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      測試線路布設(shè)方法

      文檔序號:6563319閱讀:171來源:國知局
      專利名稱:測試線路布設(shè)方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種測試線路布設(shè)方法,更具體地,有關(guān)一種布設(shè)電 性連接于相連的電路板與測試電路板間的測試用信號線的方法。
      背景技術(shù)
      通常, 一般制造電路板的廠商,例如,以常見的主機(jī)板(Mother Board,MB)來說,為確保所生產(chǎn)的主機(jī)板具備良好的品質(zhì)特性,均會在 產(chǎn)品出廠前,于該主機(jī)板上預(yù)留一些供檢測其產(chǎn)品特性的待測元件, 并將主機(jī)板上的各個(gè)待測元件對應(yīng)電性連接于除錯(cuò)測試(Debug)電路板 的多個(gè)測試接點(diǎn),以使該測試電路板能針對主機(jī)板進(jìn)行各種除錯(cuò)測試 (如元件參數(shù)測試、產(chǎn)品功能測試等),通過除錯(cuò)測試而偵測出所有可 能的錯(cuò)誤,以做為進(jìn)行改善的根據(jù)。請參閱圖l,在現(xiàn)有技術(shù)中,測試電路板12是以共板方式聯(lián)結(jié)于 待測的主機(jī)板10,該測試電路板12及主機(jī)板10間設(shè)有分界標(biāo)示11。 該主機(jī)板IO上具有多驅(qū)動端101a、 102a、 103a及與其分別對應(yīng)的接收 端101b、 102b、 103b;而該測試電路板12上具有多對應(yīng)于所述驅(qū)動端 101a、 102a、 103a及接收端101b、 102b、 103b的測試接點(diǎn)121 、 122、 123。布設(shè)測試用信號線的方法是自主機(jī)板10上的驅(qū)動端101a、 102a、 103a分別引出并布設(shè)測試用信號線IOIA、 102A、 103A,并電性連接 至與各該驅(qū)動端101a、 102a、 103a相對應(yīng)的測試接點(diǎn)121 、 122、 123 上;且自上述接收端101b、 102b、 103b上亦分別引出并布設(shè)測試用信 號線IOIB、 102B、 103B,并電性連接至與各該接收端101b、 102b、 103b所相對應(yīng)的測試接點(diǎn)121、 122、 123上,使該驅(qū)動端101a、 102a、 103a及接收端101b、 102b、 103b分別通過所述測試用信號線IOIA、 102A、 103A、 IOIB、 102B、 103B相互電性連接于對應(yīng)的測試接點(diǎn)121、 122、 123上。如此,則電路板IO上的各驅(qū)動端101a、 102a、 103a及接收端lOlb、 102b、 103b與相對應(yīng)的測試電路板12上的測試接點(diǎn)121、 122、 123,得以通過所述測試用信號線101A、 102A、 103A及101B、 102B、 103B而形成完整的導(dǎo)通回路,從而以該測試電路板12對主機(jī) 板10進(jìn)行除錯(cuò)測試,以檢驗(yàn)其品質(zhì)特性。但是,上述測試用信號線的布設(shè)方式存在有以下缺失當(dāng)測試電 路板12對主機(jī)板10測試完畢后,若電路板10是無品質(zhì)瑕疵且需要使 用該電路板10時(shí),便不再需要共板聯(lián)結(jié)于該電路板10的測試電路板 12,必需沿著設(shè)于該測試電路板12及主機(jī)板10間的分界標(biāo)示11予以 切割(例如采用V-cut技術(shù)),自電路板10及測試電路板12的頂層切割 掉部分厚度板材后,再將該測試電路板12沿著該分界標(biāo)示11折斷以 脫離該電路板10。于折斷該測試電路板12后,前述測試用信號線IOIA、 102A、 103A 及IOIB、 102B、 103B亦被從中切斷。由于電路板10上的驅(qū)動端101a、 102a、 103a與接收端101b、 102b、 103b是通過所述測試用信號線IOIA、 102A、 103A及101B、 102B、 103B而分別電性連接至測試電路板12 上的測試接點(diǎn)121、 122、 123,因此,將使該電路板10上的驅(qū)動端101a、 102a、 103a與對應(yīng)的接收端101b、 102b、 103b間的電性連接線路形成 斷路。因此,于后續(xù)使用該電路板10前必須先對該電路板10進(jìn)行重新 布線,以修復(fù)中斷的電性連接線路,使該驅(qū)動端101a、 102a、 103a重 新電性連接于對應(yīng)的接收端101b、 102b、 103b。然,重新布線需耗費(fèi) 相當(dāng)長的工作時(shí)間與制造方法成本,故效率較低。因此,如何克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),進(jìn)而提供一種測試線路布 設(shè)方法,以使布設(shè)在電路板上的驅(qū)動端及接收端間的信號線具獨(dú)立性, 避免因折斷測試電路板而導(dǎo)致電路板上的驅(qū)動端與接收端間的電性連 接線路中斷,并省去因重新布線制造方法而增加的工時(shí)及制造方法成 本,以提高效率,實(shí)已成為需要解決的問題。發(fā)明內(nèi)容鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本發(fā)明的主要目的在于提供一種測試 線路布設(shè)方法,以布設(shè)電性連接于共板相連的電路板及測試電路板間 的測試用信號線,并使布設(shè)于電路板上的驅(qū)動端及接收端間的信號線 路具獨(dú)立性,避免因折斷測試電路板而導(dǎo)致電路板上的驅(qū)動端與接收 端間的信號線中斷。本發(fā)明的另一目的是在于提供一種測試線路布設(shè)方法,從而提升 電路板的電性連接品質(zhì)。本發(fā)明的又一目的在于提供一種測試線路布設(shè)方法,從而降低產(chǎn) 品的制造成本。為達(dá)上述目的及其他目的,本發(fā)明提供一種測試線路布設(shè)方法, 用于布設(shè)電性連接于共板相連的電路板與測試電路板之間的測試用信 號線,其中,該電路板上具有數(shù)量相對應(yīng)的多驅(qū)動端及接收端,而該 測試電路板上則設(shè)有對應(yīng)數(shù)量的多測試接點(diǎn),該測試線路布設(shè)方法包 括依據(jù)驅(qū)動端及接收端的對應(yīng)關(guān)系設(shè)定起始點(diǎn)及終點(diǎn),并根據(jù)該起 始點(diǎn)及終點(diǎn)的設(shè)定于該電路板上布設(shè)多信號線以電性連接相對應(yīng)的各 該驅(qū)動端與接收端;以及分別布設(shè)自各該信號線引出的測試用信號線, 且分別對應(yīng)電性連接至該測試電路板上所對應(yīng)的測試接點(diǎn)。上述測試線路的布設(shè)方法還可包括預(yù)先設(shè)定該電路板的驅(qū)動端、 接收端及該測試電路板的測試接點(diǎn)間的對應(yīng)關(guān)系。上述電路板與測試電路板之間是具有一分界標(biāo)示,以供該測試電 路板于測試完電路板后,可沿該分界標(biāo)示將該測試電路板折斷以脫離 電路板。該分界標(biāo)示是為一折邊劃痕,但并不以此為限,其亦可例如 為分界畫線。上述測試用信號線是布設(shè)于該電路板及測試電路板的底層,以供 廠商配合置制造方法需要而予以切割(例如采用V-cut或其他切割方 式),自該電路板及測試電路板的頂層切割掉部分厚度板材時(shí),不會損 及布測試用信號線,而使該測試用信號線保持電性連接的完整性,從 而以該測試電路板對電路板進(jìn)行除錯(cuò)測試(Debug)工作。再者,本發(fā)明的測試線路布設(shè)方法,其技術(shù)特征是于電路板上的 驅(qū)動端與其對應(yīng)的接收端之間布設(shè)信號線,通過該信號線電性連接該 驅(qū)動端與接收端,并自該信號線上引出并布設(shè)測試用信號線,以電性 連接至驅(qū)動端與接收端于測試電路板上所對應(yīng)的測試接點(diǎn)。由此,以 使布設(shè)在電路板上的線路具獨(dú)立性,避免因折斷測試電路板而導(dǎo)致電
      路板上的驅(qū)動端與接收端間的信號線路中斷,并省去因重新布線制造 方法而增加的工時(shí)及制造方法成本,以提高效率。


      圖1為現(xiàn)有技術(shù)中布設(shè)測試用信號線的示意圖;以及圖2A及圖2B為用以顯示本發(fā)明的測試線路布設(shè)方法的示意圖, 其中,圖2A顯示于電路板上布設(shè)多電性連接于驅(qū)動端與對應(yīng)的接收端 間的信號線的示意圖,圖2B顯示自電路板的驅(qū)動端及接收端間的信號 線上引出并布設(shè)測試用信號線,以電性連接至測試電路板上的測試接 點(diǎn)的示意圖。主要元件符號說明10、 20 電路板101a、 102a、 103a、 201a、 202a、 203a 驅(qū)動端101b、 102b、 103b、 201b、 202b、 203b接收端IOIA、 102A、 103A、 IOIB、 102B、 103B 測試用信號線11、 21 分界標(biāo)示12、 22 測試電路板121、 122、 123、 221、 222、 223 測試接點(diǎn)201、 202、 203信號線201A、 202A、 203A 測試用信號線具體實(shí)施方式
      以下通過具體實(shí)例說明本發(fā)明的實(shí)施方式,熟悉此技藝的人士可 由本說明書所公開的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。請參閱圖2A及圖2B,是為本發(fā)明的測試線路布設(shè)方法示意圖, 本發(fā)明的測試線路布設(shè)方法是可搭載于一布線軟件中,通過該布線軟 件于設(shè)計(jì)一線路時(shí),布設(shè)電性連接于共板相連的電路板20與測試電路 板22之間的測試用信號線。如圖2A所示,該電路板20上具有多驅(qū)動端201a、 202a、 203a及 所述驅(qū)動端分別對應(yīng)的接收端201b、 202b、 203b,而該測試電路板22
      是對應(yīng)于所述驅(qū)動端201a、 202a、 203a及接收端20lb、 202b、 203b 具有多測試接點(diǎn)221、 222、 223。且該測試電路板22是以共板方式聯(lián) 結(jié)于電路板20,該電路板20與測試電路板22之間設(shè)有一分界標(biāo)示21 , 以因應(yīng)后續(xù)制造方法的需要,而可沿該分界標(biāo)示21以V-cut或其他切 割方式,自電路板20及測試電路板22的頂層切割掉部分厚度板材后, 再將該測試電路22板沿著該分界標(biāo)示21折斷以脫離該電路板20。該電路板20是例如為主機(jī)板(Mother Board,MB),該驅(qū)動端201a、 202a、 203a及接收端201b、 202b、 203b是例如為電子元件、晶片及其 他線路等,該分界標(biāo)示21是為一折邊劃痕,但并不以此為限,其亦 可例如一分界畫線。于電路板20上布設(shè)測試用信號線的步驟包括通過布線軟件預(yù)先 設(shè)定該電路板20上的驅(qū)動端201a、 202a、 203a及接收端201b、 202b、 203b與該測試電路板20上的測試接點(diǎn)221、 222、 223間的對應(yīng)關(guān)系, 因設(shè)定對應(yīng)關(guān)系的方式是為現(xiàn)有布線軟件已有的技術(shù),故在此不再贅 述;再將所述驅(qū)動端201a、 202a、 203a及對應(yīng)的接收端201b、 202b、 203b分別設(shè)定為電性連接于驅(qū)動端與接收端間的信號線的起始點(diǎn)及終 點(diǎn),并通過布線軟件根據(jù)起始點(diǎn)及終點(diǎn)的設(shè)定,于電路板20上布設(shè)電 性連接于該驅(qū)動端201a、 202a、 203a與對應(yīng)的接收端201b、 202b、 203b 間的信號線201、 202、 203。其中,所述信號線201、 202、 203是布設(shè) 于電路板20上,具體地,所述信號線201、 202、 203均布設(shè)于該分界 標(biāo)示21臨近于該電路板20的一側(cè)。如此,電路板20上的驅(qū)動端201a、 202a、 203a及所對應(yīng)的接收端 201b、 202b、 203b,即可通過上述的信號線201、 202、 203而相互電 性連接,并形成完整且獨(dú)立的信號傳輸回路。請參閱圖2B,通過布線軟件自上述驅(qū)動端201a、 202a、 203a與對 應(yīng)的接收端201b、 202b、 203b間的信號線201、 202、 203上分別引出 并布設(shè)測試用信號線201A、 202A、 203A以電性連接至驅(qū)動端201a、 202a、 203a與接收端201b、 202b、 203b于測試電路板上所對應(yīng)的測試 接點(diǎn)221、 222、 223。如此,該測試電路板22上的測試接點(diǎn)221 、 222、 223即電性連接于電路板20上的驅(qū)動端201a、 202a、 203a及接收端 201b、 202b、 203b。
      于本實(shí)施例中,該測試用信號線201A、 202A、 203A是布設(shè)于該 電路板20及測試電路板22的底層或臨近底層的布線層上,以供廠商 采用例如V-cut或其他切割方式沿著該分界標(biāo)示21自該該電路板20及 測試電路板22的頂層切割掉部分厚度板材后,不會損及布設(shè)于底層或 布線層上的測試用信號線201A、 202A、 203A,而使該測試用信號線 201A、 202A、 203A保持電性連接的完整性,從而以該測試電路板22 對電路板20進(jìn)行除錯(cuò)測試(Debug)工作。再者,于測試電路板22對該電路板20進(jìn)行測試后,若經(jīng)確認(rèn)該 電路板2()是無瑕疵,且需使用該電路板20時(shí),則該測試電路板22已 完成使命且不起作用,故只需沿著該分界標(biāo)示21將該測試電路板22 折斷以脫離該電路板20,此時(shí)該測試用信號線201A、 202A、 203A即 被切斷;而電路板20上的驅(qū)動端201a、 202a、 203a與對應(yīng)的接收端 201b、 202b、 203b間的信號線201、 202、 203依然保持完整地電性連 接關(guān)系,使該電路板20仍可以正常運(yùn)作。本發(fā)明可避免現(xiàn)有技術(shù)在折斷測試電路板后,需于電路板上進(jìn)行 重新布線的缺點(diǎn),免去重新布線所需耗費(fèi)的工作時(shí)間,而提高工作效 率并同時(shí)降低制造方法成本。上述實(shí)施例僅為例示性說明本發(fā)明的原理及其功效,而非用于限 制本發(fā)明。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員均可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下, 對上述實(shí)施例進(jìn)行修飾與變化。因此,本發(fā)明的權(quán)利保護(hù)范圍,應(yīng)以 權(quán)利要求為依據(jù)。
      權(quán)利要求
      1. 一種測試線路布設(shè)方法,是用于布設(shè)電性連接于共板相連的電 路板與測試電路板之間的測試用信號線,其中,該電路板上具有數(shù)量 相對應(yīng)的多驅(qū)動端及接收端,而該測試電路板上則設(shè)有對應(yīng)數(shù)量的多 測試接點(diǎn),該測試線路布設(shè)方法包括依據(jù)驅(qū)動端及接收端的對應(yīng)關(guān)系設(shè)定起始點(diǎn)及終點(diǎn),并根據(jù)該起 始點(diǎn)及終點(diǎn)的設(shè)定于該電路板上布設(shè)多信號線以電性連接相對應(yīng)的各 該驅(qū)動端與接收端;以及分別布設(shè)自各該信號線引出的測試用信號線,且分別對應(yīng)電性連 接至該測試電路板上所對應(yīng)的測試接點(diǎn)。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路布設(shè)方法,還包括于設(shè)定起始 點(diǎn)及終點(diǎn)之前,預(yù)先設(shè)定該電路板的驅(qū)動端、接收端及測試電路板上 的測試接點(diǎn)間的對應(yīng)關(guān)系。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路布設(shè)方法,其中,該電路板與 測試電路板之間具有一分界標(biāo)示,以供該測試電路板于測試完該電路 板后,沿該分界標(biāo)示將該測試電路板折斷以脫離該電路板。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試線路布設(shè)方法,其中,該分界標(biāo)示 是為分界畫線及折邊劃痕的其中之一。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路布設(shè)方法,其中,該電路板與 測試電路板之間具有一分界標(biāo)示,且該信號線是布設(shè)于該電路板臨近 于該分界標(biāo)示的一側(cè)。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試線路布設(shè)方法,其中,沿該分界標(biāo) 示將該測試電路板折斷以脫離該電路板后,該信號線保持電性連接的 完整性。
      7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路布設(shè)方法,其中,該電路板與測試電路板之間具有一分界標(biāo)示,而該測試用信號線是布設(shè)于該電路板及測試電路板的底層,以于自該電路板及測試電路板的頂層切割掉 部分厚度的板材時(shí),不會損及該測試用信號線而使該測試用信號線保持電性連接的完整性。
      8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路布設(shè)方法,其中,該電路板是 為印刷電路板、封裝基板及多層電路板的其中之一。
      9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路布設(shè)方法,其中,該電路板是 為主機(jī)板。
      10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路布設(shè)方法,是應(yīng)用于一布線軟 件中,通過該布線軟件進(jìn)行布設(shè)多信號線及測試用信號線。
      全文摘要
      一種測試線路布設(shè)方法,是用于布設(shè)電性連接于共板相連的電路板與測試電路板之間的測試用信號線,該電路板上具有數(shù)量相對應(yīng)的多驅(qū)動端及接收端,而該測試電路板上則設(shè)有對應(yīng)數(shù)量的多測試接點(diǎn),該測試線路布設(shè)方法是包括依據(jù)驅(qū)動端及接收端的對應(yīng)關(guān)系設(shè)定起始點(diǎn)及終點(diǎn),并根據(jù)該起始點(diǎn)及終點(diǎn)的設(shè)定于該電路板上布設(shè)多信號線以電性連接相對應(yīng)的各該驅(qū)動端與接收端;以及分別布設(shè)自各該信號線引出的測試用信號線,且分別對應(yīng)電性連接至該測試電路板上所對應(yīng)的測試接點(diǎn);由此避免現(xiàn)有技術(shù)因折斷測試電路板而導(dǎo)致驅(qū)動端與接收端間的信號線路中斷。
      文檔編號G06F17/50GK101145168SQ20061015382
      公開日2008年3月19日 申請日期2006年9月13日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月13日
      發(fā)明者周俊良, 冰 韓 申請人:英業(yè)達(dá)股份有限公司
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