專利名稱：一種內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法以及計算機主板的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及計算枳Z頁域，特別是指內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法以及計算機主板。
背景技術(shù)：
在計算機的硬件標準配置中，主板和內(nèi)存以及CPU是計算機中最重要的 部件，然而，主板、內(nèi)存和CPU常常是由不同的生產(chǎn)廠商來生產(chǎn)，要想讓一 臺計算機穩(wěn)定而高效的運行，除了對CPU有比較高的要求外，主板與內(nèi)存的
兼容性問題也是一個不容忽視的問題，在實際使用中，也常常遇到由于主板和 內(nèi)存的不兼容而導致計算機死機或者藍屏的現(xiàn)象，這給用戶帶來極大不便。因 此，計算機廠商在組裝計算機之前，必須要對主板和內(nèi)存進行兼容性測試，由 于內(nèi)存是直接插在主板的內(nèi)存插槽中，由主板提供電源，內(nèi)存才能工作，因此， 內(nèi)存和主板的兼容性問題主要表現(xiàn)在主板對內(nèi)存所提供的工作電壓和參考電 壓能不能使內(nèi)存正常而穩(wěn)定的運行。
目前的主板為內(nèi)存所提供的工作電壓(VCC_DDR)是固定的，為內(nèi)存所 提供的參考電壓(VDDR—REF)也是固定的，而且VDDR—REF為VCC_DDR 的一半，如圖l所示，上述VDDR—REF和VCC一DDR的關(guān)系由相互串聯(lián)的兩 個分壓電阻構(gòu)成，這種情況下，經(jīng)過測試，如果出現(xiàn)主板和內(nèi)存的不兼容，可 以對工作電壓和參考電壓調(diào)高或者調(diào)低一些，就可以使計算機系統(tǒng)正常運行， 圖1所示的方案在調(diào)節(jié)工作電壓和參考電壓時，必須對分壓電阻進行更換，焊 上更合適的分壓電阻使工作電壓和參考電壓得到一定程度上的調(diào)節(jié)，再重新進 行測試，這種操作太過復雜，使內(nèi)存工作電壓和參考電壓調(diào)節(jié)起來不方便，而 且也做不到高精度微動調(diào)節(jié)內(nèi)存供電電壓，而且低效率、長時間的測試工作造 成工時的浪費，讓人無法忍受。
因此，有的計算機廠商干脆直接對主板和內(nèi)存進行測試，發(fā)現(xiàn)有不兼容的現(xiàn)象，就將與主板不兼容的內(nèi)存淘汰下來，將該內(nèi)存和其他的主板重新配合測 試，試圖通過不同的配合方式來避免問題的發(fā)生，對于計算機廠商對計算機的 批量生產(chǎn)來說，這顯然不是一個科學有效的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實施例提供一種內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法以及計算機主板，解決計算機 的主板的內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)不方便的問題。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的實施例提供一種內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，包括 如下步驟
獲取并輸出內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓；
以所述內(nèi)存的標準工作電壓為輸入電壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個 浮動工作電壓，并輸出所述多個浮動工作電壓；
以所述內(nèi)存的標準參考電壓為輸入電壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個 浮動參考電壓，并輸出所述多個浮動參考電壓。
優(yōu)選的，上述對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓的步驟具體
為
對所述輸入電壓按照指令Vo_init + Nx Vo一step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作 電壓；其中，所述Vo—init為所述內(nèi)存的標準工作電壓，N為整數(shù)，Vo—step為 電壓調(diào)整步長；
對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓的步驟具體為 對所述輸入電壓按照指令Vf一init + K x Vf_step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考
電壓；其中，所述Vf—init為所述內(nèi)存的標準參考電壓，K為整數(shù)，Vf一step為
電壓調(diào)整步長。
優(yōu)選的，上述方法還包括如下步驟
獲取所述多個浮動工作電壓和所述多個浮動參考電壓；
以所述標準工作電壓和所述多個浮動工作電壓為行/列，以所述標準參考
電壓和所述多個浮動參考電壓為列/行，形成一個測試矩陣，對所述測試矩陣
中的每一個元素所對應的一對工作電壓和參考電壓進行內(nèi)存兼容性測試，形成測試結(jié)果矩陣A;
在所述測試結(jié)果矩陣A中，獲取主板與內(nèi)存兼容的一對工作電壓和參考 電壓，并將所述獲取的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓，將所述荻取的參 考電壓設置為內(nèi)存的實際參考電壓。
優(yōu)選的，上述在所述測試結(jié)果矩陣A中，獲取主板與內(nèi)存兼容的一對工 作電壓和參考電壓的步驟之后還包括
將所述獲取的一對工作電壓和參考電壓保存在所述主板的芯片中。
優(yōu)選的，上述所述在所述測試結(jié)果矩陣A中，獲取主板與內(nèi)存兼容的一 對工作電壓和參考電壓，并將所述獲取的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電 壓，將所述獲取的參考電壓設置為內(nèi)存的實際參考電壓的步驟具體為
在所述測試結(jié)果矩陣A中，選取一個m行x n列的子測試結(jié)果矩陣B, 其中m、 n為大于1的奇數(shù)；
判斷所述子測試結(jié)果矩陣B中的元素Bu、 Bln、 Bml、 B加分別對應的一 對工作電壓和參考電壓是否均為主板與內(nèi)存兼容的一對工作電壓和參考電壓；
若是，則將所述子測試結(jié)果矩陣B的對稱中心對應的一對工作電壓和參 考電壓分別設置為內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓。
優(yōu)選的，上述在所述測試結(jié)果矩陣A中，選取一個m行xn列的子測試 結(jié)果矩陣B的步驟具體為
在所述測試結(jié)果矩陣A中，以所述內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓 為對稱中心選取一個m行x n列的子測試結(jié)果矩陣B。
優(yōu)選的，上述將所述獲取的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓，將所述 獲取的參考電壓設置為內(nèi)存的實際參考電壓的步驟具體為
通過所述主板上的串行輸入/輸出接口或者并行輸入/輸出接口將所述獲取
的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓，將所述獲:f又的參考電壓設置為內(nèi)存的 實際參考電壓。
為解決上述技術(shù)問題，還提供一種計算機主板，包括
內(nèi)存電壓輸出模塊，用于輸出內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓；
初始化模塊，用于初始化所述內(nèi)存電壓輸出模塊，使所述內(nèi)存電壓輸出模塊分別^r出內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓；
內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊，用于以所述內(nèi)存的標準工作電壓為輸入電 壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓，并輸出所述多個浮動工作
電壓；
內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊，用于以所述內(nèi)存的標準參考電壓為輸入電 壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓，并輸出所述多個浮動參考 電壓。
優(yōu)選的，上述計算機主板還包括
工作電壓指令產(chǎn)生才莫塊，用于產(chǎn)生指令Vo一init + Nx Vo一step，并將該指 令傳輸給所述內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊，使所述內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊 對所述輸入電壓按照指令Vo一init + N x Vo一step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓； 其中，所述Vo—init為所述內(nèi)存的標準工作電壓，N為整數(shù)，Vo一step為電壓調(diào) 整步長；
參考電壓指令產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生指令Vf一init + Kx Vf一step,并將該指 令傳輸給所述內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊，使所述內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊 對所述輸入電壓按照指令Vfjnit + Kx Vf一step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓； 其中，所述Vfjnit為所述內(nèi)存的標準參考電壓，K為整數(shù)，Vf—step為電壓調(diào) 整步長。
優(yōu)選的，上述計算機主板還包括
測試結(jié)果矩陣形成模塊，用于以所述標準工作電壓和所述多個浮動工作電 壓為行/列，以所述標準參考電壓和所述多個浮動參考電壓為列/行，形成一個 測試矩陣，對所述測試矩陣中的每一個元素所對應的一對工作電壓和參考電壓 進行內(nèi)存兼容性測試，形成測試結(jié)果矩陣A;
獲取模塊，用于在所述測試結(jié)果矩陣A中，獲取主板和內(nèi)存兼容的一對 工作電壓和參考電壓，并將所述獲取的工作電壓和參考電壓傳輸至所述內(nèi)存電 壓輸出模塊；
所述內(nèi)存電壓輸出模塊輸出所述獲取的工作電壓和參考電壓。 優(yōu)選的，上述計算機主板還包括存儲模塊，用于將所述獲取的一對工作電壓和參考電壓保存在所述主板的 芯片中。
優(yōu)選的，上述計算機主板還包括
子測試結(jié)果矩陣形成模塊，用于在所述測試結(jié)果矩陣A中，以所述內(nèi)存 的標準工作電壓和標準參考電壓為對稱中心選取一個m行xn列的子測試結(jié) 果矩陣B,其中m、 n為大于l的奇數(shù)；
判斷沖莫塊，用于判斷所述子測試結(jié)果矩陣B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn分別對應的一對工作電壓和參考電壓是否均為主板與內(nèi)存兼容的一對工 作電壓和參考電壓，若是，則將所述子測試結(jié)果矩陣B的對稱中心對應的一 對工作電壓和參考電壓分別設置為內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓；若 否，則平移所述子測試結(jié)果矩陣B，并判斷所述子測試結(jié)果矩陣B是否遍歷所 述測試結(jié)果矩陣A,若否，則重新判斷所述子測試結(jié)果矩陣B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn分別對應的一對工作電壓和參考電壓是否均為主板與內(nèi)存兼 容的一對工作電壓和參考電壓；若是，則認定所述主板與內(nèi)存不兼容。
優(yōu)選的，上述內(nèi)存電壓輸出模塊為所述主板上的串行輸入/輸出接口或者 并行輸入/輸出接口。
上述4支術(shù)方案通過對計算機主板的內(nèi)存標準工作電壓和內(nèi)存標準參考電 壓按照控制指令分別調(diào)節(jié)，在調(diào)節(jié)內(nèi)存的工作電壓或者參考電壓時，無需對分 壓電阻進行更換，使對內(nèi)存電壓的調(diào)節(jié)更加方便，而且對內(nèi)存的標準工作電壓 和標準參考電壓進行調(diào)節(jié)后，形成多對工作電壓和參考電壓的組合，從中選取 一對主板和內(nèi)存兼容的工作電壓和參考電壓作為內(nèi)存的實際輸出電壓，從而解 決了主板和內(nèi)存的兼容性問題，同時對工作電壓和參考電壓的調(diào)節(jié)可以由程序 來實現(xiàn)，提高了對主板和內(nèi)存兼容性測試的效率。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中內(nèi)存的工作電壓和參考電壓的分壓電路示意圖； 圖2為本發(fā)明的實施例計算機主板輸出內(nèi)存的工作電壓和參考電壓的電 路示意圖；圖3為本發(fā)明的實施例內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法流程示意圖4為圖3所示方法中的測試結(jié)果矩陣A示意圖5為內(nèi)存的工作電壓和參考電壓影響內(nèi)存的關(guān)鍵參數(shù)的效果示意圖6為本發(fā)明的實施例計算機主板的結(jié)構(gòu)示意圖7為圖6所示的計算機主板中的內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊或者內(nèi)存標 準參考電壓調(diào)節(jié)模塊的電路結(jié)構(gòu)示意圖8為圖6所示的計算機主板中的內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊或者內(nèi)存標 準參考電壓調(diào)節(jié)模塊的另一種電路結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式
為使本發(fā)明的實施例要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面 將結(jié)合附圖及具體實施例進行詳細描述。
本發(fā)明的實施例針對現(xiàn)有技術(shù)中內(nèi)存的工作電壓和參考電壓不方便調(diào)節(jié) 以及計算機主板和內(nèi)存存在的兼容性問題，提供一種內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法以及一 種計算機主板。
如圖2所示，為本發(fā)明的實施例計算機主板輸出內(nèi)存的工作電壓 (VCC—DDR)和參考電壓(VDDR—REF )的電路示意圖，通過內(nèi)存電壓輸出 模塊的輸入端口 (Port),向內(nèi)存電壓輸出模塊輸入命令，使VCC一DDR的輸 出電壓按照命令的要求進行調(diào)整，也可以通過內(nèi)存電壓輸出^^莫塊的輸入端口 (Port),向內(nèi)存電壓輸出模塊輸入命令，使VDDR一REF的輸出電壓按照命令 的要求進行調(diào)整，也就是說，本發(fā)明的實施例中，通過Port能夠控制內(nèi)存電 壓輸出模塊輸出不同的工作電壓和不同的參考電壓，內(nèi)存的工作電壓和參考電 壓是分別可調(diào)的，使內(nèi)存工作電壓和參考電壓的調(diào)節(jié)更加方便，而且為解決主 板和內(nèi)存的兼容性問題提供了關(guān)鍵的條件。
如圖3所示，本發(fā)明的實施例內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法包括如下步驟 步驟31、獲取并輸出內(nèi)存的標準工作電壓(Vo—init)和標準參考電壓 (Vf—init);
步驟32、以內(nèi)存的標準工作電壓為輸入電壓，對輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓，并輸出該多個浮動工作電壓；具體的，可以對輸入電壓按照 指令Vo—init + Nx Vo—step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓；其中，Vojnit為內(nèi) 存的標準工作電壓，N為整數(shù)，Vo_step為電壓調(diào)整步長，較佳的，浮動工作 電壓與標準工作電壓相比，可上下浮動標準工作電壓的10%,也可以#4居具 體情況靈活設置；
步驟33、以內(nèi)存的標準參考電壓為輸入電壓，對輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多 個浮動參考電壓，并輸出該多個浮動工作電壓；具體的，可以對輸入電壓按照 指令Vf—init + Kx Vf—step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓；其中，Vf—init為內(nèi) 存的標準參考電壓，K為整數(shù)，Vf—step為電壓調(diào)整步長，較佳的，浮動工作 電壓與標準工作電壓相比，可上下浮動標準工作電壓的10%,也可以根據(jù)具 體情況靈活設置。
上述方法通過輸入控制指令，使內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓按照 這些控制指令分別可調(diào)，在需要調(diào)節(jié)內(nèi)存的標準工作電壓或者標準參考電壓 時，不需要更換分壓電阻，就可以方便地實現(xiàn)對內(nèi)存電壓的調(diào)節(jié)。 上述圖3所示的內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法實施例中，還包括如下步驟 步驟34、以上述步驟31中的內(nèi)存的標準工作電壓和上述步驟32中的多 個浮動工作電壓為行/列，以上述步驟31中的內(nèi)存的標準參考電壓和上述步驟 32中的多個浮動參考電壓為列/行，形成一個測試矩陣，對所述測試矩陣中的 每一個元素所對應的一對工作電壓和參考電壓進行內(nèi)存兼容性測試，形成測試 結(jié)果矩陣A;
步驟35、在測試結(jié)果矩陣A中，獲取主板和內(nèi)存兼容的一對工作電壓和 參考電壓；
步驟36、將步驟35中獲取的工作電壓和參考電壓保存在計算機主板的芯 片中；
步驟37、將步驟36中獲取的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓并輸出， 將步驟36中獲取的參考電壓設置為內(nèi)存的實際參考電壓并輸出。
上述方法中，在對內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓調(diào)節(jié)后，經(jīng)過內(nèi)存 兼容性測試，形成一個測試結(jié)果矩陣A,在測試結(jié)果矩陣A中選取一對兼容性最優(yōu)的內(nèi)存的工作電壓和參考電壓，使計算機主板按照該對兼容性最優(yōu)的工 作電壓和參考電壓輸出，這樣就避免了計算機主板和內(nèi)存在使用過程中由于不 兼容而導致計算機死機或者藍屏現(xiàn)象，解決了主板和內(nèi)存的兼容性問題。
如圖4所示，為上述步驟34中的測試結(jié)果矩陣A的示意圖，在形成測試 結(jié)果矩陣A過程中，步驟32和步驟33是同時進行，在每得到一對浮動工作 電壓和浮動參考電壓時，內(nèi)存電壓輸出模塊就會輸出這一對浮動工作電壓和浮 動參考電壓，并測試內(nèi)存在這一對浮動工作電壓和浮動參考電壓下的兼容性， 如果測試結(jié)果是兼容的，則在該對浮動工作電壓和浮動參考電壓對應的方塊內(nèi) 增加相應的標記，如果測試結(jié)果是不兼容的，也在該對浮動工作電壓和參考電 壓對應的方塊內(nèi)增加相應的標記，最終形成測試結(jié)果矩陣A,當然最初在獲取 標準工作電壓和標準參考電壓時，也要對標準工作電壓和標準參考電壓進行兼 容性測試。
從理論上講，在形成測試結(jié)果矩陣A的過程中，步驟32和步驟33也可
以是不同步的，只要最終測試結(jié)果矩陣A中的每個元素所對應的一對工作電 壓和參考電壓都經(jīng)過兼容性測試即可。
舉例說明在上述測試結(jié)果矩陣A中選取兼容性最優(yōu)的一對工作電壓和參 考電壓的過程，以內(nèi)存的標準工作電壓1.80V、標準參考電壓0.900V為例， 按照上述命令Vo一init + N x Vo一step所產(chǎn)生的多個浮動工作電壓分別為1.50V、 1.55V……2.10V,按照上述命令Vf—init + K x Vf—step所產(chǎn)生的多個浮動參考 電壓分別為0.980V、 0.960V......0.820V;其中，標記"x"的方塊表示沒有
通過兼容性測試的工作電壓和參考電壓，標記"v7"的方塊表示通過兼容性測 試的工作電壓和參考電壓，在該測試結(jié)果矩陣中，可以選取一對標記為"《" 的工作電壓和參考電壓，作為內(nèi)存的調(diào)整電壓，按照該調(diào)整后的電壓值控制內(nèi) 存的實際輸出電壓，就能保證主板與內(nèi)存不會出現(xiàn)兼容性問題。
考慮到電源供電的不穩(wěn)定性，內(nèi)存的工作電壓和參考電壓常常需要一定的 余量范圍，因此，上述步驟35具體為
1 )在所述測試結(jié)果矩陣A中，選取一個m行x n列的子測試結(jié)果矩陣B, 其中m、 n為大于l的奇數(shù)；優(yōu)選的，為了提高兼容性測試效率，縮短測試時間，可以以內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓為對稱中心選耳又一個m行x n 列的子測試結(jié)果矩陣B;
2) 判斷Bn、 Bln、 Bml、 Bmn分別對應的一對工作電壓和參考電壓是否均
為主板與內(nèi)存兼容的一對工作電壓和參考電壓；
3) 若是，則將子測試結(jié)果矩陣B的對稱中心對應的一對工作電壓和參考 電壓分別設置為內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓，步驟結(jié)束；若否，則轉(zhuǎn) 至步驟4);
4) 平移所述子測試結(jié)果矩陣B，并判斷所述子測試結(jié)果矩陣B是否遍歷 所述測試結(jié)果矩陣A，若否，則轉(zhuǎn)向步驟2);若是，則認定所述主板與內(nèi)存 不兼容。
也就是說，如果上述子測試結(jié)果矩陣B1的四個角上的工作電壓和參考電 壓組合都通過測試，則直接使用內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓作為內(nèi)存 的實際輸出電壓；
如果子測試結(jié)果矩陣B的四個角中有個別角的工作電壓和參考電壓組合 不能通過測試，如圖4中的子測試結(jié)果矩陣B1中，包括有標記"x"的方塊， 說明該子測試結(jié)果矩陣還存在兼容性問題，其對稱中心(標記的方塊) 所指明的工作電壓和參考電壓不能作為內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓， 則平移該子測試結(jié)果矩陣B1，平移之后為子測試結(jié)果矩陣B2，再對子測試結(jié) 果矩陣B2的四個角進行判斷，若四個角均標記為"《，，則以該子測試結(jié)果矩 陣B2的對稱中心(如標記"V※"的方塊)所指明的工作電壓和參考電壓作
為內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓；
如果子測試結(jié)果矩陣B的四個角中有多個角的工作電壓和參考電壓組合 不能通過測試，說明該子測試結(jié)果矩陣中沒有合適的工作電壓和參考電壓，直 接放棄該子測試結(jié)果矩陣中所有工作電壓和參考電壓的配合。
上述子測試結(jié)果矩陣B2中，其對稱中心所對應的工作電壓1.75V,參考 電壓0.880V作為內(nèi)存的實際調(diào)整電壓時，還要保證工作電壓在1.65V- 1.75V 以及1.75V- 1.85V之間，參考電壓在0.900V 0.860V之間的任意組合都是兼 容的，當然對上述內(nèi)存的工作電壓或者參考電壓所界定的余量范圍并不以上述舉例所限制，也可以有所變化，但也必須滿足內(nèi)存正常工作要求，如不能選取 高于標準工作電壓太多的工作電壓作為內(nèi)存的調(diào)整工作電壓，這樣可能會燒毀 內(nèi)存，也不能選取使內(nèi)存信息傳輸失真的工作電壓或者參考電壓，因為內(nèi)存本 身是一個數(shù)字芯片，調(diào)整內(nèi)存的工作電壓會影響到內(nèi)存的高電平振鈴容限和低 電平振鈴容限，調(diào)整內(nèi)存的參考電壓即閾值電壓，會影響內(nèi)存的信號建立時間 和信號的保持時間，如圖5所示，對內(nèi)存的工作電壓和參考電壓的調(diào)整量必須 滿足這四個參數(shù)的要求，也就是說，不合適的工作電壓或參考電壓的調(diào)整量如 果影響到這四個參數(shù)的其中之一，計算機就會死機或者藍屏，兼容性測試就不 會通過。
上述步驟37中，可通過主板上的串行輸入/輸出接口或者并行輸入/輸出接 口輸入調(diào)節(jié)標準工作電壓或者標準參考電壓所使用的控制命令，也可通過該串 行輸入/輸出接口或者并行輸入/輸出接口將最后獲取的工作電壓設置為內(nèi)存的 實際工作電壓輸出，將最后獲取的參考電壓設置為內(nèi)存的實際參考電壓輸出； 而該串行輸入/輸出接口或者并行輸入/輸出接口的源端可以與主板的芯片的輸 出連接在一起，如可以與主板上的南橋芯片的輸出連接在一起。
綜上所述，本發(fā)明的實施例內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，通過使用電壓調(diào)節(jié)控制命 令，使內(nèi)存的工作電壓和參考電壓按照命令分別可調(diào)，不需要更換分壓電阻， 使內(nèi)存電壓的調(diào)節(jié)更力口方便，在調(diào)節(jié)后的多對工作電壓和參考電壓中，尋找一 對兼容性較佳的工作電壓和參考電壓，保存到計算機主板的芯片中，并按照該 工作電壓和參考電壓設定和控制內(nèi)存的實際輸出電壓，最大程度上保證了主板 和內(nèi)存的兼容性，而且在上述方法中，按照控制命令調(diào)節(jié)內(nèi)存的工作電壓和參 考電壓是可以由程序來實現(xiàn)的，因此相對于現(xiàn)有技術(shù)中的主板和內(nèi)存的兼容性 測試方法，大大縮短了主板和內(nèi)存兼容性測試的時間，提高了測試的效率。
如圖6所示，還提供一種計算機主板，包括
內(nèi)存電壓輸出模塊，用于輸出內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓； 初始化模塊，用于初始化內(nèi)存電壓輸出模塊，使內(nèi)存電壓輸出模塊分別輸
出內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓；
內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊，用于以內(nèi)存的標準工作電壓為輸入電壓，對輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓，并輸出該多個浮動工作電壓；
工作電壓指令產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生指令Vo—init + Nx Vo—step,并將該指 令傳輸給內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊，使內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊對輸入電 壓按照Vo—init + N x Vo—step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓；其中，Vo—init為 內(nèi)存的標準工作電壓，N為整數(shù)，Vo_step為電壓調(diào)整步長；
內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊，用于以內(nèi)存的標準參考電壓為輸入電壓，對 輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓，并輸出該多個浮動參考電壓；
參考電壓指令產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生指令Vf—init + Kx Vf一step，并將該指 令傳輸給內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊，使內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊對輸入電 壓按照Vf—init + Kx Vf—step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓；其中，Vf一init為 內(nèi)存的標準參考電壓，K為整數(shù)，Vf一st印為電壓調(diào)整步長；
測試結(jié)果矩陣形成模塊，用于以標準工作電壓和多個浮動工作電壓為行/ 列，以標準參考電壓和多個浮動參考電壓為列/行，形成一個測試矩陣，對所 述測試矩陣中的每一個元素所對應的 一對工作電壓和參考電壓進行內(nèi)存兼容 性測試，形成測試結(jié)果矩陣A;
獲取模塊，用于在測試結(jié)果矩陣A中，獲取主板和內(nèi)存兼容的一對工作 電壓和參考電壓，并將獲取的工作電壓和參考電壓傳輸至內(nèi)存電壓輸出模塊，
由內(nèi)存電壓輸出模塊將獲取的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓輸出，將獲 取的參考電壓設置為內(nèi)存的實際參考電壓輸出； 上述計算機主板還包括
存儲模塊，用于將獲取的一對工作電壓和參考電壓保存在主板的芯片中。 子測試結(jié)果矩陣形成模塊，用于在測試結(jié)果矩陣A中，以內(nèi)存的標準工
作電壓和標準參考電壓為對稱中心選取一個m行x n列的子測試結(jié)果矩陣B，
其中m、 n為大于1的奇數(shù)；
判斷模塊，用于判斷子測試結(jié)果矩陣B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn
分別對應的一對工作電壓和參考電壓是否均為主板與內(nèi)存兼容的一對工作電 壓和參考電壓，若是，則將子測試結(jié)果矩陣B的對稱中心對應的一對工作電 壓和參考電壓分別設置為內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓；若否，則平移所述子測試結(jié)果矩陣B，并判斷所述子測試結(jié)果矩陣B是否遍歷所述測試結(jié)果矩陣A,若否，則重新判斷所述子測試結(jié)果矩陣B中的元素Bll、 Bln、 Bml、Bmn分別對應的一對工作電壓和參考電壓是否均為主板與內(nèi)存兼容的一對工作電壓和參考電壓；若是，則認定所述主板與內(nèi)存不兼容。
優(yōu)選的，上述內(nèi)存電壓輸出模塊為串行輸入/輸出接口或者并行輸入/輸出接口 ，該串行輸入/輸出接口或者并行輸入/輸出接口的源端可以與主板的芯片的輸出連接在一起，如可以與主板上的南橋芯片的輸出連接在一起。
另夕卜，上述內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊可以由如圖7所示的電路實現(xiàn)其中，V—in為輸入的內(nèi)存的標準工作電壓，V一adj為內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊對內(nèi)存的標準工作電壓的調(diào)節(jié)量，V一out為輸出的浮動工作電壓，R一0和RJ為專門設定的電阻，使用不同阻值的R一l,輸出電壓V—out將會不同；
當然上述內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊也可以由如圖7所示的電路實現(xiàn)此時，V—in為輸入的內(nèi)存的標準參考電壓，V—out為輸出的浮動參考電壓。
即，為了實現(xiàn)在計算機的主板上對內(nèi)存的工作電壓和參考電壓分別可調(diào)，可以在計算機的主板上，將內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊和內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊分別用如圖7所示的電路代替。
上述內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊或者內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊也可以采用如圖8所示的電路實現(xiàn)其中，R一l、 R—2、 R_3……R—n為專門設定的電阻，K_l、 K—2、 K_3......K—n為對應的電子開關(guān)，當對應的控制腳I一1、 1—2、
I一3......I一n為高電平時，控制開關(guān)會被打開，使對應的電阻接地，否則，對應
的電阻沒有被接入電路，通過使用不同的I—1、 I一2、 1—3……1_11的組合，實現(xiàn)不同的V一out的輸出。
圖6所示計算機主板的實施例中，內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊或內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊在調(diào)節(jié)電壓時，并不限于采用上述圖7和圖8所示的電路，也可以采用計算機能夠控制的其他電路，達到由 一個輸入電壓得到多個不同輸出電壓的目的。
壓調(diào)節(jié)模塊輸入控制命令，使內(nèi)存的工作電壓和參考電壓按照命令分別可調(diào)，不需要更換分壓電阻就可調(diào)節(jié)內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓，方便了對內(nèi)存電壓的調(diào)節(jié)，在調(diào)節(jié)后的多對工作電壓和參考電壓中，尋找一對兼容性較佳的工作電壓和參考電壓，^:存到計算機主板的芯片中，并^^姿照該工作電壓和參考電壓設定和控制內(nèi)存的實際輸出電壓，最大程度上保證了主板和內(nèi)存的兼容性，而且在上述方法中，按照控制命令調(diào)節(jié)內(nèi)存的工作電壓和參考電壓是可以由程序來實現(xiàn)的，因此相對于現(xiàn)有技術(shù)中的主板和內(nèi)存的兼容性測試方法，大大縮短了主板和內(nèi)存兼容性測試的時間，提高了測試的效率。
以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本技術(shù)領域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明所述原理的前提下，還可以作出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，包括如下步驟獲取并輸出內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓；以所述內(nèi)存的標準工作電壓為輸入電壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓，并輸出所述多個浮動工作電壓；以所述內(nèi)存的標準參考電壓為輸入電壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓，并輸出所述多個浮動參考電壓。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，對所述輸入 電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓的步驟具體為對所述輸入電壓按照指令Vojnit + N x Vo_step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作 電壓；其中，所述Vo一init為所述內(nèi)存的標準工作電壓，N為整數(shù)，Vo_step為 電壓調(diào)整步長；對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓的步驟具體為 對所述輸入電壓按照指令Vf_init + K x Vf一step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓；其中，所述Vf一init為所述內(nèi)存的標準參考電壓，K為整數(shù)，Vf_step為電壓調(diào)整步長。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，還包括 如下步驟獲取所述多個浮動工作電壓和所述多個浮動參考電壓； 以所述標準工作電壓和所述多個浮動工作電壓為行/列，以所述標準參考 電壓和所述多個浮動參考電壓為列/行，形成一個測試矩陣，對所述測試矩陣 中的每一個元素所對應的一對工作電壓和參考電壓進行內(nèi)存兼容性測試，形成 測試結(jié)果矩陣A;在所述測試結(jié)果矩陣A中，獲取主板與內(nèi)存兼容的一對工作電壓和參考 電壓，并將所述獲取的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓，將所述獲取的參 考電壓設置為內(nèi)存的實際參考電壓。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，在所述測試結(jié)果矩陣A中，獲取主板與內(nèi)存兼容的一對工作電壓和參考電壓的步驟之后 還包括將所述獲取的一對工作電壓和參考電壓保存在所述主板的芯片中。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，在所述測試 結(jié)果矩陣A中，獲^^主板與內(nèi)存兼容的一對工作電壓和參考電壓，并將所述 獲取的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓，將所述獲取的參考電壓設置為內(nèi) 存的實際參考電壓的步驟具體為在所述測試結(jié)果矩陣A中，選取一個m行x n列的子測試結(jié)果矩陣B， 其中m、 n為大于1的奇數(shù)；判斷所述子測試結(jié)果矩陣B中的元素B 、 Bln、 Bml、 Bmn分別對應的一 對工作電壓和參考電壓是否均為主板與內(nèi)存兼容的一對工作電壓和參考電壓；若是，則將所述子測試結(jié)果矩陣B的對稱中心對應的一對工作電壓和參 考電壓分別設置為內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，在所述測試 結(jié)果矩陣A中，選取一個m行xn列的子測試結(jié)果矩陣B的步驟具體為在所述測試結(jié)果矩陣A中，以所述內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓 為對稱中心選耳又一個m 4亍x n列的子測試結(jié)果矩陣B。
7. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，將所述獲取 的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓，將所述獲取的參考電壓設置為內(nèi)存的 實際參考電壓的步驟具體為通過所述主板上的串行輸入/輸出接口或者并行輸入/輸出接口將所述獲取 的工作電壓設置為內(nèi)存的實際工作電壓，將所述獲取的參考電壓設置為內(nèi)存的 實際參考電壓。
8. —種計算機主板，其特征在于，包括內(nèi)存電壓輸出模塊，用于輸出內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓； 初始化模塊，用于初始化所述內(nèi)存電壓輸出模塊，使所述內(nèi)存電壓輸出模 塊分別輸出內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓；內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊，用于以所述內(nèi)存的標準工作電壓為輸入電壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓，并輸出所述多個浮動工作電壓；內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊，用于以所述內(nèi)存的標準參考電壓為輸入電 壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓，并輸出所述多個浮動參考 電壓。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的計算機主板，其特征在于，還包括 工作電壓指令產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生指令Vo—init + Nx Vo—step,并將該指令傳輸給所述內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊，使所述內(nèi)存標準工作電壓調(diào)節(jié)模塊 對所述輸入電壓按照指令Vo一init + Nx Vo一step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓； 其中，所述Vo—init為所述內(nèi)存的標準工作電壓，N為整數(shù)，Vo—step為電壓調(diào) 整步長；參考電壓指令產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生指令Vf_init + Kx Vf—step,并將該指 令傳輸給所述內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)模塊，使所述內(nèi)存標準參考電壓調(diào)節(jié)^^塊 對所述輸入電壓按照指令Vfjnit + K x Vf一step調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓； 其中，所述Vf—init為所述內(nèi)存的標準參考電壓，K為整數(shù)，Vf—step為電壓調(diào) 整步長。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的計算機主板，其特征在于，還包括 測試結(jié)果矩陣形成^f莫塊，用于以所述標準工作電壓和所述多個浮動工作電壓為行/列，以所述標準參考電壓和所述多個浮動參考電壓為列/行，形成一個 測試矩陣，對所述測試矩陣中的每一個元素所對應的一對工作電壓和參考電壓 進行內(nèi)存兼容性測試，形成測試結(jié)果矩陣A;獲取^t塊，用于在所述測試結(jié)果矩陣A中，獲^F又主板和內(nèi)存兼容的一對 工作電壓和參考電壓，并將所述獲取的工作電壓和參考電壓傳輸至所述內(nèi)存電 壓輸出模塊；所述內(nèi)存電壓輸出模塊輸出所述獲取的工作電壓和參考電壓。
11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的計算機主板，其特征在于，還包括 存儲模塊，用于將所述獲取的一對工作電壓和參考電壓保存在所述主板的芯片中。
12. 根據(jù)權(quán)利要求IO所述的計算機主板，其特征在于，還包括 子測試結(jié)果矩陣形成模塊，用于在所述測試結(jié)果矩陣A中，以所述內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓為對稱中心選取一個m行xn列的子測試結(jié) 果矩陣B,其中m、 n為大于l的奇數(shù)；判斷模塊，用于判斷所述子測試結(jié)果矩陣B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn分別對應的 一對工作電壓和參考電壓是否均為主板與內(nèi)存兼容的 一對工 作電壓和參考電壓，若是，則將所述子測試結(jié)果矩陣B的對稱中心對應的一 對工作電壓和參考電壓分別設置為內(nèi)存的實際工作電壓和實際參考電壓；若 否，則平移所述子測試結(jié)果矩陣B，并判斷所述子測試結(jié)果矩陣B是否遍歷所 述測試結(jié)果矩陣A,若否，則重新判斷所述子測試結(jié)果矩陣B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn分別對應的一對工作電壓和參考電壓是否均為主板與內(nèi)存兼 容的一對工作電壓和參考電壓；若是，則認定所述主板與內(nèi)存不兼容。
13. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的計算機主板，其特征在于，所述內(nèi)存電壓輸 出模塊為所述主^1上的串行輸入/輸出接口或者并行輸入/輸出接口 。
全文摘要
本發(fā)明提供一種內(nèi)存電壓調(diào)節(jié)方法以及計算機主板，本發(fā)明的方法包括獲取并輸出內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓；以所述內(nèi)存的標準工作電壓為輸入電壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動工作電壓，并輸出所述多個浮動工作電壓；以所述內(nèi)存的標準參考電壓為輸入電壓，對所述輸入電壓調(diào)節(jié)后產(chǎn)生多個浮動參考電壓，并輸出所述多個浮動參考電壓。本發(fā)明在調(diào)節(jié)內(nèi)存電壓時，使內(nèi)存的標準工作電壓和標準參考電壓分別可調(diào)，無需更換分壓電阻，方便對內(nèi)存電壓的調(diào)節(jié)。
文檔編號G06F1/26GK101551698SQ200810103108
公開日2009年10月7日 申請日期2008年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月31日
發(fā)明者陳英標 申請人:聯(lián)想(北京)有限公司