專利名稱：磁盤加密位鎖測試方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明是有關于一種數(shù)字數(shù)據(jù)處理方法，且特別是有關于一種加密的數(shù)字數(shù)據(jù)處 理方法。
背景技術(shù)：
磁盤加密位鎖(bitlocker)是窗口操作系統(tǒng)提供的重要功能，其可對磁盤系統(tǒng)進 行加密，以防止數(shù)據(jù)的外泄。通常在磁盤系統(tǒng)透過磁盤加密位鎖加密后，在開機時需要進行 解密的動作。然而，在長時間的操作下，磁盤加密位鎖于計算機系統(tǒng)的運作是否能維持正 常，需要經(jīng)過審慎的測試才能得知。因此，如何設計一個新的磁盤加密位鎖測試方法，以有效的測試磁盤加密位鎖的 運作，乃為此一業(yè)界亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一個磁盤加密位鎖測試方法，以有效的測試磁盤加 密位鎖的運作。本發(fā)明的一實施例是提供一種磁盤加密位鎖測試方法，用于計算機系統(tǒng)，其中計 算機系統(tǒng)包含磁盤系統(tǒng)模塊以及通用序列總線(Universal Serial Bus ;USB)硬盤，磁盤 加密位鎖測試方法包含下列步驟根據(jù)該磁盤系統(tǒng)模塊的一第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生一磁盤 系統(tǒng)信息快照；設定重啟(reboot)參數(shù)及測試次數(shù)門檻參數(shù)；根據(jù)重啟參數(shù)重啟計算機系 統(tǒng)，以擷取計算機系統(tǒng)的第二磁盤系統(tǒng)信息；判斷第二磁盤系統(tǒng)信息及磁盤系統(tǒng)信息快照 是否相符；當?shù)诙疟P系統(tǒng)信息及磁盤系統(tǒng)信息快照相符時，使通用序列總線硬盤釋出金 鑰；進入計算機系統(tǒng)的操作系統(tǒng)，以記錄測試次數(shù)；以及判斷測試次數(shù)是否超過測試次數(shù) 門檻參數(shù)；其中當測試次數(shù)超過測試次數(shù)門檻參數(shù)時，結(jié)束測試，當測試次數(shù)未超過測試次 數(shù)門檻參數(shù)時，再次根據(jù)重啟參數(shù)重啟該計算機系統(tǒng)。本發(fā)明的另一實施例是提供一種磁盤加密位鎖測試方法，用于計算機系統(tǒng)，其中 計算機系統(tǒng)包含磁盤系統(tǒng)模塊以及通用序列總線，磁盤加密位鎖測試方法包含下列步驟: 根據(jù)該磁盤系統(tǒng)模塊的一第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生一磁盤系統(tǒng)信息快照；設定重啟參數(shù)及測 試時間門檻參數(shù)；根據(jù)重啟參數(shù)重啟計算機系統(tǒng)，以擷取計算機系統(tǒng)的第二磁盤系統(tǒng)信息； 判斷第二磁盤系統(tǒng)信息及磁盤系統(tǒng)信息快照相符；當?shù)诙疟P系統(tǒng)信息及磁盤系統(tǒng)信息快 照相符時，使通用序列總線硬盤釋出金鑰；進入計算機系統(tǒng)的操作系統(tǒng)，以記錄測試時間； 以及判斷測試時間是否超過測試時間門檻參數(shù)；其中當測試時間超過測試時間門檻參數(shù) 時，結(jié)束測試，當測試時間未超過測試時間門檻參數(shù)時，再次根據(jù)重啟參數(shù)重啟該計算機系 統(tǒng)。應用本發(fā)明的優(yōu)點在于通過設定重啟參數(shù)及測試時間門檻參數(shù)或測試次數(shù)門檻 參數(shù)，反復地重啟計算機系統(tǒng)來進行大量的測試，而可確知磁盤加密位鎖的運作是否仍能 維持正常，而輕易地達到上述的目的。



明如下


為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的說
圖1為本發(fā)明的一實施例的一計算機系統(tǒng)的示意圖； 圖2為本發(fā)明的一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖； 圖3為本發(fā)明的另一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖 圖4為本發(fā)明的又一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖；以及 圖5為本發(fā)明的再一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖。主要組件符號說明
I計算機系統(tǒng)
II磁盤系統(tǒng)信息 13 比對結(jié)果 15 金鑰 17 密碼201-208 步驟401-408 步驟
10 磁盤系統(tǒng)模塊 12 通用序列總線硬盤 14 輸入接口 16 磁盤系統(tǒng)信息快照 18 處理模塊 301-310 步驟 501-510 步驟
具體實施例方式請參照圖1為本發(fā)明的一實施例的一計算機系統(tǒng)1的示意圖。計算機系統(tǒng)1包 含磁盤系統(tǒng)模塊10、通用序列總線硬盤12、輸入接口 14及處理模塊18。其中磁盤系統(tǒng)模 塊10在計算機系統(tǒng)1開機后將具有磁盤系統(tǒng)信息11，磁盤系統(tǒng)信息11包含主要開機扇區(qū) (Master Boot Record ;MBR)、新技術(shù)文件系統(tǒng)(New Technology File System ；NTFS)開機 扇區(qū)及開機管理程序。在其它實施例中，磁盤系統(tǒng)信息11還包含其它的信息，而不為上述 三者所限。磁盤系統(tǒng)信息快照(snapshot) 16是根據(jù)磁盤系統(tǒng)信息11所產(chǎn)生，在一實施例 中，磁盤系統(tǒng)信息快照16儲存于一對應通用序列總線硬盤12的緩存器中。然而，磁盤系統(tǒng) 信息快照16在計算機系統(tǒng)1的啟動后，是與計算機系統(tǒng)1前一次關閉前的內(nèi)容相同，而磁 盤系統(tǒng)信息11在啟動后，將由于磁盤系統(tǒng)模塊10可能遭受到攻擊或是入侵而使的磁盤系 統(tǒng)信息11而改變。因此，處理模塊18用以進一步根據(jù)磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快 照16進行比對以產(chǎn)生比對結(jié)果13。當比對結(jié)果13為相符合時，通用序列總線硬盤12將釋 出金鑰15以進入計算機系統(tǒng)1的操作系統(tǒng)(未繪示)。而比對結(jié)果13不相符合時，通用序 列總線硬盤12將不會釋出金鑰15，而輸入接口 14可用以輸入密碼17而進入計算機系統(tǒng)1 的操作系統(tǒng)。請同時參照圖2，為本發(fā)明的一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖。磁盤 加密位鎖測試方法是應用于如圖1所繪示的計算機系統(tǒng)1。首先，在步驟201，根據(jù)磁盤系 統(tǒng)模塊10的第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生磁盤系統(tǒng)信息快照16。在步驟202，設定計算機系統(tǒng)1 的重啟參數(shù)及測試次數(shù)門檻參數(shù)。重啟參數(shù)實質(zhì)上包含重啟次數(shù)及重啟時間間隔。重啟次 數(shù)為計算機系統(tǒng)1執(zhí)行重新啟動的次數(shù)，而重啟時間間隔為計算機系統(tǒng)1每隔多長的時間 進行一次重新啟動。測試次數(shù)門檻參數(shù)則為執(zhí)行測試的次數(shù)的一個門檻值。在步驟203，計算機系統(tǒng)1根據(jù)重啟參數(shù)來進行重啟，并在每次重啟后，處理模塊18擷取磁盤系統(tǒng)模塊10 的第二磁盤系統(tǒng)信息11。接著在步驟204，處理模塊18判斷第二磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快照16 是否相符。如果在磁盤系統(tǒng)模塊10正常運作時，第二磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快 照16的比對結(jié)果13將相符合，而如果磁盤系統(tǒng)模塊10遭受攻擊或是不當侵入，則第二磁 盤系統(tǒng)信息11將改變，而與儲存在緩存器中的磁盤系統(tǒng)信息快照16的比對結(jié)果13不相 符。因此，如果步驟204的比對結(jié)果13相符合，則執(zhí)行步驟205，通用序列總線硬盤12釋出 金鑰15進入計算機系統(tǒng)1的操作系統(tǒng)，以記錄測試次數(shù)。如果步驟204的判斷結(jié)果不相符 合，則執(zhí)行步驟206，通過輸入接口 14輸入密碼17，再執(zhí)行步驟205。須注意的是，步驟205 中所記錄的測試次數(shù)，是在每次重新啟動至進入計算機系統(tǒng)1后遞增一次。在步驟205結(jié)束后，執(zhí)行步驟207，處理模塊18判斷上述逐次遞增的測試次數(shù)是否 超過測試次數(shù)門檻參數(shù)或是重啟次數(shù)其中之一。如果測試次數(shù)超過測試次數(shù)門檻參數(shù)或重 啟次數(shù)其中之一，結(jié)束測試，并執(zhí)行步驟208，處理模塊18產(chǎn)生一測試記錄文件(未繪示于 圖1)。而如果測試次數(shù)并未超過測試次數(shù)門檻參數(shù)或重啟次數(shù)其中之一，則回到步驟202， 再次重啟計算機系統(tǒng)1以執(zhí)行后續(xù)的步驟。本實施例的磁盤加密位鎖測試方法通過設定重啟參數(shù)及測試次數(shù)門檻參數(shù)，反復 地重啟計算機系統(tǒng)來進行大量的測試，而可確知磁盤加密位鎖的運作是否仍能維持正常。請參照圖3。圖3為本發(fā)明的另一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖。本 實施例的磁盤加密位鎖測試方法亦可應用于如圖1所繪示的計算機系統(tǒng)1。首先，在步驟301，根據(jù)磁盤系統(tǒng)模塊10的第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生磁盤系統(tǒng)信息 快照16。在步驟302，設定計算機系統(tǒng)1的重啟參數(shù)、測試次數(shù)門檻參數(shù)及驅(qū)動參數(shù)。重啟 參數(shù)實質(zhì)上包含重啟次數(shù)及重啟時間間隔。重啟次數(shù)及重啟時間間隔如前一實施例所述， 在此不再贅述。而驅(qū)動參數(shù)決定通用序列總線硬盤12的一驅(qū)動程序(未繪示于圖1)。在 步驟303，計算機系統(tǒng)1根據(jù)重啟參數(shù)及驅(qū)動參數(shù)來進行重啟。在每次重啟后，處理模塊18 擷取磁盤系統(tǒng)模塊10的第二磁盤系統(tǒng)信息11。而根據(jù)驅(qū)動參數(shù)，計算機系統(tǒng)1將于重啟時 決定驅(qū)動程序是否驅(qū)動通用序列總線硬盤12。接著在步驟304，處理模塊18判斷第二磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快照16 是否相符。如果在磁盤系統(tǒng)模塊10正常運作時，第二磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快照 16的比對結(jié)果13將相符合，而如果磁盤系統(tǒng)模塊10遭受攻擊或是不當侵入，則第二磁盤系 統(tǒng)信息11將改變，而與儲存在緩存器中的磁盤系統(tǒng)信息快照16的比對結(jié)果13不相符。因 此，如果步驟304的比對結(jié)果13相符合，則執(zhí)行步驟305，判斷驅(qū)動參數(shù)是否使通用序列總 線硬盤12的驅(qū)動程序驅(qū)動通用序列總線硬盤12。如果驅(qū)動程序已驅(qū)動通用序列總線硬盤 12，則執(zhí)行步驟306，通用序列總線硬盤12釋出金鑰15。在金鑰15釋出后，執(zhí)行步驟307， 進入計算機系統(tǒng)1的操作系統(tǒng)，以記錄測試次數(shù)。而如果步驟304的比對結(jié)果13不相符合，或是步驟305判斷驅(qū)動參數(shù)未使驅(qū)動程 序驅(qū)動通用序列總線硬盤12，則將執(zhí)行步驟308，通過輸入接口 14輸入密碼17，以再執(zhí)行步 驟307。須注意的是，步驟307中所記錄的測試次數(shù)，是在每次重新啟動至進入計算機系統(tǒng) 1后遞增一次。 在步驟307結(jié)束后，執(zhí)行步驟309，處理模塊18判斷上述逐次遞增的測試次數(shù)是否超過測試次數(shù)門檻參數(shù)或是重啟次數(shù)其中之一。如果測試次數(shù)超過測試次數(shù)門檻參數(shù)或重 啟次數(shù)其中之一，結(jié)束測試，并執(zhí)行步驟310，處理模塊18產(chǎn)生一測試記錄文件(未繪示于 圖1)。而如果測試次數(shù)并未超過測試次數(shù)門檻參數(shù)或重啟次數(shù)其中之一，則回到步驟303， 再次重啟計算機系統(tǒng)1以執(zhí)行后續(xù)的步驟。本實施例的磁盤加密位鎖測試方法通過設定重啟參數(shù)、測試次數(shù)門檻參數(shù)及驅(qū)動 參數(shù)，反復地重啟計算機系統(tǒng)來進行大量的測試，并加入了對通用序列總線硬盤的驅(qū)動情 形測試，而可確知磁盤加密位鎖的運作是否仍能維持正常。請參照圖4。圖4為本發(fā)明的又一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖。本 實施例的磁盤加密位鎖測試方法亦可應用于如圖1所繪示的計算機系統(tǒng)1。首先，在步驟 401，根據(jù)磁盤系統(tǒng)模塊10的第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生磁盤系統(tǒng)信息快照16。在步驟402，設 定計算機系統(tǒng)1的重啟參數(shù)及測試時間門檻參數(shù)。重啟參數(shù)實質(zhì)上包含重啟次數(shù)及重啟時 間間隔。重啟次數(shù)為計算機系統(tǒng)1執(zhí)行重新啟動的次數(shù)，而重啟時間間隔為計算機系統(tǒng)1每 隔多長的時間進行一次重新啟動。測試時間門檻參數(shù)則為執(zhí)行測試的時間的一個門檻值。 在步驟403，計算機系統(tǒng)1根據(jù)重啟參數(shù)來進行重啟，并在每次重啟后，處理模塊18擷取磁 盤系統(tǒng)模塊10的第二磁盤系統(tǒng)信息11。接著在步驟404，處理模塊18判斷第二磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快照16 是否相符。如果在磁盤系統(tǒng)模塊10正常運作時，第二磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快 照16的比對結(jié)果13將相符合，而如果磁盤系統(tǒng)模塊10遭受攻擊或是不當侵入，則第二磁 盤系統(tǒng)信息11將改變，而與儲存在通用序列總線硬盤12中的磁盤系統(tǒng)信息快照16的比對 結(jié)果13不相符。因此，如果步驟404的比對結(jié)果13相符合，則執(zhí)行步驟405，通用序列總 線硬盤12釋出金鑰15進入計算機系統(tǒng)1的操作系統(tǒng)，處理模塊18記錄測試時間及測試次 數(shù)。如果步驟404的判斷結(jié)果不相符合，則執(zhí)行步驟406，通過輸入接口 14輸入密碼17，再 執(zhí)行步驟405。須注意的是，步驟405中所記錄的測試次數(shù)，是在每次重新啟動至進入計算 機系統(tǒng)1后遞增一次，而測試時間，是依重啟的次數(shù)及間隔來進行計算。在步驟405結(jié)束后，執(zhí)行步驟407，處理模塊18判斷上述測試時間是否超過測試時 間門檻參數(shù)或是測試次數(shù)是否超過重啟次數(shù)。如果測試時間超過測試時間門檻參數(shù)或是測 試次數(shù)超過重啟次數(shù)，結(jié)束測試，并執(zhí)行步驟408，處理模塊18產(chǎn)生一測試記錄文件(未繪 示于圖1)。而如測試時間未超過測試時間門檻參數(shù)且測試次數(shù)未超過重啟次數(shù)，則回到步 驟403，再次重啟計算機系統(tǒng)1以執(zhí)行后續(xù)的步驟。本實施例的磁盤加密位鎖測試方法通過設定重啟參數(shù)及測試時間門檻參數(shù)，反復 地重啟計算機系統(tǒng)來進行大量的測試，而可確知磁盤加密位鎖的運作是否仍能維持正常。請參照圖5。圖5為本發(fā)明的再一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖。本 實施例的磁盤加密位鎖測試方法亦可應用于如圖1所繪示的計算機系統(tǒng)1。首先，在步驟501，根據(jù)磁盤系統(tǒng)模塊10的第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生磁盤系統(tǒng)信息 快照16。在步驟502，設定計算機系統(tǒng)1的重啟參數(shù)、測試時間門檻參數(shù)及驅(qū)動參數(shù)。重啟 參數(shù)實質(zhì)上包含重啟次數(shù)及重啟時間間隔。重啟次數(shù)、重啟時間間隔及測試時間門檻參數(shù) 如前一實施例所述，在此不再贅述。而驅(qū)動參數(shù)系決定通用序列總線硬盤12的一驅(qū)動程序 (未繪示于圖1)。在步驟503，計算機系統(tǒng)1根據(jù)重啟參數(shù)及驅(qū)動參數(shù)來進行重啟。在每次 重啟后，處理模塊18擷取磁盤系統(tǒng)模塊10的第二磁盤系統(tǒng)信息11。而根據(jù)驅(qū)動參數(shù)，計算
7機系統(tǒng)1將在重啟時決定驅(qū)動程序是否驅(qū)動通用序列總線硬盤12。接著在步驟504，處理模塊18判斷第二磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快照16 是否相符。如果在磁盤系統(tǒng)模塊10正常運作時，第二磁盤系統(tǒng)信息11及磁盤系統(tǒng)信息快 照16的比對結(jié)果13將相符合，而如果磁盤系統(tǒng)模塊10遭受攻擊或是不當侵入，則第二磁 盤系統(tǒng)信息11將改變，而與儲存在通用序列總線硬盤12中的磁盤系統(tǒng)信息快照16的比對 結(jié)果13不相符。因此，如果步驟504的比對結(jié)果13相符合，則執(zhí)行步驟505，判斷驅(qū)動參數(shù) 是否使通用序列總線硬盤12的驅(qū)動程序驅(qū)動通用序列總線硬盤12。如果驅(qū)動程序已驅(qū)動 通用序列總線硬盤12，則執(zhí)行步驟506，通用序列總線硬盤12釋出金鑰15。在金鑰15釋出 后，執(zhí)行步驟507，進入計算機系統(tǒng)1的操作系統(tǒng)，處理模塊18記錄測試時間及測試次數(shù)。而如果步驟504的比對結(jié)果13不相符合，或是步驟505判斷驅(qū)動參數(shù)未使驅(qū)動程 序驅(qū)動通用序列總線硬盤12，則將執(zhí)行步驟508，通過輸入接口 14輸入密碼17，以再執(zhí)行步 驟507。須注意的是，步驟507中所記錄的測試次數(shù)，是在每次重新啟動至進入計算機系統(tǒng) 1后遞增一次，而測試時間，是依重啟的次數(shù)及間隔來進行計算。在步驟507結(jié)束后，執(zhí)行步驟509，處理模塊18判斷上述測試時間是否超過測試時 間門檻參數(shù)或是測試次數(shù)是否超過重啟次數(shù)。如果測試時間超過測試時間門檻參數(shù)或是測 試次數(shù)超過重啟次數(shù)，結(jié)束測試，并執(zhí)行步驟510，處理模塊18產(chǎn)生一測試記錄文件(未繪 示于圖1)。而如測試時間未超過測試時間門檻參數(shù)且測試次數(shù)未超過重啟次數(shù)，則回到步 驟503，再次重啟計算機系統(tǒng)1以執(zhí)行后續(xù)的步驟。本實施例的磁盤加密位鎖測試方法通過設定重啟參數(shù)及測試時間門檻參數(shù)，反復 地重啟計算機系統(tǒng)來進行大量的測試，并加入了對通用序列總線硬盤的驅(qū)動情形測試，而 可確知磁盤加密位鎖的運作是否仍能維持正常。雖然本發(fā)明已以實施方式揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此技術(shù) 的人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范 圍當視權(quán)利要求書所界定的范圍為準。
權(quán)利要求
一種磁盤加密位鎖測試方法，用于一計算機系統(tǒng)，其特征在于，該計算機系統(tǒng)包含一磁盤系統(tǒng)模塊以及一通用序列總線硬盤，該磁盤加密位鎖測試方法包含下列步驟根據(jù)該磁盤系統(tǒng)模塊的一第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生一磁盤系統(tǒng)信息快照；設定一重啟參數(shù)及一測試次數(shù)門檻參數(shù)；根據(jù)該重啟參數(shù)重啟該計算機系統(tǒng)，以擷取該磁盤系統(tǒng)模塊的一第二磁盤系統(tǒng)信息；判斷該第二磁盤系統(tǒng)信息及該磁盤系統(tǒng)信息快照是否相符；當該第二磁盤系統(tǒng)信息及該磁盤系統(tǒng)信息快照相符時，使該通用序列總線硬盤釋出金鑰；進入該計算機系統(tǒng)的一操作系統(tǒng)，以記錄一測試次數(shù)；以及判斷該測試次數(shù)是否超過該測試次數(shù)門檻參數(shù)；當該測試次數(shù)超過該測試次數(shù)門檻參數(shù)時，結(jié)束測試；以及當該測試次數(shù)未超過該測試次數(shù)門檻參數(shù)，再次根據(jù)該重啟參數(shù)重啟該計算機系統(tǒng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤加密位鎖測試方法，其特征在于，該重啟參數(shù)包含一重 啟次數(shù)，當該測試次數(shù)超過該測試次數(shù)門檻參數(shù)或該重啟次數(shù)其中之一，結(jié)束測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤加密位鎖測試方法，其特征在于，所述的磁盤加密位鎖 測試方法，還包含當該第二磁盤系統(tǒng)信息及該磁盤系統(tǒng)信息快照不相符時，通過該計算機系統(tǒng)中的一輸 入接口輸入一密碼以進入該計算機系統(tǒng)的操作系統(tǒng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤加密位鎖測試方法，其特征在于，設定該重啟參數(shù)、該測 試次數(shù)門檻參數(shù)的步驟中，還設定一驅(qū)動參數(shù)，該計算機系統(tǒng)是根據(jù)該驅(qū)動參數(shù)重啟該計 算機系統(tǒng)，當該磁盤系統(tǒng)信息及該磁盤系統(tǒng)信息快照相符時，還包含一步驟判斷該驅(qū)動參 數(shù)是否使該通用序列總線硬盤的一驅(qū)動程序驅(qū)動該通用序列總線硬盤，當該驅(qū)動參數(shù)使該 驅(qū)動程序驅(qū)動該通用序列總線硬盤時，使該通用序列總線硬盤釋出金鑰。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁盤加密位鎖測試方法，其特征在于，還包含當該驅(qū)動參數(shù)不使該驅(qū)動程序驅(qū)動該通用序列總線硬盤時，是通過該計算機系統(tǒng)的一 輸入接口輸入一密碼以進入該計算機系統(tǒng)的操作系統(tǒng)。
6.一種磁盤加密位鎖測試方法，用于一計算機系統(tǒng)，其特征在于，該計算機系統(tǒng)包含一 磁盤系統(tǒng)模塊、一通用序列總線硬盤以及一磁盤系統(tǒng)信息快照，該磁盤加密位鎖測試方法 包含下列步驟根據(jù)該磁盤系統(tǒng)模塊的一第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生一磁盤系統(tǒng)信息快照； 設定一重啟參數(shù)及一測試時間門檻參數(shù)；根據(jù)該重啟參數(shù)重啟該計算機系統(tǒng)，以擷取該磁盤系統(tǒng)模塊的一第二磁盤系統(tǒng)信息； 判斷該第二磁盤系統(tǒng)信息及該磁盤系統(tǒng)信息快照是否相符；當該第二磁盤系統(tǒng)信息及該磁盤系統(tǒng)信息快照相符時，使該通用序列總線硬盤釋出金鑰；進入該計算機系統(tǒng)的一操作系統(tǒng)，以記錄一測試時間；以及 判斷該測試時間是否超過該測試時間門檻參數(shù)； 當該測試時間超過該測試時間門檻參數(shù)時，結(jié)束測試；以及 當該測試次數(shù)未超過該測試次數(shù)門檻參數(shù)，再次根據(jù)該重啟參數(shù)重啟該計算機系統(tǒng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤加密位鎖測試方法，其特征在于，該重啟參數(shù)包含一重 啟次數(shù)，且進入該計算機系統(tǒng)以記錄該測試時間的步驟中還記錄一測試次數(shù)，當該測試時 間超過該測試時間門檻參數(shù)或該測試次數(shù)超過該重啟次數(shù)時，結(jié)束測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤加密位鎖測試方法，其特征在于，還包含當該第二磁盤系統(tǒng)信息及該磁盤系統(tǒng)信息快照不相符時，通過該計算機系統(tǒng)中的一輸 入接口輸入一密碼以進入該計算機系統(tǒng)的操作系統(tǒng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤加密位鎖測試方法，其特征在于，設定該重啟參數(shù)、該測 試時間門檻參數(shù)的步驟中，還設定一驅(qū)動參數(shù)，該計算機系統(tǒng)是根據(jù)該驅(qū)動參數(shù)重啟該計 算機系統(tǒng)，且當該第二磁盤系統(tǒng)信息及該磁盤系統(tǒng)信息快照相符時，還包含一步驟判斷該 驅(qū)動參數(shù)是否使該通用序列總線硬盤的一驅(qū)動程序驅(qū)動該通用序列總線硬盤，當該驅(qū)動參 數(shù)使該驅(qū)動程序驅(qū)動該通用序列總線硬盤時，使該通用序列總線硬盤釋出金鑰。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的磁盤加密位鎖測試方法，其特征在于，還包含當該驅(qū)動參數(shù)不使該驅(qū)動程序驅(qū)動該通用序列總線硬盤時，是通過該計算機系統(tǒng)的一 輸入接口輸入一密碼以進入該計算機系統(tǒng)的操作系統(tǒng)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種磁盤加密位鎖測試方法，用于計算機系統(tǒng)。計算機系統(tǒng)包含磁盤系統(tǒng)模塊及通用序列總線硬盤。磁盤加密位鎖測試方法包含下列步驟根據(jù)該磁盤系統(tǒng)模塊的一第一磁盤系統(tǒng)信息產(chǎn)生一磁盤系統(tǒng)信息快照；設定重啟參數(shù)及測試次數(shù)門檻參數(shù)；根據(jù)重啟參數(shù)重啟計算機系統(tǒng)，以擷取計算機系統(tǒng)的第二磁盤系統(tǒng)信息；判斷第二磁盤系統(tǒng)信息及磁盤系統(tǒng)信息快照是否相符；當?shù)诙疟P系統(tǒng)信息及磁盤系統(tǒng)信息快照相符時，使通用序列總線硬盤釋出金鑰進入計算機系統(tǒng)的操作系統(tǒng)以記錄測試次數(shù)；及判斷測試次數(shù)是否超過測試次數(shù)門檻參數(shù)；當超過時，結(jié)束測試，當未超過時，再次根據(jù)重啟參數(shù)重啟該計算機系統(tǒng)。
文檔編號G06F21/04GK101964037SQ200910140388
公開日2011年2月2日 申請日期2009年7月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月21日
發(fā)明者彭輝, 陳志豐 申請人:英業(yè)達股份有限公司