專利名稱：監(jiān)測讀寫頭光檢測器上聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的系統(tǒng)與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種光驅(qū)伺服系統(tǒng)，特別是監(jiān)測反射回讀寫頭光檢測器的激光的光束輪廓提供光驅(qū)伺服系統(tǒng)的伺服控制。
背景技術(shù)：
在一般的光儲存裝置，尤其是光盤的資料讀取系統(tǒng)，是透過接收反射的激光作訊號處理，以得到紀錄于光盤上的資料。圖1為公知光驅(qū)系統(tǒng)中的光學(xué)讀寫頭結(jié)構(gòu)的示意圖。一激光光源100發(fā)射固定波長的激光，中間經(jīng)由分光鏡(Beam Splitter)110，再通過一中繼鏡片組120，最后透過物鏡裝置130將激光準(zhǔn)確地聚焦在每分鐘數(shù)百轉(zhuǎn)的光盤紀錄層140上，反射回來的激光經(jīng)由同樣的光路徑并透過一聚焦透鏡150投射于光檢測器(photo detector)160上。光檢測器160感測回光束(backward beam)投射于感測平面上的光點，經(jīng)光電轉(zhuǎn)換將光訊號轉(zhuǎn)換為電訊號以控制光學(xué)讀寫頭的動作，并將轉(zhuǎn)換的電訊號傳送至后端訊號處理單元作訊號處理與解碼，以獲得光盤上所記錄的資料。
光驅(qū)伺服控制系統(tǒng)主要的功用，在于透過一聚焦致動器(FocusingActuator)控制物鏡裝置130使激光光束正確地在光盤的紀錄層聚焦成小的光點(聚焦伺服，F(xiàn)ocusing Servo)，并透過一承載馬達(Sled motor)以及一循軌致動器(Tracking Actuator)控制光學(xué)讀寫頭平行于光盤移動以讓聚焦點正確落于光盤140軌道中央(循軌伺服，Track-Following Servo)。上述聚焦伺服與循軌伺服的控制信號，皆需由光檢測器檢測回光束產(chǎn)生的電訊號，經(jīng)訊號處理后產(chǎn)生。光檢測器是光驅(qū)伺服系統(tǒng)的關(guān)鍵零組件，功用是將由光盤反射的激光經(jīng)光電轉(zhuǎn)換為電訊號。光檢測器轉(zhuǎn)換的電訊號除了可據(jù)以施行上述伺服控制，還可經(jīng)訊號處理裝置解碼、解調(diào)變以取得紀錄于光光盤上的資料訊號。
如圖2所示，常見的光檢測器至少包含一檢測平面，其中光檢測器將感測平面20分為四個象限，分別以A、B、C、D表示，將投射于感測平面的光點經(jīng)光電轉(zhuǎn)換輸出四組電訊號，回光束反射在光檢測器20上形成一光點，而光盤資料的讀取，是將四象限上經(jīng)光電轉(zhuǎn)換形成的電訊號組合，輸出至后端訊號處理單元處理而得到資料訊號；此外，透過偵測投影在光檢測器上各分割區(qū)域的光點強度，可知目前光學(xué)讀寫頭是否已正確聚焦與循軌，并據(jù)以回授伺服控制光學(xué)讀寫頭。參考圖2A，光點200為正確聚焦、循軌下回光束打在光檢測器20上的光影像。于公知技術(shù)中，配合中繼鏡片組120的設(shè)計，若一光點210于光檢測器20呈現(xiàn)B-D走向的橢圓光點時(如圖2B)，代表物鏡裝置130過于靠近光盤，或一光點220于光檢測器20呈現(xiàn)A-C走向的橢圓光點時(如圖2C)，代表物鏡裝置130過于遠離光盤，此二種現(xiàn)象皆表示讀寫頭未正確聚焦；而若是光偵測器上AB象限具有較大的能量強度(如圖2D光點230)，表示讀寫頭偏離光盤軌道位置未正確循軌。
由于回光束包含了伺服控制所需要的資訊，若是伺服控制不穩(wěn)定或是不正確，則會直接地影響到所讀取光盤訊號的品質(zhì)。傳統(tǒng)光檢測器由于只將回光束分為四個象限感測光點面積大小并轉(zhuǎn)換為電訊號，并無法取得回光束詳細的光束輪廓資訊，舉例來說，參考圖2E，形成的光點240與正確聚焦循軌的光點200相同，但光點240的能量分布不均勻，可能是光盤或物鏡裝置130傾斜產(chǎn)生像差(aberration)，而使光點240于AB象限上具較大強度。若是傳統(tǒng)光檢測器，便會視光點240與圖2D中的光點230同為循軌不正確，而無法發(fā)現(xiàn)因光路傾 斜造成像差的問題。然而，由于讀取光盤上所儲存的資料時，要求光檢測器需具有數(shù)十MHz頻寬，故不適宜使用解析 度較高的檢光裝置；若使用解析度較高的檢光裝置，例如80×80像素的電荷偶合元件(Charged Coupled Device，CCD)或互補式互補式金氧半導(dǎo)體(Complementary MOS，CMOS)感測器，則會由于其頻寬限制(約數(shù)十kHz)，無法滿足目前光驅(qū)高速資料存取的需要。
由上述可知，由于公知的光檢測器解析度的限制，目前讀寫頭架構(gòu)并無法在提供伺服控制與光盤資料所需的訊號的同時，取得光檢測器上回光束的光束輪廓。若使用高解析度的感測器如CCD、CMOS感測器取代公知的光感測器，其頻寬限制卻不符合高速傳輸?shù)男枰?br>
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種監(jiān)測讀寫頭光檢測器上聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的系統(tǒng)。
本發(fā)明的又一目的在于提供一種監(jiān)測讀寫頭光檢測器上聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的方法。
本發(fā)明提供的系統(tǒng)和方法，可于伺服控制系統(tǒng)正常運作下取得回光束的光束輪廓，也就是激光束聚焦在光盤紀錄層反射到光檢測器上光點實際的光束輪廓。由分析回光束的光束輪廓我們可以加強了解讀寫頭系統(tǒng)的特性，作為光驅(qū)系統(tǒng)或裝置設(shè)計的參考，以優(yōu)化光學(xué)讀取系統(tǒng)。
另外，檢測回光束的光束輪廓可得到目前讀寫頭系統(tǒng)的狀況，例如光盤是否有傾斜情形，進而輔助調(diào)整光驅(qū)的伺服控制系統(tǒng)。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，該光驅(qū)系統(tǒng)包含一中繼鏡片組，用以傳遞由光盤反射的一光訊號；一光檢測器接收部分該光訊號，經(jīng)光電轉(zhuǎn)換為一第一電訊號；一訊號處理單元與該光檢測器電性耦接，用以接收該第一電訊號并輸出一伺服控制訊號；以及一監(jiān)測系統(tǒng)，用以擷取部分該光訊號，并輸出一第二電訊號至該訊號處理單元，以調(diào)整該伺服控制訊號。
所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其中該監(jiān)測系統(tǒng)包含一分光元件，用以將該光訊號分光形成一第一光訊號與一第二光訊號，其中該第一光訊號為該光檢測器所接收；一影像感測裝置，用以感測該第二光訊號的光束輪廓經(jīng)光電轉(zhuǎn)換形成一第二電訊號；以及一光束輪廓分析裝置電性耦接于該影像感測裝置與該訊號處理單元，用以分析輸入的該第二電訊號并輸出一第三電訊號至該訊號處理單元。
所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其中該光檢測器至少包含一檢測平面，該檢測平面分為四個象限，以將每一象限上受光面積經(jīng)光電轉(zhuǎn)換為電氣訊號并形成該第一電訊號，且利用調(diào)整該訊號處理單元對上述四個象限的電氣訊號的個別增益以調(diào)整該伺服控制訊號。
根據(jù)本發(fā)明，還提供一種由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，該光驅(qū)系統(tǒng)包含一中繼鏡片組，用以傳遞由光盤反射的一光訊號；一分光元件，用以將該光訊號分為一第一光訊號與一第二光訊號；一光檢測器，用以將該第一光訊號經(jīng)光電轉(zhuǎn)換形成一第一電訊號；一訊號處理單元與該光檢測器電性耦接，用以輸入該第一電訊號形成一第一伺服訊號；一影像感測裝置，用以感測該第二光訊號的光束輪廓形成一第二電訊號；以及一光束輪廓分析裝置電性耦接于該影像感測裝置，用以分析輸入的該第二電訊號并輸出一第二伺服訊號；其中該光驅(qū)系統(tǒng)根據(jù)該第一伺服訊號與該第二伺服訊號實施光驅(qū)伺服控制。
所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其中該影像感測裝置為一高解析度的光學(xué)影像感測裝置，其感測平面分為復(fù)數(shù)個小范圍，以該復(fù)數(shù)個小范圍為單位擷取該第二光訊號的該光束輪廓，經(jīng)光電轉(zhuǎn)換形成該第二電訊號；該高解析度的光學(xué)影像感測裝置為一電荷偶合元件感測器或互補式金氧半導(dǎo)體感測器。
所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其中該分光元件置于該中繼鏡片組與該光檢測器之間；該分光元件為一分光鏡或一立方體分光鏡。
所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其中還包含一鏡片組置于該分光元件與該影像感測裝置之間，以放大該第二光訊號于該影像感測裝置上形成的光點影像。
本發(fā)明提供的監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的方法，該方法包括將由光盤反射的激光光回光束分光投射至一影像感測裝置；利用該影像感測裝置感測該部分回光束的光束輪廓；利用一光束輪廓分析裝置分析該部分回光束的該光束輪廓，以提供一控制訊號至一伺服訊號產(chǎn)生單元；以及利用該伺服訊號產(chǎn)生單元根據(jù)該控制訊號調(diào)整一伺服控制訊號，其中該伺服控制訊號用以控制光驅(qū)系統(tǒng)。
所述監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的方法，其中該伺服訊號產(chǎn)生單元電性連接于該光檢測器與該光束輪廓分析裝置，以接收該光檢測器的一電訊號形成該伺服控制訊號，并根據(jù)該控制訊號調(diào)整該伺服控制訊號。
所述監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的方法，其中該影像感測裝置為一高解析度的光學(xué)影像感測裝置，其感測平面分為復(fù)數(shù)個小范圍，以該復(fù)數(shù)個小范圍為單位擷取部分該回光束的該光束輪廓；該高解析度的光學(xué)影像感測裝置為一電荷耦合元件感測器或一互補式金氧半導(dǎo)體感測器。


圖1為公知的光驅(qū)系統(tǒng)的示意圖；圖2A至圖2E為讀寫頭光檢測器上聚光狀態(tài)的示意圖；圖3A為本發(fā)明公開的系統(tǒng)的一較佳實施例的示意圖；圖3B為本發(fā)明公開的系統(tǒng)的另一實施例示意圖；圖4為監(jiān)測系統(tǒng)的另一實施例的示意圖；以及圖5為本發(fā)明公開的方法的一實施例。
具體實施例方式
本發(fā)明的一些實施方式會詳細描述如下。然而，除了詳細描述的內(nèi)容外，本發(fā)明還可以廣泛地在其他的實施例施行，且本發(fā)明的范圍不受限定，其以的后的申請專利范圍為準(zhǔn)。
參考圖3A，為一種可監(jiān)測讀寫頭光檢測器上聚光狀態(tài)的系統(tǒng)的一實施例，為方便說明，圖中僅繪制反射的回光束，也就是由激光光源投射至光盤上的光路徑并未繪制于圖中。另外圖中虛線部分為光訊號，實線部份為電訊號。公知光驅(qū)系統(tǒng)包括一光檢測器300，一中繼鏡片組310，以及一訊號處理單元320。光檢測器300具前述四象限的檢測平面，將光盤370反射的激光經(jīng)光電轉(zhuǎn)換成A、B、C、D四組電訊號(訊號305)，并傳送至訊號處理單元320。訊號處理單元320輸入包含ABCD四象限電氣訊號的光檢測器輸出訊號305，運算后提供伺服控制訊號325至聚焦致動器、承載馬達、以及循軌致動器(未繪制于圖中)完成讀寫頭聚焦與循軌控制，并且將光檢測器輸出訊號305轉(zhuǎn)換為數(shù)字資料訊號326送至后端解調(diào)變/解碼電路，以取得光盤紀錄的資料。中繼鏡片組310是光盤370反射的激光反射至光檢測器300所通過光路徑上光學(xué)元件的總成，可為準(zhǔn)直鏡、反射鏡、聚焦透鏡等鏡片的組合，其作用是讓反射光能正確地投射于至光檢測器300上。
根據(jù)本發(fā)明，相較于公知光驅(qū)系統(tǒng)，本實施例還加入一監(jiān)測系統(tǒng)36，包含一分光元件330、一影像感測裝置340、以及一光束輪廓分析裝置350，組成可檢測讀寫頭光檢測器上聚光狀態(tài)，并調(diào)整伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)30。實施例使用一分光元件330將原先反射至光檢測器300的回光束分成二條具相同光束輪廓的回光束。其中一第一回光束332仍投射在光檢測器300上，光電轉(zhuǎn)換后提供伺服控制與讀取光盤資料所需的電訊號，而另一第二回光束334則投落在影像感測裝置320上。第一回光束332、第二回光束334具有相同光束輪廓，故投射在光檢測器300與影像感測裝置340上的光影像具類似的能量分布與影像形狀，但兩者光束強度并不限定必須相同，而由影像感測裝置340接收第二回光束334并由光束輪廓分析裝置350分析，可得與投射在光檢測器300上的第一回光束332相同的光束輪廓分析結(jié)果。影像感測裝置340使用解析度高的光學(xué)影像感測裝置，例如80×80像素的CCD或CMOS感測器，可感測較高解析度的回光束光點影像，其檢測平面由陣列式感光畫素組成而分為復(fù)數(shù)個細小區(qū)域，可取得回光束的光束輪廓資訊并進一步分析光路的問題，并適當(dāng)?shù)靥峁┧欧到y(tǒng)修正其參數(shù)。
分光元件330可以是一簡單的分光鏡、立方體分光鏡、或是偏光分光鏡等分光元件。分光鏡讓一部分入射光反射至影像感測裝置320，一部份光穿透鏡片并投射至光檢測器300上。由分光鏡面鍍膜的不同可得到反射光不同的反射/穿透比，使第一回光束332、第二回光束334具不同的強度。如上述，本發(fā)明并不限定兩條回光束具相同強度。
于影像感測裝置340取得回光束的光束輪廓并轉(zhuǎn)換為電訊號后，經(jīng)由一光束輪廓分析裝置350作分析，輸出一控制訊號355至訊號處理單元320調(diào)整光碟伺服系統(tǒng)的控制。例如，參考圖2E，圖中光點為一以原點為中心的同心圓，但在AB象限具較大強度。光束輪廓分析裝置350分析取得的光束輪廓得知AB象限具較大強度，可能是光盤傾斜造成。若是傳統(tǒng)四象限光檢測器無法檢測出此現(xiàn)象，而僅判斷為讀寫頭循軌控制不正確。此時光束輪廓分析裝置350得以提供一控制訊號355調(diào)整訊號處理單元320對ABCD訊號的個別增益、或是調(diào)整一物鏡傾角致動器以調(diào)整物鏡傾角至較佳位置。
舉例來說，若原本循軌控制訊號是根據(jù)(A+B)-(C+D)訊號函式關(guān)系，控制讀寫頭向外圈或內(nèi)圈移動。由分析光束輪廓得知，上述因光盤傾斜使AB象限具較大光束強度，而判斷目前并未正確循軌，然而，以目前光盤傾斜狀態(tài)下，回光束路徑時以正確投射至光檢測器300中心。故為修正此一情形，訊號處理單元320可參照訊號355以改變上述函式關(guān)系，例如增加C、D訊號的增益為k倍，將循軌控制的函式關(guān)系改為(A+B)-k(C+D)，進而調(diào)整光盤伺服系統(tǒng)的循軌控制?；蚴菍BCD四組電訊號組成光檢測器輸出訊號的函式關(guān)系調(diào)整為A+B+k*(C+D)，使得訊號處理單元320輸出的數(shù)字資料訊號326送至后端解調(diào)變/解碼電路可取得較準(zhǔn)確的紀錄資料。
上述提出的訊號355調(diào)整訊號處理單元320的方法，是利用調(diào)整ABCD訊號的增益實施，其僅為了闡明系統(tǒng)可行的實施方式，本發(fā)明提出的系統(tǒng)并不限定訊號355的實際功能。
另外，圖3A為本發(fā)明的一較佳實施例，在本發(fā)明的另一實施例中，光束輪廓分析裝置350輸出的訊號355可輸入另一訊號處理單元，并直接調(diào)整光驅(qū)伺服控制。參考圖3B為本發(fā)明的另一實施例，與上一實施例相異在于，光束輪廓分析裝置350′分析回光束的光束輪廓后，利用內(nèi)建于光束輪廓分析裝置350′而與原本的訊號處理單元分開設(shè)置的一伺服訊號產(chǎn)生單元(圖中未繪示)，直接形成一伺服控制訊號385輸出以控制調(diào)整伺服系統(tǒng)的運作，譬如控制光盤轉(zhuǎn)速、聚焦，或其他光學(xué)元件的位置(例如調(diào)整物鏡傾角至較佳位置)。而光檢測器300′的輸出訊號305′仍透過一訊號處理單元320′(同于圖3A的訊號處理單元320)輸出一數(shù)字資料訊號326′與伺服控制訊號325′。其余各組成單元(光檢測器300′、分光元件330′、影像感測裝置340′等)如前一實施例，于此不再贅述。
此外，監(jiān)測系統(tǒng)36中投射至影像感測裝置340的第二回光束334，可在光路徑中增加一些鏡片組合，使落在影像感測裝置340的光點影像放大，以取得更詳細的光束輪廓。圖4提供上述監(jiān)視系統(tǒng)36的另一實施例。經(jīng)分光元件430分光后，投射至切面42的光點與投射至光檢測器400的切面44的光點影像具相同光束輪廓。實施例中，將影像感測裝置340由原先切面42的位置后移，并于光路徑上增加一鏡片組410，例如凸透鏡與聚焦透鏡的組合，使回光束投射于高解析度的影像感測裝置440時，讓回光束光點放大得到較清楚的光點影像。
參考圖5，以下所述為一監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)，用以調(diào)整光盤伺服系統(tǒng)的方法的一實施例，其方法包括將部分由光盤反射的激光回光束分光投射至一具較高解析度的影像感測裝置(步驟510)。其后由該影像感測裝置感測回光束的光束輪廓，并經(jīng)光電轉(zhuǎn)換形成光束輪廓訊號(步驟520)。接著輸入該光束輪廓訊號至一光束輪廓分析裝置來分析回光束的光束輪廓，并提供一訊號至一伺服訊號產(chǎn)生單元(步驟530)。最后由該伺服訊號產(chǎn)生單元根據(jù)上述訊號調(diào)整光盤伺服系統(tǒng)的控制(步驟540)。
上述伺服訊號產(chǎn)生單元即為圖3中訊號處理單元320或320′，或是內(nèi)建于光束輪廓分析裝置350′中。調(diào)整光盤伺服系統(tǒng)的方法例如改變訊號處理單元320對ABCD訊號個別增益，或是直接控制調(diào)整伺服系統(tǒng)，方法并不限定。其余相關(guān)元件裝置組成皆與前述實施例不變，于此不再贅述。
這里要說明的是，利用高解析度的感測裝置對取得的回光束的光束輪廓進行分析，并施用于現(xiàn)行光驅(qū)伺服系統(tǒng)可提供伺服系統(tǒng)更佳的控制。此外，本發(fā)明并未更改其他公知光碟伺服系統(tǒng)的組成元件，而僅于回光路增加一分光元件及一較高解析度的影像感測裝置即可取得投射于光檢測器的光束輪廓，其于產(chǎn)業(yè)利用性上可大大提升產(chǎn)品的品質(zhì)，而不會增加太大的成本。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并非用以限定本發(fā)明的申請專利權(quán)利；同時以上的描述對于熟知本技術(shù)領(lǐng)域的專門人士應(yīng)可明了及實施，因此其他未脫離本發(fā)明所揭露的精神下所完成的等效改變或修飾，均應(yīng)包含在申請的專利范圍中。
權(quán)利要求
1.一種由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，該光驅(qū)系統(tǒng)包含一中繼鏡片組，用以傳遞由光盤反射的一光訊號；一光檢測器接收部分該光訊號，經(jīng)光電轉(zhuǎn)換為一第一電訊號；一訊號處理單元與該光檢測器電性耦接，用以接收該第一電訊號并輸出一伺服控制訊號；以及一監(jiān)測系統(tǒng)，用以擷取部分該光訊號，并輸出一第二電訊號至該訊號處理單元，以調(diào)整該伺服控制訊號。
2.如權(quán)利要求1所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其特征在于，其中該監(jiān)測系統(tǒng)包含一分光元件，用以將該光訊號分光形成一第一光訊號與一第二光訊號，其中該第一光訊號為該光檢測器所接收；一影像感測裝置，用以感測該第二光訊號的光束輪廓經(jīng)光電轉(zhuǎn)換形成一第二電訊號；以及一光束輪廓分析裝置電性耦接于該影像感測裝置與該訊號處理單元，用以分析輸入的該第二電訊號并輸出一第三電訊號至該訊號處理單元。
3.如權(quán)利要求1所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其特征在于，其中該光檢測器至少包含一檢測平面，該檢測平面分為四個象限，以將每一象限上受光面積經(jīng)光電轉(zhuǎn)換為電氣訊號并形成該第一電訊號，且利用調(diào)整該訊號處理單元對上述四個象限的電氣訊號的個別增益以調(diào)整該伺服控制訊號。
4.一種由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，該光驅(qū)系統(tǒng)包含一中繼鏡片組，用以傳遞由光盤反射的一光訊號；一分光元件，用以將該光訊號分為一第一光訊號與一第二光訊號；一光檢測器，用以將該第一光訊號經(jīng)光電轉(zhuǎn)換形成一第一電訊號；一訊號處理單元與該光檢測器電性耦接，用以輸入該第一電訊號形成一第一伺服訊號；一影像感測裝置，用以感測該第二光訊號的光束輪廓形成一第二電訊號；以及一光束輪廓分析裝置電性耦接于該影像感測裝置，用以分析輸入的該第二電訊號并輸出一第二伺服訊號；其中該光驅(qū)系統(tǒng)根據(jù)該第一伺服訊號與該第二伺服訊號實施光驅(qū)伺服控制。
5.如權(quán)利要求2或4所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其特征在于，其中該影像感測裝置為一高解析度的光學(xué)影像感測裝置，其感測平面分為復(fù)數(shù)個小范圍，以該復(fù)數(shù)個小范圍為單位擷取該第二光訊號的該光束輪廓，經(jīng)光電轉(zhuǎn)換形成該第二電訊號；該高解析度的光學(xué)影像感測裝置為一電荷偶合元件感測器或互補式金氧半導(dǎo)體感測器。
6.如權(quán)利要求2或4所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其特征在于，其中該分光元件置于該中繼鏡片組與該光檢測器之間；該分光元件為一分光鏡或一立方體分光鏡。
7.如權(quán)利要求2或4所述由監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的光驅(qū)系統(tǒng)，其特征在于，其中還包含一鏡片組置于該分光元件與該影像感測裝置之間，以放大該第二光訊號于該影像感測裝置上形成的光點影像。
8.一種監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的方法，該方法包括將由光盤反射的激光光回光束分光投射至一影像感測裝置；利用該影像感測裝置感測該部分回光束的光束輪廓；利用一光束輪廓分析裝置分析該部分回光束的該光束輪廓，以提供一控制訊號至一伺服訊號產(chǎn)生單元；以及利用該伺服訊號產(chǎn)生單元根據(jù)該控制訊號調(diào)整一伺服控制訊號，其中該伺服控制訊號用以控制光驅(qū)系統(tǒng)。
9.如權(quán)利要求8所述監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的方法，其特征在于，其中該伺服訊號產(chǎn)生單元電性連接于該光檢測器與該光束輪廓分析裝置，以接收該光檢測器的一電訊號形成該伺服控制訊號，并根據(jù)該控制訊號調(diào)整該伺服控制訊號。
10.如權(quán)利要求9所述監(jiān)測讀寫頭光檢測器的聚光狀態(tài)以調(diào)整光驅(qū)伺服控制的方法，其特征在于，其中該影像感測裝置為一高解析度的光學(xué)影像感測裝置，其感測平面分為復(fù)數(shù)個小范圍，以該復(fù)數(shù)個小范圍為單位擷取部分該回光束的該光束輪廓；該高解析度的光學(xué)影像感測裝置為一電荷耦合元件感測器或一互補式金氧半導(dǎo)體感測器。
全文摘要
本發(fā)明公開一種由監(jiān)測讀寫頭光檢測器上的聚光狀態(tài)，來調(diào)整光驅(qū)伺服控制的系統(tǒng)與方法。利用一分光元件，將讀寫頭光檢測器上的回光束分光至一較高解析度的影像感測裝置，在伺服系統(tǒng)正常運作下取得回光束的光束輪廓(beam profile)。由分析回光束的光束輪廓我們可以加強了解讀寫頭系統(tǒng)的特性，以輔助調(diào)整光驅(qū)的伺服控制。
文檔編號G11B7/09GK1787088SQ20041009792
公開日2006年6月14日 申請日期2004年12月6日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月6日
發(fā)明者侯勝發(fā) 申請人:建興電子科技股份有限公司