一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種機(jī)柜式服務(wù)器性能測試設(shè)備：兩路電源，兩個電質(zhì)量處理器，兩個電源分配插座，一個集中監(jiān)控器，一個空調(diào)設(shè)備，一個機(jī)柜，一個測量儀器以及被測試設(shè)備；在上架前對服務(wù)器進(jìn)行測試，首先可以測試服務(wù)器是否在出廠時就不合格，防止投入使用后無法確定服務(wù)器的不正常工作是由生產(chǎn)不合格還是由于使用不當(dāng)所導(dǎo)致；而且，測試服務(wù)器的設(shè)備資源使用率與不同的電質(zhì)量參數(shù)和溫濕度參數(shù)之間的關(guān)系，可以為服務(wù)器提供更加具有針對性的運(yùn)行條件，可以記錄服務(wù)器在不同電質(zhì)量和溫濕度參數(shù)下的工作狀態(tài)，為今后服務(wù)器在使用過程中提供可靠的數(shù)據(jù)依據(jù)，以便在后續(xù)使用服務(wù)器的過程中節(jié)省電力和空調(diào)等投入，滿足服務(wù)器的安全、可靠和高效運(yùn)轉(zhuǎn)需求。
【專利說明】一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計算機(jī)【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]服務(wù)器的正常運(yùn)轉(zhuǎn)需要兩個基本環(huán)境，其一是高質(zhì)量、高安全性以及高可靠度的電環(huán)境，其二是高質(zhì)量的溫濕度環(huán)境。
[0003]目前，服務(wù)器從商家購買后，直接將服務(wù)器安裝在機(jī)柜中投入使用，使用前無法得知服務(wù)器投入使用后的工作狀態(tài)好壞。服務(wù)器投入使用后，若服務(wù)器中某些器件損壞，則會導(dǎo)致服務(wù)器無法正常工作，影響業(yè)務(wù)的正常開展，并將造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失和社會影響。由于服務(wù)器已經(jīng)投入使用，則無法判斷導(dǎo)致服務(wù)器工作異常的原因是出廠前服務(wù)器存在缺陷，還是服務(wù)器投入使用過程中導(dǎo)致的器件損壞。
[0004]服務(wù)器正常運(yùn)行對其所處的溫濕度環(huán)境有很嚴(yán)格的要求，溫濕度超出服務(wù)器穩(wěn)定工作所需的范圍時，會影響服務(wù)器的工作狀態(tài)。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)中沒有提供一種測試設(shè)備用來測試上架前服務(wù)器是否可以正常工作，也沒有提供一種測試設(shè)備測試服務(wù)器所需的溫濕度環(huán)境，以便為服務(wù)器今后的使用提供所需的溫濕度參數(shù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于此，本發(fā)明提供了一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備，在服務(wù)器投入使用前，測試服務(wù)器在不同電質(zhì)量參數(shù)以及溫濕度參數(shù)下的工作狀態(tài)，為服務(wù)器投入使用后提供可靠的電質(zhì)量參數(shù)以及溫濕度參數(shù)。
[0007]—種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備，所述設(shè)備包括:
[0008]兩路電源，兩個電質(zhì)量處理器，兩個電源分配插座，一個集中監(jiān)控器，一個空調(diào)設(shè)備，一個機(jī)柜，一個測量儀器以及被測試設(shè)備，所述被測試設(shè)備由一個或多個服務(wù)器組成；
[0009]一個電質(zhì)量處理器接入一路電源，改變電源的電質(zhì)量參數(shù)，并將改變電質(zhì)量參數(shù)后的電源通過一個電源分配插座輸出；
[0010]被測試設(shè)備分別與兩個電源分配插座相連，電源分配插座為被測試設(shè)備輸出改變電質(zhì)量參數(shù)后的電能；
[0011]空調(diào)設(shè)備安裝在機(jī)柜的前門，與一路電源相連，空調(diào)設(shè)備用于將機(jī)柜外的空氣進(jìn)行處理后送入至被測試設(shè)備的進(jìn)風(fēng)口，調(diào)節(jié)機(jī)柜內(nèi)服務(wù)器周圍的溫濕度參數(shù)；
[0012]測量儀器用于測量被測試設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)，并將所述運(yùn)行狀態(tài)發(fā)送到集中監(jiān)控器；
[0013]集中監(jiān)控器與兩個電質(zhì)量處理器、空調(diào)設(shè)備、測量儀器以及被測試設(shè)備分別相連；
[0014]集中監(jiān)控器用于執(zhí)行以下監(jiān)控操作:控制電質(zhì)量處理器改變電源的電質(zhì)量參數(shù)；控制空調(diào)設(shè)備的電功率，以及空調(diào)設(shè)備的冷凝器、蒸發(fā)器和電磁閥的運(yùn)行參數(shù)；監(jiān)測輸入被測試設(shè)備的電質(zhì)量參數(shù)，監(jiān)測被測試設(shè)備的進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口的溫濕度參數(shù)；監(jiān)測被測試設(shè)備內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算以及存儲性能參數(shù)；監(jiān)測被測設(shè)備應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)。
[0015]可選的,所述電質(zhì)量參數(shù)包括:
[0016]電流質(zhì)量參數(shù)、電壓質(zhì)量參數(shù)和功率質(zhì)量參數(shù)的任意一種或多種。
[0017]可選的，所述集中監(jiān)控器還包括:
[0018]顯示器，用于顯示集中監(jiān)控器所監(jiān)測的輸入被測試設(shè)備的電質(zhì)量參數(shù)，被測試設(shè)備的進(jìn)風(fēng)口和排風(fēng)口的溫濕度參數(shù)，被測試設(shè)備內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算以及存儲性能參數(shù)，被測試設(shè)備應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)。
[0019]可選的，所述機(jī)柜的尺寸為:
[0020]2m 高,600mm 寬，IlOOmm 深的 42U 機(jī)柜。
[0021]可選的，
[0022]所述集中監(jiān)控器還用于將所監(jiān)測到的被測試設(shè)備內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算、存儲性能參數(shù)和應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)中的任意一項或多項導(dǎo)出。
[0023]由上述內(nèi)容可知，本發(fā)明有如下有益效果:
[0024]本發(fā)明提供了 一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備，所述設(shè)備包括:兩路電源，兩個電質(zhì)量處理器，兩個電源分配插座，一個集中監(jiān)控器，一個空調(diào)設(shè)備，一個機(jī)柜一個測量儀器以及被測試設(shè)備，所述被測試設(shè)備由一個或多個服務(wù)器組成；一個電質(zhì)量處理器接入一路電源，改變電源的電質(zhì)量參數(shù)，并將改變電質(zhì)量參數(shù)后的電源通過一個電源分配插座輸出；被測試設(shè)備服務(wù)器分別與兩個電源分配插座相連，電源分配插座為被測試設(shè)備服務(wù)器輸出改變電質(zhì)量參數(shù)后的電能；空調(diào)設(shè)備安裝在機(jī)柜的前門，與一路電源相連，空調(diào)設(shè)備用于將機(jī)柜外的空氣進(jìn)行處理后送入至被測試設(shè)備服務(wù)器進(jìn)風(fēng)口，調(diào)節(jié)機(jī)柜內(nèi)被測試設(shè)備服務(wù)器周圍的溫濕度參數(shù)；集中監(jiān)控器與兩個電質(zhì)量處理器、空調(diào)設(shè)備以及服務(wù)器分別相連；測量儀器用于測量被測試設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)，并將所述運(yùn)行狀態(tài)發(fā)送到集中監(jiān)控器；集中監(jiān)控器用于執(zhí)行以下監(jiān)控操作:控制電質(zhì)量處理器改變電源的電質(zhì)量參數(shù)；控制空調(diào)設(shè)備的電功率，以及空調(diào)設(shè)備的冷凝器、蒸發(fā)器和電磁閥的運(yùn)行參數(shù)；監(jiān)測輸入服務(wù)器被測試設(shè)備的電質(zhì)量參數(shù)，監(jiān)測被測試設(shè)備服務(wù)器進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口的溫濕度參數(shù)；監(jiān)測被測試設(shè)備服務(wù)器內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算以及存儲性能參數(shù)；監(jiān)測被測試設(shè)備服務(wù)器應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)，在上架前對服務(wù)器進(jìn)行專項測試，首先可以測試服務(wù)器是否在出廠時就不合格，防止投入使用后無法確定服務(wù)器的不正常工作是由生產(chǎn)不合格還是由于使用不當(dāng)所導(dǎo)致，無法追究服務(wù)器不正常工作的責(zé)任；而且，測試服務(wù)器的設(shè)備資源使用率與不同的電質(zhì)量參數(shù)和溫濕度參數(shù)之間的關(guān)系，可以為服務(wù)器提供更加具有針對性的運(yùn)行條件，可以記錄服務(wù)器在不同電質(zhì)量參數(shù)和溫濕度參數(shù)下的工作狀態(tài)，為今后服務(wù)器在投入使用過程中提供可靠的數(shù)據(jù)依據(jù)，保證服務(wù)器工作在符合要求的電質(zhì)量參數(shù)和溫濕度參數(shù)下，以便在后續(xù)使用服務(wù)器的過程中節(jié)省電力和空調(diào)等投入，滿足服務(wù)器的安全、可靠和高效運(yùn)轉(zhuǎn)需求。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0025]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0026]圖1為本發(fā)明一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備實(shí)施例一結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]本發(fā)明公開了一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備，在上架前，對服務(wù)器進(jìn)行專項測試，測試服務(wù)器的軟件運(yùn)行參數(shù)與電質(zhì)量參數(shù)和溫濕度參數(shù)之間的關(guān)系，以便在后續(xù)使用服務(wù)器的過程中節(jié)省電力和空調(diào)等投入，滿足服務(wù)器的安全、可靠和高效運(yùn)轉(zhuǎn)需求。
[0028]下面結(jié) 合附圖對本發(fā)明具體實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0029]實(shí)施例一
[0030]圖1為本發(fā)明一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備實(shí)施例一結(jié)構(gòu)示意圖，所述設(shè)備包括:
[0031]兩路電源El和E2，兩個電質(zhì)量處理器Dl和D2，一個或兩個電源分配插座I3DUl和PDU2，被測試設(shè)備101，一個集中監(jiān)控器102，一個空調(diào)設(shè)備103，一個機(jī)柜104和一個測量儀器105，所述被測試設(shè)備101由一個或多個服務(wù)器組成。
[0032]兩路電源El和E2即為普通的輸出電源，220V或380V，50Hz。兩路電源可以是直接從機(jī)柜外部接入的兩路電源；也可以是從機(jī)柜外部接入一路電源，再將這一路電源在機(jī)柜內(nèi)分成兩路。
[0033]電源分配插座(Power Distribution Unit, PDU)是常用的機(jī)柜用F1DU,每個PDU有多個插孔，可向被測試設(shè)備輸出改變電質(zhì)量參數(shù)后的電能。PDU可使機(jī)柜中的電源分配更加整齊、可靠、安全、專業(yè)和美觀，并使得機(jī)柜中電源的維護(hù)更加便利和可靠。
[0034]一個電質(zhì)量處理器接入一路電源，改變電源的電質(zhì)量參數(shù)，并將改變電質(zhì)量參數(shù)后的電源通過一個電源分配插座輸出。
[0035]如圖1所述，電質(zhì)量處理器Dl接入第一路電源El，改變第一路電源El的電質(zhì)量參數(shù)，并將改變電質(zhì)量參數(shù)后的電源Ei通過roui輸出至被測試設(shè)備ιο?。這里需要說明的是，被測試設(shè)備ιο?可以包括一個服務(wù)器，也可以包括是多個服務(wù)器，可以根據(jù)實(shí)際情況對機(jī)柜中的一個或多個服務(wù)器進(jìn)行測試。
[0036]電質(zhì)量處理器D2接入第一路電源E2，改變第一路電源E2的電質(zhì)量參數(shù)，并將改變電質(zhì)量參數(shù)后的電源E2通過roU2輸出至被測試設(shè)備101。
[0037]電質(zhì)量處理器Dl和D2與集中監(jiān)控器102相連，接收集中監(jiān)控器102的控制信號，根據(jù)所接收的控制信號改變第一路電源El和第二路電源E2的電質(zhì)量參數(shù)，并通過roui和rou2輸出至被測試設(shè)備101。用于測試被測試設(shè)備101在不同的電質(zhì)量參數(shù)下的工作狀態(tài)。
[0038]其中,所述電質(zhì)量參數(shù)包括:電流質(zhì)量參數(shù)、電壓質(zhì)量參數(shù)和功率質(zhì)量參數(shù)的任意一種或多種。這里需要說明的是，電質(zhì)量參數(shù)還可以包括供電質(zhì)量參數(shù)和用電質(zhì)量參數(shù)等，并不僅限于上述幾種表述形式，這里不再一一贅述。
[0039]被測試設(shè)備101與一個或兩個電源分配插座相連。當(dāng)被測試設(shè)備101為單電源服務(wù)器時，被測試設(shè)備101與一個電源分配插座相連；當(dāng)被測試設(shè)備101為兩路電源服務(wù)器時，被測試設(shè)備101分別與兩個電源分配插座相連。本實(shí)施例以被測試設(shè)備101分別與兩個電源分配插座roui和H)U2相連為例，電源分配插座roui和rou2為服務(wù)器輸出改變電質(zhì)量參數(shù)后的電能。[0040]電質(zhì)量處理器Dl和D2將改變電質(zhì)量參數(shù)后的電源分別通過I3DUl和TOU2輸出至被測試設(shè)備101。PDUl與TOU2給被測試設(shè)備101所提供的兩路電源的電質(zhì)量參數(shù)可以相同也可以不同。
[0041]空調(diào)設(shè)備103安裝在機(jī)柜104的前門，與一路電源E3相連，空調(diào)設(shè)備103用于將機(jī)柜104外的空氣進(jìn)行處理后送入至服務(wù)器101進(jìn)風(fēng)口，調(diào)節(jié)機(jī)柜內(nèi)被測試設(shè)備101周圍的溫濕度參數(shù)。
[0042]這里需要說明的是，電源E3可以是從機(jī)柜外面接入的一路與電源El和E2不同的電源，也可以是從電源El或E2中接出來的一路電源，這里不進(jìn)行具體限定。
[0043]空調(diào)設(shè)備103包括壓縮機(jī)、冷凝器、蒸發(fā)器和電磁閥?？照{(diào)設(shè)備103與集中監(jiān)控器102相連，接收集中監(jiān)控器102的控制信號，根據(jù)控制信號調(diào)節(jié)被測試設(shè)備101的進(jìn)風(fēng)口的溫濕度參數(shù)。用于測試被測試設(shè)備101在不同的溫濕度參數(shù)下的工作狀態(tài)。
[0044]測量儀器105用于測量被測試設(shè)備101的運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)，并將所述運(yùn)行狀態(tài)發(fā)送到集中監(jiān)控器。
[0045]被測試設(shè)備101的運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)包括電流參數(shù)、電壓參數(shù)、功率參數(shù)CPU、內(nèi)存、計算以及存儲性能參數(shù)等。
[0046]集中監(jiān)控器102與兩個電質(zhì)量處理器Dl和D2、空調(diào)設(shè)備103、測量儀器101以及被測試設(shè)備101分別相連。
[0047]集中監(jiān)控器102用于執(zhí)行以下監(jiān)控操作:控制電質(zhì)量處理器Dl和D2改變電源的電質(zhì)量參數(shù)；控制空調(diào)設(shè)備103的電功率，以及空調(diào)設(shè)備103的冷凝器、蒸發(fā)器和電磁閥的運(yùn)行參數(shù)；監(jiān)測輸入被測試設(shè)備101的電質(zhì)量參數(shù)，監(jiān)測被測試設(shè)備101進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口的溫濕度參數(shù)；監(jiān)測被測試設(shè)備101內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算以及存儲性能參數(shù)；監(jiān)測被測試設(shè)備101應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)。
[0048]集中監(jiān)控服務(wù)器102提供對整個服務(wù)器測試設(shè)備中的電質(zhì)量處理器Dl和D2、空調(diào)設(shè)備103以及服務(wù)器101進(jìn)行總的控制和監(jiān)測功能。集中監(jiān)控服務(wù)器102所監(jiān)測的各個參數(shù)可以輸出至機(jī)柜外面的顯示器進(jìn)行顯示，也可以集中監(jiān)控服務(wù)器102自身包含一個顯示器進(jìn)行顯示，這里不進(jìn)行具體限定。
[0049]所述集中監(jiān)控器還用于將所監(jiān)測到的被測試設(shè)備內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算、存儲性能參數(shù)和應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)中的任意一項或多項導(dǎo)出。
[0050]機(jī)柜104主要用于放置上述測試設(shè)備中的各個測試裝置。電質(zhì)量處理器Dl和D2放置在機(jī)柜的上部，空調(diào)設(shè)備103安裝在機(jī)柜104的前門，PDU1，H)U2，被測試設(shè)備101以及集中監(jiān)控服務(wù)器102可以按照實(shí)際需求放置在機(jī)柜中，這里不進(jìn)行限定。
[0051]機(jī)柜104可以采用現(xiàn)有的常用的機(jī)柜尺寸，機(jī)柜的尺寸規(guī)格如下:
[0052]22U、27U、32U、37U、42U 以及 47U
[0053]其中，U是一種表示服務(wù)器外部尺寸的單位，是unit的縮略語，詳細(xì)的尺寸由美國電子工業(yè)協(xié)會(EIA)決定。例如:本發(fā)明可以采用2m高，600mm寬，IlOOmm深的42U機(jī)柜。
[0054]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種機(jī)柜式服務(wù)器上架性能測試設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括: 兩路電源，兩個電質(zhì)量處理器，一個或兩個電源分配插座，一個集中監(jiān)控器，一個空調(diào)設(shè)備，一個機(jī)柜，一個測量儀器以及被測試設(shè)備，所述被測試設(shè)備由一個或多個服務(wù)器組成； 一個電質(zhì)量處理器接入一路電源，改變電源的電質(zhì)量參數(shù)，并將改變電質(zhì)量參數(shù)后的電源通過一個電源分配插座輸出； 被測試設(shè)備與一個或兩個電源分配插座相連，電源分配插座為被測試設(shè)備輸出改變電質(zhì)量參數(shù)后的電能； 空調(diào)設(shè)備安裝在機(jī)柜的前門，與電源相連，空調(diào)設(shè)備用于將機(jī)柜外的空氣進(jìn)行處理后送入至被測試設(shè)備的進(jìn)風(fēng)口，調(diào)節(jié)機(jī)柜內(nèi)服務(wù)器周圍的溫濕度參數(shù)； 測量儀器用于測量被測試設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)，并將所述運(yùn)行狀態(tài)發(fā)送到集中監(jiān)控器； 集中監(jiān)控器與兩個電質(zhì)量處理器、空調(diào)設(shè)備、測量儀器以及被測試設(shè)備分別相連； 集中監(jiān)控器用于執(zhí)行以下監(jiān)控操作:控制電質(zhì)量處理器改變電源的電質(zhì)量參數(shù)；控制空調(diào)設(shè)備的電功率，以及空調(diào)設(shè)備的冷凝器、蒸發(fā)器和電磁閥的運(yùn)行參數(shù)；控制被測設(shè)備負(fù)載率；監(jiān)測輸入被測試設(shè)備的電質(zhì)量參數(shù)，監(jiān)測被測試設(shè)備的進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口的溫濕度參數(shù)；監(jiān)測被測試設(shè)備內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算以及存儲性能參數(shù)；監(jiān)測被測設(shè)備應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述電質(zhì)量參數(shù)包括: 電流質(zhì)量參數(shù)、電壓質(zhì)量參數(shù)和功率質(zhì)量參數(shù)的任意一種或多種。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述集中監(jiān)控器還包括: 顯示器，用于顯示集中監(jiān)控器所監(jiān)測的輸入被測試設(shè)備的電質(zhì)量參數(shù)，被測試設(shè)備的進(jìn)風(fēng)口和排風(fēng)口的溫濕度參數(shù)，被測試設(shè)備內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算以及存儲性能參數(shù)，被測試設(shè)備應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的機(jī)柜，其特征在于，所述機(jī)柜的尺寸為: 2m 高，600mm 寬，110Omm 深的 42U 機(jī)柜。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的機(jī)柜，其特征在于， 所述集中監(jiān)控器還用于將設(shè)備監(jiān)控參數(shù)以及所監(jiān)測到的被測試設(shè)備內(nèi)的CPU、內(nèi)存、計算、存儲性能參數(shù)和應(yīng)用軟件運(yùn)行狀態(tài)參數(shù)中的任意一項或多項數(shù)據(jù)導(dǎo)出。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的機(jī)柜，其特征在于， 所述服務(wù)器也可以為信息通信設(shè)備中的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備。
【文檔編號】G06F11/22GK103678069SQ201310718900
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月23日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月23日
【發(fā)明者】張林鋒, 崔文盈, 歐陽述嘉, 劉軍, 朱洪斌, 王寧, 藏有為, 張亞雄, 宋文婷, 谷小爽, 謝飛 申請人:國家電網(wǎng)公司信息通信分公司, 國家電網(wǎng)公司