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      基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法

      文檔序號(hào):10512474閱讀:1098來(lái)源:國(guó)知局
      基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法
      【專(zhuān)利摘要】一種基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法,其特征是在每條掃描線上提取特征點(diǎn),使用特征點(diǎn)構(gòu)造直線或B樣條曲線來(lái)重構(gòu)邊界特征,特征點(diǎn)的提取包括鄰域搜索、測(cè)量點(diǎn)位置識(shí)別、直線擬合與求交三個(gè)步驟。在鄰域搜索中將點(diǎn)沿掃描線排序,使用B樣條曲線插值有序點(diǎn)集,通過(guò)曲率識(shí)別面上點(diǎn)和倒角點(diǎn),使用表面和側(cè)面上的點(diǎn)分別擬合直線,用直線的交點(diǎn)作為特征點(diǎn)。最后將特征點(diǎn)擬合為直線或B樣條曲線用于表達(dá)蒙皮的邊界特征。本發(fā)明能提高數(shù)控加工的精度和應(yīng)用程度,從而提高飛機(jī)蒙皮裝配效率和裝配質(zhì)量。
      【專(zhuān)利說(shuō)明】
      基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001] 本發(fā)明涉及一種飛機(jī)制造技術(shù),尤其是一種飛機(jī)蒙皮的制造方法,具體地說(shuō)是一 種基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 目前,在飛機(jī)制造領(lǐng)域,飛機(jī)蒙皮在裝配時(shí)需對(duì)邊界進(jìn)行手工修配,從而保證蒙皮 間的配合間隙在允許誤差范圍內(nèi),且蒙皮不具備互換性。產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因有:一是蒙皮 通過(guò)拉伸成形,其邊界切割依據(jù)為切割樣本,首先采用留余量粗切割,然后再留余量精修蒙 皮邊界;二是,為了實(shí)現(xiàn)蒙皮的精確高效切邊,飛機(jī)制造廠商采用了數(shù)控切邊工藝,即凈邊 制造工藝,但這種工藝目前普遍做法是僅將部分邊進(jìn)行無(wú)余量加工,剩余邊仍需留有小余 量;三是,飛機(jī)蒙皮中,復(fù)合材料的比重越來(lái)越大,復(fù)合材料尺寸穩(wěn)定性好,但其邊界一般不 做修配,金屬蒙皮與復(fù)材蒙皮配合時(shí),需通過(guò)修整自身邊界以完成與其的配合。
      [0003] 間隙在蒙皮裝配中是不容忽視的,間隙的存在嚴(yán)重影響飛機(jī)的氣動(dòng)外形和隱身性 能。為了解決飛機(jī)蒙皮裝配間隙,影響飛機(jī)氣動(dòng)外形和隱身性能的問(wèn)題,飛機(jī)制造廠商采用 未裝的蒙皮以裝好的蒙皮邊界為依據(jù)修配,金屬蒙皮以復(fù)材蒙皮邊界為依據(jù)修配,蒙皮數(shù) 控切邊時(shí)部分凈邊部分留小余量的裝配工藝。
      [0004] 凈邊制造工藝在一定程度上減少了蒙皮裝配時(shí)邊界的修配量,造成無(wú)法實(shí)現(xiàn)全邊 凈邊的重要原因是缺乏蒙皮實(shí)際邊界數(shù)據(jù),蒙皮實(shí)測(cè)邊界起著檢驗(yàn)和加工依據(jù)的作用:復(fù) 材蒙皮的實(shí)測(cè)邊界是與之相配的金屬蒙皮邊界的切割依據(jù);與通常的機(jī)加件不同,蒙皮的 薄壁結(jié)構(gòu)導(dǎo)致其在加工時(shí)易變形,在機(jī)檢測(cè)才能保證其加工精度。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005] 本發(fā)明的目的是針對(duì)目前蒙皮裝配時(shí)因缺乏蒙皮實(shí)際邊界數(shù)據(jù),無(wú)法實(shí)現(xiàn)全邊凈 邊加工而影響裝配質(zhì)量以及重構(gòu)效率不高的問(wèn)題,發(fā)明一種基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特 征重構(gòu)方法,為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)高效凈邊加工提供依據(jù)。
      [0006] 本發(fā)明的技術(shù)方案是:
      [0007] -種基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法,其特征在于它包括以下步驟:
      [0008] (1)通過(guò)測(cè)量得到蒙皮的掃描線點(diǎn)云;
      [0009] (2)在采樣點(diǎn)自身所在的掃描線上搜索其鄰近點(diǎn),得到其鄰域點(diǎn)集;
      [0010] (3)根據(jù)采樣點(diǎn)鄰域的幾何形狀參數(shù)確定采樣點(diǎn)位于面上還是邊界附近;
      [0011] (4)對(duì)邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理,使其與XY坐標(biāo)平面平行;
      [0012] (5)將邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域分為三部分,即表面點(diǎn)、側(cè)面點(diǎn)和倒角點(diǎn);
      [0013] (6)用表面和側(cè)面上點(diǎn)子集擬合兩條直線,并求取直線的交點(diǎn),將交點(diǎn)作為邊界特 征點(diǎn),并對(duì)特征點(diǎn)進(jìn)行姿態(tài)還原;
      [0014] (7)用特征點(diǎn)構(gòu)造直線或B樣條曲線,得到被測(cè)蒙皮的邊界。
      [0015] 所述步驟(2)中采樣點(diǎn)的鄰域搜索方法如下:
      [0016] (2-1)排除采樣點(diǎn)為掃描線的端點(diǎn),記到采樣點(diǎn)P歐式距離最小的兩點(diǎn)SPiiPPA 若?^7與^"的夾角小于設(shè)定的閾值θ。則認(rèn)定其為端點(diǎn);
      [0017] (2-2)對(duì)線內(nèi)點(diǎn),獨(dú)立搜索其左右兩側(cè)的鄰近點(diǎn),然后合并為鄰域,已知P和if則if 可按如下方法獲得:計(jì)算矸歐式距離^內(nèi)的全部點(diǎn),按距離從小到大依次取出APi,若^ 與?77的角度大于設(shè)定閾值θν,則點(diǎn) Pl即為巧。再用if和巧得枵,依次漸進(jìn)向前即可依次 搜索到點(diǎn)打,%…,仏,從而得到P右側(cè)鄰近點(diǎn)集;左側(cè)鄰近點(diǎn)集的獲取方法相同,拼接后 得到P的鄰域:
      [0019] (2-3)在兩側(cè)搜索過(guò)程中,當(dāng)最新得到的鄰近點(diǎn)到采樣點(diǎn)的距離大于等于r時(shí),即 結(jié)束該側(cè)的搜索,進(jìn)入另一側(cè)搜索或完成搜索。
      [0020] 本發(fā)明的鄰域搜索采用貪吃蛇模型,沿著左右兩個(gè)方向單向搜索,設(shè)計(jì)搜索模型 時(shí)考慮了數(shù)據(jù)間隔不均和存在跨越的情況。搜索過(guò)程本身就是以采樣點(diǎn)為中心,沿著掃描 線獲取鄰近點(diǎn),因此,搜索過(guò)程和排序過(guò)程是同時(shí)進(jìn)行的。所述步驟(2-2)中,當(dāng)掃描線上點(diǎn) 分布均勻性好時(shí),r s設(shè)置為2~3倍平均點(diǎn)間距即可,當(dāng)均勻性較差時(shí),將其設(shè)置為典型的最 大點(diǎn)間距。
      [0021] 所述步驟⑶中,計(jì)算采樣點(diǎn)P同其鄰域邊界點(diǎn)1%和々,構(gòu)成的向量巧和巧的 夾角,根據(jù)夾角是否小于閾值Θ來(lái)判斷采樣點(diǎn)是否位于蒙皮邊界處;
      [0022] 所述步驟(4)中數(shù)據(jù)預(yù)處理操作如下:
      [0023] (4-1)用鄰域點(diǎn)擬合掃描平面方程ax+by+cz+d = 0,式中a、b、c、d為常數(shù),所建立的 誤差目標(biāo)函數(shù)為:
      [0025]其中,N為鄰域中點(diǎn)的數(shù)目,cU為點(diǎn)到平面的投影距離土二|aXl+byi+ CZl+d| ;
      [0026] (4-2)利用公式k = Cn得到坐標(biāo)變換所需的旋轉(zhuǎn)矩陣C,其中1^=[0,0,1]7是2軸單 位方向向量,n=[a,b,c] 擬合得到的平面單位法矢;
      [0027] (4-3)按照公式U/,.v;,3;]T= C · [x,..m]T對(duì)鄰域點(diǎn)進(jìn)行旋轉(zhuǎn),其中,[Xi,yi,Zi]T為 原始坐標(biāo),[W. .V/', 」τ為旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo);
      [0028] (4-4)將旋轉(zhuǎn)后的點(diǎn)進(jìn)行投影,投影后的坐標(biāo)為[xf, ,
      。通 過(guò)位姿變換,將鄰域與XY坐標(biāo)平面對(duì)齊,從而將三維問(wèn)題轉(zhuǎn)化為平面二維問(wèn)題,簡(jiǎn)化了直線 擬合模型,降低了 B樣條擬合計(jì)算量。
      [0029]所述步驟(5)中按照如下方法將邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域劃分為三個(gè)子集:
      [0030] (5-1)采用三次非均勻B樣條曲線插值鄰域點(diǎn),利用規(guī)范積累弦長(zhǎng)參數(shù)化方法對(duì)型 值點(diǎn)進(jìn)行參數(shù)化,節(jié)點(diǎn)矢量u = [UQ,U1,…,un+k+i ]采用定義域兩端節(jié)點(diǎn)為k+1重的重節(jié)點(diǎn)端 點(diǎn)條件,即有UQ = U1 =…=Uk = 0和Un+l = Un+2=…=Un+k+l= 1,插值時(shí)的邊界條件為切矢條 件;
      [0031]
      計(jì)算型值點(diǎn)Pi曲率,其中rj(u)為樣條曲線在 參數(shù)U處的j階導(dǎo)矢;
      [0032] (5-3)依次從鄰域中取出點(diǎn),將其曲率值與設(shè)定曲率閾值做比較,若大于曲率閾值 貝1J為倒角點(diǎn),倒角點(diǎn)兩側(cè)的點(diǎn)即為表面點(diǎn)和側(cè)面點(diǎn)。用B樣條曲線的構(gòu)造可以采用插值和擬 合兩種方法,與擬合方法相比,插值方法的節(jié)點(diǎn)矢量計(jì)算簡(jiǎn)單,控制頂點(diǎn)通過(guò)求解線性方程 組得到。
      [0033] 所述步驟(6)采用如下方法獲取特征點(diǎn):
      [0034] (6-1)使用兩面上點(diǎn)子集擬合兩條直線,直線方程為ax+by+c = 0,建立的目標(biāo)誤差 函數(shù)為:
      [0036]其中N為鄰域中點(diǎn)的數(shù)目,cU為點(diǎn)到直線的投影距離土二|aXl+byi+c| ;
      [0037] (6-2)求取直線交點(diǎn),即該掃描線上的邊界特征點(diǎn),利用公式P = CT · Ps將得到的特 征點(diǎn)坐標(biāo)還原至測(cè)量坐標(biāo)系下,其中CT為矩陣C的轉(zhuǎn)置矩陣,PlPP分別為特征點(diǎn)還原前后的 坐標(biāo)。
      [0038] 本發(fā)明的有益效果:
      [0039] 本發(fā)明的基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法,用于獲取蒙皮的實(shí)際邊界。 蒙皮的實(shí)測(cè)邊界是數(shù)控切邊工藝的重要輸入信息,可提高數(shù)控加工的精度和應(yīng)用程度,從 而提高飛機(jī)蒙皮裝配效率和裝配質(zhì)量。該方法的整個(gè)過(guò)程通過(guò)計(jì)算機(jī)完成,采用非接觸式 測(cè)量的激光掃描儀獲取測(cè)量數(shù)據(jù),在測(cè)量過(guò)程中不接觸弱剛性的蒙皮,保障了測(cè)量可靠性。
      【附圖說(shuō)明】
      [0040] 圖1是本發(fā)明的方法流程圖。
      [0041]圖2是測(cè)量得到的掃描線點(diǎn)云。
      [0042]圖3是重構(gòu)得到的蒙皮邊界特征。
      【具體實(shí)施方式】
      [0043]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。
      [0044] 如圖1-3所示。
      [0045] -種基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法,包括以下步驟:
      [0046] (1)測(cè)量得到蒙皮的掃描線點(diǎn)云;
      [0047] (2)在采樣點(diǎn)自身所在的掃描線上搜索其鄰近點(diǎn),得到其鄰域點(diǎn)集;
      [0048] (3)根據(jù)采樣點(diǎn)鄰域的幾何形狀參數(shù)確定采樣點(diǎn)位于面上還是邊界附近;
      [0049] (4)對(duì)邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理,使其與XY坐標(biāo)平面平行;
      [0050] (5)將邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域分為三個(gè)子集,表面點(diǎn)、側(cè)面點(diǎn)和倒角點(diǎn);
      [0051] (6)用兩面上點(diǎn)子集擬合兩條直線,并求取直線的交點(diǎn),將交點(diǎn)作為邊界特征點(diǎn), 并對(duì)特征點(diǎn)進(jìn)行姿態(tài)還原;
      [0052] (7)用特征點(diǎn)構(gòu)造直線或B樣條曲線,得到被測(cè)蒙皮的邊界。
      [0053] 詳述如下:
      [0054]如圖1所示,本發(fā)明從掃描線點(diǎn)云中提取蒙皮邊界特征的操作流程主要為:首先, 使用激光掃描設(shè)備獲取得到蒙皮邊界的掃描線點(diǎn)云;然后搜索采樣點(diǎn)的鄰域;接著,根據(jù)采 樣點(diǎn)鄰域的幾何形狀參數(shù)確定采樣點(diǎn)位于面上還是邊界附近;對(duì)邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域進(jìn) 行數(shù)據(jù)預(yù)處理,使其與XY坐標(biāo)平面平行;接著用平面B樣條曲線插值通過(guò)鄰域點(diǎn),并計(jì)算各 點(diǎn)處的曲率;根據(jù)鄰域中點(diǎn)的曲率大小,將其分為三個(gè)子集,表面點(diǎn)、側(cè)面點(diǎn)和倒角點(diǎn);然后 用兩面上點(diǎn)子集擬合兩條直線,并求取直線的交點(diǎn);接著將交點(diǎn)還原,得到該條掃描線上的 特征點(diǎn);最后,用所得全部特征點(diǎn)構(gòu)造直線或B樣條曲線,從而得到被測(cè)蒙皮的邊界線。 [0055]圖2所示為蒙皮實(shí)驗(yàn)件的邊界掃描線點(diǎn)云,點(diǎn)間距和線間距為0.075mm和1.5mm,蒙 皮厚度為3mm。
      [0056] 所述步驟(2)中采樣點(diǎn)的鄰域搜索方法如下:
      [0057] (2-1)排除采樣點(diǎn)為掃描線的端點(diǎn),記到采樣點(diǎn)P歐式距離最小的兩點(diǎn)為if和秤, 若]^7與F/f的夾角小于設(shè)定的閾值Θ。則認(rèn)定其為端點(diǎn);
      [0058] (2-2)對(duì)線內(nèi)點(diǎn),獨(dú)立搜索其左右兩側(cè)的鄰近點(diǎn),然后合并為鄰域,已知P和if則if 可按如下方法獲得:計(jì)算<歐式距離r s內(nèi)的全部點(diǎn),按距離從小到大依次取出APi,若0 與的角度大于設(shè)定閾值θν,則點(diǎn)Pl即為再用/f和if得if,依次漸進(jìn)向前即可依次 搜索到點(diǎn)CW,…,仏,從而得到P右側(cè)鄰近點(diǎn)集。左側(cè)鄰近點(diǎn)集的獲取方法相同,拼接后 得到P的鄰域:
      [0059] R = Ψ^···,:Ρ^Ρ,Ρ[,···,Ρ%}
      [0060] (2-3)在兩側(cè)搜索過(guò)程中,當(dāng)最新得到的鄰近點(diǎn)到采樣點(diǎn)的距離大于等于r時(shí),即 結(jié)束該側(cè)的搜索,進(jìn)入另一側(cè)搜索或完成搜索。
      [0061 ] R-
      [0062] 在該實(shí)施例中,用于判斷采樣點(diǎn)是否為端點(diǎn)的角度閾值f =120°,兩側(cè)搜索時(shí)的 半徑:rs = 0.3mm,角度閾值θν = 45°,鄰域半徑r = 2mm。
      [0063] 所述步驟(3)中,計(jì)算采樣點(diǎn)P同其鄰域邊界點(diǎn)構(gòu)成的向量的 夾角,根據(jù)夾角是否小于閾值Θ來(lái)判斷采樣點(diǎn)是否位于蒙皮邊界處;
      [0064]在本實(shí)施例中,識(shí)別采樣點(diǎn)位置所用角度閾值θ = 110°。
      [0065] 所述步驟(4)中數(shù)據(jù)預(yù)處理操作如下:
      [0066] (4-1)用鄰域點(diǎn)擬合掃描平面方程ax+by+CZ+d = 0,所建立的誤差目標(biāo)函數(shù)為
      [0068]其中,N為鄰域中點(diǎn)的數(shù)目,cU為點(diǎn)到平面的投影距離土二|aXl+byi+ CZl+d|。
      [0069] (4-2)利用公式k = Cn得到坐標(biāo)變換所需的旋轉(zhuǎn)矩陣C,其中1^=[0,0,1]7是2軸單 位方向向量,n=[a,b,c] 擬合得到的平面單位法矢;
      [0070] (4_3)按照公式[Λ·;,.ν/,ζ;]τ=· C_ ' tui,:z;]T對(duì)鄰域點(diǎn)進(jìn)行旋轉(zhuǎn),其中,[Xi,yi,Zi] T為 原始坐標(biāo),[V. .V;'. z;'] τ為旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo);
      [0071] (4-4)將旋轉(zhuǎn)后的點(diǎn)進(jìn)行投影,投影后的坐標(biāo)為[W.vWF,其中:
      [0072]所述步驟(5)中按照如下方法將邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域劃分為三個(gè)子集:
      [0073] (5-1)采用三次非均勻B樣條曲線插值鄰域點(diǎn),利用規(guī)范積累弦長(zhǎng)參數(shù)化方法對(duì)型 值點(diǎn)進(jìn)行參數(shù)化,節(jié)點(diǎn)矢量u = [UQ,U1,…,un+k+i ]采用定義域兩端節(jié)點(diǎn)為k+1重的重節(jié)點(diǎn)端 點(diǎn)條件,即有UQ = U1 =…=Uk = 0和Un+l = Un+2=…=Un+k+l= 1,插值時(shí)的邊界條件為切矢條 件;
      [0074] 計(jì)算型值點(diǎn)Pi曲率,其中rj(u)為樣條曲線在 參數(shù)U處的j階導(dǎo)矢;
      [0075] (5-3)依次從鄰域中取出點(diǎn),將其曲率值與設(shè)定曲率閾值做比較,若大于曲率閾值 貝1J為倒角點(diǎn),倒角點(diǎn)兩側(cè)的點(diǎn)即為表面點(diǎn)和側(cè)面點(diǎn)。
      [0076] 所述步驟(6)采用如下方法獲取特征點(diǎn):
      [0077] (6-1)使用兩面上點(diǎn)子集擬合兩條直線,直線方程為ax+by+c = 0,建立的目標(biāo)誤差 函數(shù)為
      [0079]其中N為鄰域中點(diǎn)的數(shù)目,cU為點(diǎn)到直線的投影距離土二|aXl+byi+c| ;
      [0080] (6-2)求取直線交點(diǎn),即該掃描線上的邊界特征點(diǎn),利用公式P = CT · Ps將得到的特 征點(diǎn)坐標(biāo)還原至測(cè)量坐標(biāo)系下,其中C為旋轉(zhuǎn)矩陣,PlPP分別為特征點(diǎn)還原前后的坐標(biāo)。
      [0081] 圖3所示為所得的蒙皮邊界特征。
      [0082]本發(fā)明的蒙皮掃描線點(diǎn)云可以明確識(shí)別出各條掃描線,掃描線間的距離為線間 距,掃描線上采樣點(diǎn)之間的距離稱(chēng)為點(diǎn)間距。掃描線點(diǎn)云通過(guò)手持或機(jī)床加持激光掃描儀 沿蒙皮邊界掃描得到。
      [0083]飛機(jī)蒙皮屬薄壁結(jié)構(gòu)件,針對(duì)其邊界特征重構(gòu)效率不高的問(wèn)題,本發(fā)明的基于掃 描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法,考慮了測(cè)量點(diǎn)分布不均和微倒角的影響。該方法在每 條掃描線上提取特征點(diǎn),使用特征點(diǎn)構(gòu)造直線或B樣條曲線來(lái)重構(gòu)邊界特征。特征點(diǎn)的提取 包括鄰域搜索、測(cè)量點(diǎn)位置識(shí)別、直線擬合與求交三個(gè)步驟。在鄰域搜索中將點(diǎn)沿掃描線排 序,使用B樣條曲線插值有序點(diǎn)集,通過(guò)曲率識(shí)別面上點(diǎn)和倒角點(diǎn),使用表面和側(cè)面上的點(diǎn) 分別擬合直線,用直線的交點(diǎn)作為特征點(diǎn)。特征點(diǎn)作為實(shí)際邊界線的離散點(diǎn),通過(guò)用特征點(diǎn) 擬合直線或樣條曲線來(lái)重構(gòu)蒙皮的實(shí)際邊界。
      [0084]本發(fā)明不在現(xiàn)有測(cè)量點(diǎn)中尋找特征點(diǎn),降低了保障特征點(diǎn)精度所需的點(diǎn)云密度且 符合了設(shè)計(jì)意圖。利用實(shí)測(cè)邊界線作為數(shù)控切邊的加工依據(jù)和檢測(cè)依據(jù),可以實(shí)現(xiàn)蒙皮全 凈邊,從而大大提高蒙皮裝配效率和裝配質(zhì)量。
      [0085] 上列較佳實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明,所應(yīng) 理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精 神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      [0086] 本發(fā)明未涉及部分均與現(xiàn)有技術(shù)相同或可采用現(xiàn)有技術(shù)加以實(shí)現(xiàn)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1. 一種基于掃描線點(diǎn)云的蒙皮邊界特征重構(gòu)方法,其特征在于它包括以下步驟: (1) 通過(guò)測(cè)量得到蒙皮的掃描線點(diǎn)云; (2) 在采樣點(diǎn)自身所在的掃描線上搜索其鄰近點(diǎn),得到其鄰域點(diǎn)集; (3) 根據(jù)采樣點(diǎn)鄰域的幾何形狀參數(shù)確定采樣點(diǎn)位于面上還是邊界附近; (4) 對(duì)邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理,使其與XY坐標(biāo)平面平行; (5) 將邊界附近采樣點(diǎn)的鄰域分為三部分,即表面點(diǎn)、側(cè)面點(diǎn)和倒角點(diǎn); (6) 用表面和側(cè)面上點(diǎn)子集擬合兩條直線,并求取直線的交點(diǎn),將交點(diǎn)作為邊界特征 點(diǎn),并對(duì)特征點(diǎn)進(jìn)行姿態(tài)還原; (7) 用特征點(diǎn)構(gòu)造直線或B樣條曲線,得到被測(cè)蒙皮的邊界。2. 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(2)中采樣點(diǎn)的鄰域搜索方法如下: (2-1)排除采樣點(diǎn)為掃描線的端點(diǎn),記到采樣點(diǎn)P歐式距離最小的兩點(diǎn)為片和#,若 與?巧:的夾角小于設(shè)定的閾值Θ。則認(rèn)定其為端點(diǎn); (2-2)對(duì)線內(nèi)點(diǎn),獨(dú)立搜索其左右兩側(cè)的鄰近點(diǎn),然后合并為鄰域,已知P和if則if可 按如下方法獲得:計(jì)算if歐式距離^內(nèi)的全部點(diǎn),按距離從小到大依次取出APi,若???與 >7Χ的角度大于設(shè)定閾值θ ν,則點(diǎn)Ρ:即為巧'。再用斤和巧'得茗,依次漸進(jìn)向前即可依次搜 索到點(diǎn)/^6,一,巧,.,從而得到?右側(cè)鄰近點(diǎn)集;左側(cè)鄰近點(diǎn)集的獲取方法相同,拼接后得 到P的鄰域:(2-3)在兩側(cè)搜索過(guò)程中,當(dāng)最新得到的鄰近點(diǎn)到采樣點(diǎn)的距離大于等于r時(shí),即結(jié)束 該側(cè)的搜索,進(jìn)入另一側(cè)搜索或完成搜索。3. 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(3)中,計(jì)算采樣點(diǎn)P同其鄰域邊界 點(diǎn)#;和仏.構(gòu)成的向量^;和<的夾角,根據(jù)夾角是否小于閾值Θ來(lái)判斷采樣點(diǎn)是否位 于蒙皮邊界處。4. 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(4)中數(shù)據(jù)預(yù)處理操作如下: (4-1)用鄰域點(diǎn)擬合掃描平面方程aX+by+cz+d = 0,式中a、b、c、d為常數(shù),所建立的誤差 目標(biāo)函數(shù)為:其中,N為鄰域中點(diǎn)的數(shù)目,cU為點(diǎn)到平面的投影距離cU= |aXl+byi+CZl+d| ; (4-2)利用公式k = Cn得到坐標(biāo)變換所需的旋轉(zhuǎn)矩陣C,其中1^=[0,0,1]7是2軸單位方向 向量,n=[a,b,c]T為擬合得到的平面單位法矢; (4-3)按照公式^[^'^,對(duì)鄰域點(diǎn)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)^中七^(guò)^^為原始 坐標(biāo),喊沁為旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo); (4-4)將旋轉(zhuǎn)后的點(diǎn)進(jìn)行投影,投影后的坐標(biāo)為[. .ν;+. ? ]τ,其中,〃 =| Σ :?5. 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(5)中按照如下方法將邊界附近采 樣點(diǎn)的鄰域劃分為三個(gè)子集: (5-1)采用三次非均勻B樣條曲線插值鄰域點(diǎn),利用規(guī)范積累弦長(zhǎng)參數(shù)化方法對(duì)型值點(diǎn) 進(jìn)行參數(shù)化,節(jié)點(diǎn)矢量u = [UQ,U1,…,un+k+i ]采用定義域兩端節(jié)點(diǎn)為k+1重的重節(jié)點(diǎn)端點(diǎn)條 件,即有UQ = U1 =…=Uk = 0和Un+l = Un+2 =…=Un+k+l = 1,插值時(shí)的邊界條件為切矢條件; (5-2)利用公;E計(jì)算型值點(diǎn)Pi曲率,其中f(u)為樣條曲線在參數(shù)u 處的j階導(dǎo)矢; (5-3)依次從鄰域中取出點(diǎn),將其曲率值與設(shè)定曲率閾值做比較,若大于曲率閾值則為 倒角點(diǎn),倒角點(diǎn)兩側(cè)的點(diǎn)即為表面點(diǎn)和側(cè)面點(diǎn)。6.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(6)采用如下方法獲取特征點(diǎn):(6-1)使用兩面上點(diǎn)子集擬合兩條直線,直線方程為ax+by+c = 0,建立的目標(biāo)誤差函數(shù)為:其中N為鄰域中點(diǎn)的數(shù)目,cU為點(diǎn)到直線的投影距離cU= |aXl+byi+c| ; (6-2)求取直線交點(diǎn),即該掃描線上的邊界特征點(diǎn),利用公式P = CT · Pi#得到的特征點(diǎn) 坐標(biāo)還原至測(cè)量坐標(biāo)系下,其中CT為矩陣C的轉(zhuǎn)置矩陣,P1PP分別為特征點(diǎn)還原前后的坐 標(biāo)。
      【文檔編號(hào)】G06F17/50GK105868498SQ201610247304
      【公開(kāi)日】2016年8月17日
      【申請(qǐng)日】2016年4月20日
      【發(fā)明人】李瀧杲, 黃翔, 余飛祥
      【申請(qǐng)人】南京航空航天大學(xué)
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