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      光盤裝置的記錄功率確定方法以及記錄功率控制方法

      文檔序號:6762714閱讀:141來源:國知局
      專利名稱:光盤裝置的記錄功率確定方法以及記錄功率控制方法
      技術領域
      本發(fā)明涉及在光盤裝置上,在記錄時設定記錄功率的光盤裝置的記錄功率確定方法以及記錄功率控制方法。
      背景技術
      在CD-R/RW驅動器和DVD-R/RW驅動器等可以記錄的光盤裝置中,提供用各種激光功率將試驗數(shù)據(jù)在光盤的PCA區(qū)域試寫、計算出使β值等播放質量達到目標值內(nèi)的OPC(Optimum Power Control),和不會由于在光盤面內(nèi)的記錄膜的涂敷不均和光盤的傾斜,以將表示形成了記錄字節(jié)后的返回光量的B值維持在一定值的方式進行激光功率反饋控制的ROPC(Running Optimum Power Control)來確保記錄質量。
      該ROPC為了對光盤的各種原因混雜的狀態(tài)進行修正,所以未必能夠實現(xiàn)記錄質量的最佳化,而進行了各種的嘗試。
      為人所知的有,例如,對于光盤的傾斜,為了使β值為一定值,進行使ROPC的返回光量的變動部分和激光功率的變動部分之比(ΔB/ΔP)為一定的激光功率控制(例如,參照專利文獻1),或者進行使Bm/Pn=一個定值(m<n)的激光功率控制(例如,參照專利文獻2)等。
      另外,在CD-RW等的相變化記錄型的光盤中,在已經(jīng)記錄的區(qū)域上進行覆寫的情況下,受先前記錄狀態(tài)的影響,難于以ROPC確保記錄質量,所以將激光分割為0次回折光的主光束和+1次回折光以及-1次回折光的兩個副光束,將主光束向光道凹槽(groove track)照射而進行記錄,另一方面,分別將2個副光束向與前述光道凹槽的兩側相鄰的光道凸區(qū)(land track)照射,使用沒有記錄影響的光道凸區(qū)的返回光而進行主光束的功率控制,排除覆寫的影響的工作OPC的例子(例如,參照專利文獻3)是為人所知的。
      另外在光盤裝置中,通常,使激光聚光向光盤的軌道上照射光點、并在光盤上記錄信息的光拾取器上,設置在光點的光道的橫斷方向以及與光道橫斷方向相垂直的方向上配置的受光分配部分,通過來自該受光分配部分的檢測信號得到聚光信息和光道信息。
      然后,在該受光分配部分中,通過來自光點的光道橫斷方向的受光分配部分的檢測信號的減法運算,得到推挽信號(PP信號),另外,通過來自該受光分配部分的檢測信號的相位比較,得到微分相位識別信號(DPD信號),通過這兩個信號檢測光盤的傾斜角(例如,參照專利文獻4)。
      專利文獻1特開2003-16645號公報(權利要求1,0023)。
      專利文獻2特開2003-248929號公報(權利要求1、權利要求3,0024、0026)。
      專利文獻3特開2003-173533號公報(摘要、權利要求1、發(fā)明的內(nèi)容、專利文獻4)。
      專利文獻3特開2001-307359號公報(權利要求1、權利要求2、0023-0028等)。

      發(fā)明內(nèi)容
      對縮短記錄時間的要求逐年提高,伴隨著記錄的高速化則要求光盤高速旋轉,而得到為了確保記錄質量而進行的ROPC的返回光量檢測的精度則變得困難。
      本發(fā)明的目的在于提供在光盤的高速轉動中,可以確定光盤的最佳記錄功率信息的光盤裝置的記錄功率決定方法。
      本發(fā)明的其他目的在于,提供在記錄時使用預先確定的光盤最佳功率信息,控制激光功率的光盤裝置的記錄功率的控制方法。
      本發(fā)明另外的目的在于,提供在光盤的高速轉動中,在記錄之前確定光盤的最佳記錄功率信息,使用該被確定的最佳記錄功率信息,在記錄時,進行激光功率控制的光盤裝置的記錄功率的控制方法。
      本發(fā)明的第一方面的光盤裝置的記錄功率確定方法,其特征在于,包含以下的工序記錄之前,取得在光盤的半徑方向的至少兩處測定位置上的推挽信號的振幅,根據(jù)所得到的該推挽信號振幅,計算并求出相對于遍及盤的整個記錄區(qū)域的半徑位置的最佳記錄功率,將所求得的結果確定為相對于盤半徑位置的最佳記錄功率信息。
      本發(fā)明的第二方面的光盤裝置的記錄功率控制方法,其特征在于,包含以下的工序取得記錄時光拾取器的盤位置信息,由取得的該盤位置信息和存儲的相對于盤半徑位置的最佳記錄信息,設定在光盤的記錄位置上的最佳記錄功率,按照能夠達到所設定的最佳記錄功率的方式控制所述光拾取器的激光功率。
      本發(fā)明的第三方面的光盤裝置的記錄功率控制方法,其特征在于,包含以下的工序在記錄之前,取得在光盤的半徑方向的至少兩處位置上的推挽信號的振幅,根據(jù)所得到的該推挽信號振幅,計算并求出相對于遍及盤整個記錄區(qū)域的半徑位置的最佳記錄功率,將所求得的結果定為相對于盤半徑位置的最佳記錄功率信息并進行存儲,取得記錄時光拾取器的盤位置信息,由所取得的該盤位置信息和存儲的對于盤半徑位置的最佳記錄信息,設定在光盤的記錄位置上的最佳記錄功率,按照能夠達到所設定的最佳記錄功率的方式控制所述光拾取器的激光功率。
      本發(fā)明的第四方面的光盤裝置的記錄功率確定方法或者記錄功率的控制方法,如在第一、二或三方面中所述,其特征在于,在相對于所述盤半徑位置的最佳記錄功率信息中,如果使在相對于內(nèi)周基準測定位置的外周任意測定位置上的最佳記錄功率為PO,則PO是通過下式進行計算求得的或者是已求出的PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×PI或者PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×PI在此,PPI在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上求得的推挽信號振幅,PPO在外周任意測定位置上取得的推挽信號振幅,PUP基于盤半徑的功率升高的比例系數(shù),PI基于內(nèi)周基準測定位置的試寫的最佳記錄功率。
      本發(fā)明的第五方面的光盤裝置的記錄功率確定方法或者記錄功率的控制方法,如在第四方面中的所述,其特征在于,在相對于所述盤半徑位置的最佳記錄功率信息中,如果使在外周任意非測定位置上的最佳記錄功率為P,則P是通過下式進行計算而求得的或者是已求出的P=(PI-PO)/(ri-ro)×r+(PO×ri-PI×ro)/(ri-ro)在此,ri在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上的盤半徑位置,ro取得了權利要求4所述的PPO的在外周任意測定位置上的盤半徑位置。
      本發(fā)明的第六方面的光盤裝置的記錄功率確定方法或者記錄功率的控制方法,如在第一、二或三方面中的所述,其特征在于,在相對于所述盤半徑位置的最佳記錄功率信息中,如果使在相對于內(nèi)周基準測定位置的外周任意測定位置上的最佳記錄功率為PO,則PO是通過下式進行計算而求得的或者是已求出的PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×Pr或者PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×Pr在此,PPI在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上取得的推挽信號振幅,PPO在外周任意測定位置上取得的推挽信號振幅,PUP基于盤半徑的功率升高的比例系數(shù),Pr在內(nèi)周位置外周位置上的推挽振幅的差不存在時的外周任意位置的盤半徑r上的最佳功率。
      本發(fā)明的第七方面的光盤裝置的記錄功率確定方法或者記錄功率的控制方法,如在第六方面的中所述,其特征在于,在相對于所述盤半徑位置的最佳記錄功率信息中,如果使在相對于內(nèi)周基準位置的外周任意位置上的最佳記錄功率為Prb,則Prb是通過下式進行計算而求得或者是已求出的Prb=PCR×Pr在此,
      Pr是在內(nèi)周位置外周位置上的推挽振幅的差不存在時的外周任意位置的盤半徑r上的最佳功率,PCR是光拾取器的外周任意非測定位置的盤半徑r上的功率控制系數(shù),PCR={(PCI-PCO)/(ri-ro)}×r+{(PCO×ri)-(PCI×ro)}/(ri-ro)在此,ri是在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上的盤半徑,ro是在外周任意位置上的盤半徑,PCI在內(nèi)周基準測定位置或者其附近的的功率控制系數(shù),PCO在外周任意測定位置的功率控制系數(shù),另外,PCI=1PCO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]或者PCO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]。
      根據(jù)本發(fā)明,能夠得到在光盤的高速轉動中,可以確定光盤的最佳記錄功率信息的光盤裝置記錄功率的確定方法。根據(jù)本發(fā)明,能夠在記錄時使用預先決定的光盤的最佳功率信息,控制激光功率的光盤裝置的記錄功率控制方法。根據(jù)本發(fā)明,能夠在光盤的高速轉動中,在記錄之前確定光盤的最佳記錄功率信息,使用該被確定最佳記錄功率信息,在記錄時控制激光功率的光盤裝置的記錄功率控制方法。


      圖1是涉及本發(fā)明的具有記錄功率設定方法的光盤裝置的實施方式的構成圖。
      圖2表示在圖1中的有關記錄的全體動作的流程圖。
      圖3是表示在圖2中的步驟201的詳細內(nèi)容的流程的例子的圖。
      圖4是表示在圖2中的步驟204的詳細內(nèi)容的流程的例子的圖。
      圖5是表示在圖2中的步驟202中,CLV時的記錄功率和盤半徑之間的關系的圖。
      圖6是表示在圖2中的步驟202中,CAV時的功率控制系數(shù)PCR和盤半徑之間的關系的圖。
      具體實施例方式
      根據(jù)附圖對于本發(fā)明的實施方式進行說明。
      圖1是涉及本發(fā)明的具有記錄功率設定方法的光盤裝置的實施方式的構成圖。
      在圖1中,盤電動機轉動控制裝置1以達到以微計算機2所指定的轉速的方式控制盤電動機3。盤電動機3使光盤4轉動。
      激光功率控制裝置5以將光拾取器6的激光功率控制到微計算機2設定的功率的方式進行控制。
      光拾取器6使激光向光盤4聚光,進行信息記錄動作。另外,將被光盤4所記錄信息作為光信息而檢測出來,轉換成電信號。
      在此,光拾取器6具有被配置在使激光聚光而向光盤的光道照射的光點的光道的橫斷方向以及與光道的橫斷方向相垂直的方向上的受光分配部分,輸出來自該受光分配部分的檢測信號。
      伺服控制裝置7在從微計算機6接受到指令時,從光拾取器6的受光分配部分的檢測信號,抽出為了進行根據(jù)光拾取器6而進行的盤信息槽追隨動作所必需的必要聚光信息和光道信息,進行將前述信息恢復的光拾取器6的聚光/光道追隨動作。
      信號處理裝置8,例如,利用光拾取器6從光盤4讀出被記錄在光盤4上作為位置信息的ATIP地址信息,取得光拾取器6的位置信息。另外,取得被加在CD-R光盤等上的各光盤的介質ID信息。
      推挽信號振幅檢測裝置9,從來自光拾取器6的受光分配部分中的、光點的光道橫斷方向的受光分配部分的檢測信號,通過減法運算而檢測推挽信號振幅。
      存儲器10根據(jù)來自推挽信號振幅檢測裝置9的推挽信號振幅,存儲微計算機2計算的、相對于盤半徑位置的最佳記錄信息。
      記錄時用微計算機2從通過信號處理裝置8取得的光拾取器6的位置信息和通過存儲器10存儲的相對于盤半徑位置的最佳記錄功率信息,設定在光拾取器6的記錄半徑位置上的最佳記錄功率,以達到所設定的最佳功率的方式指示激光功率控制裝置5,激光功率控制裝置5按照微計算機2的指示,控制光拾取器6的激光功率使其達到所設定的最佳記錄功率。
      圖2是表示在圖1的光盤裝置所進行的有關記錄的全體動作的流程圖。
      在圖2中,步驟201和步驟202是在記錄之前進行的步驟。
      在步驟201中,微計算機2使光拾取器6移動到光盤4半徑方向上的兩個位置,即內(nèi)周位置(例如從內(nèi)側起半徑23mm處)和外周位置(例如從外側起半徑50mm處)上,從推挽信號取得裝置9取得在那些位置上的推挽信號振幅。
      在步驟202中,微計算機2根據(jù)在步驟201的內(nèi)周測定位置和外周測定位置上取得的推挽信號振幅信息,計算而取得相對于遍及盤的整個記錄區(qū)域的半徑位置的最佳記錄功率,將取得的結果確定為相對于盤的半徑位置的最佳記錄功率信息,存儲在存儲器10。
      在步驟203中,在記錄時,微計算機2使光拾取器6移動到光盤4半徑方向上的記錄開始位置上。然后使用相對于存儲在存儲器10上的盤的半徑位置的最佳記錄功率信息,將在該記錄開始位置上的記錄功率在微計算機2上設定,與記錄開始同時,通過激光功率控制裝置5在設定的記錄功率中使光拾取器6的激光發(fā)光。
      在步驟204中,通過光拾取器6,進行實際的記錄動作。
      圖3是表示在圖2中的步驟201的詳細內(nèi)容流程的例子的圖。
      在步驟301中,微計算機2使光拾取器6移動到光盤4半徑方向上的兩個測定位置即內(nèi)周測定位置和外周測定位置中的外周測定位置上。
      在步驟302中,微計算機2從推挽信號取得裝置9取得在外周測定位置上的推挽信號振幅。
      在步驟303中,微計算機2使光拾取器6移動到光盤4的半徑方向上的兩個測定位置即內(nèi)周測定位置和外周測定位置中的內(nèi)周測定位置上。
      在步驟304中,微計算機2從推挽信號取得裝置9取得在內(nèi)周測定位置上的推挽信號振幅。
      以上是在圖2中的步驟201的詳細內(nèi)容的流程。
      本實施方式,雖然是在外周測定位置之后取得內(nèi)周測定位置的振幅的,但也可在內(nèi)周測定位置之前進行。在該情況下的流程為步驟303、然后是304,接下來是步驟301,然后是302的順序。
      在此,在取得步驟302和步驟304的推挽信號振幅時,首先通過停止跟蹤(tracking off)動作,使光盤的橫切方向(橫斷方向)的信號變化可以作為推挽振幅而測定的狀態(tài)。
      接下來,測定并取得實際的推挽信號。然后,最后使成為跟蹤進行(tracking on)的狀態(tài)。
      根據(jù)需要,也可將在測定位置上的盤的轉速與記錄時的盤轉速實質上相同為止等待測定的處理設定在實際測定并取得之前的任意過程中。
      另外,由于盤的翹曲隨著盤的轉速而變化,所以希望使用轉速與記錄速度同速時的推挽振幅。
      圖4是表示在圖2中步驟204的詳細內(nèi)容的流程的例子的圖。
      在步驟401中,在光盤4的半徑方向的開始位置上開始記錄。
      在步驟402中,微計算機2取得來自信號處理裝置8的ATIP地址信息,取得光拾取器6的盤位置信息。
      在步驟403中,微計算機2由來自在步驟402中檢測的光拾取器6的盤位置信息和在存儲器10上存儲的相對盤半徑位置的最佳記錄功率,設定在光盤4的記錄位置上的最佳記錄功率,向激光功率控制裝置5發(fā)出指示使能達到最佳記錄功率,激光功率控制裝置5根據(jù)微計算機2的指示,控制光拾取器6的激光功率使其成為所設定的最佳記錄功率。
      在步驟404中,微計算機2利用信號處理裝置8取得的光拾取器6的位置信息判定是否為記錄結束,在不是記錄結束位置的情況下,為了繼續(xù)記錄,回到步驟402。在是記錄結束位置的情況下,進行記錄結束動作405。
      接下來,說明在圖2中的步驟202的詳細內(nèi)容。
      首先在以同一速度記錄(CLV記錄)光盤的整體時,相對于前述盤半徑位置的最佳記錄功率信息,如果使在相對于內(nèi)周基準測定位置的外周任意測定位置上的最佳記錄功率作為PO的話,PO通過下式表示。
      PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×PI (式1)或者PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×PI (式2)在此,PPI在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上求得的推挽信號振幅,PPO在外周任意測定位置上取得的推挽信號振幅,PUP基于盤半徑的功率升高的比例系數(shù),PI基于內(nèi)周基準測定位置的試寫而得的最佳記錄功率。
      在此,(式1)是以相對于在外周任意測定位置上PPO的內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上的PPI的增加率作為基準的最佳記錄功率PO的計算式。
      另外,(式2)是以相對于在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上的PPI的外周任意測定位置上的PPO的減少率作為基準的最佳記錄功率PO的計算式。
      另外,上述的PUP的根據(jù)盤半徑的功率升高的比例系數(shù),優(yōu)先為預先地逐個介質地調(diào)查最佳值。
      另外,也可以為將對于各個介質的上述PUP進行調(diào)查的結果保存在存儲器10中,在實際計算之前從存儲器10中讀出的構造。
      在此,如果定義為使在外周任意非測定位置上的最佳記錄功率為P,使外周任意非測定位置的盤半徑位置為r,使內(nèi)周基準測定位置上的盤半徑為ri,使在外周任意測定位置上的盤半徑位置為ro,則如圖5所示的那樣,假定外周任意非測定位置的盤半徑r與在外周任意非測定位置上的最佳記錄功率P可以近似為一次式,可以如下表示。
      P=(PI-PO)/(ri-ro)×r+(PO×ri-PI×ro)/(ri-ro)(式3)在此,PO是上述(式1)和(式2)。
      接下來,在CAV記錄的情況下對光盤的整體進行說明。在CAV的情況下,根據(jù)半徑的位置而倍數(shù)變化。另外,最佳功率與倍速相對應而變化。所以,對于各個倍速(各個半徑位置)的最佳功率,還進行基于推挽振幅差的信息進行修正。
      如果使在相對于內(nèi)周基準測定位置的外周任意測定位置上的最佳記錄功率作為PO的話,PO是通過下式計算而求得。
      PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×Pr或者PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×Pr在此,PPI在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上求得的推挽信號振幅,PPO在外周任意測定位置上取得的推挽信號振幅,PUP基于盤半徑的功率升高的比例系數(shù),Pr在內(nèi)周位置外周位置上的推挽振幅差不存在時的外周任意位置的盤半徑r上的最佳記錄功率。
      在非測定位置上的最佳記錄功率Prb為相對于上述Pr而基于本專利進行功率修正的最佳記錄功率。Prb與Pr的關系為下式所示。
      Prb=PCR×Pr (式4)在此,PCR是在光拾取器的外周任意非測定位置的盤半徑r上的功率控制系數(shù)。
      光拾取器的外周任意非測定位置的盤半徑r上的PCR是用PCI和在外周任意測定位置上的功率控制系數(shù)PCO表示在內(nèi)周基準測定位置上的功率控制系數(shù)。
      在此,PCI=1 (式5)PCO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP](式6)或者PCO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP](式7)(式6)、(式7)分別為 (式1)、(式2)的系數(shù)項。
      如果通過圖6那樣的線性近似,可以由下式表示,PCR={(PCI-PCO)/(ri-ro)}×r+{(PCO×ri)-(PCI×ro)}/(ri-ro)(式8)在此,ri是在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上的盤半徑,ro是在外周任意測定位置上的盤半徑,
      另外,外周任意非測定位置的盤半徑r上的最佳功率Pr也可使用本發(fā)明以外的使用已知的OPC。ROPC而求得的各個播放位置(各播放速度)上的最佳記錄功率。
      另外,(式4)不僅限于CAV,也可以用于前述的CLV和ZCLV等上。另外,通過使用(式4),即使對于由本發(fā)明以外的ROPC等進行的功率控制而求得的最佳功率,還可以增加修正。
      如上說明所示,根據(jù)本發(fā)明實施方式,能夠得到在光盤的高速轉動中,可以確定光盤的最佳記錄功率信息的光盤裝置記錄功率確定方法。
      根據(jù)本發(fā)明的實施方式,能夠得到在記錄時使用預先決定的光盤的最佳記錄功率信息,控制激光功率的光盤裝置的記錄功率的控制方法。
      根據(jù)本發(fā)明的實施方式,能夠得到在光盤的高速轉動中,在記錄之前確定光盤的最佳記錄功率信息,使用該被確定的最佳記錄功率信息,在記錄時進行激光功率控制的光盤裝置的記錄功率的控制方法。
      權利要求
      1.一種光盤裝置的記錄功率確定方法,其特征在于,包含以下的工序記錄之前,取得在光盤的半徑方向的至少兩處測定位置上的推挽信號的振幅,根據(jù)所得到的該推挽信號振幅,計算并求出相對于遍及盤的整個記錄區(qū)域的半徑位置的最佳記錄功率,將所求得的結果確定為相對于盤半徑位置的最佳記錄功率信息。
      2.一種光盤裝置的記錄功率控制方法,其特征在于,包含以下的工序取得記錄時光拾取器的盤位置信息,由取得的該盤位置信息和存儲的相對于盤半徑位置的最佳記錄信息,設定在光盤的記錄位置上的最佳記錄功率,按照能夠達到所設定的最佳記錄功率的方式控制所述光拾取器的激光功率。
      3.一種光盤裝置的記錄功率控制方法,其特征在于,包含以下的工序在記錄之前,取得在光盤的半徑方向的至少兩處位置上的推挽信號的振幅,根據(jù)所得到的該推挽信號振幅,計算并求出相對于遍及盤整個記錄區(qū)域的半徑位置的最佳記錄功率,將所求得的結果定為相對于盤半徑位置的最佳記錄功率信息并進行存儲,取得記錄時光拾取器的盤位置信息,由所取得的該盤位置信息和存儲的對于盤半徑位置的最佳記錄信息,設定在光盤的記錄位置上的最佳記錄功率,按照能夠達到所設定的最佳記錄功率的方式控制所述光拾取器的激光功率。
      4.如權利要求1、2或3中所述的光盤裝置的記錄功率確定方法或者記錄功率的控制方法,其特征在于,在相對于所述盤半徑位置的最佳記錄功率信息中,如果使在相對于內(nèi)周基準測定位置的外周任意測定位置上的最佳記錄功率為PO,則PO是通過下式進行計算求得的或者是已求出的PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×PI或者PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×PI在此,PPI在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上求得的推挽信號振幅,PPO在外周任意測定位置上取得的推挽信號振幅,PUP基于盤半徑的功率升高的比例系數(shù),PI基于內(nèi)周基準測定位置的試寫的最佳記錄功率。
      5.如權利要求4所述的光盤裝置的記錄功率確定方法或者記錄功率的控制方法,其特征在于,在相對于所述盤半徑位置的最佳記錄功率信息中,如果使在外周任意非測定位置上的最佳記錄功率為P,則P是通過下式進行計算而求得的或者是已求出的P=(PI-PO)/(ri-ro)×r+(PO×ri-PI×ro)/(ri-ro)在此,ri在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上的盤半徑位置,ro取得了權利要求4所述的PPO的在外周任意測定位置上的盤半徑位置。
      6.如權利要求1、2或3中所述的光盤裝置的記錄功率確定方法或者記錄功率的控制方法,其特征在于,在相對于所述盤半徑位置的最佳記錄功率信息中,如果使在相對于內(nèi)周基準測定位置的外周任意測定位置上的最佳記錄功率為PO,則PO是通過下式進行計算而求得的或者是已求出的PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×Pr或者PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×Pr在此,PPI在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上取得的推挽信號振幅,PPO在外周任意測定位置上取得的推挽信號振幅,PUP基于盤半徑的功率升高的比例系數(shù),Pr在內(nèi)周位置外周位置上的推挽振幅的差不存在時的外周任意位置的盤半徑r上的最佳功率。
      7.如權利要求6所述的光盤裝置的記錄功率確定方法或者記錄功率的控制方法,其特征在于,在相對于所述盤半徑位置的最佳記錄功率信息中,如果使在相對于內(nèi)周基準位置的外周任意位置上的最佳記錄功率為Prb,則Prb是通過下式進行計算而求得或者是已求出的Prb=PCR×Pr在此,Pr是在內(nèi)周位置外周位置上的推挽振幅的差不存在時的外周任意位置的盤半徑r上的最佳功率,PCR是光拾取器的外周任意非測定位置的盤半徑r上的功率控制系數(shù),PCR={(PCI-PCO)/(ri-ro)}×r+{(PCO×ri-PCI×ro)}/(ri-ro)在此,ri是在內(nèi)周基準測定位置或者其附近位置上的盤半徑,ro是在外周任意位置上的盤半徑,PCI在內(nèi)周基準測定位置或者其附近的的功率控制系數(shù),PCO在外周任意測定位置的功率控制系數(shù),另外,PCI=1PCO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]或者PCO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]。
      全文摘要
      本發(fā)明提供在光盤的高速轉動中,可以確定光盤的最佳記錄功率信息的光盤裝置記錄功率確定方法。其特征在于,記錄之前,取得在光盤的半徑方向的至少兩處的測定位置上的推挽信號的振幅,根據(jù)得到的推挽信號振幅而求算相當于遍及盤整個記錄區(qū)域的半徑位置的最佳記錄功率的線性近似計算,將所求的結果確定為對于盤半徑位置的最佳記錄功率信息。
      文檔編號G11B7/125GK1612232SQ20041003752
      公開日2005年5月4日 申請日期2004年4月23日 優(yōu)先權日2003年10月30日
      發(fā)明者坂井寬治, 林博之, 松田卓 申請人:日立樂金資料儲存股份有限公司
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