內(nèi)存測試裝置的制造方法
【專利摘要】一種內(nèi)存測試裝置包括一主板、一內(nèi)存設(shè)備、一設(shè)置于該主板上的主板插槽及一內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡。該主板存儲有若干內(nèi)存設(shè)備所對應(yīng)的預(yù)設(shè)信息。該內(nèi)存設(shè)備存儲有對應(yīng)的配置信息。該主板根據(jù)獲取得到該內(nèi)存設(shè)備的配置信息判斷是否在主板內(nèi)存儲的預(yù)設(shè)信息中；當(dāng)獲取得到的配置信息存在該預(yù)設(shè)信息中時，該主板判斷該內(nèi)存設(shè)備合格。本實用新型內(nèi)存測試裝置通過內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡將內(nèi)存設(shè)備與主板的主板插槽連接，進而通過內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡對該內(nèi)存設(shè)備進行測試，有利于提高了測試效率。
【專利說明】
內(nèi)存測試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及一種內(nèi)存測試裝置，特別涉及一種筆記本內(nèi)存的測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在筆記本電腦的內(nèi)存設(shè)備出廠時均需要對內(nèi)存條進行測試，如檢測內(nèi)存設(shè)備的穩(wěn)定性、內(nèi)存設(shè)備的儲存與資料的讀寫能力等。然而，一般的筆記本電腦的內(nèi)存設(shè)備只能在筆記本電腦主板上測試，進而導(dǎo)致測試成本的提高，降低了測試的效率。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種可提高測試效率的內(nèi)存測試裝置。
[0004]—種內(nèi)存測試裝置，包括:
[0005]—主板，存儲有若干內(nèi)存設(shè)備所對應(yīng)的預(yù)設(shè)信息；
[0006]—內(nèi)存設(shè)備，包括一配置串行探測，該配置串行探測中存儲有對應(yīng)的配置信息；
[0007]一主板插槽，設(shè)置于該主板上;及
[0008]—內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡，包括一連接板、一連接部及一通過該連接板與該連接部電性連接的內(nèi)存插槽，該連接板用于插接于該主板插槽內(nèi)，該內(nèi)存設(shè)備插接于該內(nèi)存插槽內(nèi)；該主板用于通過該主板插槽、內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡獲取該內(nèi)存設(shè)備包含的配置信息；該主板還根據(jù)獲取得到的配置信息判斷是否在預(yù)設(shè)信息中；當(dāng)獲取得到的配置信息存在該預(yù)設(shè)信息中時，該主板判斷該內(nèi)存設(shè)備合格。
[0009]優(yōu)選地，當(dāng)獲取得到的配置信息不存儲該預(yù)設(shè)信息中時，該主板判斷該內(nèi)存設(shè)備不合格。
[0010]優(yōu)選地，該連接部設(shè)置于該轉(zhuǎn)接板的第一側(cè)邊上，該內(nèi)存插槽設(shè)置于該連接板的一側(cè)面上。
[0011 ]優(yōu)選地，該內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡還包括一^^扣，當(dāng)該內(nèi)存設(shè)備插接于該內(nèi)存插槽內(nèi)時，該內(nèi)存設(shè)備通過該卡扣將其固定于該內(nèi)存插槽內(nèi)。
[0012]優(yōu)選地，該連接部為一金手指。
[0013]優(yōu)選地，該主板插槽為一內(nèi)存插槽。
[0014]優(yōu)選地，該主板插槽支持一單列內(nèi)存模塊的內(nèi)存。
[0015]優(yōu)選地，該主板插槽支持一雙列內(nèi)存模塊的內(nèi)存。
[0016]優(yōu)選地，該配置信息包括該內(nèi)存設(shè)備的運行頻率、電壓、行/列地址、位寬、內(nèi)存模塊序列號、制造商代碼。
[0017]優(yōu)選地，該內(nèi)存設(shè)備為一筆記本電腦的內(nèi)存。
[0018]上述內(nèi)存測試裝置通過內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡將內(nèi)存設(shè)備與主板的主板插槽連接，進而通過內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡對該內(nèi)存設(shè)備進行測試，有利于提高了測試效率。
【附圖說明】
[0019]圖1為本實用新型內(nèi)存測試裝置的較佳實施方式的方框圖，所述內(nèi)存測試裝置包括一內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡及一內(nèi)存設(shè)備。
[0020]圖2是圖1中內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡的較佳實施方式的示意圖。
[0021]圖3是圖1中內(nèi)存設(shè)備的較佳實施方式的示意圖。
[0022]主要元件符號說明
[0023]內(nèi)存測試裝置I
[0024]主板10
[0025]主板插槽20
[0026]內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡30
[0027]內(nèi)存設(shè)備40
[0028]連接部300
[0029]轉(zhuǎn)接板302
[0030]內(nèi)存插槽304
[0031]卡扣306
[0032]配置串行探測402
[0033]如下【具體實施方式】將結(jié)合上述附圖進一步說明本實用新型。
【具體實施方式】
[0034]請參閱圖1，本實用新型內(nèi)存測試裝置I包括一主板插槽20、一內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡30及一內(nèi)存設(shè)備40。本實施方式中，該主板插槽20設(shè)置于一臺式電腦的主板10上，該主板10通過該主板插槽20、內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡30對該內(nèi)存設(shè)備40進行測試，如測試該內(nèi)存設(shè)備40的穩(wěn)定性及數(shù)據(jù)讀寫的能力等。
[0035]本實施方式中，該主板插槽20可為一內(nèi)存插槽，該主板插槽20可支持多種規(guī)格的內(nèi)存插槽，如支持一SIMM(Single Inline Memory Module，單列內(nèi)存模塊)或一DIMM(DualInline Memory Modules，雙列內(nèi)存模塊)的內(nèi)存。
[0036]請參閱圖2，該內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡30包括一連接板302、一設(shè)置于該轉(zhuǎn)接板302的第一側(cè)邊的連接部300及一設(shè)置于該連接板302的一側(cè)面的內(nèi)存插槽304。本實施方式中，該內(nèi)存插槽304設(shè)置于靠近該轉(zhuǎn)接板302的第二側(cè)邊處。該內(nèi)存插槽304還包括一卡扣306，用于將該內(nèi)存設(shè)備40進行固定。本實施方式中，該連接部300為一金手指，該連接器30用于與該主板插槽20相配合。
[0037]當(dāng)該內(nèi)存設(shè)備40插接于該內(nèi)存插槽304內(nèi)時，該內(nèi)存設(shè)備40可通過該卡扣306將其固定于該內(nèi)存插槽304內(nèi)。該內(nèi)存設(shè)備40可通過內(nèi)存插槽304、轉(zhuǎn)接板302及連接部302與該主板10進行通信。本實施方式中，該內(nèi)存設(shè)備40為一筆記本電腦的內(nèi)存。
[0038]由于筆記本電腦的內(nèi)存插槽是由臺式電腦的內(nèi)存插槽在SMM及DMM插槽的基礎(chǔ)上發(fā)展而來。筆記本電腦的內(nèi)存設(shè)備一般采用72針腳、144針腳、200針腳的接口，臺式電腦的內(nèi)存設(shè)備一般采用168針腳、184針腳和240針腳的接口。本實施方式中，該主板插槽20的針腳用于對該內(nèi)存插槽304的針腳進行轉(zhuǎn)換，以將該內(nèi)存插槽304的針腳中不同電氣特性的針腳轉(zhuǎn)換為該主板插槽20上對應(yīng)的針腳。
[0039]請參閱圖3，該內(nèi)存設(shè)備40包括一配置串行探測(Serial Presence Detect, SPD)402，該配置串行探測402內(nèi)存儲有該內(nèi)存設(shè)備40的基本技術(shù)規(guī)格信息，如該內(nèi)存設(shè)備40的運行頻率、電壓、行列地址、位寬、內(nèi)存模塊序列號、制造商代碼等配置信息。
[0040]本實施方式中，該主板10可預(yù)先存儲有若干內(nèi)存設(shè)備40所對應(yīng)的預(yù)設(shè)信息。當(dāng)對待測的內(nèi)存設(shè)備40進行測試時，該主板10用于獲取該內(nèi)存設(shè)備40中配置串行探測402包含的配置信息，并根據(jù)獲取得到的配置信息判斷是否在預(yù)設(shè)信息中，當(dāng)獲取得到的配置信息存在該預(yù)設(shè)信息中時，該主板10則判斷該內(nèi)存設(shè)備40合格；當(dāng)獲取得到的配置信息不存儲該預(yù)設(shè)信息中時，該主板10判斷該內(nèi)存設(shè)備40不合格。
[0041]上述內(nèi)存測試裝置通過內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡將筆記本電腦的內(nèi)存與主板的主板插槽連接，進而通過內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡對筆記本電腦的內(nèi)存進行測試，不僅實現(xiàn)了在臺式電腦的主板上測試筆記本電腦內(nèi)存;而且該內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡結(jié)構(gòu)簡單、成本低，在頻繁的插拔測試中，有效避免了主板內(nèi)存插槽的損壞以及內(nèi)存金手指的磨損。
[0042]盡管上面已經(jīng)示出和描述了本實用新型的實施例，可以理解的是，上述實施例是示例性的，不能理解為對本實用新型的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本實用新型的范圍內(nèi)可以對上述實施例進行變化、修改、替換和變型。
【主權(quán)項】
1.一種內(nèi)存測試裝置，包括:一主板，存儲有若干內(nèi)存設(shè)備所對應(yīng)的預(yù)設(shè)信息；一內(nèi)存設(shè)備，包括一配置串行探測，該配置串行探測中存儲有對應(yīng)的配置信息；一主板插槽，設(shè)置于該主板上;及一內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡，包括一連接板、一連接部及一通過該連接板與該連接部電性連接的內(nèi)存插槽，該連接板用于插接于該主板插槽內(nèi)，該內(nèi)存設(shè)備插接于該內(nèi)存插槽內(nèi)；該主板用于通過該主板插槽、內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡獲取該內(nèi)存設(shè)備包含的配置信息;該主板還根據(jù)獲取得到的配置信息判斷是否在預(yù)設(shè)信息中；當(dāng)獲取得到的配置信息存在該預(yù)設(shè)信息中時，該主板判斷該內(nèi)存設(shè)備合格。2.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:當(dāng)獲取得到的配置信息不存儲該預(yù)設(shè)信息中時，該主板判斷該內(nèi)存設(shè)備不合格。3.如權(quán)利要求2所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:該連接部設(shè)置于該轉(zhuǎn)接板的第一側(cè)邊上，該內(nèi)存插槽設(shè)置于該連接板的一側(cè)面上。4.如權(quán)利要求3所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:該內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡還包括一卡扣，當(dāng)該內(nèi)存設(shè)備插接于該內(nèi)存插槽內(nèi)時，該內(nèi)存設(shè)備通過該卡扣將其固定于該內(nèi)存插槽內(nèi)。5.如權(quán)利要求4所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:該連接部為一金手指。6.如權(quán)利要求5所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:該主板插槽為一內(nèi)存插槽。7.如權(quán)利要求6所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:該主板插槽支持一單列內(nèi)存模塊的內(nèi)存。8.如權(quán)利要求6所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:該主板插槽支持一雙列內(nèi)存模塊的內(nèi)存。9.如權(quán)利要求1-8中任意一項所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:該配置信息包括該內(nèi)存設(shè)備的運行頻率、電壓、行列地址、位寬、內(nèi)存模塊序列號、制造商代碼。10.如權(quán)利要求9所述的內(nèi)存測試裝置，其特征在于:該內(nèi)存設(shè)備為一筆記本電腦的內(nèi)存。
【文檔編號】G06F11/22GK205680083SQ201620427074
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年5月11日 公開號201620427074.8, CN 201620427074, CN 205680083 U, CN 205680083U, CN-U-205680083, CN201620427074, CN201620427074.8, CN205680083 U, CN205680083U
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