容的。如果系統(tǒng)與其自身早期的版本兼容，或有時與其他更早的系統(tǒng)(尤其是它希望取代的系統(tǒng))兼容(例如可與該更早版本共享數據)，該系統(tǒng)則是后向可兼容的。
軟件兼容性被定義為加載和執(zhí)行已利用另一軟件版本保存的測試程序的能力。關于軟件兼容性，所需行為例如可以包括無需為了加載、執(zhí)行和保存測試程序而進行吞吐量降級就能夠在所有版本之間提供前向兼容性，以及在次要版本之間(例如在版本2.1.1和2.1之間)的后向兼容性。在主要版本之間(例如在版本2.0和1.0之間)，可能不一定需要后向兼容性。
硬件兼容性被定義為無需吞吐量降級而加載和執(zhí)行已利用同一軟件版本被保存在另一硬件上的測試程序的能力。優(yōu)選地，硬件兼容性包括不同硬件代之間的前向兼容性，至少到不存在諸如不可兼容的級別范圍之類的硬件限制的程度。例如，已經在“第A代”系統(tǒng)上開發(fā)的測試程序可以在“第B代”系統(tǒng)上執(zhí)行。更優(yōu)選地，硬件兼容性包括提供了從低成本到高端的接替式特征集合的不同速度類之間的前向兼容性。這種前向兼容性暗示已經在“M”通道上開發(fā)的測試程序可以在“H”通道上執(zhí)行。但是，可能存在對前向兼容性加以限制的硬件限制。除此之外，硬件兼容性包括不同類型的通道卡之間的后向兼容性，直到不同類型的通道卡支持測試程序所利用的硬件特征的公共集合。例如，已被保存在“第B代”系統(tǒng)上并且沒有利用任何“第B代”專門特征的測試程序可以在“第A代”系統(tǒng)上執(zhí)行。
優(yōu)選地，利用最少投資在不同ATE系統(tǒng)(系統(tǒng)軟件和測試器資源)上運行同一測試程序應該是可能的。
在圖2中，測試開發(fā)的過程被示出。由電子設計自動化(EDA)域5提供的文件一般被用作生成測試圖樣的起始點。該EDA域5可能提供設計仿真數據，例如VCD文件6、Verilog文件7或VHDL文件8。
Verilog是一種流行的硬件定義語言，其已被定義為開放標準(OpenVerilog)。一般而言，Verilog被用于“Cadence”Verilog仿真器。Verilog在一種語言中支持行為的、寄存器傳輸級(RTL)、門級描述和激勵描述。
VCD(Verilog信息轉儲)是來自Verilog的輸出，其被用于測試圖樣生成。通常，VCD文件需要被翻譯成測試器可讀取的另一格式。
VHDL是VHSIC(超大規(guī)模集成電路)硬件描述語言。VHDL已被定義在IEEE標準1076中。
EDA域5還可能提供利用獨立于特定ATE的專用測試描述語言的DFT(測試設計)數據或ATPG(自動測試圖樣生成)數據，例如STIL文件9或WGL文件10。
定義在IEEE標準1450中的STIL(標準測試接口語言)被設計用于在仿真、自動測試圖樣生成(ATPG)、內置自測(BIST)和ATE之間傳輸高密度數字測試圖樣。其支持可由仿真、轉換和ATPG工具生成的定時、規(guī)范、圖樣和串行掃描的測試器中性(tester-neutral)描述。在STIL中使用的波形代表允許分層定義信號定時并且適用于現(xiàn)代微處理器總線結構。定時可被定義為定時規(guī)范表和定時關系。STIL存儲了支持全掃描、部分掃描或邊界掃描的串行掃描數據，其格式是針對無需進一步測試轉換的直接測試執(zhí)行來構造的。
WGL(波形生成語言)是針對ATPG和向量生成的事實標準。大多數圖樣開發(fā)工具支持WGL。此外，存在適用于將WGL轉換成各種本地ATE標準的第三方工具。
在EDA域5的一部分上，當生成ATPG或仿真測試文件時，可用硬件資源以及測試器資源限制可能被考慮到。出于此目的，ATE測試程序17例如可能將測試器資源限制(TRC)信息13提供到TRC發(fā)生器14，所述TRC信息13指示測試器硬件12的限制。TRC發(fā)生器14適合于將TRC信息13轉換成EDA域5可以處理的標準。例如，TRC發(fā)生器14可能根據標準IEEE1450.3(該標準也被稱為STIL TRC擴展)將TRC信息13轉換成TRC文件15。在生成ATPG或仿真測試文件期間，EDA域5可以訪問TRC文件15，以便根據可用硬件資源強加的限制來設置測試圖樣。
設計到測試域16負責將各個輸入文件(例如VCD、Verilog或VHDL文件、WGL文件或STIL文件)轉換成ATE可處理的相應本地ATE測試程序17。由EDA域5遞送的測試數據可以是基于事件的測試文件，即其包含諸如信號沿之類的事件，所述信號沿在模擬時間域中被一個接一個地排列起來。這種測試無法由ATE直接執(zhí)行。因此，設計到測試域16適合于通過應用用戶指定的周期定義將基于事件的測試轉換成基于周期的測試。
根據本發(fā)明實施例，ATE系統(tǒng)軟件11包含設置和調試用戶界面18，其根據目標ATE的能力來交互式地適配ATE測試程序17。具體而言，設置和調試用戶界面18適合于讀取(19)ATE測試程序17，以用于指定管腳配置20、特征規(guī)范21和測試設置22，以及適合于寫回(23)ATE測試程序17。
在第一步驟中，管腳配置20被設置。利用設置和調試用戶界面18，用戶可以指定目標ATE的測試器資源，并向每管腳測試器資源分配管腳名。
在下一步驟中，用戶可以設置指示所需目標ATE的測試系統(tǒng)能力的特征規(guī)范21。設置和調試用戶界面18包含特征規(guī)范編輯器24，其適合于訪問和編輯(25)特征規(guī)范21。利用特征規(guī)范21，用戶可以有目的地限制所利用的測試系統(tǒng)能力。特征規(guī)范21例如可以包括針對每個測試單獨設置的以及針對被用于測試被測設備(DUT)的管腳的每個每管腳測試器資源單獨設置的特征集合。如果用戶將測試功能限制到最小，則將可以在任意目標ATE上執(zhí)行各個測試。但是，如果用戶希望利用更高級的特征，所產生的測試則將只能在高端目標ATE上執(zhí)行。因此，在生成本地ATE測試程序之前，用戶不得不找到一方面的測試程序兼容性和另一方而的高級特征可用性之間的折衷。一般而言，用戶將在指定某一測試所需的特征和能力之前分析測試方法和可用的測試器資源，并將據此設置特征規(guī)范。
如何針對某一測試來設置特征規(guī)范存在若干不同的可能性。第一種可能性是利用特征規(guī)范編輯器24手工指定單獨的特征和所需規(guī)范。作為示例，讓我們假設目標ATE的硬件包含一個或多個數字通道。在此情況下，特征規(guī)范例如可能包含●最小/最大向量周期●最小/最大主時鐘頻率●每個向量的波形數目●每個向量的信號沿數目●向量存儲器深度●定序器存儲器深度●電壓范圍●等等一般而言，特征規(guī)范將最可能參考測試器資源的測量結果或信號生成能力，而不是參考對用戶隱藏的硬件規(guī)范或硬件特征。
用于指定特征集合的第二種可能性是參考系統(tǒng)定義的標識符或通過明示地參考諸如M或LII之類通道卡的類型，其中所述標識符反映出特定通道卡的特征或通道規(guī)范。此外，特征集合可以通過參考兩個或更多個通道類型的特征的交集來定義，例如通過參考通道卡M和MII的公共特征來定義M∩MII。
根據另一變化，特征集合是通過處理任意種類的預定工業(yè)標準測試器描述來設置的。
根據另一種可能性，系統(tǒng)定義的特征規(guī)范被視為起始點，由此預先定義的特征根據用戶的需求被交互式地編輯和替換。
再一種可能性是通過參考ATE測試程序17在其上被開發(fā)的ATE的能力來定義特征集合。例如，通過執(zhí)行實際ATE硬件12的自動檢測，當前系統(tǒng)的能力可以從硬件驅動器26獲得?？商鎿Q地，ATE描述文件27可以被訪問，其包含關于ATE系統(tǒng)軟件在沒有可用的物理硬件時仿真測試器硬件所需的測試系統(tǒng)配置的所有信息。
特征規(guī)范編輯器24可以支持上述用于設置特征規(guī)范21的可能性中的一種或多種。一般而言，測試程序包含不同測試的序列。在此情況下，針對不同測試指定不同特征集合是可能的。
在第三步驟中，在已經定義了管腳配置20和特征規(guī)范21之后，測試設置22被指定。測試設置22包含將被加載到各個目標ATE的硬件資源的值和參數。
ATE系統(tǒng)軟件11還包括資源限制管理器28。管腳配置20和特征規(guī)范21都被提供(29)到資源限制管理器28。資源限制管理器28適合于監(jiān)視用戶指定的測試設置22是否符合之前定義的特征規(guī)范21。
此時，存在若干可能的實現(xiàn)方式。根據第一實施例，資源限制管理器28和設置和調試用戶界面18適合于以符合特征規(guī)范21所強制的方式限制測試設置22的參數范圍。在該實施例中，用戶不能輸入任何不符合特征規(guī)范21的測試設置22。各個示例在圖3中示出。在該示例中，特征規(guī)范21已被設置為三個不同目標ATE，T1、T2、T3的能力的交集。特征規(guī)范21對應于圖3中指示的區(qū)域30。因此，用戶可以利用的特征和參數范圍被限制在區(qū)域30中的特征。如果用戶試圖輸入超出這些限制的參數，這些輸入則將不會被設置和調試用戶界面18所接受。這樣一來，用于開發(fā)ATE測試程序17的ATE表現(xiàn)得像所需目標ATE那樣或像不同目標ATE的交集那樣。
根據第二實施例，資源限制管理器28適合于監(jiān)視測試設置22是否不符合之前定義的特征規(guī)范21。當不符合特征規(guī)范21的特征或參數被使用時，用戶將被通知。在此實施例中，可能的參數范圍并不嚴格局限于特征規(guī)范21中定義的特征。但是，資源限制管理器28適合于交叉檢驗用戶輸入，并指示用戶各個輸入是否不符合特征規(guī)范21。在此實施例中，由各個目標ATE負責擱置包含超出目標ATE的能力的特征的測試。
在設置了管腳配置20、特征規(guī)范21和測試設置22之后，ATE測試程序17被寫回(23)。接下來，可能例如存儲在某種數據載體中的ATE測試程序17在使用中的目標ATE上被執(zhí)行或被傳輸到另一目標ATE。
圖4示出一個目標ATE，其中ATE測試程序17的測試序列實際被執(zhí)行。目標ATE包括ATE系統(tǒng)軟件31和ATE硬件32，所述ATE硬件32例如可以包含每管腳測試器資源，具體而言，包含通道卡、儀器等等。ATE硬件32的類型和/或配置可能完全不同于圖2所示的ATE硬件12。目標ATE的系統(tǒng)軟件31的版本可能不同于圖2所示的ATE系統(tǒng)軟件11的版本。ATE系統(tǒng)軟件31包含執(zhí)行器模塊33，其適合于訪問(34)和處理ATE測試程序17。對于每個測試，執(zhí)行各個測試所需的特征需要與可用硬件資源相比較。該比較由資源限制管理器35執(zhí)行。出于此目的，管腳配置20和特征規(guī)范21被提供(36)到資源限制管理器35。硬件驅動器37將關于實際硬件資源的信息38提供到資源限制管理器35，由此硬件驅動器37可以通過執(zhí)行實際ATE硬件32的自動檢測和/或通過訪問ATE描述文件39來獲取該信息。通過在每個測試的基礎上比較特征規(guī)范21與可用硬件資源，資源限制管理器35針對每個測試單獨確定ATE硬件32是否能夠執(zhí)行各個測試。
優(yōu)選地，特征規(guī)范21包含針對每個測試的每管腳特征集合，其在每個管腳的基礎上指示所需測試器資源。據此，資源限制管理器35適合于針對每個測試和在該測試期間利用的每個管腳來比較各個特征集合與測試器硬件的能力。如果對于某個測試，在測試期間利用的所有管腳的特征集合與相應的每管腳硬件資源匹配，則將發(fā)起測試執(zhí)行。這對應于每管腳比較的各個結果的AND操作。
資源限制管理器35指示(40)加載器41是否可以執(zhí)行各個測試。如果測試可執(zhí)行，加載器41則經由硬件驅動器37將相應的測試設置22之一加載到ATE硬件32，該ATE硬件32隨后將執(zhí)行該測試。在測試執(zhí)行期間獲得的測試結果經由硬件驅動器37被轉發(fā)到執(zhí)行器模塊33。
如果資源限制管理器35指示(40)加載器41 ATE硬件32不能執(zhí)行某個測試，加載器41則將相應的測試設置22之一加載到脫機測試設置數據存儲設備42。由于不能實際執(zhí)行該測試，因此執(zhí)行器模塊33執(zhí)行該測試的脫機處理以便生成結果數據。例如，測試設置的參數可能被視為仿真測試執(zhí)行的基礎。執(zhí)行器模塊33將測試結果數據43提供到設置和調使用戶界面44，該界面44包含用于顯示測試結果數據的圖形用戶界面。測試結果數據43包含針對每個測試的指示，該指示表明該測試是否已被實際執(zhí)行，或者該測試結果是否已通過執(zhí)行測試的脫機處理而獲得。
現(xiàn)在，測試結果數據是可用的。在調試所創(chuàng)建的測試程序17的過程中，用戶可以取決于生成的測試結果數據來迭代修改設置參數。
在圖5A中，示意性地示出測試程序TP。測試程序TP包含9個測試t1、t2、...t9的序列。對于每個測試，指示目標測試系統(tǒng)的所需能力的相應特征規(guī)范已被指定，由此針對測試程序TP中的每個測試t1、t2、...t9，可以提供不同的特征規(guī)范。
如圖4所示，目標測試系統(tǒng)的ATE系統(tǒng)軟件31包含加載器41和資源限制管理器35。當諸如圖5A所示的測試程序TP之類的測試程序被加載到目標ATE時，資源限制管理器35針對每個測試t1到t9單獨確定ATE硬件32是否能夠執(zhí)行各個測試。只有在可用硬件資源與各個測試的特征規(guī)范匹配的情況下，加載器41才將測試的設置加載到測試器的硬件資源中。如果測試器硬件32不能夠執(zhí)行某個測試，測試設置則不會被加載。資源限制管理器35適合于在每個測試的基礎上比較特征規(guī)范與可用硬件資源。該比較的可能輸出如圖5A所示。一個目標測試系統(tǒng)T1例如可能能夠執(zhí)行測試t1到t5，但是T1可能不能執(zhí)行測試t6到t9。另一目標測試系統(tǒng)T2可能能夠執(zhí)行包含t2、t3、...t8的測試的子集，但測試t1、t9無法執(zhí)行。測試系統(tǒng)T3可能能夠執(zhí)行測試t4到t9，但t1到t3的特征規(guī)范與T3的能力不匹配。
在圖5B中，示出測試程序TP的測試如何被劃分成與測試系統(tǒng)T1的能力匹配的第一測試子集TPT1，以及無法在T1上執(zhí)行的第二測試子集TPNOT(T1)。資源限制管理器35確定TPT1包含測試t1到t5，而TPNOT(T1)包含測試t6到t9。
在完成測試執(zhí)行后目標測試系統(tǒng)將測試結果記入日志。在優(yōu)選實施例中，針對測試程序的每個測試的測試結果數據包括表明各個測試是否已被實際執(zhí)行的指示。例如在圖5B所示的情況下測試結果數據可以包含針對尚未被執(zhí)行的子集TPNOT(T1)中包含的測試的結果數據。針對尚未被執(zhí)行的測試(例如圖5B中的測試t6到t9)的結果數據例如可以通過執(zhí)行這些測試的脫機處理來獲得。在結果文件中，指示測試t6到t9尚未被實際執(zhí)行，并且已經利用脫機處理獲得了相應的測試結果。測試t6到t9的測試結果例如可以通過仿真這些測試來獲得。從被測設備的硬件描述開始，被仿真的測試結果可以通過考慮噪聲級別、通過添加抖動(jitter)等被脫機生成。
在圖6A和6B中，兩個不同的數據模型被示出。數據模型提供了測試設置和特征集合之間的相互關系。
根據圖6A所示的第一數據模型，測試程序45由一個或多個測試46構成。每個測試46使用相應的測試設置47。每個測試設置47由N個每管腳測試設置48構成，其中N≥1是自然數。N個每管腳測試設置48中的每一個參考特征集合49，由此若干每管腳測試設置48可以參考一個或多個相同的特征集合49。
圖6B示出更復雜的數據模型，其引入特征規(guī)范的概念作為測試的上下文。測試程序50包含一個或多個測試51。除此之外，測試程序50包含一個或多個測試設置52，由此每個測試51參考測試設置52之一。每個測試設置52包含N個每管腳測試設置53，其中N≥1是自然數。測試程序50還包括一個或多個特征規(guī)范54。每個測試設置52剛好參考一個特征規(guī)范，由此每個特征規(guī)范可以被一個或多個測試設置所參考。每個特征規(guī)范54由N個每管腳特征集合設置55構成，并且每個每管腳特征集合設置55參考特征集合56。因此，對于每個管腳，管腳的每管腳測試設置和特征集合56之間的隱含關系57是經由特征規(guī)范54之一來建立的。
權利要求
1.一種適合于生成測試程序(TP)的特征規(guī)范的設置環(huán)境(18)，所述測試程序包含至少一個測試(t1、t2、...t9)，特征規(guī)范模塊(24)，適合于逐個測試地定義指示執(zhí)行各個測試所需的目標測試系統(tǒng)能力的特征規(guī)范(21)，存儲裝置，適合于將所述特征規(guī)范(21)與所述測試程序(17)存儲在一起。
2.如權利要求1所述的設置環(huán)境，其中所述設置環(huán)境還適合于逐個測試地定義針對至少一個所述測試的測試設置。
3.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述設置環(huán)境還適合于通過向測試器資源分配管腳名來定義管腳配置。
4.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述設置環(huán)境是自動測試設備的一個完整部分。
5.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范模塊適合于逐個測試地和每個管腳指定特征集合，該特征集合指示針對在測試期間利用的每管腳測試器資源的目標測試系統(tǒng)能力。
6.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范指示目標測試系統(tǒng)在最小硬件需求方面的所需能力。
7.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范模塊支持通過參考目標測試系統(tǒng)的各個類型的測試器資源或參考不同類型的測試器資源的交集來設置所述特征規(guī)范。
8.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范模塊包含交互式編輯裝置，其支持手工設置所述特征規(guī)范。
9.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范包含以下各項中的至少一個最小/最大電壓電平、最小/最大電壓范圍、最小/最大電流、最小/最大頻率和周期、最小/最大數據速率、波形資源的數目、定時資源的數目、定時分辨率、周期和頻率分辨率、向量存儲器深度、定序器存儲器深度、波形存儲器深度、位分辨率。
10.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范模塊支持通過參考系統(tǒng)定義的特征規(guī)范來設置所述特征規(guī)范。
11.如權利要求10所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范模塊支持通過設置單獨定義的特征來部分或全部地取代所述系統(tǒng)定義的特征規(guī)范。
12.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范模塊支持通過根據預先定義的標準處理測試器描述來設置所述特征規(guī)范。
13.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范模塊支持通過取得當前測試系統(tǒng)的測試系統(tǒng)能力來設置所述特征規(guī)范。
14.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述特征規(guī)范模塊支持針對所述測試程序的不同測試指定不同的特征規(guī)范。
15.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述設置環(huán)境適合于根據所述特征規(guī)范來限制用戶在開發(fā)測試程序時可以利用的特征。
16.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，其中所述設置環(huán)境適合于根據所述特征規(guī)范來限制測試設置的參數范圍。
17.如權利要求1或任意一個前述權利要求所述的設置環(huán)境，還包括交叉檢驗設施，其適合于確定測試設置是否與所述特征規(guī)范匹配。
18.如權利要求17所述的設置環(huán)境，其中所述交叉檢驗設施適合于在所述測試設置與所述特征規(guī)范不匹配的情況下通知用戶。
19.一種ATE系統(tǒng)軟件(11)，其包含如權利要求1到18中任意一個所述的設置環(huán)境(18)。
20.如權利要求19所述的ATE系統(tǒng)軟件，其中所述設置環(huán)境適合于交互式地指定和修改所述特征規(guī)范。
21.一種用于目標測試系統(tǒng)的資源限制管理單元(35)，所述資源限制管理單元(35)包括適合于接收測試程序(TP)和針對所述測試程序中的至少一個測試(t1、t2、...t9)的特征規(guī)范(21)的接口，所述特征規(guī)范(21)指示執(zhí)行某一測試所需的測試系統(tǒng)能力；特征規(guī)范評價裝置，其適合于逐個測試地將針對各個測試的特征規(guī)范與所述目標測試系統(tǒng)的能力相比較，以用于針對每個所述測試(t1、t2、...t9)確定所述目標測試系統(tǒng)(T1、T2、T3)是否能夠執(zhí)行所述各個測試；并且適合于在所述目標測試系統(tǒng)(T1、T2、T3)的能力允許執(zhí)行所述測試的情況下發(fā)起測試執(zhí)行。
22.如權利要求21所述的資源限制管理單元，其中所述資源限制管理單元適合于在所述目標測試系統(tǒng)的能力不允許執(zhí)行一個測試的情況下不發(fā)起所述測試程序的所述程序的執(zhí)行。
23.如權利要求21或任意一個前述權利要求所述的資源限制管理單元，還包括脫機處理設施，其適合于在所述目標測試系統(tǒng)的能力不允許執(zhí)行一個測試的情況下用對所述測試的脫機處理來替代實際測試執(zhí)行。
24.如權利要求21或任意一個前述權利要求所述的資源限制管理單元，其中，在所述目標測試系統(tǒng)的能力不允許執(zhí)行一個測試的情況下，輸出仿真的測試結果。
25.如權利要求21或任意一個前述權利要求所述的資源限制管理單元，還包括設置加載器單元，其適合于針對每個測試加載至少一個相應的測試設置到所述目標測試系統(tǒng)的測試器資源。
26.如權利要求21或任意一個前述權利要求所述的資源限制管理單元，其中，在所述特征規(guī)范評價裝置確定所述目標測試系統(tǒng)不能執(zhí)行某一測試的情況下，所述設置加載器不加載至少一個相應的測試設置到所述目標測試系統(tǒng)的測試器資源。
27.如權利要求21或任意一個前述權利要求所述的資源限制管理單元，其中所述特征規(guī)范針對至少一個每管腳測試器資源包含一個相應的特征集合。
28.如權利要求21或任意一個前述權利要求所述的資源限制管理單元，其中所述特征規(guī)范評價裝置適合于確定所述目標測試系統(tǒng)的能力是否與所述特征規(guī)范匹配。
29.如權利要求21或任意一個前述權利要求所述的資源限制管理單元，其中所述特征規(guī)范評價裝置適合于通過確定在某一測試期間利用的所有所述每管腳測試器資源是否滿足各個特征集合中規(guī)定的需求，來確定所述目標測試系統(tǒng)是否能夠執(zhí)行所述測試。
30.一種用于使測試程序(TP)的執(zhí)行適應特定目標測試系統(tǒng)(T1、T2、T3)的方法，所述測試程序(TP)包含至少一個測試(t1、t2、...t9)，其中所述測試程序包含針對每個所述測試(t1、t2、...t9)的特征規(guī)范，這些特征規(guī)范指定所述目標測試系統(tǒng)的所需特征，所述方法包括以下步驟對于每個測試(t1、t2、...t9)，比較所述測試的特征規(guī)范與所述目標測試系統(tǒng)的能力；確定所述目標測試系統(tǒng)(T1)可以執(zhí)行的測試的子集(TPT1)；執(zhí)行所述目標測試系統(tǒng)(T1)可以執(zhí)行的測試的所述子集(TPT1)。
31.如權利要求30所述的方法，其中在所述目標測試系統(tǒng)的測試器資源的能力滿足在各個所述特征規(guī)范中規(guī)定的需求的情況下，一個測試被確定為可執(zhí)行的。
32.如權利要求30或任意一個前述權利要求所述的方法，其中所述特征規(guī)范包含指示在一個測試期間被利用的每管腳測試器資源的目標測試系統(tǒng)能力的特征集合，所述方法還包括確定在所述測試期間所利用的所有所述每管腳測試器資源是否滿足在各個所述特征集合中規(guī)定的需求的步驟。
33.如權利要求30或任意一個前述權利要求所述的方法，還包括擱置所述目標測試系統(tǒng)無法執(zhí)行的測試的步驟。
34.如權利要求30或任意一個前述權利要求所述的方法，還包括用所述目標測試系統(tǒng)無法執(zhí)行的測試的脫機處理代替所述測試的執(zhí)行的步驟。
35.一種優(yōu)選地存儲在數據載體上的軟件程序或產品，其在運行在自動測試設備或任意其他數據處理系統(tǒng)上時執(zhí)行權利要求30到34中任意一個所述的方法。
全文摘要
一種用于目標測試系統(tǒng)的資源限制管理單元被描述。該資源限制管理單元包括適合于接收測試程序和針對所述測試程序中的至少一個測試的特征規(guī)范的接口，所述特征規(guī)范指示執(zhí)行某一測試所需的測試系統(tǒng)能力。所述資源限制管理單元還包括特征規(guī)范評價裝置，其適合于逐個測試地將各個測試的特征規(guī)范與所述目標測試系統(tǒng)的能力相比較，以用于針對每個所述測試確定所述目標測試系統(tǒng)是否能夠執(zhí)行所述各個測試；并且適合于在所述目標測試系統(tǒng)的能力允許執(zhí)行所述測試的情況下發(fā)起測試執(zhí)行。
文檔編號G06F9/445GK101095107SQ200480044154
公開日2007年12月26日 申請日期2004年10月8日 優(yōu)先權日2004年10月8日
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