測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng)與方法
【專利摘要】一種測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng),用于:設(shè)置測試參數(shù)、狀態(tài)模板圖樣參數(shù)及各測試項(xiàng)目的測試時(shí)間容許值;按照測試參數(shù)測試待測物,并按照狀態(tài)模板圖樣參數(shù)將測試狀態(tài)以狀態(tài)模板的形式進(jìn)行顯示;將所拍攝的狀態(tài)模板與其對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板進(jìn)行比較;當(dāng)比較結(jié)果為不同時(shí),判定該測試項(xiàng)目異常,記錄并標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引;當(dāng)比較結(jié)果為相同時(shí),將該測試項(xiàng)目的測試時(shí)間與其對應(yīng)的測試時(shí)間容許值進(jìn)行比較;當(dāng)比較結(jié)果為超過時(shí),判定該測試項(xiàng)目異常,記錄并標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引。本發(fā)明還提供一種測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引方法。利用本發(fā)明,不僅可以圖形的方式呈現(xiàn)測試狀態(tài),還可以自動判定測試結(jié)果。
【專利說明】測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng)與方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種待測物的測試管理系統(tǒng)與方法,尤其涉及一種測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng)與方法。
【背景技術(shù)】
[0002]對于短時(shí)間的實(shí)時(shí)測試項(xiàng)目,測試者往往需要待在測試物(UUT)旁觀看測試全程,并獲知最終測試結(jié)果。倘若測試結(jié)果為UUT被判定為失效,測試者則會從相關(guān)系統(tǒng)訊息紀(jì)錄文件(System Event Log, SEL)去找尋可能的失效原因。在短時(shí)間的測試執(zhí)行上,測試者因?yàn)槟苡^察測試全程,再加上SEL的信息協(xié)助,能夠?qū)κв休^好的描述,提供更完善的信息給相關(guān)失效分析人員。
[0003]然而,在可靠度測試的執(zhí)行上,單一測試項(xiàng)目的執(zhí)行時(shí)間往往很長,如一天至兩天,要測試者觀察測試全程,幾乎是不可能的事,而遇到測試結(jié)果為系統(tǒng)失效時(shí),失效分析人員也僅能取得測試的SEL加以分析,找出可能的失效原因。由于SEL描述的事件缺乏測試過程中的影像,失去了對現(xiàn)象說明的完整性。例如,SEL僅說明了系統(tǒng)中某個(gè)端點(diǎn)的電壓異常,卻沒辦法說明這個(gè)異常是在屏幕上顯示藍(lán)屏還是系統(tǒng)直接關(guān)閉而導(dǎo)致顯示器無信號。
[0004]為了克服僅以SEL做失效分析的缺陷,現(xiàn)如今,在個(gè)人計(jì)算機(jī)或服務(wù)器相關(guān)測試上,有人利用電荷耦合裝置(CXD)或網(wǎng)絡(luò)攝像機(jī)(IP Camera)來記錄長時(shí)間測試下的計(jì)算機(jī)或服務(wù)器屏幕所顯示的信息。而此方法所存在的缺陷為:當(dāng)測試時(shí)間較長時(shí),若想對系統(tǒng)失效進(jìn)行分析,需瀏覽完所有的信息記錄才可以找出失效原因,效率低。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng),可將待測物的測試狀態(tài)以圖形的方式呈現(xiàn)給測試者,并為測試狀態(tài)異常的時(shí)間點(diǎn)加一個(gè)索引,方便測試者找出異常。
[0006]所述測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng),運(yùn)行于一個(gè)電子裝置中,該系統(tǒng)包括:設(shè)置模塊,用于設(shè)置測試參數(shù)、狀態(tài)模板圖樣參數(shù)及各測試項(xiàng)目的測試時(shí)間容許值;測試狀態(tài)顯示模塊,用于按照該測試參數(shù)測試待測物,并按照所述狀態(tài)模板圖樣參數(shù)將各測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)以圖形的方式顯示在用戶界面上,所述圖形即為各測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板,其中,每個(gè)狀態(tài)模板對應(yīng)一個(gè)測試時(shí)間段;模板比較模塊,用于將所拍攝的各測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與該測試項(xiàng)目所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板進(jìn)行比較;異常索引模塊,用于當(dāng)比較結(jié)果為該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板不同時(shí),判定該測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常,記錄該出現(xiàn)異常的測試項(xiàng)目并為該測試項(xiàng)目標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引;測試時(shí)間比較模塊,用于當(dāng)比較結(jié)果為該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板相同時(shí),將該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板中所表明的測試時(shí)間與該測試項(xiàng)目對應(yīng)的測試時(shí)間容許值進(jìn)行比較;及所述異常索引模塊,還用于若該測試項(xiàng)目的測試時(shí)間超過所對應(yīng)的測試時(shí)間容許值時(shí),判定該測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常,記錄該出現(xiàn)異常的測試項(xiàng)目并為該測試項(xiàng)目標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引。[0007]還有必要提供一種測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引方法,可將待測物的測試狀態(tài)以圖形的方式呈現(xiàn)給測試者,并為測試狀態(tài)異常的時(shí)間點(diǎn)加一個(gè)索引,方便測試者找出異常。[0008]所述測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引方法,應(yīng)用于一個(gè)電子裝置中,包括:設(shè)置步驟,設(shè)置測試參數(shù)、狀態(tài)模板圖樣參數(shù)及各測試項(xiàng)目的測試時(shí)間容許值;狀態(tài)呈現(xiàn)步驟,按照上述測試參數(shù)測試待測物,并按照所述狀態(tài)模板圖樣參數(shù)將各測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)以圖形的方式呈現(xiàn)在用戶界面上,所述圖形即為各測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板,其中,每個(gè)狀態(tài)模板對應(yīng)一個(gè)測試時(shí)間段;模板比較步驟,將各測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與該測試項(xiàng)目所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板進(jìn)行比較;異常索引步驟一,若比較結(jié)果為該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板不同,則判定該測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常,記錄該出現(xiàn)異常的測試項(xiàng)目并為該測試項(xiàng)目標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引;測試時(shí)間比較步驟,若比較結(jié)果為該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板相同,則將該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板中所表明的測試時(shí)間與該測試項(xiàng)目對應(yīng)的測試時(shí)間容許值進(jìn)行比較;及異常索引步驟二,若該測試項(xiàng)目的測試時(shí)間超過所對應(yīng)的測試時(shí)間容許值,則判定該測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常,記錄該出現(xiàn)異常的測試項(xiàng)目并為該測試項(xiàng)目標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引。
[0009]相較于現(xiàn)有技術(shù),所述的測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng)與方法,可在用戶界面上呈現(xiàn)待測物的當(dāng)前測試狀態(tài),并將該當(dāng)前測試狀態(tài)與一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)測試狀態(tài)列表進(jìn)行比較,分析待測物在某個(gè)時(shí)間段內(nèi)是否出現(xiàn)異常,并標(biāo)記異常出現(xiàn)的時(shí)間,便于測試者找出異常。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0010]圖1是本發(fā)明較佳實(shí)施例中的測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng)的運(yùn)行環(huán)境示意圖。
[0011]圖2是圖1中的電子裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]圖3舉例說明本發(fā)明中的狀態(tài)模塊。
[0013]圖4是本發(fā)明測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引方法較佳實(shí)施例的作業(yè)流程圖。
[0014]主要元件符號說明
[0015]
【權(quán)利要求】
1.一種測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引方法,應(yīng)用于一個(gè)電子裝置中,其特征在于,該方法包括: 設(shè)置步驟,設(shè)置測試參數(shù)、狀態(tài)模板圖樣參數(shù)及各測試項(xiàng)目的測試時(shí)間容許值; 測試狀態(tài)顯示步驟,按照上述測試參數(shù)測試待測物,并按照所述狀態(tài)模板圖樣參數(shù)將各測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)以圖形的方式呈現(xiàn)在用戶界面上,所述圖形即為狀態(tài)模板,其中,每個(gè)狀態(tài)模板對應(yīng)一個(gè)測試時(shí)間段; 模板比較步驟,將各測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與該測試項(xiàng)目所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板進(jìn)行比較; 異常索引步驟一,若比較結(jié)果為該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板不同,則判定該測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常,記錄該出現(xiàn)異常的測試項(xiàng)目并為該測試項(xiàng)目標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引; 測試時(shí)間比較步驟,若比較結(jié)果為該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板相同,則將該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板中所表明的測試時(shí)間與該測試項(xiàng)目對應(yīng)的測試時(shí)間容許值進(jìn)行比較;及 異常索引步驟二,若該測試項(xiàng)目的測試時(shí)間超過所對應(yīng)的測試時(shí)間容許值,則判定該測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常,記錄該出現(xiàn)異常的測試項(xiàng)目并為該測試項(xiàng)目標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引。
2.如權(quán)利要求1所述的測 試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引方法,其特征在于,于異常索引步驟一和異常索引步驟二中,該方法還包括: 當(dāng)有測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常時(shí),輸出一個(gè)測試失敗的信息,并顯示帶有時(shí)間索引的測試項(xiàng)目的名稱;及 當(dāng)沒有測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常時(shí),輸出一個(gè)測試成功的信息。
3.如權(quán)利要求1所述的測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引方法,其特征在于,所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板提前設(shè)置并保存在一個(gè)存儲器中,該標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板所示意的圖形用于表示當(dāng)前測試項(xiàng)目的名稱、當(dāng)前測試項(xiàng)目的執(zhí)行狀態(tài)、當(dāng)前測試項(xiàng)目是否異常及當(dāng)前測試項(xiàng)目的測試時(shí)間。
4.一種測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng),運(yùn)行于一個(gè)電子裝置中,其特征在于,該系統(tǒng)包括: 設(shè)置模塊,用于設(shè)置測試參數(shù)、狀態(tài)模板圖樣參數(shù)及各測試項(xiàng)目的測試時(shí)間容許值;測試狀態(tài)顯示模塊,用于按照該測試參數(shù)測試待測物,并按照所述狀態(tài)模板圖樣參數(shù)將各測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)以圖形的方式顯示在用戶界面上,所述圖形即為各測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板,其中,每個(gè)狀態(tài)模板對應(yīng)一個(gè)測試時(shí)間段; 模板比較模塊,用于將所拍攝的各測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與該測試項(xiàng)目所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板進(jìn)行比較; 異常索引模塊,用于當(dāng)比較結(jié)果為該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板不同時(shí),判定該測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常,記錄該出現(xiàn)異常的測試項(xiàng)目并為該測試項(xiàng)目標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引; 測試時(shí)間比較模塊,用于當(dāng)比較結(jié)果為該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板與所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板相同時(shí),將該測試項(xiàng)目的狀態(tài)模板中所表明的測試時(shí)間與該測試項(xiàng)目對應(yīng)的測試時(shí)間容許值進(jìn)行比較;及所述異常索引模塊,還用于若該測試項(xiàng)目的測試時(shí)間超過所對應(yīng)的測試時(shí)間容許值時(shí),判定該測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常,記錄該出現(xiàn)異常的測試項(xiàng)目并為該測試項(xiàng)目標(biāo)記一個(gè)時(shí)間索引。
5.如權(quán)利要求4所述的測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng),其特征在于,該系統(tǒng)還包括: 結(jié)果輸出模塊,用于當(dāng)有測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常時(shí),輸出一個(gè)測試失敗的信息,并顯示帶有時(shí)間索引的測試項(xiàng)目的名稱,及當(dāng)沒有測試項(xiàng)目的測試狀態(tài)異常時(shí),輸出一個(gè)測試成功的信息。
6.如權(quán)利要求4所述的測試狀態(tài)呈現(xiàn)及異常索引系統(tǒng),其特征在于,所述標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板提前設(shè)置并保存在一個(gè)存儲器中,該標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)模板所示意的圖形用于表示當(dāng)前測試項(xiàng)目的名稱、當(dāng)前測試項(xiàng)目的執(zhí)行狀態(tài)、當(dāng)前測試項(xiàng)目是否異常及當(dāng)前測試項(xiàng)目的測試時(shí)間。
【文檔編號】G06F17/30GK103678380SQ201210345567
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2012年9月17日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月17日
【發(fā)明者】孫正衡 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司