專利名稱：顯示屏檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢查顯示屏的方法。更具體地說，本發(fā)明涉及一種顯示屏檢查方法，用以自動地判定流水線中關(guān)于檢查顯示裝置中的點缺陷以及諸如此類缺陷的檢查結(jié)果的一致性，顯示裝置用于電子設(shè)備以及其它領(lǐng)域，比如液晶面板，蔭罩，CRT面板、和等離子體顯示裝置。
作為一種用來閱讀顯示于顯示裝置上的屏幕的方法，已提供的一種主要的方法是采用CCD面?zhèn)鞲衅?，它們是二維傳感器。
通常，二維傳感器中縱橫排列的像素與顯示裝置中縱橫排列的像素是相關(guān)的(在下文中，除非有其它定義，顯示裝置的像素將被稱作“顯示像素”，而傳感器的像素將被稱作“傳感器像素”)，這里像素分布是許多傳感器像素與一個顯示像素有關(guān)。
這可以通過舉一個由640×640個像素組成的液晶面板顯示裝置的例子來說明。一個液晶面板包括像素的顯示工作區(qū)和顯示非工作區(qū)。在對這些顯示工作區(qū)進行的動態(tài)工作檢查中，可把點缺陷分為暗點和亮點；暗點是一組將在液晶面板的顯示狀態(tài)下不進行顯示的顯示像素(盡管它們原有成為顯示工作區(qū)的意向)；而亮點是一細將在狀態(tài)下進行顯示的顯示像素(盡管它們原有成為顯示非工作區(qū)的意向)。例如，在為此所作的自動檢查中，當(dāng)三個傳感器像素被指定為一個顯示像素時，在行方向上就需要將近2000個像素。
作為該傳統(tǒng)方法的一個例子，己被采用的一種方法是，其中圖像在CCD表面上的聚焦位置由于預(yù)先移動CCD面?zhèn)鞲衅鞯耐哥R系統(tǒng)而改變，從而就不會產(chǎn)生顯示裝置的顯示工作區(qū)和顯示非工作區(qū)之間的對比度差。在下文中，把圖像在CCD表面聚焦的狀態(tài)稱為“聚焦?fàn)顟B(tài)”，而把圖像不能聚焦的狀態(tài)稱為“散焦?fàn)顟B(tài)”。
現(xiàn)在假設(shè)有如

圖10A所示的一個顯示像素100。假設(shè)如圖10A所示的一個暗點缺陷101出現(xiàn)在該顯示像素100上。圖10B表示了十個顯示工作區(qū)上散焦?fàn)顟B(tài)下的密度分布數(shù)據(jù)，這十個顯示工作區(qū)位于顯示像素100的一個一維基準(zhǔn)線102上，顯示工作區(qū)103和顯示非工作區(qū)104屬于它們中的一部分。而且，暗點缺陷101出現(xiàn)在該密度分布數(shù)據(jù)中。圖10C表示了顯示像素100的散焦?fàn)顟B(tài)下的密度分布數(shù)據(jù)，其中在本底密度106中存在一個暗點缺陷區(qū)105(暗點缺陷101的散焦?fàn)顟B(tài))。該本底密度106是顯示工作區(qū)103和顯示非工作區(qū)104的散焦?fàn)顟B(tài)部分。該傳統(tǒng)方法作為一個很有效的方法常被用來檢查大量的點缺陷。顯示工作區(qū)與顯示非工作區(qū)之間在這種情況下的對比度差在這里是指己接收光線的傳感器像素的對比度差。
但是，前述傳統(tǒng)方法具有以下問題。
如上所述形成散焦?fàn)顟B(tài)會導(dǎo)致點缺陷區(qū)和正常區(qū)之間的對比度差減小，這樣該方法就對少量的點缺陷缺乏足夠的檢查能力。換言之，在顯示裝置的顯示工作區(qū)和顯示非工作區(qū)之間的對比度差消失前形成散焦?fàn)顟B(tài)會造成少量點缺陷的對比度差消失。因此，傳統(tǒng)的方法具有不能檢查少量點缺陷的缺點。
有些情況下，必須對顯示裝置的一個顯示工作區(qū)的位置是否正常作出判定。但是，如前所述，散焦?fàn)顟B(tài)的形成會使判定顯示工作區(qū)的準(zhǔn)確位置應(yīng)當(dāng)在哪里變得困難。
其它情況下，必須對顯示裝置的一個顯示工作區(qū)的大小是否正常作出判定。但是，如前所述，散焦?fàn)顟B(tài)的形成會使判定顯示工作區(qū)的正常尺寸應(yīng)當(dāng)是怎樣的變得困難。
為解決上述問題，本發(fā)明的目的在于提供一種顯示屏檢查方法，該方法不再需要形成散焦?fàn)顟B(tài)，并能快速地檢查顯示屏的工作區(qū)而無需任何復(fù)雜的處理算法。
為達到這些和其它方面的目的，根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供一種顯示屏檢查方法，它將顯示裝置的顯示屏作為檢查對象并對該顯示屏的缺陷作出判定，該方法包括對存在于該灰度圖像中的檢查對象的顯示工作區(qū)與顯示非工作區(qū)之間的灰度圖像的各個像素的圖像數(shù)據(jù)進行分離，該灰度圖像是通過攝取檢查對象的一個圖像獲得的；只選擇性提取準(zhǔn)確的顯示工作區(qū)的圖像數(shù)據(jù)并壓縮該圖像數(shù)據(jù)以為檢查缺陷用；以及針對任何缺陷檢查該選擇性地提取的圖像數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種根據(jù)第一方面的顯示屏檢查方法，其中在選擇性提取時，每一個顯示工作區(qū)的位置都是由下面這樣一個像素給定的，即該像素表示灰度圖像密度數(shù)據(jù)中的一個密度數(shù)據(jù)峰值，由該峰值數(shù)據(jù)及其周圍的像素的密度數(shù)據(jù)計算出的結(jié)果值被當(dāng)作該顯示工作區(qū)的典型密度數(shù)據(jù)，并且基于顯示工作區(qū)的位置和該典型密度數(shù)據(jù)這二者，就可以有選擇性地提取準(zhǔn)確的顯示工作區(qū)的圖像數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的第三方面，提供一種根據(jù)第二方面的顯示屏檢查方法，其中在選擇性地提取時，為獲得該顯示工作區(qū)的位置和該典型密度數(shù)據(jù)，即使密度數(shù)據(jù)的峰值并不存在，也從該顯示工作區(qū)應(yīng)當(dāng)出現(xiàn)的位置之前與之后的顯示工作區(qū)的密度數(shù)據(jù)中選擇性提取該位置的密度數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的第四方面，提供一種根據(jù)第一到第三方面中的任何一個方面的顯示屏檢查方法，其中在選擇性提取時，每一個顯示工作區(qū)的位置都是由下面這樣一個像素給定的，即該像素表示灰色圖像密度數(shù)據(jù)中的一個密度數(shù)據(jù)峰值，并且把由該峰值密度數(shù)據(jù)及其周圍的像素的密度數(shù)據(jù)計算出的結(jié)果值當(dāng)作該顯示工作區(qū)的典型密度數(shù)據(jù)，而且其中在檢查時，通過檢查這樣一個區(qū)來檢查任何峰值區(qū)的移動，該區(qū)在該峰值之前與之后具有與密度數(shù)據(jù)峰值的位置數(shù)據(jù)不同的顯示工作區(qū)的位置數(shù)據(jù)間隔。
根據(jù)本發(fā)明的第五方面，提供一種根據(jù)第一到第四方面中任何一個方面的顯示屏檢查方法，其中在選擇性地提取時，每一個顯示工作區(qū)的位置都是由這樣一個像素給定的，該像素表示灰度圖像密度數(shù)據(jù)的一個密度數(shù)據(jù)峰值，把由該峰值密度數(shù)據(jù)及其周圍的像素的密度數(shù)據(jù)計算出的結(jié)果值當(dāng)作該顯示工作區(qū)的典型密度數(shù)據(jù)，而且其中在檢查時，通過對一些超過一個參考密度的多個密度數(shù)據(jù)計數(shù)，來判定是否存顯示工作區(qū)的面積大小缺陷，所述參考密度是由峰值周圍像素的密度數(shù)據(jù)中的典型密度數(shù)據(jù)計算出的。
采用了本發(fā)明的上述結(jié)構(gòu)，就會產(chǎn)生以下有效的作用。
在分離過程中，通過攝取檢查對象的一個圖象獲得灰度圖像，根據(jù)該灰度圖像的各個像素的密度數(shù)據(jù)，將存在于灰度圖像中的檢查對象的顯示工作區(qū)和顯示非工作區(qū)相互。在選擇性提取過程中，僅選擇性提取合適的顯示工作區(qū)的圖像數(shù)據(jù)，并且將檢查缺陷用的圖像數(shù)據(jù)壓縮。接著，在檢查過程中，使選擇性提取的圖像數(shù)據(jù)經(jīng)受缺陷檢查過程。因此，就能在聚焦?fàn)顟B(tài)下開始檢查而無需形成散焦?fàn)顟B(tài)，從而可以通過攝像裝置(比如說傳感器像素)來接收光線，而不會丟失少量點缺陷的密度數(shù)據(jù)。
此外，按常規(guī)，就會有這樣的情況，即在進行顯示屏檢查過程中，圖像處理存儲空間被分在顯示工作區(qū)和顯示非工作區(qū)，并且對整個空間的密度數(shù)據(jù)都要完成這一處理過程。但是，就本發(fā)明的顯示屏檢查方法來說，因為選擇性是取的僅是相應(yīng)于顯示裝置中顯示像素的顯示工作區(qū)的密度數(shù)據(jù)，所以在實際檢查過程中所要處理的密度數(shù)據(jù)量就會減小到非常小的一個值。因此，當(dāng)然就會取得大大減少處理時間的效果。
還有，根據(jù)本發(fā)明，可以判定顯示裝置的顯示工作區(qū)的位置是否正常，或者顯示裝置的顯示工作區(qū)的大小是否正常。
以下結(jié)合優(yōu)選實施例、參照其附圖進行的描述將使本發(fā)明的這些以及其它方式和特點變得清楚。
圖1是一個顯示屏檢查設(shè)備的原理圖，該設(shè)備用來實施本發(fā)明的第一個實施例中采用的顯示屏檢查方法；圖2是用于本發(fā)明的第一個實施例的設(shè)備的處理電路方框圖；圖3A和3B表示了顯示像素和傳感器像素之間的相對位置關(guān)系；圖4表示了傳感器像素的一維密度數(shù)據(jù)；圖5表示了傳感器像素中無峰值存在時的一維密度數(shù)據(jù)；圖6表示了具有峰值密度的傳感器像素之前和之后的密度分布；圖7表示了傳感器像素捕獲的顯示像素的像素間隔，用以說明根據(jù)本發(fā)明的第二個實施例的顯示屏檢查方法；圖8表示了分在二維擴展顯示像素的傳感器像素，用以說明根據(jù)本發(fā)明的第三個實施例的顯示屏檢查方法；圖9表示了當(dāng)它們疊加在一起時壓縮之前和之后的圖像；圖10A表示了一個顯示像素；而圖10B和10C分別表示了聚焦?fàn)顟B(tài)下和散焦?fàn)顟B(tài)下的密度數(shù)據(jù)的分布。
在描述本發(fā)明的過程之前，應(yīng)注意到在所有的附圖中，相同的參考數(shù)字代表相同的部分。
以下，將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例進行描述。
在根據(jù)本發(fā)明的第一個實施例的顯示屏檢查方法中，把一個液晶顯示(LCD)用作顯示裝置的一個例子，而把CCD面?zhèn)鞲衅饔米鲾z像裝置的一個例子。
顯示裝置、CCD面?zhèn)鞲衅骱蛨D像存儲器具有一個展開的正交二維空間。但是，用二維展開空間來作解釋會徒增復(fù)雜性，妨礙理解，而用二維空間中任一維來理解都會容易地推廣到對二維空間的理解。所以，這里用一維來作解釋。而且，由于顯示裝置和CCD面?zhèn)鞲衅魇怯筛呔鹊墓饪谭ㄖ圃斓?，所以可以假設(shè)顯示像素的間距和CCD面?zhèn)鞲衅鞯膫鞲衅飨袼氐拈g距甚至在對象改變的情況下，它們的預(yù)定設(shè)計數(shù)據(jù)仍將保持。就此，還可以假設(shè)因光學(xué)系統(tǒng)而產(chǎn)生的部分失真或模糊或類似情況的影響可以忽略。
這里，把顯示裝置發(fā)出的光的強度稱作“光強”。用任意單位表示的光強、經(jīng)顯示裝置的各個像素發(fā)射的每單位面積的光強、顯示像素的整個范圍內(nèi)集中的光強、以及在傳感器像素的受光表面形成的像素圖像的每單位面積的光強，全都表示為“光強”。
圖1是根據(jù)本發(fā)明第一個實施例的顯示屏檢查裝置的原理圖。顯示裝置1是檢查對象，它被置于檢查臺2上，通過一個已知的方法檢測顯示裝置1的對準(zhǔn)標(biāo)記，從而使顯示裝置1和檢查臺2之間達到正確對準(zhǔn)。通過這個對準(zhǔn)過程，具有攝像裝置的檢查攝像機3和顯示裝置1之間的位置關(guān)系通常保持恒定。特別是，任何二維旋轉(zhuǎn)移動總是能通過該對準(zhǔn)來解決。此外，甚至存在任何旋轉(zhuǎn)移動，也能經(jīng)圖像旋轉(zhuǎn)過程通過確定檢查對象的周圍顯示區(qū)(周圍的顯示像素)的位置準(zhǔn)確地調(diào)整檢驗對象的旋轉(zhuǎn)角。
把來自檢查攝像機3中攝像裝置的傳感器像素的圖像數(shù)據(jù)與傳感器像素按一一對應(yīng)的關(guān)系關(guān)聯(lián)起來，并傳送到計算機4的圖像存儲器5中。無需說明，在計算機4中存有閱讀該圖像存儲器5的圖像數(shù)據(jù)的程序和對缺陷進行規(guī)定處理的程序，例如，在一個典型的點缺陷處理的檢查中，圖像處理的算法作為程序存儲在計算機4中，該算法在待檢查的點的圖像數(shù)據(jù)與該點周圍的圖像數(shù)據(jù)之間作出比較，如果存在一個像素，其圖像數(shù)據(jù)的密度水平極低于其周圍像素的那些數(shù)據(jù)的密度水平，那么該像素被判定為暗點，而如果存在一個像素，其圖像數(shù)據(jù)的密度水平極高于其周圍的那些像素地數(shù)據(jù)的密度水平，那么該像素被判定為亮點。還有，在線缺陷處理的檢查中，任何區(qū)中的亮點或暗點若在行或列的方向上連續(xù)，則該區(qū)被判定為亮線或暗線。
圖2表示了一個為實現(xiàn)本發(fā)明的上述實施例的處理電路方框圖。該處理電路位于圖1所示設(shè)備的計算機4中。首先，把由攝像裝置檢查攝像機3得到的圖像數(shù)據(jù)通過一個圖像輸入電路401存入到計算機中。然后，通過一個將在下文描述的壓縮處理電路402從所存儲的圖像數(shù)據(jù)中提取所需的圖像數(shù)據(jù)，并使其經(jīng)受一個壓縮過程。最后，被壓縮的圖像數(shù)據(jù)由預(yù)先存儲到計算機4中的程序進行處理，以便用一個檢查處理電路403來啟動圖像處理算法。
圖3A和3B示出了一個顯示像素圖像的光強分布50與顯示像素圖像區(qū)60的位置關(guān)系。圖中，還示出了一個傳感器像素區(qū)70與它們的位置關(guān)系。就此，圖3A和3B給出了兩個例子。即，圖3A表示了傳感器像素區(qū)70的中心位于光強分布50的峰值位置的情況，圖3B表示了傳感器像素區(qū)70的中心距光強分布50的峰值位置X遠處的情況。由傳感器像素接收的光的強度是把光強對該傳感器像素的有效區(qū)進行積分得到的值，因此即是圖中陰影部分80表示的數(shù)。一個顯示裝置的光強分布通常會在顯示像素的中心部位有一個峰值，并且光強由此向末端部位減小。當(dāng)然，顯示像素的中心和傳感器像素之間離得越近，傳感器像素接收到的光的強度就變得越大。在圖3A和3B的例子中，受顯示像素圖像區(qū)60影響的傳感器像素最多為3個。即，顯示像素圖像區(qū)60的光強能夠通過對相應(yīng)的傳感器像素的光強求積分來確定。在本實施例中，己預(yù)先對與顯示像素有關(guān)的指定傳感器像素的最大數(shù)目進行了確定。
圖4表示了從一維擴展的二十個傳感器像素70獲得的圖像存儲器上的密度數(shù)據(jù)71。通過圖10B所示的壓縮處理電路402，從密度數(shù)據(jù)71中對密度數(shù)據(jù)的大值與小值進行迭代排列，通過該電路還可以對顯示像素存在的部位和非顯示像素存在的部位作出判定。依據(jù)光學(xué)放大倍數(shù)，可以確定峰值區(qū)的參考傳感器像素間隔Pstd。如圖4所示，大約為3.3個像素。當(dāng)檢查對象無缺陷時，峰值區(qū)按該參考傳感器像素間隔Pstd重復(fù)出現(xiàn)。為了檢查應(yīng)當(dāng)出現(xiàn)峰值區(qū)卻未出現(xiàn)峰值區(qū)的部位的密度數(shù)據(jù)，下面給出判別值，如果判別值的條件不滿足，就執(zhí)行壓縮轉(zhuǎn)換過程。假設(shè)這些判別值為一個參考間隔下限比D和一個參考間隔上限比U。根據(jù)經(jīng)驗，實際處理中采用的D值的近似值為0.5和U值的近似值為1.5?；诖嗽O(shè)定，參考間隔下限閾值Dthr和參考間隔上限閾值Uthr如下表示，后的判定是基于對峰值區(qū)之間所確定的間隔P來作出的
Dthr＝Pstd×DUthr＝Pstd×U………………………(1)1)如果P＜Dthr，則與P相關(guān)的出自峰值區(qū)的小密度數(shù)據(jù)區(qū)就從峰值區(qū)中排除掉；2)如果P＞Uthr則在間隔P中取出數(shù)量為(P/Pstd)的、與Pstd符合的那些位置的密度數(shù)據(jù)。
就圖4來說，從這些等式中確定的Dthr約為1.7個像素而Uthr約為5.0個像素。情況1)是指對峰值區(qū)的極小間隔的壓縮轉(zhuǎn)換處理方法，情況2)是指對峰值區(qū)的極大間隔的壓縮轉(zhuǎn)換處理方法。根據(jù)密度數(shù)據(jù)71，將峰值區(qū)依A、B、C、D(＝D1)、E、的順序進行檢查。在此，峰值區(qū)A、B、C、D(＝D1)、E、F的間隔滿足Dthr和Uthr的條件。如先前已證實的受顯示像素圖像區(qū)60影響的傳感器像素的最大數(shù)目為3個，所以關(guān)于顯示像素61到66的典型密度數(shù)據(jù)就由組成峰值密度數(shù)據(jù)的三個像素以及該峰值密度數(shù)據(jù)之前和之后的兩個像素的平均密度值所給定。而且，雖然峰值區(qū)的像素位置當(dāng)它無任何問題時可能被當(dāng)作峰值區(qū)的位置，但是以下對峰值區(qū)的位置的確定更為準(zhǔn)確。如圖6所示，以峰值區(qū)A為例，假設(shè)峰值區(qū)A以及峰值區(qū)A之前和之后的部位的密度數(shù)據(jù)分別為gA-1、gA、gA+1，并且假設(shè)對應(yīng)于這些密度數(shù)據(jù)的傳感器像素的位置分別為PA-1、PA、PA+1，那么，從如下這三個像素的加數(shù)平均值就能夠確定該顯示像素的位置(gA-1×PA-1+gA×PA+gA+1×PA+1)/(gA-1+gA+gA+1)……(2)其中當(dāng)涉及相鄰近部位相同的密度數(shù)據(jù)(如D)時，就預(yù)先判定采用第一和第2像素中的哪一個。這里，把計有二十的傳感器像素壓縮轉(zhuǎn)換為如圖4中所示的六塊顯示像素的典型密度數(shù)據(jù)。
有些情況下峰值區(qū)不出現(xiàn)在預(yù)先確定的位置。在這些情況下，前述峰值區(qū)的間隔P超過了Uthr。例如，如果峰值區(qū)應(yīng)當(dāng)出現(xiàn)在有3或4個像素的間隔處，并且如果一峰值區(qū)未出現(xiàn)在大約比該間隔大1.5倍的間隔處，那么在一個峰值區(qū)應(yīng)出現(xiàn)的位置上及其周圍的三個像素的密度數(shù)據(jù)的平均值，就被迫作為典型密度數(shù)據(jù)存儲在該位置上。
圖5示出了一個例子，其中在應(yīng)出現(xiàn)峰值區(qū)的位置上缺少一個峰值區(qū)，而根據(jù)這一個峰值區(qū)之前和之后的兩個峰值區(qū)將這一個峰值區(qū)補上。此外，“●”標(biāo)記的部位為像素200，峰值區(qū)應(yīng)出現(xiàn)在這里。
最后，通過檢查處理電路403，將缺陷處理的圖像算法用于壓縮轉(zhuǎn)換的圖像。因此，在典型的點缺陷處理檢查中，在一個像素的圖像密度數(shù)據(jù)和該像素周圍的的像素密度數(shù)據(jù)之間作出比較，如果其中存在有一個像素，其密度數(shù)據(jù)極小于其周圍像素的那些密度數(shù)據(jù)中的每一個，則判定該像素為暗點，而當(dāng)一個像素的密度數(shù)據(jù)極大于其圓周像素的那些密度數(shù)據(jù)中的每一個時，則判定該像素為亮點。
接著，參照圖7來描述根據(jù)本發(fā)明的第二個實施例的顯示屏檢查方法，在這種情況下，通過參照傳感器像素上一個顯示像素的確定的位置就能夠檢查峰值區(qū)的移動。
圖7表示了顯示像素陣列L-1、L、L+1，其中有顯示工作區(qū)存在?！啊稹睒?biāo)記的部分為顯示橡素的中心，它是經(jīng)上述計算確定的密度數(shù)據(jù)的峰值區(qū)。傳感器像素出現(xiàn)在“·”標(biāo)記區(qū)，比如83，具有等間隔。如圖所示，如果該基準(zhǔn)傳感器像素間隔Pstd大約為4個像素，那么可以確認(rèn)，在給出正常峰值區(qū)間隔82的圖7中，在80、81處存在非正常間隔。也可以通過對一個目標(biāo)峰值區(qū)之上與之下的峰值區(qū)的位置比較來實現(xiàn)對這些非正常間隔的檢查。關(guān)于峰值區(qū)85(它是一個非正常位置)，先確認(rèn)處在該峰值區(qū)85之上與之下的顯示像素陣列L-1、L-、L+1，隨后根據(jù)峰值區(qū)86、87的位置來測定顯示像素陣列L-1、L、L+1的位置差。如果這些差的每一個都超過一個規(guī)定的閾值間隔，那么就將目標(biāo)峰值區(qū)判定為造成非正常間隔出現(xiàn)的部分。
接著，參照圖8對根據(jù)本發(fā)明的第三個實施例的顯示屏檢查方法作出描述。在這種情況下，能夠估算顯示像素的大小。
圖8示出了己按二維方式展開的部分顯示像素。標(biāo)記“○”代表了一個被當(dāng)作顯示工作區(qū)的傳感器像素，而標(biāo)記“●”代表了該顯示工作區(qū)中具有峰值密度數(shù)據(jù)的一個傳感器像素。在這種情況下，用一個標(biāo)準(zhǔn)方法將十三個傳感器像素定為一個顯示像素。依經(jīng)驗判定，當(dāng)用一個標(biāo)準(zhǔn)方法將十個或更多的傳感器像素定為一個顯示像素時，計算出具有高于某比率的密度數(shù)據(jù)且出現(xiàn)在峰值密度數(shù)據(jù)周圍的傳感器像素的數(shù)目使得對顯示像素大小的判定成為可能。對于壓縮轉(zhuǎn)換的圖像進行的點缺陷處理的檢查以及對被辨明為顯示工作區(qū)的傳感器像素數(shù)目的估算，增強了缺陷處理的效能。例如在圖8中，假設(shè)如果傳感器像素的數(shù)目為十一或更少，那么顯示像素的尺寸就太??；如果傳感器像素的數(shù)目為十五或更多，那么顯示像素的尺寸就太大；而如果傳感器像素的數(shù)目為十二至十四，那么顯示像素的尺寸是正常的。由此，在圖8中，數(shù)字90是指傳感器像素的數(shù)目小到十一，數(shù)字91是指傳感器像素的數(shù)目大到十五，數(shù)字92是指十三個傳感器像素的標(biāo)準(zhǔn)部分。
在根據(jù)本發(fā)明的第一到第三個實施例的顯示屏檢查方法中，由于所選取的僅是顯示屏的顯示工作區(qū)的像素數(shù)據(jù)，所以就只會對所需部分的數(shù)據(jù)產(chǎn)生壓縮的效果。
例如，當(dāng)在顯示屏的水平方向上將三個傳感器像素定為顯示像素的一個像素間距時，在水平方向上的壓縮效果為1/3。當(dāng)同樣也在垂直方向上獲得1/3的壓縮效果時，整個就能獲得1/9的壓縮效果。圖9表示了在本發(fā)明的一個實施例的應(yīng)用中的一個例子，其中將包含亮線缺陷的檢查對象的未壓縮圖像400和它的壓縮圖像(見左上角的一個小方塊圖像401)疊加在一起。在水平和垂直的兩個方向上都實現(xiàn)了約1/3的壓縮。
例如，當(dāng)一個被捕獲的圖像具有一個2000×2000的圖像存儲空間時，那么1/9被壓縮的圖像就變成一個大約660×660的圖像存儲空間。無需指出，因為根據(jù)處理數(shù)據(jù)的數(shù)量處理時間是不同的，所以對處理時間上的縮減產(chǎn)生大影響。更進一步地，把顯示像素的顯示工作區(qū)和顯示非工作區(qū)相互分離，使得捕獲亮度中的細微變化成為可能。通常，由于亮度的判定己在顯示工作區(qū)和顯示非工作區(qū)被混和在一起的情況下完成，所以顯示非工作區(qū)就會影響顯示工作區(qū)從而不可能捕獲亮度中的細微變化。
根據(jù)本發(fā)明的第二個實施例，可以提取顯示裝置的顯示工作區(qū)的位置間隔，從而可以確定任何非正常位置的操作情況。例如，讓我們以一個彩色液晶面板為例。在彩色液晶面板中，紅色、綠色和藍色按順序并按規(guī)則形成在彩色濾光片上。在正常的液晶面板中，對于紅色作用，光線只透過紅色部分的液晶元件。但是，在存在缺陷的液晶面板中，就會發(fā)生應(yīng)是紅色點亮但卻是它鄰近的綠色點亮的一些情況。對于本發(fā)明，可以通過判定顯示工作區(qū)的位置間隔來識別這些缺陷。
在有些CRT面板中，存在顯示工作區(qū)的大小發(fā)生變化的缺陷。這是指存在諸如大孔或者小孔。根據(jù)本發(fā)明的第三個實施例，可以通過判定顯示工作區(qū)的大小來識別這些缺陷。
因此，本發(fā)明是一個通用的方法，它能廣泛地用于各種類型顯示裝置的顯示屏的檢查中。
于1996年6月28日提出的日本專利申請8-69782的全部公開內(nèi)容，包括說明書、權(quán)利要求書、附圖以及摘要在此被合并在一起而作為一個整體供參考。
雖然結(jié)合優(yōu)選實施例并參照其相應(yīng)的附圖對本發(fā)明作了完全的描述，但是須注意，這些變換與修改對本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員來說是顯而易見的。這些變換與修改將被理解為包括在由所附的權(quán)利要求書限定的本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)，別無例外。
權(quán)利要求
1.一種顯示屏檢查方法，它將顯示裝置的顯示屏作為檢查對象并對該顯示屏的缺陷作出判定，該方法包括在存在于一灰度圖像中的檢查對象的顯示工作區(qū)與顯示非工作區(qū)之間進行灰度圖像的各個像素的圖像數(shù)據(jù)分離，該灰色圖像是通過攝取檢查對象的一個圖像獲得的；選擇性地僅提取適合顯示工作區(qū)的圖像數(shù)據(jù)并壓縮要檢查缺陷的圖像數(shù)據(jù)；以及檢查選擇性提取的圖像數(shù)據(jù)有無任何缺陷。
2.一種根據(jù)權(quán)利要求1的顯示屏檢查方法，其中在選擇性提取時，每一個顯示工作區(qū)的位置由這樣一個像素給定的，該像素表示一個出自灰度圖像密度數(shù)據(jù)的峰值，把由該峰值密度數(shù)據(jù)及其周圍的像素的密度數(shù)據(jù)計算出的結(jié)果值當(dāng)作該顯示工作區(qū)的典型密度數(shù)據(jù)，基于顯示工作區(qū)的位置和該典型密度數(shù)據(jù)這二者，就可以選擇性提取僅適合顯示工作區(qū)的圖像數(shù)據(jù)。
3.一種根據(jù)權(quán)利要求2的顯示屏檢查方法，其中在選擇性提取時，為獲得該顯示工作區(qū)的位置和該典型密度數(shù)據(jù)，即使密度數(shù)據(jù)的峰值并不存在，也從該顯示工作區(qū)應(yīng)當(dāng)出現(xiàn)的位置之前與之后的顯示工作區(qū)的密度數(shù)據(jù)中選擇性提取該位置的密度數(shù)據(jù)。
4.一種根據(jù)權(quán)利要求1至3中任何一個的顯示屏檢查方法，其中在選擇性提取時，每一個顯示工作區(qū)的位置是由這樣一個像素給定的，該像素表示出自灰度圖像密度數(shù)據(jù)的一個密度數(shù)據(jù)峰值，并且把由該峰值密度數(shù)據(jù)及其周圍的像素的密度數(shù)據(jù)計算出的結(jié)果值當(dāng)作該顯示工作區(qū)的典型密度數(shù)據(jù)，而且其中在檢查時，通過檢查一個區(qū)來檢查任何峰值區(qū)的移動，該區(qū)應(yīng)具有與密度數(shù)據(jù)峰值的位置數(shù)據(jù)不同的、在該峰值之前與之后的顯示工作區(qū)的位置數(shù)據(jù)間隔。
5.一種根據(jù)權(quán)利要求1至4中任何一個的顯示屏檢查方法，其中在選擇性提取時，每一個顯示工作區(qū)的位置是由一個像素給定的，該像素表示出自灰度圖像密度數(shù)據(jù)的一個密度數(shù)據(jù)峰值，由該峰值密度數(shù)據(jù)及其周圍的像素的密度數(shù)據(jù)計算出的結(jié)果值被當(dāng)作該顯示工作區(qū)的典型密度數(shù)據(jù)，而且其中在檢查時，通過對多個超過一個基準(zhǔn)密度的密度數(shù)據(jù)計數(shù)，來判定顯示工作區(qū)的一個面積大小中是否存在任何缺陷，所述參考密度是由出自峰值周圍像素的密度數(shù)據(jù)中的典型密度數(shù)據(jù)計算出的。
全文摘要
一個顯示屏檢查方法,它將一個顯示裝置的顯示屏作為檢查對象并對顯示屏的缺陷作出判定。該方法包括:在存在于該灰度圖像中的檢查對象的顯示工作區(qū)與顯示非工作區(qū)之間進行灰度圖象的各個像素的圖像數(shù)據(jù)分離,該灰度圖像是通過攝取檢查對象的一個圖像獲得的,選擇性提取僅適合顯示工作區(qū)的圖像數(shù)據(jù)并壓縮該圖像數(shù)據(jù)以為檢查缺陷用,以及檢查選擇性提取的圖像數(shù)據(jù)有無任何缺陷。
文檔編號G06T1/00GK1174394SQ9711711
公開日1998年2月25日 申請日期1997年6月27日 優(yōu)先權(quán)日1996年6月28日
發(fā)明者湯川典昭, 石井彰一, 植田秀司 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社