本發(fā)明涉及巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析,特別是涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法與系統(tǒng)。
背景技術(shù):
1、巖體的基本特征主要是由巖石的堅(jiān)硬程度和結(jié)構(gòu)面特征控制,而且?guī)r體的完整程度主要取決于不連續(xù)面和結(jié)構(gòu)面的成因、規(guī)模、分布特征等。巖體的結(jié)構(gòu)面主要指斷層層面、節(jié)理裂隙、片理和層理等各種力學(xué)成因的破裂面,是巖體中力學(xué)強(qiáng)度相對(duì)薄弱的部位,因此,結(jié)構(gòu)面的存在使巖體力學(xué)性能具有不連續(xù)性、不均勻性和各向異性,巖體的結(jié)構(gòu)特征對(duì)巖體在一定荷載條件下的變形破壞方式和強(qiáng)度特征起著重要的控制與決定性作用。結(jié)構(gòu)面的發(fā)育方向、長度、張開度、規(guī)模及密度較為復(fù)雜,其空間分布具有很強(qiáng)的隨機(jī)性、各向異性與隱蔽性;結(jié)構(gòu)面的產(chǎn)狀對(duì)邊坡的設(shè)計(jì)支護(hù)具有重要意義,如何準(zhǔn)確的生成巖體的裂隙對(duì)應(yīng)的結(jié)構(gòu)面,成為亟待解決的技術(shù)問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、針對(duì)上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:
2、根據(jù)本申請(qǐng)的第一方面,提供了一種基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,所述方法包括以下步驟:
3、h100,獲取巖體的主干裂隙對(duì)應(yīng)的初始裂隙結(jié)構(gòu)面wa;其中,wa根據(jù)巖體的主干裂隙對(duì)應(yīng)的裂隙圖像生成。
4、h200,獲取wa的傾斜角度θ。
5、h300,獲取裂隙圖像中主干裂隙對(duì)應(yīng)的曲線的最高點(diǎn)g1和最低點(diǎn)g2;其中,g1=(g1,x,g1,y);g2=(g2,x,g2,y);g1,x和g1,y分別為g1的x軸坐標(biāo)和y軸坐標(biāo),g2,x和g2,y分別為g2的x軸坐標(biāo)和y軸坐標(biāo)。
6、h400,根據(jù)g1和g2,確定主干裂隙的傾斜角度γ=arctan(|g1,y-g2,y|/|g1,x-g2,x|)。
7、h500,若|θ-γ|<gy,則確定wa無需調(diào)整;否則,獲取主干裂隙對(duì)應(yīng)的曲線上預(yù)設(shè)的每一指定點(diǎn),以得到指定點(diǎn)列表e=(e1,e2,…,ep,…,eq),p=1,2,…,q;其中,ep=為獲取到的主干裂隙對(duì)應(yīng)的曲線上預(yù)設(shè)的第p個(gè)指定點(diǎn),q為主干裂隙對(duì)應(yīng)的曲線上預(yù)設(shè)的指定點(diǎn)的數(shù)量;gy為預(yù)設(shè)的傾斜角度差值閾值。
8、h600,根據(jù)e和wa,對(duì)wa進(jìn)行調(diào)整,以得到目標(biāo)裂隙結(jié)構(gòu)面,并對(duì)目標(biāo)裂隙結(jié)構(gòu)面進(jìn)行分析。
9、根據(jù)本申請(qǐng)的另一方面,還提供了基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:存儲(chǔ)介質(zhì)和處理器;其中,所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有至少一條指令或至少一段程序,所述至少一條指令或所述至少一段程序由處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如第一方面所述的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法。
10、本發(fā)明至少具有以下有益效果:
11、本發(fā)明的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,獲取巖體的主干裂隙對(duì)應(yīng)的初始裂隙結(jié)構(gòu)面wa;獲取wa的傾斜角度θ;獲取裂隙圖像中主干裂隙對(duì)應(yīng)的曲線的最高點(diǎn)g1和最低點(diǎn)g2;根據(jù)g1和g2,確定主干裂隙的傾斜角度γ;若|θ-γ|<gy,則確定wa無需調(diào)整;否則,獲取主干裂隙對(duì)應(yīng)的曲線上預(yù)設(shè)的每一指定點(diǎn),以得到指定點(diǎn)列表e;根據(jù)e和wa,對(duì)wa進(jìn)行調(diào)整,以得到目標(biāo)裂隙結(jié)構(gòu)面;通過本發(fā)明中方法得到的目標(biāo)裂隙結(jié)構(gòu)面,更加符合主干裂隙實(shí)際對(duì)應(yīng)的結(jié)構(gòu)面,使得生成的主干裂隙的結(jié)構(gòu)面更加準(zhǔn)確。
1.一種基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,其特征在于,步驟h600包括以下步驟:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,其特征在于,步驟h630包括以下步驟:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,其特征在于,在步驟h633之后,所述方法還包括以下步驟:
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,其特征在于,步驟h630還包括以下步驟:
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,其特征在于,步驟h630還包括以下步驟:
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法,其特征在于,α1<1,;α2>1。
8.一種基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括:存儲(chǔ)介質(zhì)和處理器;其中,所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有至少一條指令或至少一段程序,所述至少一條指令或所述至少一段程序由處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任意一項(xiàng)所述的基于深度學(xué)習(xí)的巖體結(jié)構(gòu)面測(cè)試分析方法。