專利名稱：光學(xué)拾取器和光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光學(xué)拾取器(optical pickup)和光盤裝置，其將信息信號(hào)記錄到在其上以光學(xué)方式執(zhí)行信息記錄和再現(xiàn)的光盤上或從該光盤再現(xiàn)信息信號(hào)，其中所述光盤例如是磁光盤或相位改變型光盤。
背景技術(shù)：
隨著諸如光盤這樣的信息記錄介質(zhì)的密度增大，提供了使用具有各種波長(zhǎng)的光源并且包括具有各種厚度的保護(hù)性基底的格式。需要一種具有與多種類型的光盤兼容性的光學(xué)拾取器。
在實(shí)踐中，最近已經(jīng)知道了一種具有兼容性的光學(xué)拾取器，其允許信息信號(hào)被記錄在使用不同波長(zhǎng)并且包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的不同格式的光盤上，并且允許從這種光盤再現(xiàn)信息信號(hào)。例如，作為具有與不同格式的光盤的兼容性的光學(xué)拾取器，有這樣一種光學(xué)拾取器，它包括不同光學(xué)系統(tǒng)，并且針對(duì)每個(gè)格式切換光學(xué)系統(tǒng)。但是，這種光學(xué)拾取器要求多種類型的光學(xué)系統(tǒng)之間的切換機(jī)構(gòu)，因此具有復(fù)雜的結(jié)構(gòu)，從而導(dǎo)致成本增大。此外，由于切換機(jī)構(gòu)尺寸較大，因此難以減小光學(xué)拾取器的尺寸。
從而，在相關(guān)技術(shù)的光學(xué)拾取器中，例如日本專利申請(qǐng)公布H09-147405中公開的光學(xué)拾取器中，通過將具有不同波長(zhǎng)的光束輻射在包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的光盤上，具體而言，通過對(duì)每個(gè)格式使用具有不同波長(zhǎng)的光束，實(shí)現(xiàn)了與多種格式的光盤的兼容性。同時(shí)，共享了光學(xué)組件，從而減小了光學(xué)拾取器的尺寸。

發(fā)明內(nèi)容
然而，在上述相關(guān)技術(shù)的光學(xué)拾取器中，難以實(shí)現(xiàn)與各自使用具有相同波長(zhǎng)的光束并包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的多個(gè)光盤的兼容性。
因此，希望提供一種光學(xué)拾取器和/或光盤裝置，其能夠?qū)⑿畔⒂涗浽诟髯园ň哂胁煌穸鹊谋Ｗo(hù)性基底的多種類型的光盤上并且從這多種類型的光盤再現(xiàn)信息，同時(shí)適當(dāng)?shù)匦Ｕ蛎嫦癫睿瑥亩ㄟ^共享光學(xué)組件來(lái)實(shí)現(xiàn)尺寸減小。本發(fā)明是在考慮到上述問題的情況下實(shí)現(xiàn)的。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，提供了一種光學(xué)拾取器和/或包括這種光學(xué)拾取器的光盤裝置，用于將信息信號(hào)記錄在多個(gè)光盤上或者從多個(gè)光盤再現(xiàn)信息信號(hào)，所述多個(gè)光盤每個(gè)包括具有不同厚度的用于保護(hù)信號(hào)記錄表面的保護(hù)性基底。該光學(xué)拾取器包括光源部分，其適于發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光束；第一物鏡，其適于將光收集到信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第一厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；第二物鏡，其適于將光收集到信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第二厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；極化切換部分，其適于切換從光源部分發(fā)射的光束的極化狀態(tài)；以及極化分束器，其適于根據(jù)由極化切換部分所切換的光束的極化狀態(tài)來(lái)將光束引導(dǎo)到第一物鏡或第二物鏡。
根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器和/或光盤裝置利用從光源部分發(fā)射的光束來(lái)適當(dāng)?shù)匦Ｕ髯园ň哂胁煌穸鹊挠糜谧x寫信號(hào)的保護(hù)性基底的多種類型的光盤的球面像差。此外，可以共享光學(xué)組件。因此，可以簡(jiǎn)化配置并減小配置尺寸，從而降低制造成本。


圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的使用光學(xué)拾取器的光盤裝置的配置的電路框圖；圖2是用于說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光學(xué)拾取器的光學(xué)系統(tǒng)的光線圖；圖3是用于說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例對(duì)于每個(gè)光盤，光學(xué)拾取器中的光束的光路和極化狀態(tài)的光線圖；以及圖4是用于說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例對(duì)于每個(gè)光盤，光學(xué)拾取器的另一個(gè)示例中的光束的光路和極化狀態(tài)的光線圖。
具體實(shí)施例方式
下面，將參考附圖描述根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的使用光學(xué)拾取器的光盤裝置。
如圖1中所示，根據(jù)本實(shí)施例的光盤裝置1包括光學(xué)拾取器3，用于將信息記錄到光盤2或者從光盤2再現(xiàn)信息；主軸馬達(dá)4，其充當(dāng)用于可旋轉(zhuǎn)地操作光盤2的驅(qū)動(dòng)裝置；以及進(jìn)給馬達(dá)5，用于在光盤2的徑向上移動(dòng)光學(xué)拾取器3。光盤裝置1已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了允許信息被記錄在不同格式的多種類型的光盤上和/或被從不同格式的多種類型的光盤再現(xiàn)的兼容性。
可以用于本實(shí)施例中的光盤2例如是諸如其上可以按可記錄的方式添加信息的CD(高密盤)、DVD(數(shù)字多功能盤)、CD-R(可記錄)和DVD-R(可記錄)以及可向其重寫信息的CD-RW(可重寫)、DVD-RW(可重寫)和DVD+RW(可重寫)之類的光盤，利用具有約405nm的短發(fā)射波長(zhǎng)的半導(dǎo)體激光(藍(lán)紫激光束)來(lái)實(shí)現(xiàn)高密度記錄的光盤，磁光盤，等等。
具體而言，作為下面的光盤裝置1可從其再現(xiàn)信息或在其上記錄信息的四種類型的光盤，在以下描述中使用了第一光盤11、第二光盤12、第三光盤13和第四光盤14，其中第一光盤11包括厚度為0.1mm的保護(hù)性基底并利用波長(zhǎng)約為405nm的光束作為記錄/再現(xiàn)光來(lái)實(shí)現(xiàn)高密度記錄，第二光盤12包括厚度為0.6mm的保護(hù)性基底并利用波長(zhǎng)約為405nm的光束作為記錄/再現(xiàn)光來(lái)實(shí)現(xiàn)高密度記錄，第三光盤13包括厚度為0.6mm的保護(hù)性基底并利用波長(zhǎng)約為655的光束作為記錄/再現(xiàn)光，第四光盤14包括厚度為1.2mm的保護(hù)性基底并利用波長(zhǎng)約為785nm的光束作為記錄/再現(xiàn)光。
在光盤裝置1中，主軸馬達(dá)4和進(jìn)給馬達(dá)5被伺服控制電路9所控制，以根據(jù)盤的類型而被驅(qū)動(dòng)，該伺服控制電路9是基于來(lái)自還充當(dāng)盤類型確定裝置的系統(tǒng)控制器7的指令而被控制的。例如，主軸馬達(dá)4和進(jìn)給馬達(dá)5根據(jù)第一光盤11、第二光盤12、第三光盤13和第四光盤14中的任何一個(gè)而以預(yù)定的轉(zhuǎn)數(shù)被驅(qū)動(dòng)。
光學(xué)拾取器3包括具有與多類格式的兼容性的光學(xué)系統(tǒng)。光學(xué)拾取器3向不同格式的光盤的記錄層發(fā)射具有不同波長(zhǎng)的光束，并且檢測(cè)來(lái)自記錄層的光束反射光。光學(xué)拾取器3從檢測(cè)到的反射光向前置放大器部分8提供與每個(gè)光束相對(duì)應(yīng)的信號(hào)。
來(lái)自前置放大器部分8的輸出被發(fā)送到信號(hào)調(diào)制器/解調(diào)器和糾錯(cuò)碼模塊(以下稱為信號(hào)調(diào)制/解調(diào)和ECC模塊)15。信號(hào)調(diào)制/解調(diào)和ECC模塊15執(zhí)行信號(hào)的調(diào)制和解調(diào)以及ECC(糾錯(cuò)碼)的添加。光學(xué)拾取器3將光束發(fā)射到光盤2的記錄層上，該光盤2根據(jù)來(lái)自信號(hào)調(diào)制/解調(diào)和ECC模塊15的指令旋轉(zhuǎn)。
前置放大器部分8被配置為基于與對(duì)于每個(gè)格式以不同方式檢測(cè)到的光束相對(duì)應(yīng)的信號(hào)生成聚焦誤差信號(hào)、循軌(tracking)誤差信號(hào)、RF信號(hào)等等。根據(jù)與記錄或再現(xiàn)目標(biāo)介質(zhì)相對(duì)應(yīng)的光盤2的類型，基于光盤2的格式執(zhí)行預(yù)定的過程，例如解調(diào)和糾錯(cuò)過程。
例如，如果被信號(hào)調(diào)制/解調(diào)和ECC模塊15解調(diào)的所記錄信號(hào)是用于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的，則所記錄的信號(hào)通過接口16被傳遞到外部計(jì)算機(jī)17。結(jié)果，外部計(jì)算機(jī)17等可以接收記錄在光盤2上的信號(hào)，作為再現(xiàn)的信號(hào)。
如果被信號(hào)調(diào)制/解調(diào)和ECC模塊15解調(diào)的所記錄信號(hào)是用于視聽的，則所記錄的信號(hào)要經(jīng)歷D/A和A/D轉(zhuǎn)換器18的D/A轉(zhuǎn)換部分的數(shù)模轉(zhuǎn)換，以便隨后被提供到音頻視頻處理部分19。然后，所記錄的信號(hào)在音頻視頻處理部分19中經(jīng)歷音頻視頻處理，以便通過音頻視頻信號(hào)輸入/輸出部分20被傳遞到外部成像投影儀(未示出)等。
在光學(xué)拾取器3中，由伺服控制電路9執(zhí)行例如對(duì)用于將光學(xué)拾取器3移動(dòng)到光盤2上的預(yù)定記錄軌道的進(jìn)給馬達(dá)5的控制、對(duì)主軸馬達(dá)4的控制、對(duì)用于支撐充當(dāng)光學(xué)拾取器3中的光收集裝置的物鏡的雙軸致動(dòng)器的聚焦方向和循軌方向驅(qū)動(dòng)的控制。
激光控制部分21控制光學(xué)拾取器3的激光光源。在這個(gè)特定示例中，具體而言，激光控制部分21控制激光光源，以在記錄模式和再現(xiàn)模式之間改變輸出功率。激光控制部分21還控制激光光源，以根據(jù)光盤2的類型改變輸出功率。激光控制部分21根據(jù)由盤類型確定部分22檢測(cè)到的光盤2的類型來(lái)切換光學(xué)拾取器3的激光光源。
盤類型確定部分22可以基于第一至第四光盤11至14之間的表面反射率、形狀、輪廓等的差異來(lái)檢測(cè)光盤2的不同格式。
構(gòu)成光盤裝置1的每個(gè)模塊被配置為實(shí)現(xiàn)根據(jù)盤類型確定部分22中的檢測(cè)結(jié)果基于要加載的光盤的規(guī)格來(lái)進(jìn)行信號(hào)處理。
系統(tǒng)控制器7基于從盤類型確定部分22發(fā)送來(lái)的檢測(cè)結(jié)果來(lái)確定光盤2的類型。作為確定光盤類型的技術(shù)，如果光盤被容納在盤盒內(nèi)，則給出提供穿過盤盒的檢測(cè)孔并使用接觸檢測(cè)傳感器或按鈕開關(guān)來(lái)檢測(cè)光盤類型的技術(shù)作為示例。為了確定相同光盤中的記錄層，可以使用基于記錄在光盤的最內(nèi)周上的預(yù)刻凹坑或凹槽中的內(nèi)容表(TOC)中的信息來(lái)確定對(duì)其執(zhí)行記錄/再現(xiàn)的記錄層的方法。
伺服控制電路9被系統(tǒng)控制器7根據(jù)盤類型確定部分22的確定結(jié)果所控制，以控制光學(xué)拾取器3中的焦距，即，下面描述的準(zhǔn)直鏡36的位置。伺服控制電路9例如檢測(cè)光學(xué)拾取器3和光盤2之間的相對(duì)位置(包括基于光盤2上記錄的地址信號(hào)檢測(cè)位置的情況)，以確定向其記錄信息信號(hào)或從其再現(xiàn)信息信號(hào)的記錄區(qū)域。
按上述方式配置的光盤裝置1利用主軸馬達(dá)4可旋轉(zhuǎn)地驅(qū)動(dòng)光盤2，根據(jù)來(lái)自伺服控制電路9的控制信號(hào)控制進(jìn)給馬達(dá)5的驅(qū)動(dòng)，并且將光學(xué)拾取器3移動(dòng)到與光盤2上的預(yù)期記錄軌道相對(duì)應(yīng)的位置，從而將信息記錄在光盤2上或從光盤2再現(xiàn)信息。
下面，將詳細(xì)描述上述用于記錄/再現(xiàn)的光學(xué)拾取器3。
光學(xué)拾取器3執(zhí)行在多個(gè)光盤上的記錄和/或從多個(gè)光盤的再現(xiàn)，所述多個(gè)光盤中的每一個(gè)包括用于保護(hù)信號(hào)記錄表面的具有不同厚度的保護(hù)性基底。具體而言，在描述時(shí)將假定光學(xué)拾取器3將信息信號(hào)記錄在第一光盤11和第二光盤12上或從第一光盤11和第二光盤12再現(xiàn)信息信號(hào)；第一光盤11包括具有約為0.1mm的第一厚度的第一保護(hù)性基底并且使用具有約為405nm的第一波長(zhǎng)的光束作為記錄/再現(xiàn)光，第二光盤12包括具有約為0.6mm的第二厚度的第二保護(hù)性基底并且使用具有約為405nm的第一波長(zhǎng)的光束作為記錄/再現(xiàn)光。
如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的光學(xué)拾取器3包括光源部分31，用于發(fā)射具有約405nm的第一波長(zhǎng)的光束；第一物鏡32，用于將具有第一波長(zhǎng)的光束收集到第一光盤11的信號(hào)記錄表面11a上，同時(shí)減小或消除依照具有第一厚度的保護(hù)性基底的球面像差；第二物鏡33，用于將具有第一波長(zhǎng)的光束收集到第二光盤12的信號(hào)記錄表面12a上，同時(shí)減小或消除依照具有第二厚度的保護(hù)性基底的球面像差；極化切換部分34，用于選擇性地切換從光源部分31發(fā)射的光束的極化狀態(tài)；以及極化分束器35，用于基于由極化切換部分34切換的光束極化狀態(tài)來(lái)將光束引導(dǎo)到第一物鏡32或第二物鏡33。
光學(xué)拾取器3還包括在光源部分31和極化切換部分34之間提供的準(zhǔn)直鏡36，用于變換從光源部分31發(fā)射的光束的發(fā)散角，以將光束變換成大致平行的光束；在光源部分31和準(zhǔn)直鏡36之間提供的光柵37，用于將光束分割成由0階光束和±1階光束構(gòu)成的三個(gè)光束，以獲得循軌誤差信號(hào)等等；光電檢測(cè)器38，用于接收被信號(hào)記錄表面反射的返回光；在極化分束器35和光電檢測(cè)器38之間提供的聚光透鏡39，用于將經(jīng)過的光束聚集在光電檢測(cè)器38上；以及在極化分束器35和光電檢測(cè)器38之間提供的多透鏡(multi-lens)40，用于生成散光，以獲得聚焦誤差信號(hào)。
光學(xué)拾取器3還包括反射鏡43，用于反射穿過極化分束器35的光束以改變光束的光路，從而將光束引導(dǎo)到第二物鏡33；在極化分束器35和第一物鏡32之間提供的第一四分之一波片41，用于向被極化分束器35反射的光束施加四分之一波長(zhǎng)的相位差；以及在反射鏡43和第二物鏡33之間提供的第二四分之一波片42，用于向被反射鏡43反射的光束施加四分之一波長(zhǎng)的相位差。
光源部分31向第一光盤11或第二光盤12發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)(即第一波長(zhǎng))的光束。
第一物鏡32具有與具有第一波長(zhǎng)的光束相對(duì)應(yīng)的第一焦距和為0.85的數(shù)值孔徑。對(duì)于包括具有第一厚度的第一保護(hù)性基底的第一光盤11，第一物鏡32將具有第一波長(zhǎng)的光束收集到信號(hào)記錄表面11a上，同時(shí)減小或消除依照第一保護(hù)性基底的球面像差。
在第一物鏡32的光入射一側(cè)，提供了第一孔徑濾波器(未示出)，其充當(dāng)用于限制入射在第一物鏡32上的光束的孔徑的孔徑限制元件。第一孔徑濾波器將經(jīng)過的具有第一波長(zhǎng)的光束的數(shù)值孔徑限制到0.85。
第二物鏡33具有與具有第一波長(zhǎng)的光束相對(duì)應(yīng)的第二焦距和為0.65的數(shù)值孔徑。對(duì)于包括具有第二厚度的第二保護(hù)性基底的第二光盤12，第二物鏡33將具有第一波長(zhǎng)的光束收集到信號(hào)記錄表面12a上，同時(shí)減小或消除依照第二保護(hù)性基底的球面像差。
在第二物鏡33的光入射一側(cè)，提供了第二孔徑濾波器(未示出)，其充當(dāng)用于限制入射在第二物鏡33上的光束的孔徑的孔徑限制元件。第二孔徑濾波器將經(jīng)過的具有第一波長(zhǎng)的光束的數(shù)值孔徑限制到0.65。
極化切換部分34例如由極化切換液晶34a和液晶驅(qū)動(dòng)電路34b構(gòu)成。極化切換部分34基于由盤類型確定部分22檢測(cè)到的盤類型來(lái)選擇性地切換經(jīng)過的光束的極化狀態(tài)。具體而言，當(dāng)所加載的光盤2是第一光盤11時(shí)，極化切換部分34的極化切換液晶34a被液晶驅(qū)動(dòng)電路34b接通，以將具有第一波長(zhǎng)的光束的極化狀態(tài)從S波轉(zhuǎn)換為P波，以允許具有第一波長(zhǎng)的光束出射。另一方面，當(dāng)所加載的光盤2是第二光盤12時(shí)，液晶驅(qū)動(dòng)電路34b使極化切換部分34的極化切換液晶34a保持在關(guān)斷狀態(tài)，以允許經(jīng)過的具有第一波長(zhǎng)的光束仍以S波的形式出射。
雖然在本實(shí)施例中極化切換液晶34a和液晶驅(qū)動(dòng)電路34b被用作極化切換部分34，但是極化切換部分34并不局限于此。例如，極化切換部分34可以由極化狀態(tài)轉(zhuǎn)換裝置和驅(qū)動(dòng)裝置構(gòu)成，其中極化狀態(tài)轉(zhuǎn)換裝置例如是半波片，驅(qū)動(dòng)裝置用于將極化狀態(tài)轉(zhuǎn)換裝置插入到光路中或?qū)⑵鋸墓饴分幸瞥?br> 此外，入射在極化切換液晶34a上的光束，即從光源部分31發(fā)射的光束的極化狀態(tài)被描述為S波；當(dāng)極化切換液晶34a被接通時(shí)，光束的極化狀態(tài)被轉(zhuǎn)換為P波，而當(dāng)極化切換液晶34a被關(guān)斷時(shí)，光束的極化狀態(tài)保持為S波不變。但是，極化切換并不局限于此。入射在極化切換液晶34a上的光束，即從光源部分31發(fā)射的光束的極化狀態(tài)可以是P波。在這種情況下，當(dāng)極化切換液晶34a被接通時(shí)，光束的極化狀態(tài)被轉(zhuǎn)換成S波，而當(dāng)極化切換液晶34a被關(guān)斷時(shí)，光束的極化狀態(tài)保持為P波不變。在這種情況下，可以顛倒上述切換操作，即接通/關(guān)斷控制。
極化分束器35包括分離面35a，在該分離面35a上形成了具有這樣的極化依賴性的光學(xué)薄膜透射幾乎所有以S波形式經(jīng)過的光束，并反射幾乎所有以P波形式經(jīng)過的光束。
極化分束器35可以根據(jù)極化切換部分34所切換的光束極化狀態(tài)來(lái)選擇性地將光束引導(dǎo)向第一物鏡32或第二物鏡33。具體而言，極化分束器35在入射光束是P波時(shí)反射光束以將光束的光路引導(dǎo)向第一物鏡32，而在入射光束是S波時(shí)透射光束以將光束的光路引導(dǎo)向第二物鏡33。
雖然在本實(shí)施例中極化分束器35被配置為透射S波并且反射P波，但是極化分束器35并不局限于此。例如，極化分束器35也可以被配置為反射S波并且透射P波。在這種情況下，可以顛倒上述極化切換部分34的切換操作，即接通/關(guān)斷控制。
極化分束器35還將從光盤反射的通過第一物鏡32或第二物鏡33收集的光束的每個(gè)返回光的光路與從光源部分31發(fā)射的入射光的光路分離開來(lái)，以將返回光引導(dǎo)向光電檢測(cè)器38。具體而言，從光盤反射的通過第一物鏡32收集的返回光由于第一四分之一波片41而保持為S波入射在極化分束器35上，如下所述。因此，返回光經(jīng)過分離面35a以被引導(dǎo)向光電檢測(cè)器38。另一方面，從光盤反射的通過第二物鏡33收集的返回光被第二四分之一波片42轉(zhuǎn)換成P波入射在極化分束器35上，如下所述。因此，返回光被分離面35a反射以被引導(dǎo)向光電檢測(cè)器38。
準(zhǔn)直鏡36變換從光源部分31發(fā)射的每個(gè)經(jīng)過的具有第一波長(zhǎng)的光束的發(fā)散角以將光束變換成大致平行的光束，然后允許大致平行的光束被輸出到極化切換液晶34a。
光電檢測(cè)器38包括光電檢測(cè)設(shè)備，用于接收通過經(jīng)由光柵37的分離獲得的三個(gè)光束，并用于檢測(cè)由多透鏡40施加的散光。以這種方式，光電檢測(cè)器38除了可以檢測(cè)信息信號(hào)外，還可以檢測(cè)其他各種信號(hào)，例如循軌誤差信號(hào)和聚焦誤差信號(hào)。
聚光透鏡39變換被極化分束器35引導(dǎo)向光電檢測(cè)器38的光束的發(fā)散角，以將光束聚焦在光電檢測(cè)器38的光電檢測(cè)設(shè)備上。
第一四分之一波片41向經(jīng)過的光束施加四分之一波長(zhǎng)的相位差。具體而言，第一四分之一波片41將入射光束從線性極化光束(P波)轉(zhuǎn)換成圓極化光束，并將從光盤反射的出射光束從圓極化光束轉(zhuǎn)換成線性極化光束(S波)。通過允許光束兩次經(jīng)過第一四分之一波片41，即在光路上入射在光盤上之前和之后兩次經(jīng)過第一四分之一波片41，可以使入射光束的極化狀態(tài)與出射光束的不同。
第二四分之一波片42是在極化分束器35和第二物鏡33之間的光路上提供的，它向經(jīng)過的光束施加四分之一波長(zhǎng)的相位差。具體而言，第二四分之一波片42將入射光束從線性極化光束(S波)轉(zhuǎn)換成圓極化光束，并將從光盤反射的出射光束從圓極化光束轉(zhuǎn)換成線性極化光束(P波)。通過允許光束兩次經(jīng)過第二四分之一波片42，即在光路上入射在光盤上之前和之后兩次經(jīng)過第二四分之一波片42，可以使入射光束的極化狀態(tài)與出射光束的不同。
第一物鏡32和第二物鏡33被透鏡支撐器(未示出)支撐。該透鏡支撐器包括雙軸致動(dòng)器(未示出)，用于在循軌方向上以及聚焦方向上移動(dòng)被透鏡支撐器支撐的第一物鏡32和第二物鏡33；以及致動(dòng)器驅(qū)動(dòng)電路，用于基于由盤類型確定部分22所獲得的檢測(cè)到的信號(hào)和由光電檢測(cè)器38所獲得的檢測(cè)到的信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)雙軸致動(dòng)器。雙軸致動(dòng)器被致動(dòng)器驅(qū)動(dòng)電路控制，以在循軌方向上以及聚焦方向上移動(dòng)第一物鏡32和第二物鏡33。
按上述方式配置的光學(xué)拾取器3基于由光電檢測(cè)器38檢測(cè)到的返回光所生成的聚焦伺服信號(hào)和循軌伺服信號(hào)驅(qū)動(dòng)第一物鏡32或第二物鏡33，以執(zhí)行聚焦伺服和循軌伺服。第一物鏡32或第二物鏡33被驅(qū)動(dòng)以相對(duì)于光盤2的記錄面移動(dòng)到物鏡的聚焦焦點(diǎn)。結(jié)果，光束被聚焦在光盤2的記錄面上，以將信息記錄在光盤2上或者從光盤2再現(xiàn)信息。
接下來(lái)，將參考圖2和圖3描述光學(xué)拾取器3中從光源部分31發(fā)射的光束的光路。首先，將描述發(fā)射到第一光盤11的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路。
基于來(lái)自盤類型確定部分22的信號(hào)，其已經(jīng)確定光盤2是第一光盤11，光源部分31發(fā)射具有第一波長(zhǎng)的光束。
從光源部分31發(fā)射的具有第一波長(zhǎng)的光束被光柵37分成多個(gè)光束。然后，在光束的發(fā)散角被準(zhǔn)直鏡變換之后，光束被變換成大致平行的光束，以輸出到極化切換液晶34a。
在入射到極化切換液晶34a上的具有第一波長(zhǎng)的光束被由液晶驅(qū)動(dòng)電路34b基于來(lái)自盤類型確定部分22的信號(hào)控制為接通的極化切換液晶34a從S波轉(zhuǎn)換成P波之后，光束朝著極化分束器35出射。
現(xiàn)在被極化切換液晶34a轉(zhuǎn)換成P波的具有第一波長(zhǎng)的光束B1被極化分束器35反射。然后，光束B1被第一四分之一波片41轉(zhuǎn)換成圓極化光束，以輸出到第一物鏡32。
入射在第一物鏡32上的具有第一波長(zhǎng)的光束B1在其由具有第一厚度的第一保護(hù)性基底引起的球面像差被第一物鏡32消除或大大減小之后，被收集到第一光盤11的信號(hào)記錄表面11a上。
被收集到第一光盤11上的光束B1被信號(hào)記錄表面11a反射，以經(jīng)過第一物鏡32。在被第一四分之一波片41轉(zhuǎn)換成S波之后，光束B1朝著極化分束器35出射。
被第一四分之一波片41轉(zhuǎn)換成S波的具有第一波長(zhǎng)的光束B1經(jīng)過極化分束器35，并且被發(fā)射到聚光透鏡39。
在經(jīng)過極化分束器35的具有第一波長(zhǎng)的光束的發(fā)散角被聚光透鏡39變換并且用于聚焦伺服的散光被多透鏡40施加之后，具有第一波長(zhǎng)的光束被聚焦在光電檢測(cè)器38的光電檢測(cè)設(shè)備上。
接下來(lái)，將描述光學(xué)拾取器3中被發(fā)射到第二光盤12的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路。
基于來(lái)自盤類型確定部分22的信號(hào)，其已經(jīng)確定光盤2是第二光盤12，光源部分31發(fā)射具有第一波長(zhǎng)的光束。
從光源部分31發(fā)射的具有第一波長(zhǎng)的光束被光柵37分成多個(gè)光束。然后，在光束的發(fā)散角被準(zhǔn)直鏡36變換之后，光束被變換成大致平行的光束，并輸出到極化切換液晶34a。
入射到極化切換液晶34a上的具有第一波長(zhǎng)的光束在經(jīng)過由液晶驅(qū)動(dòng)電路34b基于來(lái)自盤類型確定部分22的信號(hào)而控制的極化切換液晶34a之后，保持為S波。然后，具有第一波長(zhǎng)的光束被輸出到極化分束器35。
經(jīng)過極化切換液晶34a后仍為S波的光束B2隨后穿過極化分束器35。然后，光束B2被反射鏡43反射，以被第二四分之一波片42轉(zhuǎn)換成圓極化光束，以便輸出到第二物鏡33。
在由具有第二厚度的第二保護(hù)性基底引起的球面像差被第二物鏡33消除或大大減小之后，入射在第二物鏡33上的具有第一波長(zhǎng)的光束B2隨后被聚集在第二光盤12的信號(hào)記錄表面12a上。
被收集到第二光盤12上的光束B2被信號(hào)記錄表面12a反射，以經(jīng)過第二物鏡33。然后，在被第二四分之一波片42轉(zhuǎn)換成P波之后，光束B2被反射鏡43反射，以輸出到極化分束器35。
被第二四分之一波片42轉(zhuǎn)換成P波的具有第一波長(zhǎng)的光束被極化分束器35反射，以輸出到聚光透鏡39。
在發(fā)散角被聚光透鏡39變換并且用于聚焦伺服的散光被多透鏡40施加之后，被極化分束器35反射的具有第一波長(zhǎng)的光束被聚焦在光電檢測(cè)器38的光電檢測(cè)設(shè)備上。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器3能夠?qū)⒐馐占桨ň哂胁煌穸鹊谋Ｗo(hù)性基底的光盤11和12中每一個(gè)的信號(hào)記錄表面上。因此，光學(xué)拾取器3可以很好地校正由每個(gè)光盤的保護(hù)性基底的厚度誤差而引起的球面像差。因此，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾取器3實(shí)現(xiàn)了與使用相同波長(zhǎng)但各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的多種類型的光盤的兼容性。
光學(xué)拾取器3包括第一物鏡32和第二物鏡33，各自用于消除依照保護(hù)性基底的厚度的球面像差；極化分束器35，用于根據(jù)極化狀態(tài)將光束引導(dǎo)向第一物鏡32或第二物鏡33；以及極化切換部分34，用于切換入射在極化分束器35上的光束的極化狀態(tài)。利用此配置，可以共享光源部分31和極化分束器35之間的光學(xué)組件，以實(shí)現(xiàn)配置簡(jiǎn)化和配置尺寸減小。
此外，光學(xué)拾取器3還包括在極化分束器35和第一物鏡32之間提供的第一四分之一波片41；以及在極化分束器35和第二物鏡33之間提供的第二四分之一波片42。極化分束器35將被第一物鏡32或第二物鏡33所收集的光束的返回光(其從光盤反射)引導(dǎo)向光電檢測(cè)器38。結(jié)果，可以共享極化分束器35和光電檢測(cè)器38之間的光學(xué)組件，以實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的配置簡(jiǎn)化和配置尺寸減小。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器3利用從光源部分31發(fā)射的具有預(yù)定波長(zhǎng)的光束來(lái)很好地校正各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的多種類型的光盤11和12的球面像差，以實(shí)現(xiàn)信號(hào)讀寫。同時(shí)，光學(xué)拾取器3允許共享光學(xué)組件和光路。結(jié)果，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾取器3使得能夠簡(jiǎn)化配置并減小配置的尺寸，以降低制造成本。
雖然在光學(xué)拾取器3中具有相同波長(zhǎng)的光束被用作記錄/再現(xiàn)光來(lái)執(zhí)行各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的第一光盤11和第二光盤12的記錄和/或再現(xiàn)，但是本發(fā)明并不局限于此。例如，除了第一光盤11和第二光盤12外，可以對(duì)使用具有不同波長(zhǎng)的光束作為記錄/再現(xiàn)光的多種類型的光盤執(zhí)行記錄和/或再現(xiàn)。
接下來(lái)，將描述圖2所示的光學(xué)拾取器50，其對(duì)各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底并且使用具有相同波長(zhǎng)的光束作為記錄/再現(xiàn)光的光盤和使用具有不同波長(zhǎng)的光束作為記錄/再現(xiàn)光的光盤執(zhí)行記錄和/或再現(xiàn)。在以下描述中，與上述光學(xué)拾取器3相同的組件將由相同的標(biāo)號(hào)標(biāo)示，并且對(duì)其的詳細(xì)描述將被省略。
光學(xué)拾取器50執(zhí)行在各自包括具有不同厚度的用于保護(hù)信號(hào)記錄表面的保護(hù)性基底的多個(gè)光盤上的記錄和/或從這多個(gè)光盤的再現(xiàn)。具體而言，在描述時(shí)將假定光學(xué)拾取器50將信息信號(hào)記錄在上述第一光盤11和第二光盤12上以及第三光盤13和第四光盤14上或從上述第一光盤11和第二光盤12以及第三光盤13和第四光盤14再現(xiàn)信息信號(hào)；第三光盤13包括具有約為0.6mm的第二厚度的第三保護(hù)性基底并且使用具有約為655nm的第二波長(zhǎng)的光束作為記錄/再現(xiàn)光，第四光盤14包括具有約為1.2mm的第三厚度的第四保護(hù)性基底并且使用具有約為785nm的第三波長(zhǎng)的光束作為記錄/再現(xiàn)光。
如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器50包括光源部分51，其包括用于發(fā)射具有約405nm的第一波長(zhǎng)的光束的第一發(fā)射部件，用于發(fā)射具有約655nm的第二波長(zhǎng)的光束的第二發(fā)射部件以及用于發(fā)射具有約785nm的第三波長(zhǎng)的光束的第三發(fā)射部件；第一物鏡32，用于將具有第一波長(zhǎng)的光束收集到第一光盤11的信號(hào)記錄表面11a上，同時(shí)減小或消除依照具有第一厚度的保護(hù)性基底的球面像差；第二物鏡53，用于將具有第一波長(zhǎng)和第二波長(zhǎng)的光束收集到第二光盤12的信號(hào)記錄表面12a和第三光盤13的信號(hào)記錄表面13a上，同時(shí)減小或消除依照具有第二厚度的保護(hù)性基底的球面像差，并且用于將具有第三波長(zhǎng)的光束收集到第四光盤14的信號(hào)記錄表面14a上，同時(shí)減小或消除依照具有第三厚度的保護(hù)性基底的球面像差；極化切換部分34，用于選擇性地切換從第一至第三發(fā)射部件中每一個(gè)發(fā)射的光束的極化狀態(tài)；以及極化分束器35，用于基于由極化切換部分34切換的光束極化狀態(tài)來(lái)將光束引導(dǎo)到第一物鏡32或第二物鏡53。
光學(xué)拾取器50還包括在光源部分51和極化切換部分34之間提供的準(zhǔn)直鏡36，用于將從第一至第三發(fā)射部件發(fā)射的光束的發(fā)散角變換成大致平行的光束；在光源部分51和準(zhǔn)直鏡36之間提供的光柵37，用于將光束分割成由0階光束和±1階光束構(gòu)成的三個(gè)光束，以獲得循軌誤差信號(hào)等等；光電檢測(cè)器38，用于接收被信號(hào)記錄表面反射的返回光；在極化分束器35和光電檢測(cè)器38之間提供的聚光透鏡39，用于將經(jīng)過的光束聚集在光電檢測(cè)器38上；以及在極化分束器35和光電檢測(cè)器38之間提供的多透鏡40，用于生成散光，以獲得聚焦誤差信號(hào)。
光學(xué)拾取器50還包括反射鏡43，用于反射經(jīng)過極化分束器35的光束以改變光束的光路，以便將光束引導(dǎo)到第二物鏡33；在極化分束器35和第一物鏡32之間提供的第一四分之一波片41，用于向被極化分束器35反射的光束施加四分之一波長(zhǎng)的相位差；以及在反射鏡43和第二物鏡53之間提供的第二四分之一波片42，用于向被反射鏡43反射的光束施加四分之一波長(zhǎng)的相位差。
光源部分51基于由盤類型確定部分22檢測(cè)到的盤類型切換要發(fā)射的光束。具體而言，當(dāng)加載的光盤2是第一光盤11或第二光盤12時(shí)，光源部分51發(fā)射來(lái)自第一發(fā)射部件的具有第一波長(zhǎng)的光束。當(dāng)光盤2是第三光盤13時(shí)，光源部分51發(fā)射來(lái)自第二發(fā)射部件的具有第二波長(zhǎng)的光束。當(dāng)光盤2是第四光盤14時(shí)，光源部分51發(fā)射來(lái)自第三發(fā)射部件的具有第三波長(zhǎng)的光束。
雖然在本實(shí)施例中為單個(gè)光源部分提供了分別用于發(fā)射具有第一至第三波長(zhǎng)的光束的第一至第三發(fā)射部件，但是本發(fā)明并不局限于此。例如，可以在不同位置處布置包括第一至第三發(fā)射部件中的兩個(gè)的第一光源部分和包括另一個(gè)發(fā)射部件的第二光源部分?；蛘?，可以在不同位置處布置第一至第三發(fā)射部件。在這種情況下，可以提供分束器等作為光路組合裝置，以用于組合布置在不同位置處的光源的光路，以便組合光路。
第二物鏡53具有與具有第一至第三波長(zhǎng)的光束相對(duì)應(yīng)的第二焦距以及針對(duì)第一或第二波長(zhǎng)的為0.65的數(shù)值孔徑和針對(duì)第三波長(zhǎng)的為0.45的數(shù)值孔徑。對(duì)于包括具有第二厚度的第二保護(hù)性基底的第二光盤12，第二物鏡53將具有第一波長(zhǎng)的光束收集到信號(hào)記錄表面12a上，同時(shí)減小或消除依照第二保護(hù)性基底的球面像差。
對(duì)于包括具有第二厚度的第三保護(hù)性基底的第三光盤13，第二物鏡53將具有第二波長(zhǎng)的光束收集到信號(hào)記錄表面13a上，同時(shí)減小或消除依照第三保護(hù)性基底的球面像差。對(duì)于包括具有第三厚度的第四保護(hù)性基底的第四光盤14，第二物鏡53將具有第三波長(zhǎng)的光束收集到信號(hào)記錄表面14a上，同時(shí)減小或消除依照第四保護(hù)性基底的球面像差。
在第二物鏡53的光入射一側(cè)，提供了第二孔徑濾波器(未示出)，其充當(dāng)用于限制入射在第二物鏡53上的光束的孔徑的孔徑限制元件。第二孔徑濾波器將經(jīng)過的具有第一波長(zhǎng)和第二波長(zhǎng)的光束的數(shù)值孔徑限制到0.65，而將經(jīng)過的具有第三波長(zhǎng)的光束的數(shù)值孔徑限制到0.45。例如用全息圖等作為孔徑濾波器。
與上述光學(xué)拾取器3的情況一樣，極化切換部分34由極化切換液晶34a和液晶驅(qū)動(dòng)電路34b構(gòu)成。極化切換部分34基于由盤類型確定部分22檢測(cè)到的盤類型來(lái)選擇性地切換經(jīng)過的光束的極化狀態(tài)。具體而言，當(dāng)所加載的光盤2是第一光盤11時(shí)，極化切換部分34的極化切換液晶34a被液晶驅(qū)動(dòng)電路34b接通，以將經(jīng)過的具有第一波長(zhǎng)的光束的極化狀態(tài)從S波轉(zhuǎn)換為P波，以允許光束出射。另一方面，當(dāng)所加載的光盤2是第二光盤12、第三光盤13和第四光盤14中的任何一個(gè)時(shí)，液晶驅(qū)動(dòng)電路34b使極化切換部分34的極化切換液晶34a保持在關(guān)斷狀態(tài)，以允許經(jīng)過的具有第一波長(zhǎng)的光束仍以S波的形式出射。
按上述方式配置的光學(xué)拾取器50基于由光電檢測(cè)器38檢測(cè)到的返回光所生成的聚焦伺服信號(hào)和循軌伺服信號(hào)驅(qū)動(dòng)第一物鏡32或第二物鏡53，以執(zhí)行聚焦伺服和循軌伺服。第一物鏡32或第二物鏡53被驅(qū)動(dòng)以相對(duì)于光盤2的記錄面移動(dòng)到物鏡的聚焦焦點(diǎn)。結(jié)果，光束被聚焦在光盤2的記錄面上，以將信息記錄在光盤2上或者從光盤2再現(xiàn)信息。
接下來(lái)，將參考圖2和圖4描述光學(xué)拾取器50中從光源部分51發(fā)射的光束的光路。首先，將描述發(fā)射到第一光盤11的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路。
發(fā)射到第一光盤11的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路與上述光學(xué)拾取器3中發(fā)射到第一光盤11的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路相同。具體而言，基于來(lái)自盤類型確定部分22的檢測(cè)到的信號(hào)(其已經(jīng)確定光盤2是第一光盤11)，從光源部分51的第一發(fā)射部件發(fā)射的具有第一波長(zhǎng)的光束B1經(jīng)過光柵37、準(zhǔn)直鏡36、極化切換液晶34a、極化分束器35和第一四分之一波片41，以被第一物鏡32收集在第一光盤11的信號(hào)記錄表面11a上，其中依照第一保護(hù)性基底的第一厚度的球面像差被消除或大大減小。被收集到第一光盤11上并被信號(hào)記錄表面11a反射的出射光束B1經(jīng)過第一物鏡32、第一四分之一波片41、極化分束器35、聚光透鏡39和多透鏡40，以被聚焦在光電檢測(cè)器38的光電檢測(cè)設(shè)備上。
接下來(lái)，將描述光學(xué)拾取器50中被發(fā)射到第二光盤12的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路。
發(fā)射到第二光盤12的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路與上述光學(xué)拾取器3中發(fā)射到第二光盤12的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路相同。具體而言，基于來(lái)自盤類型確定部分22的檢測(cè)到的信號(hào)(其已經(jīng)確定光盤2是第二光盤12)，從光源部分51的第一發(fā)射部件發(fā)射的具有第一波長(zhǎng)的光束B2經(jīng)過光柵37、準(zhǔn)直鏡36、極化切換液晶34a、極化分束器35、反射鏡43和第二四分之一波片42。此外，光束B2被第二物鏡53聚集在第二光盤12的信號(hào)記錄表面12a上，其中依照具有第二厚度的第二保護(hù)性基底的球面像差被消除或大大減小。被收集到第二光盤12上并被信號(hào)記錄表面12a反射的出射光束B2經(jīng)過第二物鏡53、第二四分之一波片42、反射鏡43、極化分束器35、聚光透鏡39和多透鏡40，以被聚焦在光電檢測(cè)器38的光電檢測(cè)設(shè)備上。
光學(xué)拾取器50中發(fā)射到第三光盤13的具有第二波長(zhǎng)的光束的光路與上述發(fā)射到第二光盤12的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路相同。具體而言，基于來(lái)自盤類型確定部分22的檢測(cè)到的信號(hào)(其已經(jīng)確定光盤2是第三光盤13)，從光源部分51的第二發(fā)射部件發(fā)射的具有第二波長(zhǎng)的光束B3經(jīng)過光柵37、準(zhǔn)直鏡36、極化切換液晶34a、極化分束器35、反射鏡43和第二四分之一波片42，以被第二物鏡53收集在第三光盤13的信號(hào)記錄表面13a上，其中依照具有第二厚度的第三保護(hù)性基底的球面像差被消除或大大減小。被收集到第三光盤13上并被信號(hào)記錄表面13a反射的出射光束B3經(jīng)過第二物鏡53、第二四分之一波片42、反射鏡43、極化分束器35、聚光透鏡39和多透鏡40，以被聚焦在光電檢測(cè)器38的光電檢測(cè)設(shè)備上。
光學(xué)拾取器50中發(fā)射到第四光盤14的具有第三波長(zhǎng)的光束的光路與上述發(fā)射到第二光盤12的具有第一波長(zhǎng)的光束的光路相同。具體而言，基于來(lái)自盤類型確定部分22的檢測(cè)到的信號(hào)(其已經(jīng)確定光盤2是第四光盤14)，從光源部分51的第三發(fā)射部件發(fā)射的具有第三波長(zhǎng)的光束B4經(jīng)過光柵37、準(zhǔn)直鏡36、極化切換液晶34a、極化分束器35、反射鏡43和第二四分之一波片42，以被第二物鏡53收集在第四光盤14的信號(hào)記錄表面14a上，其中依照具有第三厚度的第四保護(hù)性基底的球面像差被消除或大大減小。被收集到第四光盤14上然后被信號(hào)記錄表面14a反射的出射光束B4經(jīng)過第二物鏡53、第二四分之一波片42、反射鏡43、極化分束器35、聚光透鏡39和多透鏡40，以被聚焦在光電檢測(cè)器38的光電檢測(cè)設(shè)備上。
如上所述，根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器50能夠?qū)⒐馐占礁髯园ň哂胁煌穸鹊谋Ｗo(hù)性基底的光盤11至14中每一個(gè)的信號(hào)記錄表面上。因此，光學(xué)拾取器50可以很好地校正由每個(gè)光盤的保護(hù)性基底的厚度誤差而引起的球面像差，從而實(shí)現(xiàn)了與各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的多種類型的光盤的兼容性。
光學(xué)拾取器50包括第一物鏡32和第二物鏡53，各自用于消除依照保護(hù)性基底的厚度的球面像差；極化分束器35，用于根據(jù)光束的極化狀態(tài)將光束引導(dǎo)向第一物鏡32或第二物鏡53；以及極化切換部分34，用于切換入射在極化分束器35上的光束的極化狀態(tài)。利用此配置，可以共享光源部分51和極化分束器35之間的光學(xué)組件，以實(shí)現(xiàn)配置簡(jiǎn)化和配置尺寸減小。
光學(xué)拾取器50還包括在極化分束器35和第一物鏡32之間提供的第一四分之一波片41；以及在極化分束器35和第二物鏡53之間提供的第二四分之一波片42。極化分束器35將被第一物鏡32或第二物鏡53收集的光束的返回光(其從光盤反射)引導(dǎo)向光電檢測(cè)器38。結(jié)果，可以共享極化分束器35和光電檢測(cè)器38之間的光學(xué)組件，以實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的配置簡(jiǎn)化和配置尺寸減小。
根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器50利用從光源部分51發(fā)射的具有不同波長(zhǎng)的光束來(lái)實(shí)現(xiàn)從各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的多種類型的光盤11至14讀取信號(hào)以及向這些光盤寫入信號(hào)，同時(shí)很好地校正球面像差。同時(shí)，光學(xué)拾取器50允許共享光學(xué)組件和光路。結(jié)果，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾取器50使得能夠簡(jiǎn)化配置并減小配置的尺寸，以降低制造成本。
此外，根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器50除了能夠?qū)崿F(xiàn)從使用不同波長(zhǎng)并且各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的多種類型的光盤讀取信號(hào)以及向這些光盤寫入信號(hào)以外，還能夠?qū)崿F(xiàn)從使用相同波長(zhǎng)但各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的多種類型的光盤讀取信號(hào)以及向這些光盤寫入信號(hào)。因此，光學(xué)拾取器50實(shí)現(xiàn)了與多類格式的光盤的兼容性，而這些格式正在被進(jìn)一步多樣化。同時(shí)，光學(xué)拾取器50實(shí)現(xiàn)了配置尺寸的減小。
使用根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器的光盤裝置1包括上述光學(xué)拾取器3或50，從而對(duì)于各自包括具有不同厚度的保護(hù)性基底的多個(gè)光盤共享了光學(xué)拾取器的光學(xué)組件和光路，以實(shí)現(xiàn)良好的信號(hào)記錄和再現(xiàn)。因此，光盤裝置1具有對(duì)應(yīng)于多種類型的光盤的良好兼容性，并且還實(shí)現(xiàn)了配置的簡(jiǎn)化和配置尺寸的減小，從而降低了制造成本。
本發(fā)明包含與2005年6月22日向日本專利局遞交的日本專利申請(qǐng)JP2005-182512相關(guān)的主題，這里通過引用將其全部?jī)?nèi)容結(jié)合進(jìn)來(lái)。
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權(quán)利要求
1.一種光學(xué)拾取器，用于將信息信號(hào)記錄在多個(gè)光盤上或者從所述多個(gè)光盤再現(xiàn)信息信號(hào)，所述多個(gè)光盤每個(gè)包括具有不同厚度的用于保護(hù)信號(hào)記錄表面的保護(hù)性基底，所述光學(xué)拾取器包括光源部分，其適于發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光束；第一物鏡，其適于將光收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第一厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；第二物鏡，其適于將光收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第二厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；極化切換部分，其適于切換從所述光源部分發(fā)射的所述光束的極化狀態(tài)；以及極化分束器，其適于根據(jù)由所述極化切換部分所切換的所述光束的極化狀態(tài)來(lái)將所述光束引導(dǎo)到所述第一物鏡或所述第二物鏡。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，還包括在所述第一物鏡和所述極化分束器之間提供的第一四分之一波片；以及在所述第二物鏡和所述極化分束器之間提供的第二四分之一波片。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，還包括光電檢測(cè)器，其適于檢測(cè)從所述光盤反射的返回光；其中所述極化分束器將被所述第一物鏡或所述第二物鏡收集的所述光束的返回光與從所述光源部分發(fā)射的光束的光路分離開來(lái)，所述返回光是從所述光盤反射的。
4.一種光學(xué)拾取器，用于利用具有不同波長(zhǎng)的光束將信息信號(hào)記錄在多個(gè)光盤上或者從所述多個(gè)光盤再現(xiàn)信息信號(hào)，所述多個(gè)光盤每個(gè)包括具有不同厚度的用于保護(hù)信號(hào)記錄表面的保護(hù)性基底，所述光學(xué)拾取器包括光源部分，其包括適于發(fā)射具有第一波長(zhǎng)的光束的第一光源、適于發(fā)射具有第二波長(zhǎng)的光束的第二光源、以及適于發(fā)射具有第三波長(zhǎng)的光束的第三光源；第一物鏡，其適于將具有所述第一波長(zhǎng)的光束收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第一厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；第二物鏡，其適于將具有所述第一波長(zhǎng)和所述第二波長(zhǎng)的光束收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第二厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差，并且適于將具有所述第三波長(zhǎng)的光束收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第三厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；極化切換部分，其適于切換從所述第一光源至第三光源發(fā)射的所述光束中每一個(gè)的極化狀態(tài)；以及極化分束器，其適于根據(jù)由所述極化切換部分所切換的所述光束的極化狀態(tài)來(lái)將所述光束引導(dǎo)到所述第一物鏡或所述第二物鏡。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)拾取器，還包括盤類型確定部分，其適于區(qū)分所述多個(gè)光盤的類型；其中所述極化切換部分包括極化切換液晶部分和液晶驅(qū)動(dòng)電路，并且基于由所述盤類型確定部分所確定的盤類型而選擇性地切換從所述光源部分發(fā)射的所述光束的極化狀態(tài)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)拾取器，其中在所述極化分束器中形成了具有這樣的極化依賴性的光學(xué)薄膜透射從所述光源部分發(fā)射的光束的S波成分并且反射其P波成分；如果所述光束要被引導(dǎo)到所述第一物鏡，則所述極化切換部分將經(jīng)過的光束的極化狀態(tài)選擇性地切換為P波；并且如果所述光束要被引導(dǎo)到所述第二物鏡，則所述極化切換部分將經(jīng)過的光束的極化狀態(tài)選擇性地切換為S波。
7.一種光盤裝置，包括用于支撐和旋轉(zhuǎn)光盤的驅(qū)動(dòng)裝置，以及用于將信息信號(hào)記錄在多個(gè)光盤上或者從所述多個(gè)光盤再現(xiàn)信息信號(hào)的光學(xué)拾取器，所述多個(gè)光盤每個(gè)包括具有不同厚度的用于保護(hù)信號(hào)記錄表面的保護(hù)性基底，所述光盤裝置包括光源部分，其適于發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光束；第一物鏡，其適于將光收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第一厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；第二物鏡，其適于將光收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第二厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；極化切換部分，其適于切換從所述光源部分發(fā)射的所述光束的極化狀態(tài)；以及極化分束器，其適于根據(jù)由所述極化切換部分所切換的所述光束的極化狀態(tài)來(lái)將所述光束引導(dǎo)到所述第一物鏡或所述第二物鏡。
8.一種光盤裝置，包括用于支撐和旋轉(zhuǎn)光盤的驅(qū)動(dòng)裝置，以及用于將信息信號(hào)記錄在多個(gè)光盤上或者從所述多個(gè)光盤再現(xiàn)信息信號(hào)的光學(xué)拾取器，所述多個(gè)光盤每個(gè)包括具有不同厚度的用于保護(hù)信號(hào)記錄表面的保護(hù)性基底，所述光盤裝置包括光源部分，其包括適于發(fā)射具有第一波長(zhǎng)的光束的第一光源、適于發(fā)射具有第二波長(zhǎng)的光束的第二光源、以及適于發(fā)射具有第三波長(zhǎng)的光束的第三光源；第一物鏡，其適于將具有所述第一波長(zhǎng)的光束收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第一厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；第二物鏡，其適于將具有所述第一波長(zhǎng)和所述第二波長(zhǎng)的光束收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第二厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差，并且適于將具有所述第三波長(zhǎng)的光束收集到所述信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第三厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；極化切換部分，其適于切換從所述第一光源至第三光源發(fā)射的所述光束中每一個(gè)的極化狀態(tài)；以及極化分束器，其適于根據(jù)由所述極化切換部分所切換的所述光束的極化狀態(tài)來(lái)將所述光束引導(dǎo)到所述第一物鏡或所述第二物鏡。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種光學(xué)拾取器和/或包括這種光學(xué)拾取器的光盤裝置，用于將信息信號(hào)記錄在多個(gè)光盤上或者從多個(gè)光盤再現(xiàn)信息信號(hào)，所述多個(gè)光盤每個(gè)包括具有不同厚度的用于保護(hù)信號(hào)記錄表面的保護(hù)性基底。該光學(xué)拾取器包括光源部分，其發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光束；第一物鏡和第二物鏡，其將光收集到信號(hào)記錄表面上，同時(shí)減小由具有第一厚度和第二厚度的保護(hù)性基底引起的球面像差；極化切換部分，其適于切換從光源部分發(fā)射的光束的極化狀態(tài)；以及極化分束器，其適于根據(jù)由極化切換部分所切換的光束的極化狀態(tài)來(lái)將光束引導(dǎo)到第一物鏡或第二物鏡。
文檔編號(hào)G11B7/135GK1885419SQ20061008677
公開日2006年12月27日 申請(qǐng)日期2006年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月22日
發(fā)明者湯川弘章 申請(qǐng)人:索尼株式會(huì)社