專利名稱：利用分級測試開發(fā)樹指定器件及其測試設(shè)置的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及利用分級測試開發(fā)樹指定器件及其測試設(shè)置的方法和裝置。
背景技術(shù)：
在制造和/或經(jīng)銷電子器件(包括諸如電路板、集成電路或片上系統(tǒng)(SOC)之類的系統(tǒng)或組件)之前，一般會測試器件以確定其構(gòu)造或功能是否與所設(shè)計的一樣。通常，這種測試是由自動化測試設(shè)備(ATE，也稱為“測試器”)來執(zhí)行的。
在利用ATE測試器件之前，測試開發(fā)者必須開發(fā)出在測試器件的同時ATE將會執(zhí)行的一系列測試。過去是針對ATE要測試的每個器件在定制的基礎(chǔ)上完成這一點的。雖然測試開發(fā)者在開發(fā)定制測試時具有很大自由，但這卻是一個昂貴且耗時的過程，它可能會給器件的“面市時間(time to market)”周期增加大量延遲。
在某些情況下，可以通過指定用于進(jìn)行測試的默認(rèn)參數(shù)和硬件資源的測試模板來輔助測試開發(fā)。為Agilent 93000 SOC系列測試器提供測試開發(fā)能力的SmartTest Program Generator軟件(兩者均由Palo Alto，California，USA的Agilent Technologies，Inc.經(jīng)銷)正是這種情況。

發(fā)明內(nèi)容
在一個實施例中，一種計算機(jī)程序包括用于在自動化測試開發(fā)環(huán)境的圖形用戶界面(GUI)內(nèi)顯示分級測試開發(fā)樹的代碼。所述樹包括一個節(jié)點，與被測器件(DUT)相對應(yīng)的器件分支被添加到該節(jié)點。該計算機(jī)程序還包括用于自動地將管腳配置分支和測試設(shè)置分支與每個器件分支相關(guān)聯(lián)的代碼；以及用于響應(yīng)于用戶與樹的分支的交互而顯示用于指定DUT及其測試設(shè)置的多個窗口的代碼。
在另一個實施例中，一種計算機(jī)程序包括用于顯示自動化測試開發(fā)環(huán)境的GUI的代碼；用于在GUI內(nèi)顯示多個可折疊窗口的代碼；用于響應(yīng)于用戶對圖標(biāo)之一的選擇在GUI內(nèi)顯示分級測試開發(fā)樹的代碼；以及用于響應(yīng)于用戶與樹的分支的交互而顯示用于指定器件及其測試設(shè)置的多個窗口的代碼。所述可折疊窗口包括用于訪問自動化測試開發(fā)工具的圖標(biāo)。所述樹包括一個節(jié)點，與DUT相對應(yīng)的器件分支被添加到該節(jié)點。
在另一個實施例中，一種用于開發(fā)自動化測試設(shè)備的測試的方法包括發(fā)起與在自動化測試開發(fā)環(huán)境的GUI內(nèi)顯示的分級測試開發(fā)樹的預(yù)定交互。所述樹提供對DUT及其測試設(shè)置的訪問。一旦發(fā)起預(yù)定交互，就向多個已顯示的窗口提供輸入，以指定DUT之一的測試設(shè)置。
還公開了其他實施例。


本發(fā)明的示例性實施例在附圖中示出，在附圖中圖1和圖9示出用于指定器件及其測試設(shè)置的計算機(jī)實現(xiàn)方法；以及圖2-8示出用于實現(xiàn)圖1和圖9中所示的方法的圖形用戶界面的各種狀態(tài)。
具體實施例方式
圖1和圖9示出了用于指定器件及其測試設(shè)置的示例性計算機(jī)實現(xiàn)方法100、900。方法100、900可以單獨使用或結(jié)合使用。
方法100(圖1)包括在自動化測試開發(fā)環(huán)境的圖形用戶界面(GUI202)內(nèi)顯示(102)分級測試開發(fā)樹200(圖2)。如圖2所示，樹200包括一個或多個節(jié)點204，器件分支206、208、210、212(即與被測器件(DUT)相對應(yīng)的分支)被添加到這些節(jié)點。管腳配置分支和測試設(shè)置分支自動與器件分支206-212中的每一個相關(guān)聯(lián)(104)。例如，參見作為展開器件分支208的結(jié)果而顯示在圖2中的管腳配置分支214和測試設(shè)置分支216。響應(yīng)于用戶與樹200的分支206-218(包括器件分支206-212)的交互，多個窗口(例如窗口220)被顯示(106)，以用于指定DUT及其測試設(shè)置。
在一個實施例中，方法100被實現(xiàn)在存儲在多個機(jī)器可讀介質(zhì)(例如一個或多個固定或可移動存儲器或盤)上的指令序列(即計算機(jī)程序)中。當(dāng)被機(jī)器(例如計算機(jī)或計算機(jī)網(wǎng)絡(luò))執(zhí)行時，指令序列就致使機(jī)器執(zhí)行方法100的動作102-106。
圖2-8示出作為執(zhí)行方法100(或者執(zhí)行其中實現(xiàn)了方法100及其各種擴(kuò)展的指令序列)的結(jié)果示例性GUI 202將會采取的各種示例性狀態(tài)。
如圖2所示，一旦與樹200發(fā)生了預(yù)定的交互，菜單222(例如下拉菜單)就可以被顯示。在一個實施例中，預(yù)定的交互是對樹200的器件分支206的鼠標(biāo)點擊。菜單222可以提供對用于指定DUT的各種選項的訪問，例如用于創(chuàng)建新器件的“New Device(新建器件)”選項；用于打開器件指定并使得對器件的引用(例如器件分支)在樹200內(nèi)可見的“OpenDevice(打開器件)”選項；用于保存器件指定的“Save(保存)”和“Save As(另存為)”選項；用于關(guān)閉器件指定并在樹200中隱藏對器件的引用(例如隱藏器件分支)的“Close(關(guān)閉)”選項；用于從顯示GUI202的自動化測試開發(fā)系統(tǒng)中刪除器件指定的“Delete(刪除)”選項；以及用于顯示分支的器件的屬性的“Properties(屬性)”選項。對這些選項的訪問也可以經(jīng)由GUI 202的菜單欄224或工具欄226來提供。
圖2不僅示出菜單222的展開，還示出了用戶對菜單222內(nèi)的器件創(chuàng)建選項(即“New Device”選項)的選擇。如圖所示，對“New Device”選項的選擇導(dǎo)致用于指定DUT的各種細(xì)節(jié)的界面220(例如窗口)的顯示。在一個實施例中，這些細(xì)節(jié)包括DUT的路徑(“Device Path(器件路徑)”)、名稱(“Device Name(器件名稱)”)和技術(shù)(“DeviceTechnology(器件技術(shù))”)。例如，器件的技術(shù)可以是CMOS或TTL。界面220還可以提供日志信息，例如首次創(chuàng)建器件的日期(“CreationDate(創(chuàng)建日期)”)、最后一次修改器件的日期(“Last Modified Date(最后修改日期)”以及關(guān)于最后修改器件的人的信息(“Last Modifiedby(最后修改者)”)。
圖2還示出與器件分支210的懸停交互(例如鼠標(biāo)指針懸停)如何導(dǎo)致與器件分支210相關(guān)聯(lián)的DUT的器件路徑246的顯示。
如圖3所示，一旦與樹200的管腳配置分支214發(fā)生了預(yù)定的交互，菜單300(例如下拉菜單)就可以被顯示。在一個實施例中，預(yù)定的交互是對樹200的管腳配置分支214的鼠標(biāo)點擊。菜單300可以提供對用于配置DUT的一個或多個管腳的各種選項的訪問，例如用于添加新管腳群組(或集合)的“New(新建)”選項；用于打開用于單部位或多部位測試的管腳集合的“Open(打開)”選項；用于保存管腳配置的“Save(保存)”和“Save As(另存為)”選項；用于指定所選擇的管腳集合內(nèi)的哪些管腳群組應(yīng)當(dāng)被顯示或隱藏的“View(查看)”選項；用于從已保存的文件(例如預(yù)定語法的ascii文件)導(dǎo)入管腳配置的“Import from File(從文件導(dǎo)入)”選項；以及用于顯示管腳配置的屬性的“Properties(屬性)”選項。對這些選項的訪問也可以經(jīng)由GUI 202的菜單欄224或工具欄226、228來提供。在一個實施例中，可導(dǎo)入的ascii文件的語法如下##管腳名(Pin Name)管腳號(Pin Number)管腳類型(Pin Type)---in1 10101 1 ---reg1 30101 io ---圖3不僅示出了菜單300的展開，還示出了用戶對菜單300內(nèi)的“View”選項的選擇。如圖所示，對“View”選項的選擇可能導(dǎo)致次級菜單308的顯示，該次級菜單308用于選擇在樹200中顯示哪些管腳群組，例如“All Digital Pins(所有數(shù)字管腳)”、“All Analog Pins(所有模擬管腳)”或“All RF Pins(所有RF管腳)”。與這些管腳群組相對應(yīng)的分支310、312、314可以被顯示在樹200中，其中特定管腳分支302、304、306被組織在管腳群組分支310-314下。
優(yōu)選地，樹200提供了用于在樹200內(nèi)直接顯示多部位測試信息的手段。在一個實施例中，通過從菜單300選擇“Open”選項打開單部位或多部位管腳集合。對“Open”選項的選擇導(dǎo)致次級菜單316的顯示，從該次級菜單中，用戶例如可以選擇“default(默認(rèn))”、“multi_site_try”、“multi_site_final”或“single_site_final”管腳集合。如圖所示，對多部位管腳集合的選擇可以導(dǎo)致結(jié)合每個管腳分支214的部位信息(例如Site#1、Site#2、Site#3和Site#4)的顯示，作為管腳群組分支310-314的分支318、320、322、324。然后管腳分支302-306可以被組織在部位分支318-324下。
圖4-8示出使用GUI 202來指定DUT的測試設(shè)置。如圖4所示，樹200可以被展開，以展現(xiàn)DUT的測試設(shè)置分支216的各種子分支。如圖所示，子分支可以將DUT的測試設(shè)置分組在1)RF和模擬測試設(shè)置分支400和2)數(shù)字測試設(shè)置分支402下。在RF和模擬測試設(shè)置分支400下，可以提供RF分支406和模擬分支408。在這些分支406、408中的每一個之下，可以提供激勵和測量子分支410、412、414、416。然后測試設(shè)置最好被組織在激勵和測量子分支410-416下。
在一個實施例中，器件的RF和模擬測試設(shè)置被進(jìn)一步分組在激勵單例(singleton)、測量單例以及激勵和測量群組子分支418、410-416、420下。激勵和測量群組420用于組合多個RF和模擬單例。
將器件的數(shù)字測試設(shè)置402分組在數(shù)字內(nèi)置自測試(BIST)和向量標(biāo)簽子分支422、424下也可能是有用的。還可以提供復(fù)雜測試設(shè)置分支404。在一個實施例中，復(fù)雜測試設(shè)置組合向量標(biāo)簽和模擬或RF測試設(shè)置。
一旦與子分支之一發(fā)生懸停交互，相應(yīng)測試設(shè)置的概要426就可以被顯示。
一旦與測試設(shè)置分支216、400-424發(fā)生(一個或多個)預(yù)定的交互，用于開發(fā)新測試設(shè)置的選項就可以被顯示，如圖5-8所示。圖5示出作為點擊測試設(shè)置分支216然后遍歷一系列分級菜單500、502、504、506、508的結(jié)果而顯示的一系列菜單。注意，包含菜單500-508的至少某些部分的菜單集合也可以通過用戶與其他分支的交互而被觸發(fā)，所述其他分支例如是RF測試設(shè)置分支406、模擬測試設(shè)置分支408或數(shù)字測試設(shè)置分支402。菜單504示出用于利用模板指定測試設(shè)置的選項。利用測試模板對測試設(shè)置的指定在Zhou等人的與本申請同日遞交的、律師案卷號為10050009-1、標(biāo)題為“Method and Apparatus that Provide for Configurationof Hardware Resources Specified in a Test Template”的美國專利申請中有更完整的描述，這里通過引用將該申請并入。模擬測試設(shè)置模板的示例性類型在菜單508中示出。一旦選擇AnalogSet模板，就可以起動各種測試設(shè)置工具，例如圖6所示的Analog Setup Tool(模擬設(shè)置工具)600、AnalogMixed Signal Tool(模擬混合信號工具)602和Analog Routing Tool(模擬選路工具)604。對可以利用這些和其他工具指定的各種測試設(shè)置選項的討論超出了本說明書的范圍。但是，優(yōu)選地，測試設(shè)置模板指定足以限定可執(zhí)行測試的默認(rèn)參數(shù)和硬件資源。即，激勵測試的執(zhí)行應(yīng)當(dāng)使激勵信號到達(dá)至少一個ATE管腳，而測量測試的執(zhí)行應(yīng)當(dāng)記錄至少一個ATE管腳的測量結(jié)果。這樣一來，用戶不需要執(zhí)行任何操作，只要選擇測試設(shè)置模板以配置器件測試即可。
圖7示出作為點擊測試設(shè)置分支216然后遍歷一系列分級菜單700、702、704的結(jié)果而可能顯示的另一系列菜單。注意，菜單700-704的集合也可以通過用戶與數(shù)字測試設(shè)置分支402的交互來觸發(fā)。這一系列菜單700-704示出了如何利用樹200選擇新向量標(biāo)簽的創(chuàng)建。一旦從菜單704選擇了“Vector Label(向量標(biāo)簽)”選項，就可以起動圖8所示的VectorPattern Editor Tool(向量模式編輯器工具)(或窗口)800。
利用工具800，用戶可以從現(xiàn)有管腳群組800中進(jìn)行選擇，然后利用Digital Patterns Spread Sheet(數(shù)字模式伸展表)810來編輯與管腳相關(guān)聯(lián)的數(shù)字模式。用戶還可以指定級別集合806或模式定時808。如果用戶希望更詳細(xì)地指定模式定時(例如新的或定制的定時)，則用戶可以在定時窗口808內(nèi)選擇“New(新建)”，從而起動Timing Editor Tool(定時編輯器工具)(或窗口)802。利用工具802，用戶可以更詳細(xì)地查看現(xiàn)有定時812，或者用戶可以創(chuàng)建新的定時814。雖然在圖8中未示出，但是也可以經(jīng)由處理級別集合的工具(例如“Level Editor Tool(級別編輯器工具)”)以類似的方式處理(例如創(chuàng)建或修改等)級別集合806。一旦創(chuàng)建了新的向量標(biāo)簽，它就將被顯示在樹200的向量標(biāo)簽分支424下。
用于指定測試設(shè)置的其他工具可以以與圖6和圖8所示的工具600-604、800、802類似的方式起動。優(yōu)選地，DUT的所有測試設(shè)置都可以經(jīng)由樹200訪問。
圖9示出用于指定器件及其測試設(shè)置的第二方法900。如前所述，方法900可以與方法100結(jié)合使用。例如，正如將變得清楚的，方法900可以用作起動方法100的手段。
方法900包括顯示(902)自動化測試開發(fā)環(huán)境的圖形用戶界面(GUI202；圖2)。在GUI 202內(nèi)，顯示(904)了多個可折疊的窗口228、230、232，這些窗口中的至少某些包含用于訪問自動化測試開發(fā)工具的圖標(biāo)234、236、238、240、242、244。分級測試開發(fā)樹200也被顯示在GUI202內(nèi)。該樹包括節(jié)點204，器件分支206-212被添加到該節(jié)點。響應(yīng)于用戶與樹200的分支206-218(包括器件分支206-212)的交互，多個界面220、600-604(圖6)、800、802(圖8)可以被顯示，以用于指定DUT及其測試設(shè)置。
圖2示出方法900所顯示的GUI 202的示例性實施例。例如，GUI202包括標(biāo)記為“Operation Control(操作控制)”230、“ProductionSettings(生產(chǎn)設(shè)置)”228和“TestFlow Flags(測試流程標(biāo)志)”的可折疊窗口。在圖示的GUI狀態(tài)中，被標(biāo)記為“Production Settings”的窗口228處于展開(或打開)形式，而標(biāo)記為“Operation Control”和“TestFlow Flags”的窗口230、232被示為折疊形式。在一個實施例中，“Operation Control”窗口230包括用于控制其他工具的可訪問性的不同級別的工具(例如上述測試設(shè)置工具)。例如，“Operation Control”窗口230可以提供對“Operator(操作者)”和“Developer(開發(fā)者)”控制模式的訪問，而一般測試設(shè)置工具只在“Developer”模式中可訪問，而在“Operator”模式中不可訪問?！癟estFlow Flags”窗口232可以包括用于控制/操縱測試控制標(biāo)志的工具。例如，可以有允許或禁止多少部位可以被同時測試的測試控制標(biāo)志，或者控制如何記錄數(shù)據(jù)、記錄多少數(shù)據(jù)等等的測試執(zhí)行標(biāo)志。窗口230、232將不再被進(jìn)一步描述，這是因為本說明書的主要焦點是“Production Settings”窗口228(在本節(jié)之前和之后詳細(xì)描述)。
如圖2所示，“Production Settings”窗口228可以包含用于訪問自動化測試開發(fā)工具的圖標(biāo)234-244，所述自動化測試開發(fā)工具例如是管腳配置工具234、測試設(shè)置編輯器236和測試流程編輯器238。在一個實施例中，對這些工具234-238中的任何一個的選擇觸發(fā)樹200的顯示。
這里所公開的方法100、900和裝置202在為用戶提供用于指定器件及其測試設(shè)置的高效手段這方面是有用的。許多測試開發(fā)環(huán)境不提供任何關(guān)于用戶應(yīng)當(dāng)如何開始的指導(dǎo)，并且各種測試開發(fā)工具從不同的源被起動，而沒有任何關(guān)于器件及其測試設(shè)置相互聯(lián)系的分級性質(zhì)的指示。這里所公開的方法100、900和裝置202的集成性質(zhì)由于依賴于分級測試開發(fā)樹200，因而往往比過去的工具更為高效，從而改善了被測器件的面市時間。
權(quán)利要求
1.一種計算機(jī)程序，包括用于在自動化測試開發(fā)環(huán)境的圖形用戶界面內(nèi)顯示分級測試開發(fā)樹的代碼，所述樹包括一個節(jié)點，與被測器件相對應(yīng)的器件分支被添加到該節(jié)點；用于自動地將管腳配置分支和測試設(shè)置分支與每個器件分支相關(guān)聯(lián)的代碼；以及用于響應(yīng)于用戶與所述樹的分支的交互而顯示用于指定所述被測器件及其測試設(shè)置的多個窗口的代碼。
2.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，其中所述被測器件的所有測試設(shè)置都可經(jīng)由所述樹訪問。
3.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，還包括用于一旦與所述樹發(fā)生預(yù)定交互就顯示提供對器件創(chuàng)建選項的訪問的下拉菜單的代碼。
4.如權(quán)利要求3所述的計算機(jī)程序，還包括用于一旦用戶選擇所述器件創(chuàng)建選項就顯示用于指定被測器件的路徑、名稱和技術(shù)的界面的代碼。
5.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，還包括用于一旦與器件分支發(fā)生預(yù)定交互就顯示提供對i)用于隱藏所述器件分支的選項和ii)器件屬性選項的訪問的下拉菜單的代碼。
6.如權(quán)利要求5所述的計算機(jī)程序，其中所述預(yù)定交互是鼠標(biāo)點擊。
7.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，還包括用于一旦與器件分支發(fā)生懸停交互就顯示與所述器件分支相關(guān)聯(lián)的被測器件的器件路徑的代碼。
8.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，還包括用于一旦與管腳配置分支發(fā)生預(yù)定交互就顯示提供對管腳配置導(dǎo)入選項的訪問的下拉菜單的代碼。
9.如權(quán)利要求8所述的計算機(jī)程序，其中所述預(yù)定交互是鼠標(biāo)點擊。
10.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，其中結(jié)合每個管腳配置分支的多部位管腳信息被直接顯示在所述樹中。
11.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，還包括用于一旦與管腳配置分支發(fā)生預(yù)定交互就顯示提供對管腳群組查看選項的訪問的下拉菜單的代碼。
12.如權(quán)利要求11所述的計算機(jī)程序，其中所述管腳群組查看選項提供對所有模擬管腳、所有射頻管腳和所有數(shù)字管腳的查看。
13.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，還包括用于一旦與測試設(shè)置分支發(fā)生預(yù)定交互就顯示用于開發(fā)新測試設(shè)置的選項的代碼。
14.如權(quán)利要求13所述的計算機(jī)程序，其中所述用于開新測試設(shè)置的選項包括用于開發(fā)模擬、射頻和數(shù)字測試設(shè)置的選項。
15.如權(quán)利要求13所述的計算機(jī)程序，其中所述用于開發(fā)新測試設(shè)置的選項包括用于開發(fā)向量標(biāo)簽的選項，所述計算機(jī)程序還包括用于一旦選擇所述用于開發(fā)向量標(biāo)簽的選項就顯示用于指定所述向量標(biāo)簽的向量模式編輯器窗口的代碼，所述指定所述向量標(biāo)簽包括指定默認(rèn)或定制模式定時；以及用于一旦選擇定制模式定時就顯示定時編輯器窗口的代碼。
16.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，其中器件的所述測試設(shè)置分支包括與所述器件的測試設(shè)置相對應(yīng)的子分支，所述計算機(jī)程序還包括用于一旦與所述子分支之一發(fā)生懸停交互就顯示相應(yīng)測試設(shè)置的概要的代碼。
17.如權(quán)利要求1所述的計算機(jī)程序，還包括用于將器件的測試設(shè)置分組在所述器件的測試設(shè)置分支的子分支之下的代碼，所述子分支包括i)射頻和模擬測試設(shè)置分支和ii)數(shù)字測試設(shè)置分支。
18.如權(quán)利要求17所述的計算機(jī)程序，還包括用于將器件的射頻和模擬測試設(shè)置分組在激勵和測量子分支之下的代碼。
19.如權(quán)利要求17所述的計算機(jī)程序，還包括用于將器件的射頻和模擬測試設(shè)置分組在激勵單例、測量單例以及激勵和測量群組子分支之下的代碼。
20.如權(quán)利要求17所述的計算機(jī)程序，還包括用于將器件的數(shù)字測試設(shè)置分組在數(shù)字內(nèi)置自測試和數(shù)字測試模式子分支之下的代碼。
21.如權(quán)利要求17所述的計算機(jī)程序，其中所述子分支還包括復(fù)雜測試設(shè)置分支，其中復(fù)雜測試設(shè)置將數(shù)字測試模式與模擬或射頻測試設(shè)置相組合。
22.一種計算機(jī)程序，包括用于顯示自動化測試開發(fā)環(huán)境的圖形用戶界面的代碼；用于在所述圖形用戶界面內(nèi)顯示多個可折疊窗口的代碼，所述可折疊窗口包含用于訪問自動化測試開發(fā)工具的圖標(biāo)；用于響應(yīng)于用戶對所述圖標(biāo)之一的選擇在所述圖形用戶界面內(nèi)顯示分級測試開發(fā)樹的代碼，所述樹包括一個節(jié)點，與被測器件相對應(yīng)的器件分支被添加到該節(jié)點；以及用于響應(yīng)于用戶與所述樹的分支的交互而顯示用于指定所述器件及其測試設(shè)置的多個窗口的代碼。
23.如權(quán)利要求22所述的計算機(jī)程序，其中所述自動化測試開發(fā)工具包括管腳配置工具、測試設(shè)置編輯器和測試流程編碼器。
24.如權(quán)利要求22所述的計算機(jī)程序，其中所述被測器件的所有測試設(shè)置都可經(jīng)由所述樹訪問。
25.如權(quán)利要求22所述的計算機(jī)程序，還包括用于顯示與每個器件分支相對應(yīng)的測試設(shè)置分支的代碼；用于一旦與測試設(shè)置分支發(fā)生預(yù)定交互就顯示用于指定新的模擬和射頻測試設(shè)置的選項的代碼；以及用于一旦選擇用于開發(fā)新的模擬和射頻測試設(shè)置的選項之一就顯示用于指定所選擇的新測試設(shè)置的多個界面窗口的代碼。
26.如權(quán)利要求22所述的計算機(jī)程序，還包括用于顯示與每個器件分支相對應(yīng)的測試設(shè)置分支的代碼；用于一旦與測試設(shè)置分支發(fā)生預(yù)定交互就顯示用于指定向量標(biāo)簽的選項的代碼；用于一旦選擇所述用于指定向量標(biāo)簽的選項就顯示用于指定所述向量標(biāo)簽的數(shù)字模式編輯器窗口的代碼，所述指定所述向量標(biāo)簽包括指定默認(rèn)或定制模式定時；以及用于一旦選擇定制模式定時就顯示定時編輯器窗口的代碼。
27.一種用于開發(fā)自動化測試設(shè)備的測試的方法，包括發(fā)起與在自動化測試開發(fā)環(huán)境的圖形用戶界面內(nèi)顯示的分級測試開發(fā)樹的預(yù)定交互，所述樹提供對被測器件和被測器件測試設(shè)置的訪問；以及一旦發(fā)起所述預(yù)定交互，就向多個已顯示的窗口提供輸入，以指定所述被測器件之一的測試設(shè)置。
全文摘要
本發(fā)明提供了利用分級測試開發(fā)樹指定器件及其測試設(shè)置的方法和裝置。在一個實施例中，一種計算機(jī)程序具有用于在自動化測試開發(fā)環(huán)境的圖形用戶界面(GUI)內(nèi)顯示分級測試開發(fā)樹的代碼。所述樹具有一個節(jié)點，與被測器件(DUT)相對應(yīng)的器件分支被添加到該節(jié)點。該計算機(jī)程序還具有用于自動地將管腳配置分支和測試設(shè)置分支與每個器件分支相關(guān)聯(lián)的代碼；以及用于響應(yīng)于用戶與樹的分支的交互而顯示用于指定DUT及其測試設(shè)置的多個窗口的代碼。還公開了其他實施例。
文檔編號G06F11/22GK1892245SQ20061008062
公開日2007年1月10日 申請日期2006年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月29日
發(fā)明者周正容 申請人:安捷倫科技有限公司