專利名稱：觸控感測裝置及觸控感測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸控面板，特別地，涉及一種能夠有效避免誤判以真正實(shí)現(xiàn)電容式觸控面板上的多點(diǎn)觸控的觸控感測裝置及觸控感測方法。
背景技術(shù)：
一般而言，觸控面板依照其感應(yīng)原理的不同，大致可分為電阻式、電容式、超聲波 式、光學(xué)(例如紅外線)式等不同類型。其中，電容式觸控面板由于只需輕輕觸碰即能感 應(yīng)，并且手指與觸控面板之間的接觸幾乎不會(huì)產(chǎn)生磨損，性能穩(wěn)定且使用壽命長，故相比于 傳統(tǒng)的電阻式觸控面板，電容式觸控面板的確表現(xiàn)出更為優(yōu)異的性能。請(qǐng)參照?qǐng)DIA及圖1B，圖IA及圖IB示出了傳統(tǒng)的觸控感測裝置1及其信號(hào)輸入時(shí) 序圖。如圖IA及圖IB所示，傳統(tǒng)的觸控探測裝置1采用分時(shí)的方式由X軸方向至Y軸方 向(也可為由Y軸方向至X軸方向)循序由信號(hào)輸入模塊12輸入脈沖方波至觸控面板上 的各個(gè)觸控墊X1 X6以及Y1 Y6,再由感測模塊14測量物體(例如手指或觸控筆尖等) 接觸面板時(shí)所產(chǎn)生的寄生電容變化，進(jìn)而探測使用者的觸控動(dòng)作及其在面板上所形成的觸 控點(diǎn)的位置。然而，當(dāng)使用者在電容式觸控面板上進(jìn)行多點(diǎn)觸控時(shí)，上述傳統(tǒng)的探測電路架構(gòu) 及其探測方法僅能探測出多個(gè)觸控點(diǎn)的范圍，而無法判定其真正的觸控位置。舉例而言， 當(dāng)使用者以二根手指觸碰到電容式觸控面板時(shí)，傳統(tǒng)的探測電路將會(huì)分別在X軸及Y軸上 探測到兩個(gè)寄生電容變化最大值。然而，由于這兩個(gè)最大值可通過兩種不同的觸碰方式 產(chǎn)生，使得系統(tǒng)無法準(zhǔn)確判斷，而這些不是真正被觸碰的點(diǎn)即稱之為“假性觸控點(diǎn)”(ghost point)0圖2A及圖2B示出了傳統(tǒng)的觸控感測電路探測雙觸控點(diǎn)的示意圖。如圖2A所示， 假設(shè)使用者在觸控面板10上所形成的兩個(gè)觸控點(diǎn)分別位于A點(diǎn)與B點(diǎn)，探測電路將會(huì)在 X軸上探測到兩個(gè)寄生電容變化最大值，同時(shí)也會(huì)在Y軸上探測到兩個(gè)寄生電容變化最大 值。此時(shí)，觸控感測電路無法判定上述寄生電容變化究竟是由位于A點(diǎn)及B點(diǎn)的兩個(gè)觸控 點(diǎn)所產(chǎn)生，還是由位于A'點(diǎn)及B'點(diǎn)兩個(gè)觸控點(diǎn)所產(chǎn)生。圖2A中位于A'點(diǎn)及B'點(diǎn)的這 兩個(gè)觸控點(diǎn)即稱為假性觸控點(diǎn)。同理，如圖2B所示，當(dāng)使用者在觸控面板10上形成位于C 點(diǎn)及D點(diǎn)的兩個(gè)觸控點(diǎn)時(shí)，即可能產(chǎn)生位于C'點(diǎn)及D'點(diǎn)的兩個(gè)假性觸控點(diǎn)。因此，本發(fā)明提出一種觸控感測裝置及一種觸控感測方法，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一種具體實(shí)施例為一種觸控感測裝置。在實(shí)際應(yīng)用中，該觸控感測 裝置可應(yīng)用于電容式觸控面板，以感測形成于該電容式觸控面板上的至少一個(gè)觸控點(diǎn)的位 置。該電容式觸控面板包含沿著第一方向排列的多個(gè)第一觸控墊組以及沿著第二方向排列 的多個(gè)第二觸控墊組。在該實(shí)施例中，該觸控感測裝置包含感測模塊、信號(hào)產(chǎn)生模塊、比較模塊及處理模塊。當(dāng)形成于該電容式觸控面板上的第一觸控點(diǎn)及第二觸控點(diǎn)對(duì)應(yīng)于該多個(gè)第一觸控墊組 中的兩個(gè)第一觸控墊組及該多個(gè)第二觸控墊組中的兩個(gè)第二觸控墊組時(shí)，該感測模塊產(chǎn)生 請(qǐng)求信號(hào)。接著，該信號(hào)產(chǎn)生模塊將會(huì)根據(jù)該請(qǐng)求信號(hào)分別輸出相位相反的兩個(gè)測試信號(hào)至 該兩個(gè)第一觸控墊組。該比較模塊測量對(duì)應(yīng)于該兩個(gè)第二觸控墊組的兩個(gè)電壓值并比較該 兩個(gè)電壓值以產(chǎn)生比較結(jié)果。該處理模塊根據(jù)該比較結(jié)果判定該第一觸控點(diǎn)與該第二觸控 點(diǎn)在該電容式觸控面板上的第一位置及第二位置。根據(jù)該具體實(shí)施例，在觸控感測裝置中，該第一方向垂直于該第二方向。 根據(jù)該具體實(shí)施例，在觸控感測裝置中，該兩個(gè)測試信號(hào)包含第一測試信號(hào)及第 二測試信號(hào)，分別由該兩個(gè)第一觸控墊組中的第一特定第一觸控墊組及第二特定第一觸控 墊組輸入。優(yōu)選地，在該觸控感測裝置中，在特定時(shí)間下，若該第一測試信號(hào)為負(fù)緣輸入且該 第二測試信號(hào)為正緣輸入，則該第一測試信號(hào)與該第二測試信號(hào)分別被定義為反向輸入信 號(hào)及正向輸入信號(hào)。優(yōu)選地，在該觸控感測裝置中，該兩個(gè)第二觸控墊組包含第一特定第二觸控墊組 及第二特定第二觸控墊組，該第一特定第二觸控墊組連接至該比較模塊的正端且該第二特 定第二觸控墊組連接至該比較模塊的負(fù)端。優(yōu)選地，在該觸控感測裝置中，若該兩個(gè)電壓值中的第一電壓值為正且第二電壓 值為負(fù)，該比較結(jié)果為第一電壓值減去第二電壓值大于零，該處理模塊判定該第一觸控點(diǎn) 與該第二觸控點(diǎn)處于第一候選觸控模式。優(yōu)選地，在該觸控感測裝置中，在該第一候選觸控模式下，該第一觸控點(diǎn)的該第一 位置對(duì)應(yīng)于該第一特定第一觸控墊組以及該第一特定第二觸控墊組，并且該第二觸控點(diǎn)的 該第二位置對(duì)應(yīng)于該第二特定第一觸控墊組以及該第二特定第二觸控墊組。優(yōu)選地，在該觸控感測裝置中，若該兩個(gè)電壓值中的第一電壓值為負(fù)且第二電壓 值為正，該比較結(jié)果為該兩個(gè)電壓值中的第一電壓值減去第二電壓值小于零，該處理模塊 判定該第一觸控點(diǎn)與該第二觸控點(diǎn)處于第二候選觸控模式。優(yōu)選地，在該觸控感測裝置中，在該第二候選觸控模式下，該第一觸控點(diǎn)的該第一 位置對(duì)應(yīng)于該第二特定第一觸控墊組以及該第一特定第二觸控墊組，并且該第二觸控點(diǎn)的 該第二位置對(duì)應(yīng)于該第一特定第一觸控墊組以及該第二特定第二觸控墊組。實(shí)際上，該觸控感測裝置也可延伸至多點(diǎn)觸控的判定，并不只局限于兩點(diǎn)。當(dāng)觸控 點(diǎn)數(shù)目大于兩點(diǎn)時(shí)，該觸控感測裝置可分別取其中兩點(diǎn)判定，重復(fù)進(jìn)行至定義出所有的觸 控點(diǎn)的真實(shí)位置并移除假性觸控點(diǎn)為止。根據(jù)本發(fā)明的另一種具體實(shí)施例為一種觸控感測方法。該觸控感測方法用以感測 形成于電容式觸控面板上的至少一個(gè)觸控點(diǎn)的位置。其中，該電容式觸控面板包含沿著第 一方向排列的多個(gè)第一觸控墊組以及沿著第二方向排列的多個(gè)第二觸控墊組。在該實(shí)施例中，該觸控感測方法包含下列步驟(a)感測形成于該電容式觸控面 板上的第一觸控點(diǎn)及第二觸控點(diǎn)是否對(duì)應(yīng)于該多個(gè)第一觸控墊組中的兩個(gè)第一觸控墊組 以及該多個(gè)第二觸控墊組中的兩個(gè)第二觸控墊組；(b)若步驟(a)的感測結(jié)果為是，分別輸 出相位相反的兩個(gè)測試信號(hào)至該兩個(gè)第一觸控墊組；(c)測量對(duì)應(yīng)于該兩個(gè)第二觸控墊組的兩個(gè)電壓值并比較該兩個(gè)電壓值以產(chǎn)生比較結(jié)果；(d)根據(jù)該比較結(jié)果判定該第一觸控 點(diǎn)與該第二觸控點(diǎn)在該電容式觸控面板上的第一位置及第二位置。
根據(jù)該具體實(shí)施例，在該方法中，該第一方向垂直于該第二方向。
根據(jù)該具體實(shí)施例，在該方法中，該兩個(gè)測試信號(hào)包含第一測試信號(hào)及第二測試 信號(hào)，分別由該兩個(gè)第一觸控墊組中的第一特定第一觸控墊組及第二特定第一觸控墊組輸 入。
優(yōu)選地，在該方法中，在特定時(shí)間下，若該第一測試信號(hào)為負(fù)緣輸入且該第二測試 信號(hào)為正緣輸入，則該第一測試信號(hào)與該第二測試信號(hào)分別被定義為反向輸入信號(hào)及正向 輸入信號(hào)。
優(yōu)選地，在該方法中，該兩個(gè)第二觸控墊組包含第一特定第二觸控墊組及第二特 定第二觸控墊組，該第一特定第二觸控墊組連接至該比較模塊的正端且該第二特定第二觸 控墊組連接至該比較模塊的負(fù)端。
優(yōu)選地，在該方法中，若該兩個(gè)電壓值中的第一電壓值為正且第二電壓值為負(fù)，該 比較結(jié)果為第一電壓值減去第二電壓值大于零，步驟(d)包含下列步驟判定該第一觸控 點(diǎn)與該第二觸控點(diǎn)處于第一候選觸控模式；以及根據(jù)該第一候選觸控模式?jīng)Q定該第一觸控 點(diǎn)的該第一位置與該第二觸控點(diǎn)的該第二位置；其中該第一位置對(duì)應(yīng)于該第一特定第一觸 控墊組以及該第一特定第二觸控墊組，并且該第二位置對(duì)應(yīng)于該第二特定第一觸控墊組以 及該第二特定第二觸控墊組。
優(yōu)選地，在該方法中，若該兩個(gè)電壓值中的第一電壓值為負(fù)且第二電壓值為正，該 比較結(jié)果為該兩個(gè)電壓值中的第一電壓值減去第二電壓值小于零，步驟(d)包含下列步 驟判定該第一觸控點(diǎn)與該第二觸控點(diǎn)處于第二候選觸控模式；以及根據(jù)該第二候選觸控 模式?jīng)Q定該第一觸控點(diǎn)的該第一位置與該第二觸控點(diǎn)的該第二位置；
其中該第一位置對(duì)應(yīng)于該第二特定第一觸控墊組以及該第一特定第二觸控墊組， 并且該第二位置對(duì)應(yīng)于該第一特定第一觸控墊組以及該第二特定第二觸控墊組。
實(shí)際上，該觸控感測方法也可延伸至多點(diǎn)觸控的判定，當(dāng)觸控點(diǎn)數(shù)目大于兩點(diǎn)時(shí)， 可分別取其中兩點(diǎn)以上述方法重復(fù)判定，直至定義出所有的觸控點(diǎn)的真實(shí)位置并移除假性 觸控點(diǎn)為止。
關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以通過以下的發(fā)明詳述及附圖得到進(jìn)一步的了解。


圖IA示出了傳統(tǒng)的電容式觸控感測裝置。
圖IB示出了傳統(tǒng)的電容式觸控感測裝置的控制信號(hào)輸入時(shí)序圖。
圖2A及圖2B示出了傳統(tǒng)的觸控感測裝置探測雙觸控點(diǎn)的示意圖。
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的一種具體實(shí)施例的觸控感測裝置的功能方塊圖。
圖4A及B分別示出了觸控感測裝置探測不同的雙觸控點(diǎn)的示意圖。
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的一種具體實(shí)施例的觸控感測方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明的一種具體實(shí)施例為一種觸控感測裝置。在該實(shí)施例中，該觸控感測裝置應(yīng)用于電容式觸控面板，以感測形成于該電容式觸控面板上的至少一個(gè)觸控點(diǎn)的位置。實(shí) 際上，在電容式觸控面板上形成觸控點(diǎn)的物體可以是使用者的手指或觸控筆尖，但不以此 為限。
請(qǐng)參閱圖3，圖3示出了本實(shí)施例中觸控感測裝置的功能方塊圖。如圖3所示，觸 控感測裝置2包含感測模塊20、信號(hào)產(chǎn)生模塊22、比較模塊M及處理模塊沈。其中，感測 模塊20連接至信號(hào)產(chǎn)生模塊22 ；比較模塊M連接至處理模塊沈；信號(hào)產(chǎn)生模塊22將會(huì)產(chǎn) 生并輸出第一測試信號(hào)Sl及第二測試信號(hào)S2 ；比較模塊M將會(huì)接收第一電壓值Vp及第 二電壓值Vn。
接著，請(qǐng)參照?qǐng)D4A，圖4A示出了圖3中的觸控感測裝置2應(yīng)用于電容式觸控面板3 的示意圖。如圖4A所示，電容式觸控面板3包含(6X6)個(gè)觸控點(diǎn)、六組第一觸控墊組Yl Y6及六組第二觸控墊組Xl )(6。在該實(shí)施例中，電容式觸控面板3的第一觸控墊組Yl Y6依序沿著第一方向(Y方向)排列，而第二觸控墊組Xl )(6則是依序沿著第二方向(X 方向)排列。其中，第一方向可以與第二方向垂直，但不以此為限。需注意的是，電容式觸 控面板3所包含的觸控墊組及觸控點(diǎn)的數(shù)目并不以此例為限，視實(shí)際需求而定。接下來，將 對(duì)于觸控感測裝置2如何感測并判別形成于電容式觸控面板3的兩觸控點(diǎn)Pl及P2進(jìn)行詳 細(xì)說明。
如圖4A所示，觸控感測裝置2的感測模塊20連接至電容式觸控面板3，當(dāng)形成于 電容式觸控面板3上的第一觸控點(diǎn)Pl及第二觸控點(diǎn)P2對(duì)應(yīng)于第一觸控墊組Yl Y6中的 兩個(gè)第一觸控墊組及第二觸控墊組Xl )(6中的兩個(gè)第二觸控墊組時(shí)，感測模塊20將會(huì)產(chǎn) 生請(qǐng)求信號(hào)。以該實(shí)施例而言，由于形成于電容式觸控面板3上的第一觸控點(diǎn)Pl對(duì)應(yīng)于第 一觸控墊組Y2及第二觸控墊組X4，并且第二觸控點(diǎn)P2則對(duì)應(yīng)于第一觸控墊組W及第二觸 控墊組XI，因此，感測模塊20將會(huì)產(chǎn)生請(qǐng)求信號(hào)至信號(hào)產(chǎn)生模塊22。
在該實(shí)施例中，信號(hào)產(chǎn)生模塊22連接至感測模塊20及第一觸控墊組Yl Y6。當(dāng) 信號(hào)產(chǎn)生模塊22自感測模塊20接收到請(qǐng)求信號(hào)后，信號(hào)產(chǎn)生模塊22根據(jù)請(qǐng)求信號(hào)分別輸 出相位(phase)相反的第一測試信號(hào)Sl及第二測試信號(hào)S2至第一觸控墊組Y2及W。實(shí) 際上，信號(hào)產(chǎn)生模塊22可以是脈波產(chǎn)生器，且第一測試信號(hào)S 1及第二測試信號(hào)S2為信號(hào) 產(chǎn)生模塊22所同步輸出的相位相反的信號(hào)，但不以此為限。
在該實(shí)施例中，由于第二觸控墊組X4連接至比較模塊M的正端且第二觸控墊組 Xl連接至比較模塊M的負(fù)端，因此，比較模塊M即可分別自第二觸控墊組X4及Xl接收 到對(duì)應(yīng)于第二觸控墊組X4及Xl的第一電壓值Vp及第二電壓值Vn，并比較第一電壓值Vp 及第二電壓值Vn以產(chǎn)生比較結(jié)果。在實(shí)際應(yīng)用中，比較模塊M可以是比較器，但不以此為 限。以該實(shí)施例而言，比較模塊M將第一電壓值Vp減去第二電壓值Vn而得到Vp-Vn > 0 的比較結(jié)果。
在該實(shí)施例中，第一測試信號(hào)Sl及第二測試信號(hào)S2包含正向輸入信號(hào)及反向輸 入信號(hào)。實(shí)際上，第一測試信號(hào)Sl及第二測試信號(hào)S2究竟是正向輸入信號(hào)或反向輸入信號(hào) 的定義與在特定時(shí)間下第一測試信號(hào)Sl及第二測試信號(hào)S2為正緣輸入或負(fù)緣輸入有關(guān)。
舉例而言，由圖4A及圖4B可知，當(dāng)時(shí)間t = t0或t2時(shí)，由于第一測試信號(hào)Sl為 負(fù)緣輸入且第二測試信號(hào)S2為正緣輸入，故第一測試信號(hào)Sl及第二測試信號(hào)S2分別被定 義為反向輸入信號(hào)及正向輸入信號(hào)。因此，圖4A中的Vp > 0且Vn < 0，故比較模塊M將會(huì)得到Vp-Vn > 0的比較結(jié)果。之后，處理模塊沈即可根據(jù)Vp-Vn > 0的比較結(jié)果判定第 一觸控點(diǎn)Pl與第二觸控點(diǎn)P2處于第一候選觸控模式，即第一觸控點(diǎn)Pl與第二觸控點(diǎn)P2 的位置分別為(X4，Y2)及(XI，Υ4)，而非假性觸控點(diǎn)(Χ4，Υ4)及(XI，Υ2)，故可有效避免如 同現(xiàn)有技術(shù)中誤判觸控點(diǎn)的情況發(fā)生。
至于圖4Β中的Vp < 0且Vn > 0，故比較模塊M得到Vp-Vn < 0的比較結(jié)果。之 后，處理模塊沈即可根據(jù)Vp-Vn < 0的比較結(jié)果判定第三觸控點(diǎn)Ρ3與第四觸控點(diǎn)Ρ4處于 第二候選觸控模式，即第三觸控點(diǎn)Ρ3與第四觸控點(diǎn)Ρ4的位置分別為(Χ4，Υ4)及(Χ1，Υ2)。
上述方式的操作原理在于信號(hào)產(chǎn)生模塊22產(chǎn)生相位相反的脈波分別輸入已知 有手指接觸的兩個(gè)第一觸控墊組Υ2及Υ4，當(dāng)手指接觸電容式觸控面板3后，不同方向的第 一觸控墊組與第二觸控墊組之間的相互電容將會(huì)減小，因此，耦合至第二觸控墊組Χ4及Xl 的電壓信號(hào)將會(huì)有所不同，故能夠由此分辨出真正的雙觸控點(diǎn)的真正位置。
值得注意的是，上述實(shí)施例雖僅說明觸控感測裝置2對(duì)雙點(diǎn)觸控的判定，但實(shí)際 上本發(fā)明所提出的觸控感測裝置2也可延伸至多點(diǎn)觸控的判定，并不只局限于兩點(diǎn)。當(dāng)觸 控點(diǎn)的數(shù)目大于兩點(diǎn)時(shí)，觸控感測裝置2可分別取其中兩點(diǎn)以上述實(shí)施例的方式重復(fù)進(jìn)行 判定，直至定義出所有的觸控點(diǎn)的真實(shí)位置并移除假性觸控點(diǎn)為止。
根據(jù)本發(fā)明的另一種具體實(shí)施例為一種觸控感測方法。在該實(shí)施例中，該觸控感 測方法應(yīng)用于電容式觸控面板，以感測形成于該電容式觸控面板上的至少一個(gè)觸控點(diǎn)的位 置。該電容式觸控面板包含沿著第一方向排列的多個(gè)第一觸控墊組以及沿著第二方向排列 的多個(gè)第二觸控墊組。實(shí)際上，該第一方向垂直于該第二方向，但不以此為限。
請(qǐng)參閱圖5，圖5示出了本實(shí)施例的觸控感測方法的流程圖。如圖5所示，首先，該 方法執(zhí)行步驟S10，感測形成于該電容式觸控面板上的第一觸控點(diǎn)及第二觸控點(diǎn)是否對(duì)應(yīng) 于該多個(gè)第一觸控墊組中的兩個(gè)第一觸控墊組以及該多個(gè)第二觸控墊組中的兩個(gè)第二觸 控墊組。若步驟SlO的判斷結(jié)果為是，該方法執(zhí)行步驟S12，分別輸出相位相反的兩個(gè)測試 信號(hào)至該兩個(gè)第一觸控墊組。實(shí)際上，該兩個(gè)測試信號(hào)為相位相反的同步輸入信號(hào)。若步 驟SlO的判斷結(jié)果為否，則該方法重新執(zhí)行步驟S10。
接著，該方法執(zhí)行步驟S14，測量對(duì)應(yīng)于該兩個(gè)第二觸控墊組的兩個(gè)電壓值并比較 該兩個(gè)電壓值以產(chǎn)生比較結(jié)果。之后，該方法執(zhí)行步驟S16，根據(jù)該比較結(jié)果判定該第一觸 控點(diǎn)與該第二觸控點(diǎn)在該電容式觸控面板上的第一位置及第二位置。
在該實(shí)施例中，該兩個(gè)測試信號(hào)包含第一測試信號(hào)及第二測試信號(hào)，分別由該兩 個(gè)第一觸控墊組中的第一特定第一觸控墊組及第二特定第一觸控墊組輸入。實(shí)際上，該第 一測試信號(hào)與該第二測試信號(hào)究竟是正向輸入信號(hào)或反向輸入信號(hào)的定義與在特定時(shí)間 下該第一測試信號(hào)與該第二測試信號(hào)為正緣輸入或負(fù)緣輸入有關(guān)，其詳細(xì)情形請(qǐng)參照?qǐng)D4Α 至B及相關(guān)說明，在此不另行贅述。
在實(shí)際應(yīng)用中，上述步驟S16可能有兩種不同的情況產(chǎn)生。若該比較結(jié)果為該兩 個(gè)電壓值中的第一電壓值減去第二電壓值大于零，步驟S16將會(huì)先判定該第一觸控點(diǎn)與該 第二觸控點(diǎn)處于第一候選觸控模式，并根據(jù)該第一候選觸控模式?jīng)Q定該第一觸控點(diǎn)的該第 一位置與該第二觸控點(diǎn)的該第二位置。其中，該第一位置對(duì)應(yīng)于該第一特定第一觸控墊組 以及該兩個(gè)第二觸控墊組中的第一特定第二觸控墊組，并且該第二位置對(duì)應(yīng)于該第二特定 第一觸控墊組以及該兩個(gè)第二觸控墊組中的第二特定第二觸控墊組。
相反地，若該比較結(jié)果為該兩個(gè)電壓值中的第一電壓值減去第二電壓值小于零， 則步驟S16先判定該第一觸控點(diǎn)與該第二觸控點(diǎn)處于第二候選觸控模式，并根據(jù)該第二候 選觸控模式?jīng)Q定該第一觸控點(diǎn)的該第一位置與該第二觸控點(diǎn)的該第二位置。其中，該第一 位置對(duì)應(yīng)于該第二特定第一觸控墊組以及該兩個(gè)第二觸控墊組中的第一特定第二觸控墊 組，并且該第二位置對(duì)應(yīng)于該第一特定第一觸控墊組以及該兩個(gè)第二觸控墊組中的第二特 定第二觸控墊組。
值得注意的是，當(dāng)該第一測試信號(hào)與該第二測試信號(hào)的正向與反向彼此對(duì)調(diào)時(shí)， 步驟S16所判定的第一候選觸控模式及第二候選觸控模式也會(huì)隨之對(duì)調(diào)。
綜上所述，根據(jù)本發(fā)明的觸控感測裝置及觸控感測方法通過產(chǎn)生相位相反的脈波 分別輸入已知有手指接觸的電容式觸控面板的兩個(gè)第一觸控墊組，當(dāng)手指接觸電容式觸控 面板后，第一方向的第一觸控墊組與第二方向的第二觸控墊組之間的相互電容將會(huì)減小， 因此，耦合至相對(duì)應(yīng)的第二觸控墊組的電壓信號(hào)將會(huì)有所不同。
此外，本發(fā)明所提出的觸控感測裝置及方法也可延伸至多點(diǎn)觸控的判定，并不只 局限于兩點(diǎn)。當(dāng)觸控點(diǎn)的數(shù)目大于兩點(diǎn)時(shí)，可分別取其中兩點(diǎn)以上述實(shí)施例中的相同方法 判定，重復(fù)進(jìn)行至定義出所有的觸控點(diǎn)的真實(shí)位置并移除假性觸控點(diǎn)為止。由此，該觸控感 測裝置及方法即可在多點(diǎn)觸控狀態(tài)下，通過電壓值的差異是否為正有效地區(qū)別真正觸控點(diǎn) 與假性觸控點(diǎn)的不同，進(jìn)而定位出形成于電容式觸控面板上的多個(gè)觸控點(diǎn)的真正位置。
通過以上優(yōu)選具體實(shí)施例的詳述，希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而 并非以上述所披露的優(yōu)選具體實(shí)施例來對(duì)本發(fā)明的保護(hù)范圍加以限制。相反地，其目的是 希望在本發(fā)明所欲申請(qǐng)的專利范圍的保護(hù)范圍內(nèi)能涵蓋各種改變及具相等性的安排。
主要組件符號(hào)說明
SlO S16 流程步驟
1、2:觸控感測裝置
12 信號(hào)輸入模塊
Yl Y6 第一觸控墊組
22 信號(hào)產(chǎn)生模塊
A'、B'、C'、D'假性觸控點(diǎn)
S 1 第一測試信號(hào)
Vp:第一電壓值
A、B、C、D、P1 P4 觸控點(diǎn)t0、t” t2、t3 :時(shí)間點(diǎn) 10、3 電容式觸控面板 14,20 感測模塊 Xl )(6 第二觸控墊組 24:比較模塊 26 處理模塊 S2 第二測試信號(hào) Vn:第二電壓值 X1-X6J1-Y6 觸控墊。
權(quán)利要求
1.一種觸控感測裝置，應(yīng)用于電容式觸控面板，所述電容式觸控面板包含沿著第一方 向排列的多個(gè)第一觸控墊組以及沿著第二方向排列的多個(gè)第二觸控墊組，所述觸控感測裝 置包含感測模塊，連接至所述電容式觸控面板，當(dāng)形成于所述電容式觸控面板上的第一觸控 點(diǎn)及第二觸控點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)第一觸控墊組中的兩個(gè)第一觸控墊組及所述多個(gè)第二觸 控墊組中的兩個(gè)第二觸控墊組時(shí)，所述感測模塊產(chǎn)生請(qǐng)求信號(hào)；信號(hào)產(chǎn)生模塊，連接至所述感測模塊及所述多個(gè)第一觸控墊組，用以根據(jù)所述請(qǐng)求信 號(hào)分別輸出相位相反的兩個(gè)測試信號(hào)至所述兩個(gè)第一觸控墊組；比較模塊，連接至所述兩個(gè)第二觸控墊組，用以測量對(duì)應(yīng)于所述兩個(gè)第二觸控墊組的 兩個(gè)電壓值并比較所述兩個(gè)電壓值以產(chǎn)生比較結(jié)果；以及處理模塊，連接至所述比較模塊，用以根據(jù)所述比較結(jié)果判定所述第一觸控點(diǎn)與所述 第二觸控點(diǎn)在所述電容式觸控面板上的第一位置及第二位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控感測裝置，其中所述第一方向垂直于所述第二方向。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控感測裝置，其中所述兩個(gè)測試信號(hào)包含第一測試信號(hào)及 第二測試信號(hào)，分別由所述兩個(gè)第一觸控墊組中的第一特定第一觸控墊組及第二特定第一 觸控墊組輸入。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的觸控感測裝置，其中在特定時(shí)間下，若所述第一測試信號(hào)為負(fù)緣輸入且所述第二測試信號(hào)為正緣輸入，則所述第一測試信號(hào) 與所述第二測試信號(hào)分別被定義為反向輸入信號(hào)及正向輸入信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸控感測裝置，其中所述兩個(gè)第二觸控墊組包含第一特定第 二觸控墊組及第二特定第二觸控墊組，所述第一特定第二觸控墊組連接至所述比較模塊的 正端且所述第二特定第二觸控墊組連接至所述比較模塊的負(fù)端。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的觸控感測裝置，其中若所述兩個(gè)電壓值中的第一電壓值為正 且第二電壓值為負(fù)，所述比較結(jié)果為第一電壓值減去第二電壓值大于零，所述處理模塊判 定所述第一觸控點(diǎn)與所述第二觸控點(diǎn)處于第一候選觸控模式。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的觸控感測裝置，其中在所述第一候選觸控模式下，所述第一 觸控點(diǎn)的所述第一位置對(duì)應(yīng)于所述第一特定第一觸控墊組以及所述第一特定第二觸控墊 組，并且所述第二觸控點(diǎn)的所述第二位置對(duì)應(yīng)于所述第二特定第一觸控墊組以及所述第二 特定第二觸控墊組。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的觸控感測裝置，其中若所述兩個(gè)電壓值中的第一電壓值為負(fù) 且第二電壓值為正，所述比較結(jié)果為所述兩個(gè)電壓值中的第一電壓值減去第二電壓值小于 零，所述處理模塊判定所述第一觸控點(diǎn)與所述第二觸控點(diǎn)處于第二候選觸控模式。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的觸控感測裝置，其中在所述第二候選觸控模式下，所述第一 觸控點(diǎn)的所述第一位置對(duì)應(yīng)于所述第二特定第一觸控墊組以及所述第一特定第二觸控墊 組，并且所述第二觸控點(diǎn)的所述第二位置對(duì)應(yīng)于所述第一特定第一觸控墊組以及所述第二 特定第二觸控墊組。
10.一種觸控感測方法，應(yīng)用于電容式觸控面板，所述電容式觸控面板包含沿著第一方 向排列的多個(gè)第一觸控墊組以及沿著第二方向排列的多個(gè)第二觸控墊組，所述方法包含下 列步驟(a)感測形成于所述電容式觸控面板上的第一觸控點(diǎn)及第二觸控點(diǎn)是否對(duì)應(yīng)于所述多 個(gè)第一觸控墊組中的兩個(gè)第一觸控墊組以及所述多個(gè)第二觸控墊組中的兩個(gè)第二觸控墊 組；(b)若步驟(a)的感測結(jié)果為是，分別輸出相位相反的兩個(gè)測試信號(hào)至所述兩個(gè)第一 觸控墊組；(c)測量對(duì)應(yīng)于所述兩個(gè)第二觸控墊組的兩個(gè)電壓值并比較所述兩個(gè)電壓值以產(chǎn)生比 較結(jié)果；以及(d)根據(jù)所述比較結(jié)果判定所述第一觸控點(diǎn)與所述第二觸控點(diǎn)在所述電容式觸控 面板上的第一位置及第二位置。
全文摘要
一種應(yīng)用于電容式觸控面板的觸控感測裝置，包含感測模塊、信號(hào)產(chǎn)生模塊、比較模塊及處理模塊。當(dāng)形成于電容式觸控面板上的第一及第二觸控點(diǎn)對(duì)應(yīng)于電容式觸控面板的兩個(gè)第一觸控墊組及兩個(gè)第二觸控墊組時(shí)，感測模塊產(chǎn)生請(qǐng)求信號(hào)。信號(hào)產(chǎn)生模塊根據(jù)請(qǐng)求信號(hào)分別輸出相位相反的兩個(gè)測試信號(hào)至該兩個(gè)第一觸控墊組。當(dāng)比較模塊根據(jù)對(duì)應(yīng)于該兩個(gè)第二觸控墊組的兩個(gè)電壓值產(chǎn)生比較結(jié)果后，處理模塊根據(jù)比較結(jié)果判定第一及第二觸控點(diǎn)的位置。當(dāng)觸控點(diǎn)多于兩點(diǎn)時(shí)，該觸控感測裝置重復(fù)上述步驟直至定義出所有觸控點(diǎn)的真實(shí)位置并移除假性觸控點(diǎn)為止。
文檔編號(hào)G06F3/044GK102033667SQ20091017618
公開日2011年4月27日 申請(qǐng)日期2009年9月24日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月24日
發(fā)明者光宇, 吳宗霖, 周世宗, 饒永年 申請(qǐng)人:瑞鼎科技股份有限公司