專利名稱：紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法及系統(tǒng)的制作方法
紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法及系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及一種圖像的比對(duì)方法及系統(tǒng)，且特別涉及一種圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今特征點(diǎn)擷取較常見的技術(shù)為角點(diǎn)檢測，其角點(diǎn)檢測方法眾多，目的是在灰階圖像中找出較具有鑒別度的特征點(diǎn)位置，希望能排除容易比對(duì)錯(cuò)誤的直線與亮度值變化較為一致的區(qū)域，而擷取出的特征點(diǎn)通常為灰階圖像亮度值對(duì)比較強(qiáng)烈且較為角落的區(qū)域， 其效果雖然穩(wěn)定，但所檢測到的特征點(diǎn)點(diǎn)數(shù)不夠密集，其實(shí)在灰階圖像中還有很多區(qū)域其比對(duì)的鑒別度也是相當(dāng)高的。
傳統(tǒng)的比對(duì)方法有光流法與眾多的區(qū)塊比對(duì)方法，傳統(tǒng)光流法因?yàn)槠浔旧砝碚摰亩x限制，無法比對(duì)移動(dòng)量較大的特征點(diǎn)，對(duì)于光線變化較無抑制能力，且速度上也稍嫌太慢。發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)涉及一種圖像的比對(duì)方法及系統(tǒng)，其利用區(qū)塊比對(duì)方法，其對(duì)光線變化有一定的抑制能力。
根據(jù)本申請(qǐng)的第一方面，提出一種圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法。紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法包括以下步驟。接收一參考圖像及一目標(biāo)圖像。依據(jù)參考圖像，產(chǎn)生一局部二元圖形 (Local Binary Pattern, LBP)參考圖像，并依據(jù)目標(biāo)圖像產(chǎn)生一 LBP目標(biāo)圖像。檢測LBP 參考圖像的數(shù)個(gè)參考紋理特征點(diǎn)。依據(jù)這些參考紋理特征點(diǎn)，在LBP目標(biāo)圖像比對(duì)出對(duì)應(yīng)的數(shù)個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
根據(jù)本申請(qǐng)的一第二方面，提出一種圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)。紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)包括一局部二元圖形(Local Binary Pattern,LBP)產(chǎn)生單元、一檢測單元及一比對(duì)單元。提供單元用以接收一提供單元提供的一參考圖像及一目標(biāo)圖像。LBP產(chǎn)生單元依據(jù)參考圖像，產(chǎn)生一 LBP參考圖像，并依據(jù)目標(biāo)圖像產(chǎn)生一 LBP目標(biāo)圖像。檢測單元檢測LBP 參考圖像的數(shù)個(gè)參考紋理特征點(diǎn)。比對(duì)單元依據(jù)這些參考紋理特征點(diǎn)，在LBP目標(biāo)圖像尋找對(duì)應(yīng)的數(shù)個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
為了對(duì)本申請(qǐng)的上述及其他方面更了解，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖，作詳細(xì)說明如下


圖I繪示本實(shí)施例圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法的流程圖。
圖2繪示本實(shí)施例圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)的方塊圖。
圖3繪示LBP運(yùn)算示意圖。
圖4繪示一參考像素與周圍16個(gè)參考像素的示意圖。
圖5繪示LBP區(qū)塊比對(duì)的示意圖。
圖6繪示數(shù)張?jiān)紙D像及其LBP圖像。
圖7繪示參考紋理特征點(diǎn)的示意圖。
主要元件符號(hào)說明
100 :紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)
110 :提供單元
120 =LBP產(chǎn)生單元
130 :檢測單元
140 比對(duì)單元
150 :判斷單元
160 :選取單元
170 :存儲(chǔ)單元
180 :查表單元
bl、b2、b3、b4、b5、b6、b7、b8 :位
C:圓
fr :參考紋理特征點(diǎn)
ft、ft%目標(biāo)紋理特征點(diǎn)
Ir :參考圖像
It 目標(biāo)圖像
LBPr =LBP參考圖像
LBPt =LBP目標(biāo)圖像
Pr、PrO、xi :參考像素
Pt:目標(biāo)像素
R :搜尋范圍
n:參考比對(duì)區(qū)塊
r2:目標(biāo)比對(duì)區(qū)塊
SlOl S106 :流程步驟具體實(shí)施方式
請(qǐng)參照?qǐng)DI及圖2，圖I繪示本實(shí)施例圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法的流程圖，圖2繪示本實(shí)施例圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)100的方塊圖。本實(shí)施例的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法主要包含三個(gè)部分(I)紋理特征點(diǎn)的擷取、(2)局部二元圖形(Local Binary Pattern,LBP)圖像的區(qū)塊比對(duì)及(3)絕對(duì)誤差和(Sum of Absolute Difference, SAD)的區(qū)塊比對(duì)。 以下搭配圖2的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)100說明本實(shí)施例。然而，本申請(qǐng)所屬領(lǐng)域技術(shù)人員均可了解，本申請(qǐng)的比對(duì)方法并不局限應(yīng)用于圖2的比對(duì)系統(tǒng)100，也不局限于下述的演算示例。
(I)紋理特征點(diǎn)擷取的擷取
如圖I所示，在步驟SlOl中，提供單元110提供一參考圖像Ir及一目標(biāo)圖像It， 以供本實(shí)施例圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)100接收。提供單元110例如是一攝影機(jī)、一照相機(jī)或存儲(chǔ)數(shù)張圖像的存儲(chǔ)裝置。參考圖像Ir及目標(biāo)圖像It例如是連續(xù)拍攝的前一刻圖像及當(dāng)下刻圖像。
接著，在步驟S102中，LBP產(chǎn)生單元120依據(jù)參考圖像Ir，產(chǎn)生一 LBP參考圖像 LBPr，并依據(jù)目標(biāo)圖像It產(chǎn)生一 LBP目標(biāo)圖像LBPt。
舉例來說，本實(shí)施例的LBP參考圖像LBPr的產(chǎn)生方法是從參考圖像Ir上進(jìn)行3x3 的遮罩運(yùn)算所產(chǎn)生的結(jié)果，而3x3的遮罩運(yùn)算方法是比較遮罩中心點(diǎn)的參考像素Pr的亮度與周圍8個(gè)參考像素Pr的亮度的大小關(guān)系。
請(qǐng)參照?qǐng)D3，其繪示LBP運(yùn)算示意圖。參考圖像Ir的一個(gè)參考像素Pr的亮度可以用8位來表示，其分別表示為bl、b2、b3、b4、b5、b6、b7、b8。當(dāng)鄰近的參考像Pr的亮度大于中心參考像素Pr的亮度，則設(shè)定其值為I ;否則設(shè)定其值為O。如圖3右側(cè)所示，最后所產(chǎn)生的8位LBP值為「11111100」。參考圖像Ir的每一個(gè)參考像素Pr皆計(jì)算其LBP值后， 即可獲得LBP參考圖像LBPr。
請(qǐng)參照?qǐng)D6，其繪示數(shù)張?jiān)紙D像及其LBP圖像。圖6的上排圖像為亮度不同的原始圖像，圖6的下排圖像為其對(duì)應(yīng)的LBP圖像。由圖6可以得知LBP圖像是一種區(qū)域性的亮度對(duì)比關(guān)系(即較亮或較暗)，對(duì)光線變化有相當(dāng)程度的容忍能力。當(dāng)原始圖像的光線變化時(shí)，其LBP圖像不會(huì)有太大的變動(dòng)。
然后，在步驟S103中，檢測單元130檢測出參考圖像Ir的數(shù)個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn) fr。在說明紋理特征點(diǎn)擷取方法之前,先說明檢測單元130如何依據(jù)漢明距離(Hamming distance)來求得兩個(gè)LBP值的差異量。
在LBP圖像中，一個(gè)LBP值代表的是中心點(diǎn)像素與8個(gè)鄰近像素的亮度大小關(guān)系。 檢測單元130利用異或(XOR)邏輯運(yùn)算將兩個(gè)要比對(duì)的LBP值進(jìn)行二進(jìn)制的8位與8位邏輯計(jì)算，其中只有I對(duì)I與0對(duì)0才會(huì)有0的結(jié)果，否則皆為I的結(jié)果，最后再計(jì)算異或 (XOR)邏輯運(yùn)算后其數(shù)值為I的個(gè)數(shù)，即為漢明距離。
如下式(I)為例，「10110111」與「10111010」的異或邏輯運(yùn)算結(jié)果為「00001101」，其漢明距離為3。當(dāng)I的個(gè)數(shù)較多時(shí)，則漢明距離越大，表示其差異度越大。10110111
XOR 1011101000001101 ( j )
請(qǐng)參照?qǐng)D4,其繪示一參考像素PrO與周圍16個(gè)參考像素xi (i = I 16)的示意圖。以參考像素PrO為例,在7X7的參考像素范圍內(nèi)，以參考像素PrO為中心,畫一個(gè)圓 C,而周圍會(huì)有16個(gè)參考像素xi位于這個(gè)圓C上。檢測單元130再計(jì)算此參考像素PrO的 LBP值與其周圍16個(gè)參考像素Xi (i = I 16)的LBP值的16個(gè)漢明距離H_ — Xi (i = I 16)。檢測單元130并設(shè)定一臨界值t,當(dāng)連續(xù)n個(gè)漢明距離Hprfl —xi滿足Hprfl —xi > t時(shí),貝U 定義此參考像素PrO為我們所要擷取的一個(gè)參考紋理特征點(diǎn)fr。其中，H_ — Xi > t表示參考像素PrO與參考像素xi的差異較大。所以，當(dāng)參考像素PrO的附近為平滑區(qū)域時(shí)，其漢明距離H_ — Xi會(huì)比較低。并且漢明距離H_ — Xi滿足H_ — Xi > t的連續(xù)數(shù)量可以表示此參考像素PrO的幾何角度程度。例如，當(dāng)參考像素PrO為角點(diǎn)時(shí),其漢明距離— xi滿足— xi > t的連續(xù)數(shù)量會(huì)較大；參考像素PrO為直線邊緣時(shí),其漢明距離—xi滿足Hprfl —xi > t 的連續(xù)數(shù)量會(huì)比較小。在此步驟中，檢測單元130利用參數(shù)n來排除容易比對(duì)錯(cuò)誤的直線邊緣。
請(qǐng)參照?qǐng)D7,其繪示參考紋理特征點(diǎn)fr的示意圖。檢測單元130將所有的參考像素Pr均進(jìn)行判斷后,滿足上述條件的參考像素Pr即可檢測為參考紋理特征點(diǎn)fr。
(2)LBP圖像的區(qū)塊比對(duì)
接著，在步驟S104中，比對(duì)單元140依據(jù)這些參考紋理特征點(diǎn)fr，在目標(biāo)圖像It 比對(duì)出對(duì)應(yīng)的數(shù)個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft。
當(dāng)LBP產(chǎn)生單元120得到LBP參考圖像LBPr與LBP目標(biāo)圖像LBPt，且檢測單元 130檢測出參考紋理特征點(diǎn)fr后，緊接著就進(jìn)行LBP區(qū)塊比對(duì)來找出目標(biāo)圖像It的目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft可能的位置，以建構(gòu)出參考紋理特征點(diǎn)fr與目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft對(duì)應(yīng)關(guān)系。
舉例來說，請(qǐng)參考圖5，其繪示LBP區(qū)塊比對(duì)的示意圖。比對(duì)單元140于目標(biāo)圖像 It尋找出對(duì)應(yīng)于一參考紋理特征點(diǎn)fr的位置(x，y)。
接著，以位置(x，y)為中心，在目標(biāo)圖像It框選出7X7搜尋范圍R。比對(duì)單元140 并在參考圖像Ir中，以參考紋理特征點(diǎn)fr為中心框選出3X3參考比對(duì)區(qū)塊rl。比對(duì)單元140更在7 X 7搜尋范圍R內(nèi)，以每一目標(biāo)像素Pt為中心任意框選出3 X 3目標(biāo)比對(duì)區(qū)塊 r2。如此將可以框選出7X7個(gè)目標(biāo)對(duì)比區(qū)塊r2(圖5僅繪示出一個(gè)目標(biāo)比對(duì)區(qū)塊r2)。
然后，比對(duì)單元140計(jì)算參考比對(duì)區(qū)塊rl與每一目標(biāo)比對(duì)區(qū)塊r2的漢明距離總和。其數(shù)學(xué)式表示如下式(2):
LBP{xy](u,v)= Y4 Y4XOR(Lr(x + i,y + j),Lt(x + i + u,y + j + v))............⑵j=-ri=-r
其中(u,v)為移動(dòng)向量，r G [-1,1],u G [-3, 3], v G [_3, 3]。Lr (x+i, y+j)為參考圖像Ir中，坐標(biāo)為(x+i, y+j)的參考像素Pr的LBP值。Lt (x+i+u, y+j+v)為目標(biāo)圖像It中，坐標(biāo)為(x+i+u，y+j+v)的參考像素Pt的LBP值。
當(dāng)統(tǒng)計(jì)完7 X 7搜尋范圍內(nèi)所有參考像素Pr與目標(biāo)像素Pt的漢明距離LBP(x,y) (U， v)時(shí)，設(shè)定一閾值。當(dāng)漢明距離LBP(x,y)(u，v)小于此閾值時(shí)，表示此參考像素Pr與此目標(biāo)像素Pt的相似度夠高，則設(shè)定此目標(biāo)像素Pt為目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft的候選點(diǎn)，最后在7X7 搜尋范圍內(nèi)建構(gòu)出一個(gè)坐標(biāo)為(x，y)的參考紋理特征點(diǎn)fr與多個(gè)可能的目標(biāo)紋理特征點(diǎn) ft的移動(dòng)向量(U, V)的集合。
(3)絕對(duì)誤差和(SAD)的區(qū)塊比對(duì)
接著，在步驟S105中，判斷單元150判斷每一參考紋理特征點(diǎn)fr是否僅對(duì)應(yīng)于一個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft。如果其中的一參考紋理特征點(diǎn)fr對(duì)應(yīng)于多個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft， 則進(jìn)入步驟S106。
在步驟S106中，選取單元160依據(jù)參考紋理特征點(diǎn)fr的亮度與這些目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft的亮度的絕對(duì)誤差和(Sum of AbsoluteDifference, SAD)選取其中的一目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft。
舉例來說，經(jīng)過上述LBP區(qū)塊比對(duì)之后，比對(duì)單元140得到坐標(biāo)為(x，y)的參考紋理特征點(diǎn)fr可能對(duì)應(yīng)于多個(gè)移動(dòng)向量(u，v)，而對(duì)應(yīng)于多個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft。但是最后我們只允許一個(gè)參考紋理特征點(diǎn)fr對(duì)應(yīng)于一個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft(一個(gè)移動(dòng)向量(u,v)), 所以我們必須找出真正的目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft (即真正移動(dòng)向量(U，V))。
絕對(duì)誤差和(SAD)是一個(gè)全域的搜尋法，選取單元160將可能的目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft與參考紋理特征點(diǎn)fr帶入以下方程式(3)，即可得到SAD值最小的移動(dòng)向量(u% V*)及其對(duì)應(yīng)的最理想的目標(biāo)紋理特征點(diǎn)ft%其坐標(biāo)為(x+u% y+v*)。
(x+u*, y+v*) = arg SAD(xjy) (x+u, y+v)...........................(3)
其中，上述在計(jì)算計(jì)算漢明距離的實(shí)作上，將XOR邏輯運(yùn)算后的8位值，可以直接利用查表的方式來計(jì)算I的個(gè)數(shù)。如圖2所示，存儲(chǔ)單元170可以建立一個(gè)8位的漢明距離表，其數(shù)據(jù)表大小為8X256 = 2，048bits,如下表I所示
表I :8位XOR運(yùn)算的漢明距離表
權(quán)利要求
1.一種圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法，包括接收一參考圖像及一目標(biāo)圖像；依據(jù)該參考圖像，產(chǎn)生一局部二元圖形LBP參考圖像，并依據(jù)該目標(biāo)圖像產(chǎn)生一 LBP目標(biāo)圖像；檢測該LBP參考圖像的多個(gè)參考紋理特征點(diǎn)；以及依據(jù)這些參考紋理特征點(diǎn)，在該LBP目標(biāo)圖像比對(duì)出對(duì)應(yīng)的多個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
2.如權(quán)利要求I所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法，其中在產(chǎn)生該LBP參考圖像及該 LBP目標(biāo)圖像的步驟中，該參考圖像包括多個(gè)參考像素，該LBP參考圖像為各個(gè)參考像素與鄰近的這些參考像素的売度大小關(guān)系；該目標(biāo)圖像包括多個(gè)目標(biāo)像素，該LBP目標(biāo)圖像為各個(gè)目標(biāo)相素與鄰近的這些目標(biāo)像素的売度大小關(guān)系。
3.如權(quán)利要求I所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法，其中該LBP參考圖像包括多個(gè) LBP參考像素,檢測這些參考紋理特征點(diǎn)的步驟包括依據(jù)各該LBP參考像素與鄰近的這些LBP參考像素的漢明距離，檢測這些參考紋理特征點(diǎn)。
4.如權(quán)利要求3所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法，其中各該LBP參考像素與鄰近的這些LBP參考像素的漢明距離采用查表的方式獲得。
5.如權(quán)利要求I所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法，其中該LBP參考圖像包括多個(gè) LBP參考像素，該LBP目標(biāo)圖像包括多個(gè)LBP目標(biāo)像素，比對(duì)出對(duì)應(yīng)的這些目標(biāo)紋理特征點(diǎn)的步驟依據(jù)這些LBP參考像素與這些LBP目標(biāo)像素的漢明距離比對(duì)出對(duì)應(yīng)的這些目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
6.如權(quán)利要求5所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法，其中這些LBP參考像素與這些 LBP目標(biāo)像素的漢明距離采用查表所獲得。
7.如權(quán)利要求I所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法，還包括判斷每一參考紋理特征點(diǎn)是否僅對(duì)應(yīng)于一個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)；若其中的一參考紋理特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)于多個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)，則依據(jù)該參考紋理特征點(diǎn)的亮度與這些目標(biāo)紋理特征點(diǎn)的亮度的絕對(duì)誤差和選取其中的一目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
8.一種圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)，接收一提供單元提供的一參考圖像及一目標(biāo)圖像，包括一局部二元圖形LBP產(chǎn)生單元，依據(jù)該參考圖像，產(chǎn)生一 LBP參考圖像，并依據(jù)該目標(biāo)圖像產(chǎn)生一 LBP目標(biāo)圖像；一檢測單元，用以檢測該LBP參考圖像的多個(gè)參考紋理特征點(diǎn)；以及一比對(duì)單元，依據(jù)這些參考紋理特征點(diǎn)，在該LBP目標(biāo)圖像尋找對(duì)應(yīng)的多個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
9.如權(quán)利要求8所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)，其中該參考圖像包括多個(gè)參考像素，該LBP參考圖像為各個(gè)參考像素與鄰近的這些參考像素的売度大小關(guān)系；該目標(biāo)圖像包括多個(gè)目標(biāo)像素，該LBP目標(biāo)圖像為各個(gè)目標(biāo)相素與鄰近的這些目標(biāo)像素的売度大小關(guān)系。
10.如權(quán)利要求8所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)，其中該LBP參考圖像包括多個(gè) LBP參考像素,該檢測單元依據(jù)各該LBP參考像素與鄰近的這些LBP參考像素的漢明距離, 檢測這些參考紋理特征點(diǎn)。
11.如權(quán)利要求10所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)，還包括一存儲(chǔ)單元，用以存儲(chǔ)一漢明距離表；以及一查表單元，依據(jù)該漢明距離表查出各該LBP參考像素與鄰近的這些LBP參考像素的漢明距離。
12.如權(quán)利要求8所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)，其中該LBP參考圖像包括多個(gè) LBP參考像素,該LBP目標(biāo)圖像包括多個(gè)LBP目標(biāo)像素,該比對(duì)單元依據(jù)這些LBP參考像素與這些LBP目標(biāo)像素的漢明距離比對(duì)出對(duì)應(yīng)的這些目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
13.如權(quán)利要求12所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)，還包括一存儲(chǔ)單元，用以存儲(chǔ)一漢明距離表；以及一查表單元，依據(jù)該漢明距離表查表出這些LBP參考像素與這些LBP目標(biāo)像素的漢明距離。
14.如權(quán)利要求8所述的圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)系統(tǒng)，還包括一判斷單元，用以判斷每一參考紋理特征點(diǎn)是否僅對(duì)應(yīng)于一個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)；以及一選取單元，如果其中的一參考紋理特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)于多個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)，則該選取單元依據(jù)該參考紋理特征點(diǎn)的亮度與這些目標(biāo)紋理特征點(diǎn)的亮度的絕對(duì)誤差和選取其中的一目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
全文摘要
一種圖像的紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法及系統(tǒng)。紋理特征點(diǎn)比對(duì)方法包括以下步驟。接收一參考圖像及一目標(biāo)圖像。依據(jù)參考圖像，產(chǎn)生一局部二元圖形(Local Binary Pattern，LBP)參考圖像，并依據(jù)目標(biāo)圖像產(chǎn)生一LBP目標(biāo)圖像。檢測LBP參考圖像的數(shù)個(gè)參考紋理特征點(diǎn)。依據(jù)這些參考紋理特征點(diǎn)，在LBP目標(biāo)圖像比對(duì)出對(duì)應(yīng)的數(shù)個(gè)目標(biāo)紋理特征點(diǎn)。
文檔編號(hào)G06T7/00GK102542245SQ20111006186
公開日2012年7月4日 申請(qǐng)日期2011年3月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月24日
發(fā)明者張晏樹, 歐志鴻, 王裕龍, 黃雅軒 申請(qǐng)人:財(cái)團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院