專利名稱：在磁盤中用來對同步標(biāo)記進行解碼的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及進行垂直磁記錄的一個磁盤驅(qū)動器。更確切的，本發(fā)明涉及在磁盤的數(shù)據(jù)扇區(qū)中寫入同步標(biāo)記的技術(shù)。
背景技術(shù)：
在以硬盤驅(qū)動器為代表的大多數(shù)磁盤驅(qū)動器中，主系統(tǒng)(例如個人電腦)所提供的用戶數(shù)據(jù)被分成4096比特(512字節(jié))的數(shù)據(jù)塊。這些數(shù)據(jù)塊被記錄在一個盤狀記錄媒質(zhì)(此后稱為“盤”)的記錄區(qū)域中。盤的記錄區(qū)域是以所謂的數(shù)據(jù)扇區(qū)為單位來管理的。每個數(shù)據(jù)塊(也就是用戶數(shù)據(jù)的一部分)與其它數(shù)據(jù)一起記錄在一個數(shù)據(jù)扇區(qū)中。
每個數(shù)據(jù)塊都以一定的形式存儲在一個數(shù)據(jù)扇區(qū)中。也就是說，數(shù)據(jù)塊包括一個前序、一個同步標(biāo)記、用戶數(shù)據(jù)以及ECC(糾錯碼)數(shù)據(jù)。前序是具有一定頻率的信號。該前序是為了在調(diào)整磁頭從數(shù)據(jù)扇區(qū)再現(xiàn)的信號幅度時進行AGC(自增益控制)，或者是為了在解碼時實現(xiàn)時鐘同步。同步標(biāo)記是一個用來檢測用戶數(shù)據(jù)頭的比特模式。
現(xiàn)行技術(shù)的一個趨勢是把同步標(biāo)記分成兩個同步標(biāo)記。這樣，用戶數(shù)據(jù)也被分成兩個用戶數(shù)據(jù)項。第一用戶數(shù)據(jù)項(比特長度X比特)記錄在第一與第二同步標(biāo)記之間，第二用戶數(shù)據(jù)項(比特長度4096-X比特)記錄在第二同步標(biāo)記之后。(例如參見美國專利5844920，1996和日本專利申請KOKAI Publication 2001-143406。)第一同步標(biāo)記被用來檢測跟在它后面的第一用戶數(shù)據(jù)項的頭。它可以是一個隨機模式，且其比特長度可以是大約10到50比特。在磁盤驅(qū)動器中，一個解碼器會將再現(xiàn)的信號進行解碼，從而產(chǎn)生一系列比特。這些比特會與第一同步標(biāo)記的參考比特模式進行對比。也就是說進行模式匹配，從而檢測第一同步標(biāo)記。
更確切的，當(dāng)發(fā)現(xiàn)比特模式與參考比特模式相一致時，那么就說明檢測到了第一同步標(biāo)記。一旦檢測到第一同步標(biāo)記，跟在第一同步標(biāo)記的最后一個比特之后的比特就被認為是跟在第一同步標(biāo)記之后的用戶數(shù)據(jù)的第一比特。接著就會開始對用戶數(shù)據(jù)的解碼。在實際中，如果即使除了兩個比特以外的其它比特都與參考比特模式一致，那么就會認為已經(jīng)檢測到了第一同步標(biāo)記。
熱不平度(TA，thermal asperity)會導(dǎo)致檢測不到第一同步標(biāo)記，這種TA主要是由于作為磁頭的GMR元件的特性所導(dǎo)致的。(更多關(guān)于TA細節(jié)參見日本專利申請KOKAI Publication 10-49806。)如果沒有檢測到第一同步標(biāo)記，那么系統(tǒng)就會嘗試著去檢測第二同步標(biāo)記。
如果沒有檢測到第一同步標(biāo)記而檢測到了第二同步標(biāo)記，那么第一用戶數(shù)據(jù)項(比特長度X比特)就會被認為是錯誤數(shù)據(jù)或者已刪除數(shù)據(jù)。只要需要，第一用戶數(shù)據(jù)項可以通過使用了ECC數(shù)據(jù)的糾錯過程來進行正確的解碼。
如上所述，當(dāng)由于熱不平度(TA)而不能夠檢測到第一同步標(biāo)記時就會使用第二同步標(biāo)記。根據(jù)這一點，第二同步標(biāo)記的比特模式就必須能夠在存在熱不平度的情況下也可以可靠的被檢測到。
傳統(tǒng)的進行縱向磁記錄的磁盤驅(qū)動器中所使用的第二同步標(biāo)記一般具有的比特模式是一系列根據(jù)NRZ(非歸零)規(guī)則安排的“0”和“1”。在縱向磁記錄中，對應(yīng)于這一比特模式的任何要被復(fù)制的信號都具有恒定的幅度，它們很難被“直流-消去”。
正如現(xiàn)有技術(shù)中所證實的，當(dāng)發(fā)生了熱不平度(TA)時，再現(xiàn)信號的基線就會偏移。結(jié)果，任何再現(xiàn)信號的幅度變化都可能會導(dǎo)致數(shù)據(jù)檢測中的錯誤。第二同步標(biāo)記比第一同步標(biāo)記更容易發(fā)生由于基線偏移而造成的檢測錯誤。
進行垂直磁記錄的磁盤驅(qū)動器所再現(xiàn)的任何信號都具有包含直流分量的低頻分量。所以，當(dāng)讀取通道具有對低頻分量截止的傳輸特性時，所有再現(xiàn)信號都會發(fā)生一個稱為“低頻帶截止緊縮(low-bandcutoff strain)”的基線偏移。
對于具有低頻帶截止特性的讀取通道，第二同步標(biāo)記是有問題的，這是因為它的比特模式是根據(jù)了NRZ(非歸零)規(guī)則的一系列“0”和“1”。讀取通道對具有固定幅度的第二同步標(biāo)記所產(chǎn)生的基線偏移在第二同步標(biāo)記的最末端部分幾乎達到最大。這樣，基線偏移就會不可避免的在緊跟第二同步標(biāo)記之后且具有隨機比特模式的用戶數(shù)據(jù)中延續(xù)一段時間。
總之，在進行垂直磁記錄的任何磁盤驅(qū)動器中，第二同步標(biāo)記所導(dǎo)致的基線偏移都會持續(xù)一段時間。所以，磁盤驅(qū)動器就有可能無法檢測到緊跟在第二同步標(biāo)記之后的用戶數(shù)據(jù)的前幾個比特。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個目標(biāo)就在于提供一個包括了用來記錄同步標(biāo)記的裝置的磁盤驅(qū)動器，該同步標(biāo)記能夠以很高的幾率被檢測到，且不會給跟在同步標(biāo)記之后的用戶數(shù)據(jù)的檢測增加誤碼率。
該磁盤驅(qū)動器包括一個盤狀記錄媒質(zhì)，所述盤狀記錄媒質(zhì)所含有的每個數(shù)據(jù)扇區(qū)都具有一個第一同步標(biāo)記區(qū)域、一個第二同步標(biāo)記區(qū)域和一個數(shù)據(jù)區(qū)域；一個在盤狀記錄媒質(zhì)的每個數(shù)據(jù)扇區(qū)中寫入數(shù)據(jù)的磁頭；用來產(chǎn)生第一同步標(biāo)記以及第二同步標(biāo)記的比特模式的同步標(biāo)記產(chǎn)生裝置，所述第一同步標(biāo)記被用來檢測每個數(shù)據(jù)扇區(qū)的頭，所述第二同步標(biāo)記與第一同步標(biāo)記的比特模式不同，第二同步標(biāo)記的比特模式包括一系列代表正極性的比特以及一系列代表負極性的比特，比另一系列比特長的那一系列比特的比特長度至少是第二同步標(biāo)記總比特長度的50％，但同時又不超過對應(yīng)了從數(shù)據(jù)區(qū)域再現(xiàn)數(shù)據(jù)過程中所能承受的誤碼率而設(shè)定的最大上限；以及用來將數(shù)據(jù)信號加到磁頭上的寫入裝置，所述數(shù)據(jù)信號包括由同步標(biāo)記產(chǎn)生裝置所產(chǎn)生的第一同步標(biāo)記和第二同步標(biāo)記。


作為說明書一部分的附圖解釋了本發(fā)明的實施例，它們和上面的一般性描述以及下面對實施例的具體描述一起解釋了本發(fā)明的原理。
圖1中的框圖表示了根據(jù)本發(fā)明第一實施例的磁盤驅(qū)動器的主要部件；圖2A和2B表示了第一實施例中所采用的數(shù)據(jù)扇區(qū)的數(shù)據(jù)格式；圖3A到3F表示了第一實施例中所采用的第二同步標(biāo)記的比特模式；圖4解釋了第一實施例中使用的第二同步標(biāo)記所希望的比特模式；圖5A和5B表示了第二同步標(biāo)記的比特模式的第一變形；圖6A和6B表示了第二同步標(biāo)記的比特模式的第二變形；圖7A和7B表示了第二同步標(biāo)記的比特模式的第三變形；圖8中的框圖表示了根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的磁盤驅(qū)動器的主要部件；圖9A到9C表示了用在另一實施例中的第二同步標(biāo)記的比特模式；圖10A到10C表示了用在另一實施例中第二同步標(biāo)記的其它比特模式；圖11中的框圖表示了本發(fā)明另一實施例所使用的前編碼器；以及圖12中的框圖表示了本發(fā)明另一實施例所使用的前編碼器。
具體實施例方式
下面將會通過參考附圖來描述本發(fā)明的實施例。
圖1中的框圖表示了根據(jù)本發(fā)明第一實施例的盤磁盤驅(qū)動器的主要部件。
(磁盤驅(qū)動器的配置)根據(jù)該實施例的磁盤驅(qū)動器是一個垂直磁性記錄裝置。如圖1所示，它包括一個盤1、一個主軸電動機(SPM)12、一個探頭10、一個驅(qū)動裝置、以及一個控制/信號處理電路系統(tǒng)。盤1會在垂直于它表面的方向上表現(xiàn)出磁各向異性。SPM12會旋轉(zhuǎn)盤1。探頭10包括一個寫入頭和一個讀取頭。寫入頭可以進行垂直磁性記錄。讀取頭包括一個巨磁阻(GMR)元件。促動器控制著探頭10，并使得探頭10能夠在盤1上方的徑向方向上移動。
促動器包括一個臂11和一個音圈電機(VCM)13。臂11控制著探頭10，且包括一個懸架。VCM13會產(chǎn)生驅(qū)動力。微處理器(CPU)43會對促動器進行伺服控制，從而使得促動器能夠?qū)⑻筋^10移動到盤1上的一個目標(biāo)位置(也就是盤1的一個目標(biāo)磁道)。
控制/信號處理電路系統(tǒng)具有一個探頭放大電路20、一個讀取/寫入(R/W)通道30、一個硬盤控制器(HDC)41、CPU43、存儲器44以及一個電機驅(qū)動器14。電機驅(qū)動器14將驅(qū)動電流提供給VCM13和SPM12。
HDC41被作為磁盤驅(qū)動器和主系統(tǒng)(例如一臺個人電腦或者一個數(shù)字設(shè)備)之間的接口。它能夠傳送從盤1讀取的數(shù)據(jù)(此后將被稱為“讀取數(shù)據(jù)”)以及將要寫入盤1的數(shù)據(jù)(此后將被稱為“寫入數(shù)據(jù)”)。HDC41含有一個糾錯電路(ECC)42，從而就可以確定從讀/寫通道30得到的讀取數(shù)據(jù)是不是有錯。如果讀取數(shù)據(jù)出錯，那么HDC41就會糾正讀取數(shù)據(jù)。
CPU43是磁盤驅(qū)動器的主要控制部件。換句話說，伺服系統(tǒng)的主要元件伺服控制了促動器，能夠最終將探頭10移動到目標(biāo)磁道。CPU43會根據(jù)讀/寫通道30中所提供的伺服解調(diào)電路40所產(chǎn)生的伺服數(shù)據(jù)，來控制探頭10的查找操作和跟蹤。更具體的，CPU43控制了加在電機驅(qū)動器14中VCM驅(qū)動器14B上的控制電壓。通過對其輸入電壓控制，VCM驅(qū)動器14A就驅(qū)動和控制了促動器的VCM13。
存儲器44包括一個RAM、一個ROM以及一個閃存EEPROM。它記錄了用來控制CPU43的程序以及多個控制數(shù)據(jù)項。除了VCM驅(qū)動器14B之外，電機驅(qū)動器14還包括一個SPM驅(qū)動器14A。SPM驅(qū)動器14A驅(qū)動了SPM12。
探頭放大電路20具有一個寫入放大器21和一個讀取放大器22。寫入放大器21將寫入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成將被送到寫入頭上的記錄電流。讀取放大器22將讀取頭從盤1所讀取的任何信號進行放大。被放大的信號被送到讀/寫通道30。讀取頭所讀取的信號對應(yīng)了由寫入頭通過垂直磁記錄二寫到盤1中的數(shù)據(jù)(也就是同步信號和用戶數(shù)據(jù))。
讀/寫通道30具有兩個子通道，也就是讀取通道和寫入通道。寫入通道具有一個同步標(biāo)記產(chǎn)生器38和一個數(shù)據(jù)調(diào)制器。該數(shù)據(jù)調(diào)制器與一個數(shù)據(jù)解調(diào)器(將在下面描述)一起組成了數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39。該數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39會以一個預(yù)設(shè)的編碼率M/N來進行運行寬度限制(RLL)編碼/解碼。(也就是說，電路39會將M比特用戶數(shù)據(jù)編碼成要記錄的N比特數(shù)據(jù)。)正如下文中所要提到的，同步標(biāo)記產(chǎn)生器38會產(chǎn)生與盤1中每個扇區(qū)數(shù)據(jù)格式相一致的兩個比特模式(比特列)。這兩個比特模式對應(yīng)了第一同步標(biāo)記和第二同步標(biāo)記。這些比特模式會被加到在被數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39調(diào)制后將而寫入的用戶數(shù)據(jù)中(見圖2)。
讀取通道包括一個高通濾波器(HPF)31、一個自增益控制(AGC)放大器32、一個低通濾波器(LPF)33、一個模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器34、一個數(shù)字有限沖擊響應(yīng)(FIR)濾波器35、一個viterbi探測器36、一個同步標(biāo)記檢測器37以及伺服解調(diào)電路40。
HPF31可以將直流偏置屏蔽在AGC放大器32以及讀取放大器22(提供在探頭放大電路20中)之外，從而實現(xiàn)交流耦合。AGC放大器32能夠?qū)ψ陨磉M行控制，從而將復(fù)制自盤1的任何信號放大到一個理想的恒定幅度。LPF33能夠?qū)⒏哂陬A(yù)設(shè)頻帶的任何頻率的噪聲清除出去。
A/D轉(zhuǎn)換器34能夠?qū)碜员P1的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。數(shù)字FIR濾波器35會對數(shù)字信號進行均衡，對該信號加入一個perpartial response(PR)類型的波形，從而使得信號變得適合于諸如PR3方案的垂直磁記錄。
所述viterbi檢測器36通過使用viterbi算法來檢測記錄的比特，所述viterbi算法指的是將具有所希望的PR波形的數(shù)字信號解碼成具有最大相似度的信號。
同步標(biāo)記檢測器37會進行比特模式匹配，從而就可以從viterbi檢測器36所檢測到的比特中發(fā)現(xiàn)第一同步標(biāo)記。在長于應(yīng)該檢測到第一同步標(biāo)記的時間且短于應(yīng)該監(jiān)測到第二同步標(biāo)記的時間的這樣的一個時間段內(nèi)，同步標(biāo)記檢測器37有可能檢測不到第一同步信號。在這樣的情況下，同步標(biāo)記檢測器37會通過比特匹配來檢測第二同步標(biāo)記。
伺服解調(diào)電路40會將來自盤1伺服扇區(qū)2的再現(xiàn)信號進行解調(diào)，從而產(chǎn)生伺服信號。伺服信號就是已經(jīng)記錄在伺服扇區(qū)區(qū)域2中的伺服數(shù)據(jù)。(伺服數(shù)據(jù)包括一個圓柱碼和一個伺服-突發(fā)信號。)(數(shù)據(jù)格式)如圖2A所示，盤1在兩個表面上都有多個數(shù)據(jù)道3。數(shù)據(jù)道3是彼此共心的。如圖2A所示，每個數(shù)據(jù)道3包括多個數(shù)據(jù)扇區(qū)4。在磁盤驅(qū)動器中，從主系統(tǒng)中傳送過來的數(shù)據(jù)會被分成數(shù)據(jù)塊，這些數(shù)據(jù)塊被記錄在盤1的數(shù)據(jù)扇區(qū)4中。
數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39會以一定的編碼比M/N對用戶數(shù)據(jù)進行調(diào)制，從而產(chǎn)生Y比特數(shù)據(jù)。該Y比特數(shù)據(jù)被記錄在數(shù)據(jù)扇區(qū)3中。如圖2B所示，該Y比特數(shù)據(jù)按照其再現(xiàn)順序包括一個前序100、第一同步標(biāo)記110、第一用戶數(shù)據(jù)項120、第二同步標(biāo)記130、第二用戶數(shù)據(jù)項140、ECC數(shù)據(jù)150以及后后序160。第一用戶數(shù)據(jù)項120是一個包含X比特的調(diào)制數(shù)據(jù)。第二用戶數(shù)據(jù)項140是包含(X-Y)比特的調(diào)制數(shù)據(jù)。ECC數(shù)據(jù)也是被調(diào)制的。
前序100是一個能夠?qū)⑻筋^10從數(shù)據(jù)扇區(qū)中所讀取的任何信號幅度調(diào)整到預(yù)定值的ACT，或者是一個能夠在對數(shù)據(jù)進行解碼的過程中進行時鐘同步的一定頻率的信號。第一用戶數(shù)據(jù)項120是具有X比特長度的調(diào)制數(shù)據(jù)，它是編碼字的比特長度N的N倍。
(同步標(biāo)記的檢測與數(shù)據(jù)寫入)
下面將通過參考圖3A到3F以及圖4，還有圖1和圖2A、2B來解釋本實施例中同步標(biāo)記的寫入。首先將描述同步標(biāo)記是怎樣被檢測的。
在磁盤驅(qū)動器中，CPU43通過將探頭移動到作為盤1的目標(biāo)磁道的數(shù)據(jù)道3上來進行伺服控制(也就是對探頭進行定位)。探頭10會向或從數(shù)據(jù)道3中的數(shù)據(jù)扇區(qū)4讀取或者寫入數(shù)據(jù)。從數(shù)據(jù)扇區(qū)4讀取的數(shù)據(jù)或者即將寫入數(shù)據(jù)扇區(qū)4的數(shù)據(jù)包括第一同步標(biāo)記110以及第二同步標(biāo)記130，還包括用戶數(shù)據(jù)項120和140。
在數(shù)據(jù)讀取操作中，當(dāng)同步標(biāo)記檢測器37檢測到第一同步標(biāo)記110時，數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39就會對第一用戶數(shù)據(jù)項120進行解調(diào)(或解碼)。當(dāng)同步標(biāo)記檢測器37檢測到第二同步標(biāo)記130時，數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39就會對第二用戶數(shù)據(jù)項140進行解調(diào)(或解碼)。然后，同步標(biāo)記檢測器37就會對viterbi檢測器36所輸出的一系列比特與一個同步標(biāo)記的參考比特模式進行模式匹配，這里所述的viterbi檢測器36已經(jīng)對數(shù)字再現(xiàn)信號進行了解碼。當(dāng)發(fā)現(xiàn)這一些列比特與參考比特模式是一樣的時候，同步標(biāo)記檢測器37就會向數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39輸出表示模式匹配的結(jié)果的數(shù)據(jù)。
從模式匹配的結(jié)果中，數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39就可以確認緊跟在同步標(biāo)記最后一個比特之后的比特組成了被調(diào)制的用戶數(shù)據(jù)。然后，電路39就會將被調(diào)制的N比特再現(xiàn)數(shù)據(jù)解調(diào)成M比特用戶數(shù)據(jù)，也就是原始數(shù)據(jù)。
即使S比特同步標(biāo)記中所有比特所組成的模式不完全與參考比特模式相同，同步標(biāo)記檢測器37也會認為同步標(biāo)記已經(jīng)被檢測到。例如，如果S比特同步標(biāo)記中的(S-1)比特或者(S-2)比特與參考比特模式中對應(yīng)比特相同，那么檢測器37就會認為已經(jīng)檢測到同步標(biāo)記。
同步標(biāo)記檢測器37首先會檢測第一同步標(biāo)記110。如果成功檢測到第一同步標(biāo)記110，從對應(yīng)第二同步標(biāo)記130的比特中所提取的比特就形成了從viterbi檢測器36中輸出的一些列比特。這些比特被提供到數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39。
如果同步標(biāo)記檢測器37沒有檢測到第一同步標(biāo)記110，它檢測第二同步標(biāo)記。可以預(yù)測從數(shù)據(jù)扇區(qū)開始再現(xiàn)數(shù)據(jù)到可以檢測到第一同步標(biāo)記的時間。同樣也可以預(yù)測能夠檢測到第二同步標(biāo)記的時間。這樣，如果經(jīng)過的時間長于檢測第一同步標(biāo)記所需的預(yù)測時間而又短于檢測第二同步標(biāo)記所需的預(yù)測時間，同時又沒有檢測到第一同步標(biāo)記110，那么就可以確保不可能檢測到第一同步標(biāo)記110。
同步標(biāo)記檢測器37有可能會檢測不出第一同步標(biāo)記110，而成功檢測到第二同步標(biāo)記130。如果是這樣，數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39就會對跟在第二同步標(biāo)記130后面的第二用戶數(shù)據(jù)項140進行解調(diào)。所得到的解調(diào)數(shù)據(jù)是比特長度為(Y-X)×N/M的用戶數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39會在解調(diào)數(shù)據(jù)的頭部加上一些數(shù)據(jù)項，例如對應(yīng)第一用戶數(shù)據(jù)項(X比特)的(X×N)/M個“0”。該數(shù)據(jù)項與解調(diào)數(shù)據(jù)的組合被輸出到HDC41。
在HDC41中，ECC42所使用的ECC數(shù)據(jù)150包含在數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39所輸出的解調(diào)數(shù)據(jù)150中。這樣，ECC42就會對比特長度為(X×N)/M且對應(yīng)了第一用戶數(shù)據(jù)項的數(shù)據(jù)進行糾錯，從而對第一用戶數(shù)據(jù)項(比特長度X)進行了解碼。
要加到用戶數(shù)據(jù)中的ECC數(shù)據(jù)150可以是諸如RS(Reed-Solomon)碼這樣的糾錯碼。ECC數(shù)據(jù)150可以是含有GF(210)比特且包含40個符號(400比特)的RS碼。在這種情況下，最多可以對20個符號(200比特)進行糾錯。這樣，只要(X×N)/M等于或小于400((X×N)/M≤400)，那么即使數(shù)據(jù)項110，也就是比特長度為(X×N)/M的解調(diào)數(shù)據(jù)，徹底錯了，ECC42也能夠可靠的對第一用戶數(shù)據(jù)項110進行解調(diào)。
(第二同步標(biāo)記的寫入)正如前文所指出的，由于熱不平度(TA)所導(dǎo)致的再現(xiàn)信號中的基線偏移，在從盤1中讀取數(shù)據(jù)時有可能檢測不到第一同步標(biāo)記110。通常，TA會在探頭接觸到盤1上的微小突起(缺陷)時發(fā)生，從而不可避免的對再現(xiàn)信號產(chǎn)生基線偏移。
基線偏移是基線發(fā)生的階梯式的改變。它會沿著一條指數(shù)函數(shù)所表示的曲線逐漸減小，直到再現(xiàn)信號的基線變成一個正常的值。當(dāng)信號的基線發(fā)生變化時，信號的幅度就會變化。數(shù)據(jù)檢測的錯誤就不可避免的會發(fā)生。數(shù)據(jù)檢測錯誤尤其會在讀/寫通道30中發(fā)生。這是因為第一同步標(biāo)記110的模式是用戶數(shù)據(jù)所不具有的隨機比特模式。
根據(jù)這一點，第二同步標(biāo)記130所具有的比特模式就最好能夠在再現(xiàn)信號的基線發(fā)生改變的情況下，也能使得第二同步標(biāo)記130以較高的幾率被檢測到(也就是在所有的檢測錯誤的風(fēng)險時)。
更確切的，第二同步標(biāo)記130所具有的模式必須具有長的直流-消去區(qū)域，其中逐個排列的只有多個“0”或者多個“1”，從而使得再現(xiàn)信號能夠在同樣的幅度上保持較長的時間。換句話說，第二同步標(biāo)記130所希望具有的比特模式中的比特對應(yīng)了盤1的被正磁化或者負磁化的那些部分。
然而，根據(jù)本實施例的磁盤驅(qū)動器是進行垂直磁記錄的。所以，如果TA造成了基線偏移，那么該偏移會在具有恒定幅度的第二同步標(biāo)記130最末端達到最大值。所以，在緊跟著第二同步標(biāo)記130的第二用戶數(shù)據(jù)項的開始部分也會存在基線偏移。
第二用戶數(shù)據(jù)項140具有的比特模式幾乎是隨機的。所以，如果第二同步標(biāo)記130具有的比特模式給第二同步標(biāo)記130加入了一個長的直流-消去區(qū)域，那么第二用戶數(shù)據(jù)項就不能被可靠的檢測。從而就會在檢測比特時產(chǎn)生錯誤。
這是因為垂直磁記錄的讀/寫通道50具有一個低頻帶頻率截止的特性。所以，在具有連續(xù)多個“0”或“1”序列的第二同步標(biāo)記130種就會發(fā)生基線偏移。該基線偏移是一種低頻帶頻率截止緊縮，因此是一個問題。
根據(jù)本實施例的磁盤驅(qū)動器會在寫入數(shù)據(jù)的過程中在盤1的一個數(shù)據(jù)扇區(qū)中寫入第二同步模式130。該第二同步模式130在發(fā)生基線偏移的情況下也能夠被可靠的檢測到，同時它不會降低對跟在第二同步標(biāo)記130之后的第二用戶數(shù)據(jù)項140進行檢測的能力。適合作為第二同步標(biāo)記130的比特模式將在下文中描述。
圖4中的實驗表明了第二同步標(biāo)記130會怎樣影響對第二用戶數(shù)據(jù)項140的檢測能力，這里的第二用戶數(shù)據(jù)項被記錄在存有第二同步標(biāo)記的區(qū)域之后的部分。在圖4中，x軸表示了同樣極性(也就是，全“0”或全“1”)的連續(xù)比特對組成第二同步標(biāo)記130的所有比特的比值(％)。而y軸表示了在再現(xiàn)第二用戶數(shù)據(jù)項140時所觀察到的誤碼率(對數(shù)坐標(biāo))。
該實驗的假設(shè)在于可忍受的最高誤碼率為-6。正如圖4所明示的，在第二同步標(biāo)記130所應(yīng)該具有的理想比特模式中，相同極性的連續(xù)比特(也就是多個“0”或“1”)占所有比特的比值至少為50％但要小于85％。換句話說，在第二同步標(biāo)記130的比特模式中，相同極性的連續(xù)比特(也就是k個“0”或“1”)占所有比特的比值不應(yīng)為80％或更多。
假設(shè)第二同步標(biāo)記130的比特模式具有定義了比特長度Tm的連續(xù)比特“0”(每個都代表了負的極性)，以及定義了比特長度Tp的連續(xù)比特“1”(每個都代表了正的極性)。
記錄在盤1中組成第二同步標(biāo)記130的兩種比特模式可以具有相同的比特長度，也就是Tp＝Tm。換句話說，組成第二同步標(biāo)記130的一半(50％)數(shù)量的比特代表正的極性，而剩下的一半(50％)數(shù)量的比特代表負的極性。這種類型的比特模式被稱為“直流平衡模式”。
可替換的，第二同步標(biāo)記130可以至少具有兩種比特模式，其中比特長度Tp和Tm滿足|Tp-Tm|≤10比特。
通常，第二同步標(biāo)記130的比特長度為20比特或者更大。假設(shè)第二同步標(biāo)記130的總比特長度為20比特，兩個比特模式的比特長度Tp和Tm滿足|Tp-Tm|≤10比特。那么，讓Tp＝15、Tm＝5。這樣，相同極性比特所定義的最長比特長度占組成第二同步標(biāo)記130的所有比特的比值就是0.75(＝15/20)。該比值滿足了上述要求，也就是相同極性的連續(xù)比特占所有比特的比值至少為50％但要小于85％。
第二同步標(biāo)記130最好不包含NRZ-記錄規(guī)則的比特模式，這是因為它們很可能會在PRML系統(tǒng)中導(dǎo)致標(biāo)記130的檢測失誤。(在NRZ-記錄規(guī)則中，比特“0”和“1”是交替記錄在盤1中的，其中每個比特“0”代表負極性，而每個“1”代表正極性。)更具體的，第二同步標(biāo)記130不能包含“101”、“010”、“1010”、“0101”、“10101”或“01010”這樣的比特模式。第二同步標(biāo)記130所包含的比特模式最好也不要含有表示用RLL調(diào)制的用戶數(shù)據(jù)或者ECC數(shù)據(jù)的記錄比特。
下面將通過參考圖3A到3F來描述一個滿足了上述要求的第二同步標(biāo)記130的比特模式。
圖3A和3D代表了同步標(biāo)記130中所包含的比特模式。該比特模式由S1和S2這兩個區(qū)域組成。區(qū)域S1都為比特“0”(表示負極性)，且比特長度為Tm。區(qū)域S2都為比特“1”(表示正極性)，且比特長度為Tp。注意這里的比特長度Tm和Tp是相等的(Tm＝Tp)。
如圖3A所示，比特長度L為1的第二同步標(biāo)記130的第一區(qū)域A不會組成像“101”或“010”這樣的比特模式。如果第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“1”，那么比特“1”就會被記錄在第一區(qū)域A中。這是因為如果在第一區(qū)域A中記錄“0”的話”那么就會形成“101”這樣的模式。
如圖3D所示，如果用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“0”，那么記錄到第一區(qū)域A的比特就會是“0”。這是因為如果在第一區(qū)域A中記錄“1”的話，那么就會形成“010”這樣的模式。
所以，第二同步標(biāo)記130的比特模式會根據(jù)第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K的值而發(fā)生圖3A和圖3D所示的改變。但是，第二同步標(biāo)記130的第一區(qū)域A中的比特不用于同步標(biāo)記檢測器37所進行的比特模式匹配操作。
用戶數(shù)據(jù)和ECC數(shù)據(jù)是用RLL碼進行調(diào)制的。NRZI-記錄規(guī)則中最大的運行寬度為10比特。也就是說，代表相同極性的連續(xù)比特的數(shù)量應(yīng)該為10或者更少。
在第二同步標(biāo)記130的比特模式中，區(qū)域S1和區(qū)域S2各自具有11比特。第二同步標(biāo)記130的比特模式既不會包含用戶數(shù)據(jù)的比特模式也不會包含ECC數(shù)據(jù)的比特模式。注意，用戶數(shù)據(jù)和ECC數(shù)據(jù)都是用RLL碼進行調(diào)制的。
圖5A和5B表示了第二同步標(biāo)記的比特模式的第一變形。圖6A和6B表示了該比特模式的第二變形。圖7A和7B表示了該比特模式的第三變形。
圖5A和5B的兩個比特模式與圖3A和3D的不同之處在于，區(qū)域S1是由比特“1”所定義的，區(qū)域S2是由比特“0”所定義的。但區(qū)域S1的比特長度Tp與區(qū)域S2的比特長度Tm是相等的。
也就是說，比特“1”都被記錄在區(qū)域S1，它們中的每個都表示了正極性，而比特“0”都被記錄在區(qū)域S2，它們中的每個都表示了負極性，也就是，第二同步標(biāo)記130包含的比特模式是由區(qū)域S1和區(qū)域S2所組成的。
圖5A的比特模式中的第一區(qū)域A是比特“1”，這是因為第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“1”。相反的，圖5B的比特模式中的第一區(qū)域A是比特“0”，這是因為第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“0”。
圖6A和6B中的比特模式的特征在于，區(qū)域S1和S2的比特長度不同。更確切的，由比特“0”所定義的區(qū)域S1的比特長度Tm小于區(qū)域R2的比特長度Tp。也就是，Tm＜Tp。注意|Tp-Tm|＝1≤10比特。
這樣，比特“0”(代表負極性)就被記錄在區(qū)域S1中，其比特長度相應(yīng)的就是Tm。而比特“1”(代表正極性)就被記錄在區(qū)域S2中，其比特長度相應(yīng)的就是Tp。從而，第二同步標(biāo)記130具有的比特模式就包含區(qū)域S1和S2。
圖6A的比特模式中的第一區(qū)域A是比特“1”，這是因為第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“1”。相反的，圖6B的比特模式中的第一區(qū)域A是比特“0”，這是因為第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“0”。
圖7A和7B中的比特模式都包含有區(qū)域A、S1、S2、S3和S4。區(qū)域A的比特長度為L。區(qū)域S1和S3是由比特“0”定義的，且比特長度分別為Tm1和Tm2。區(qū)域S2和S4是由比特“1”定義的，且比特長度分別為Tp1和Tp2。注意，|Tp-Tm|＝1。區(qū)域A、S1、S2、S3和S5組成了第二同步標(biāo)記130的比特模式。
圖7A的比特模式中的第一區(qū)域A是比特“1”，這是因為第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“1”。另一方面，圖7B的比特模式中的第一區(qū)域A是比特“0”，這是因為第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“0”。
綜上，當(dāng)在圖2B所示的扇區(qū)格式中寫入數(shù)據(jù)時，作為第一同步標(biāo)記110寫入的是一個普通隨機模式，而作為第二同步標(biāo)記130寫入的是滿足圖4所示要求的比特模式。
第二同步標(biāo)記130所包含的比特模式中，一半(50％)是由代表負極性的連續(xù)比特“0”所定義的，而剩下的一半(50％)是由代表正極性的連續(xù)比特“1”所定義的。
區(qū)域A(也就是第二同步標(biāo)記130的第一區(qū)域)中的比特會根據(jù)第一用戶數(shù)據(jù)的最后一個比特的值而取“0”或者“1”。這樣，第二同步標(biāo)記130就不會包含有可能導(dǎo)致標(biāo)記130檢測錯誤的比特模式，例如“101”、“010”、“1010”、“0101”、“10101”或“01010”。
在根據(jù)本實施例進行垂直磁記錄的磁盤驅(qū)動器中，即使在從盤1讀取數(shù)據(jù)時第二同步標(biāo)記130發(fā)生了TA所導(dǎo)致的基線偏移，第二同步標(biāo)記130也能以很高的幾率被檢測到。這就降低了再現(xiàn)第二用戶數(shù)據(jù)項140時的誤碼率。
(另一實施例)圖8、圖9A到9C、圖10A到10C、圖11以及圖12表示了本發(fā)明的另一個實施例。
圖8中的框圖表示了根據(jù)本發(fā)明另一實施例的磁盤驅(qū)動器的主要部件。如圖8所示，該磁盤驅(qū)動器包括一個前編碼器71和一個后編碼器72。前編碼器71和后編碼器72分別包含在寫入通道和讀取通道中。該磁盤驅(qū)動器在其它方面與圖1中的磁盤驅(qū)動器相同。與圖1所示磁盤驅(qū)動器相同的部件在這里采用相同的附圖標(biāo)記，并且這里對它們將不再描述。
如圖11所示，前編碼器71具有一個異或門710和兩個1比特延時元件711和712。前編碼器71電路的傳輸特性由傳輸多項式1/1-D2來表示。
如圖12所示，后編碼器72具有兩個1比特延時元件720和721以及一個異或門722。后編碼器72電路的傳輸特性由傳輸多項式1-D2來表示。
在圖8所示的讀/寫通道70中，用戶數(shù)據(jù)將按照下面所述的方式寫入到盤1上的。首先，數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39會使用具有一定編碼比(M/N)的RLL碼將加入到數(shù)據(jù)中的用戶數(shù)據(jù)和ECC數(shù)據(jù)進行調(diào)制。接著，前編碼器71對用戶數(shù)據(jù)和ECC數(shù)據(jù)進行調(diào)制。然后，探頭10將輸出的數(shù)據(jù)記錄到盤1上。
為了從盤1讀取數(shù)據(jù)，viterbi檢測器36會檢測一系列數(shù)據(jù)比特。后編碼器72對這些將被送到數(shù)據(jù)調(diào)制/解調(diào)制電路39的一系列比特進行解調(diào)。電路39將這一系列比特進行解調(diào)。
在另一個實施例中，第二同步標(biāo)記130的比特模式被設(shè)計成被前編碼器71所調(diào)制的模式。也就是說，第二同步標(biāo)記130的比特模式與后編碼器72所解調(diào)的比特模式一致。
同樣在另一個實施例中，第二同步標(biāo)記130的比特模式使得即使第二同步標(biāo)記130由于TA而發(fā)生了基線偏移，第二同步標(biāo)記130也可以被可靠的檢測到。該比特模式不會降低對于跟在第二同步標(biāo)記130后面的第二用戶數(shù)據(jù)項140的檢測能力。更確切的，在該比特模式中，相同極性(正或負)的連續(xù)比特占所有比特的比值是從50％到85％。此外，第二同步標(biāo)記130至少包括的一個比特模式含有比特長度為Tp的區(qū)域，該區(qū)域由代表正極性的連續(xù)比特“1”組成，還含有比特長度為Tm的區(qū)域，該區(qū)域由代表負極性的連續(xù)比特“0”組成，其中|Tp-Tm|＝1≤10比特。
此外，第二同步標(biāo)記130不包含NRZ-記錄規(guī)則的比特模式，這是因為它們很可能會在PRML系統(tǒng)中導(dǎo)致標(biāo)記130的檢測失誤。(在NRZ-記錄規(guī)則中，比特“0”和“1”是交替記錄在盤1中的，其中每個比特“0”代表負極性，而每個“1”代表正極性。)換句話說，第二同步標(biāo)記130不能包含“101”、“010”、“1010”、“0101”、“10101”或“01010”這樣的比特模式。第二同步標(biāo)記130所包含的比特模式也不含有表示用RLL調(diào)制的用戶數(shù)據(jù)或者ECC數(shù)據(jù)的記錄比特。
圖9A到9C表示了用在另一個實施例中的第二同步標(biāo)記130的比特模式。
圖9A表示了在第一同步標(biāo)記110與第二同步標(biāo)記130之間的第一用戶數(shù)據(jù)120的最后一個比特為“1”時第二同步標(biāo)記130所具有的比特模式。該比特模式包括兩個區(qū)域S1和S2。區(qū)域S1由連續(xù)的比特“0”(代表負極性)所定義。區(qū)域S2由連續(xù)的比特“1”(代表正極性)所定義。區(qū)域S1和S2所具有的比特長度分別為Tp和Tm。比特長度Tp和Tm是相等的。
圖9B表示了在第一同步標(biāo)記110與第二同步標(biāo)記130之間的第一用戶數(shù)據(jù)120的最后一個比特為“0”時第二同步標(biāo)記130所具有的比特模式。該比特模式與圖9A中所示的比特模式相反。也就是說，該比特模式包括兩個區(qū)域S1和S2。區(qū)域S1由連續(xù)的比特“1”(代表正極性)所定義。區(qū)域S2由連續(xù)的比特“0”(代表負極性)所定義。
正如上文中結(jié)合第一實施例所述的，第二同步標(biāo)記130的比特長度為1的第一區(qū)域A使得“101”或“010”這樣的比特模式不會出現(xiàn)。如果第一用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“1”，那么比特“1”就會被記錄在第一區(qū)域A中。這是因為如果在第一區(qū)域A中記錄“0”的話，那么就會形成“101”這樣的模式。
如果用戶數(shù)據(jù)項120的最后一個比特K是“0”，那么記錄到第一區(qū)域A的比特就會是“0”。這是因為如果在第一區(qū)域A中記錄“1”的話，那么就會形成“010”這樣的模式。這就是為什么記錄在第一區(qū)域A中的是一個比特“0”。
在該實施例中，同步標(biāo)記檢測器37會通過使用從后編碼器72輸出的一系列比特來進行比特匹配。根據(jù)viterbi檢測器36從第一用戶數(shù)據(jù)項120所檢測到的比特，第二同步標(biāo)記130的第一區(qū)域A中的比特會在從后編碼器72輸出時發(fā)生改變。換句話說，區(qū)域A的第一比特是可變的。所以，在用來檢測第二同步標(biāo)記130的比特模式匹配中是不使用區(qū)域A中的第一比特的。
圖10A到10C表示了用在本發(fā)明另一個實施例中的第二同步標(biāo)記130其它比特模式。在這些比特模式中，區(qū)域S1和S2的比特長度為L1和L2，其中|L1-L2|＝1。
上述兩個實施例都是進行垂直磁記錄的磁盤驅(qū)動器。它們可以減小對緊跟在第二同步標(biāo)記后的數(shù)據(jù)進行解碼的負面影響，從而獲得數(shù)據(jù)解碼的低誤碼率。
此外，在兩個實施例中，第二同步標(biāo)記都可以可靠且正確的被檢測。這就減少了數(shù)據(jù)解碼重試的次數(shù)，從而提高了數(shù)據(jù)吞吐量。
綜上，本發(fā)明提供的磁盤驅(qū)動器能夠以很高的幾率檢測同步標(biāo)記，并且在對跟著同步標(biāo)記的用戶數(shù)據(jù)進行復(fù)制時不會增加誤碼率。
熟悉技術(shù)的人很容易發(fā)現(xiàn)其它的優(yōu)點以及改動。所以，在廣義上，本發(fā)明不限于這里所展示和說明的具體細節(jié)以及實施例。相應(yīng)的，可以在不偏離所附權(quán)利要求及其等效內(nèi)容所定義的一般發(fā)明概念的精神或范圍的情況下作多種改動。
權(quán)利要求
1.一種磁盤驅(qū)動器包括盤狀記錄媒質(zhì)以及一個磁頭，所述盤狀記錄媒質(zhì)所含有的每個數(shù)據(jù)扇區(qū)都具有一個第一同步標(biāo)記區(qū)域、一個第二同步標(biāo)記區(qū)域和一個數(shù)據(jù)區(qū)域，所述磁頭在盤狀記錄媒質(zhì)的每個數(shù)據(jù)扇區(qū)中寫入數(shù)據(jù)，該磁盤驅(qū)動器特征在于包括用來產(chǎn)生第一同步標(biāo)記以及第二同步標(biāo)記的比特模式的同步標(biāo)記產(chǎn)生裝置，所述第一同步標(biāo)記被用來檢測每個數(shù)據(jù)扇區(qū)的頭，所述第二同步標(biāo)記與第一同步標(biāo)記的比特模式不同，第二同步標(biāo)記的比特模式包括一系列代表正極性的比特以及一系列代表負極性的比特，比另一系列比特長的所述系列比特的比特長度至少是第二同步標(biāo)記總比特長度的50％，但同時又不超過根據(jù)從數(shù)據(jù)區(qū)域再現(xiàn)數(shù)據(jù)過程中所能承受的誤碼率而設(shè)定的上限；以及用來將數(shù)據(jù)信號加到磁頭上的寫入裝置，所述數(shù)據(jù)信號包括由同步標(biāo)記產(chǎn)生裝置所產(chǎn)生的第一同步標(biāo)記和第二同步標(biāo)記。
2.權(quán)利要求1中的磁盤驅(qū)動器，其特征在于比另一系列比特長的所述系列比特的比特長度與第二同步標(biāo)記總比特長度的比值至少是50％，但同時要小于85％。
3.權(quán)利要求1中的磁盤驅(qū)動器，其特征在于所述較長的系列比特的比特長度至少為50％，且其比特長度的上限最多是根據(jù)可承受誤碼率的上限的80％。
4.權(quán)利要求1中的磁盤驅(qū)動器，其特征在于所述較長的一系列比特的比特長度至少為50％，且其比特長度的上限小于根據(jù)可承受誤碼率的上限的100％。
5.權(quán)利要求1中的磁盤驅(qū)動器，其特征在于數(shù)據(jù)區(qū)域包括一個第一數(shù)據(jù)區(qū)域和一個第二數(shù)據(jù)區(qū)域，第二同步標(biāo)記跟在第一數(shù)據(jù)區(qū)域之后且在第二數(shù)據(jù)區(qū)域之前，第一數(shù)據(jù)區(qū)域在第一同步標(biāo)記之前。
6.權(quán)利要求1中的磁盤驅(qū)動器，其特征在于第二同步標(biāo)記的比特模式包括的至少一個模式由比特長度為Tp的第一系列比特以及比特長度為Tm的第二系列比特組成，第一系列的比特表示正極性，第二系列的比特表示負極性，且第一系列與第二系列之間的比特數(shù)量之差最多為十(10)。
7.權(quán)利要求1中的磁盤驅(qū)動器，其特征在于第二同步標(biāo)記的比特模式不包含在記錄于數(shù)據(jù)區(qū)域里的用戶數(shù)據(jù)比特模式中。
8.權(quán)利要求1中的磁盤驅(qū)動器，其特征在于第二同步標(biāo)記的比特模式包括除了“101”、“010”、“1010”、“0101”、“10101”和“01010”這六種以外的模式。
9.權(quán)利要求1中的磁盤驅(qū)動器，其特征在于數(shù)據(jù)區(qū)域包括一個第一數(shù)據(jù)區(qū)域和一個第二數(shù)據(jù)區(qū)域，第一數(shù)據(jù)區(qū)域在第一同步標(biāo)記區(qū)域之前，第二同步標(biāo)記區(qū)域跟在第一數(shù)據(jù)區(qū)域之后且在第二數(shù)據(jù)區(qū)域之前，第二同步標(biāo)記的比特模式包括第一數(shù)據(jù)區(qū)域所記錄最后一個比特(“0”或“1”)，并包括除了“101”、“010”、“1010”、“0101”、“10101”和“01010”這六種以外的模式。
10.用于磁盤存儲裝置中的一個方法，所述磁盤存儲裝置使用一個磁頭在一個含有數(shù)據(jù)扇區(qū)的盤狀記錄媒質(zhì)上進行垂直磁記錄，每個數(shù)據(jù)扇區(qū)都包括一個第一同步標(biāo)記區(qū)域、一個第二同步標(biāo)記區(qū)域和一個數(shù)據(jù)區(qū)域，所述方法特征在于包括在向扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)域?qū)懭霐?shù)據(jù)之前，在第一同步標(biāo)記區(qū)域中寫入用來檢測每個扇區(qū)頭的第一同步標(biāo)記；以及在第二同步標(biāo)記區(qū)域中寫入第二同步標(biāo)記，該第二同步標(biāo)記在比特模式上與第一同步標(biāo)記不同，第二同步標(biāo)記的比特模式包括一系列代表正極性的比特以及一系列代表負極性的比特，比另一系列比特長的所述系列比特的比特長度至少是第二同步標(biāo)記總比特長度的50％，但同時又不超過根據(jù)從數(shù)據(jù)區(qū)域再現(xiàn)數(shù)據(jù)過程中所能承受的誤碼率而設(shè)定的最大上限。
11.權(quán)利要求10中的方法，其特征在于比另一系列比特長的所述系列比特的比特長度與第二同步標(biāo)記總比特長度的比值至少是50％，但同時要小于85％。
12.權(quán)利要求10中的方法，其特征在于所述較長的系列比特的比特長度至少為50％，且其比特長度的上限最多是根據(jù)可承受誤碼率的上限的80％。
13.權(quán)利要求10中的方法，其特征在于所述較長的系列比特的比特長度至少為50％，且其比特長度的上限小于根據(jù)可承受誤碼率的上限的100％。
14.權(quán)利要求10中的方法，其特征在于第二同步標(biāo)記的比特模式所包括的至少一個模式由比特長度為Tp的第一系列比特以及比特長度為Tm的第二系列比特組成，第一系列的比特表示正極性，第二系列的比特表示負極性，且第一系列與第二系列之間的比特數(shù)量之差最多為十(10)。
15.權(quán)利要求10中的方法，其特征在于第二同步標(biāo)記的比特模式不包含在記錄于數(shù)據(jù)區(qū)域里的用戶數(shù)據(jù)比特模式中。
16.權(quán)利要求10中的方法，其特征在于第二同步標(biāo)記的比特模式包括除了“101”、“010”、“1010”、“0101”、“10101”和“01010”這六種以外的模式。
17.權(quán)利要求10中的方法，其特征在于數(shù)據(jù)區(qū)域包括一個第一數(shù)據(jù)區(qū)域和一個第二數(shù)據(jù)區(qū)域，第一數(shù)據(jù)區(qū)域在第一同步標(biāo)記區(qū)域之前，第二同步標(biāo)記區(qū)域跟在第一數(shù)據(jù)區(qū)域之后且在第二數(shù)據(jù)區(qū)域之前，第二同步標(biāo)記的比特模式包括第一數(shù)據(jù)區(qū)域所記錄最后一個比特(“0”或“1”)，并包括除了“101”、“010”、“1010”、“0101”、“10101”和“01010”這六種以外的模式。
全文摘要
在一個進行垂直磁記錄的磁盤驅(qū)動器中，讀/寫通道(30)具有一個同步標(biāo)記產(chǎn)生器(38)。該同步標(biāo)記產(chǎn)生器(38)會在讀/寫通道(30)開始向盤(1)寫入數(shù)據(jù)之前產(chǎn)生一個第一同步標(biāo)記。第二同步標(biāo)記所具有的比特模式包括一系列代表正極性的比特以及一系列代表負極性的比特。稍長的那一系列比特的比特長度與第二同步標(biāo)記的總比特長度的比值至少為50％，但小于85％。
文檔編號G11B5/09GK1581296SQ20041005882
公開日2005年2月16日 申請日期2004年7月30日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月31日
發(fā)明者酒井裕兒, 下村和人 申請人:株式會社東芝