專利名稱：測試數(shù)據(jù)報告和分析方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般地涉及測試諸如存儲器陣列之類的陣列結(jié)構(gòu)，更具體地說，涉及使用數(shù)據(jù)陣列從陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)。
背景技術(shù)：
在半導(dǎo)體制造工業(yè)中，將在使用器件之前對其進行測試。在許多情況下，測試的部件具有陣列結(jié)構(gòu)。例如，所測試的器件的一個部件為存儲器陣列。存儲器測試器為存儲器陣列的每個單元(或位)運行多個測試并記錄失效。由于存儲器陣列可以包括大量單元(例如，對于1024×2048的陣列，包括2,097,152個單元)，所以收集的數(shù)據(jù)量是巨大的。一種收集和組織數(shù)據(jù)的方法是將每個單元失效都記錄到美國信息互換標準代碼(ASCII)文件中，例如，ASCII逗號分隔文本文件或逗號分隔值(csv)文件。所收集的數(shù)據(jù)包含每個失效的詳細信息，例如，失效位置、測試類型、失效類型等。使用該方法所收集的大量數(shù)據(jù)通常要求在生成ASCII文件過程中定時暫停測試執(zhí)行并詢問測試器硬件。也就是說，存儲器測試數(shù)據(jù)是在一次收集的。其結(jié)果就是花費過多時間來生成的非常大的ASCII文件。
解決這種情況的一種方法是將確定的失效數(shù)限制在預(yù)定最大值內(nèi)。不幸的是，這種方法要求不捕獲所有失效數(shù)據(jù)。此外，這種方法在失效數(shù)達到預(yù)定最大值的情況下會增加復(fù)雜性。另一種方法包括執(zhí)行將數(shù)據(jù)二進制轉(zhuǎn)儲到位失效圖，即，包括失效點的存儲器陣列的物理可查看再現(xiàn)(圖像)。圖1示出了簡化的位失效圖10，其是包括失效點(單元)F的5×5存儲器陣列的圖形表示。每個位失效圖表示在整個存儲器陣列上施加的不同測試。因此，每個測試都需要其他位失效圖。此方法是有利的，因為與記錄失效相比，該方法可以在相對較短的時間內(nèi)完成。盡管使用該方法可捕獲所有單元失效點，但是不能得到諸如測試類型、失效類型之類的其他詳細信息。
上述存儲器測試數(shù)據(jù)的格式對數(shù)據(jù)分析也有負面影響。
鑒于上述內(nèi)容，本領(lǐng)域中需要一種報告和/或分析來自陣列結(jié)構(gòu)的測試的測試數(shù)據(jù)的改進的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明公開了使用數(shù)據(jù)陣列從陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)。一種方法包括獲取所述測試數(shù)據(jù)并在數(shù)據(jù)陣列中報告所述測試數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個表示不同測試的部分。根據(jù)轉(zhuǎn)換表來組織存儲在所述數(shù)據(jù)陣列中的數(shù)據(jù)，所述轉(zhuǎn)換表描述了所述數(shù)據(jù)陣列中要測試的數(shù)據(jù)的位置和要分析的數(shù)據(jù)的準則。還可以生成大量其他數(shù)據(jù)布置，例如，列出預(yù)定最大數(shù)量的失效點的坐標文件或芯片做出的包括失效點的芯片報告。所述數(shù)據(jù)陣列以更易于生成和存儲的形式報告所有測試數(shù)據(jù)，并且其可以被轉(zhuǎn)換成圖像。本發(fā)明還公開了用于使用所述數(shù)據(jù)陣列來分析數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)分析方法。
本發(fā)明的第一個方面提供了一種根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告測試數(shù)據(jù)的方法，該方法包括以下步驟獲取所述測試數(shù)據(jù)；以及在數(shù)據(jù)陣列中報告所述測試數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個表示不同測試的部分。
本發(fā)明的第二個方面提供了一種根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告測試數(shù)據(jù)的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括用于獲取所述測試數(shù)據(jù)的裝置；以及用于在數(shù)據(jù)陣列中報告所述測試數(shù)據(jù)的裝置，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個表示不同測試的部分。
本發(fā)明的第三個方面提供了一種存儲在計算機可讀介質(zhì)上的程序產(chǎn)品，當被執(zhí)行時，所述程序產(chǎn)品根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告測試數(shù)據(jù)，該程序產(chǎn)品包括用于獲取所述測試數(shù)據(jù)的程序代碼；以及用于在數(shù)據(jù)陣列中報告所述測試數(shù)據(jù)的程序代碼，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個表示不同測試的部分。
本發(fā)明的第四個方面提供了一種分析陣列結(jié)構(gòu)的測試數(shù)據(jù)的方法，該方法包括以下步驟在數(shù)據(jù)陣列中接收所述測試數(shù)據(jù)的報告，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個表示不同測試的部分；根據(jù)轉(zhuǎn)換表來掃描所述數(shù)據(jù)陣列以獲取所述陣列結(jié)構(gòu)的所述測試數(shù)據(jù)；以及分析所述數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的第五個方面提供了一種包括計算機程序代碼的計算機可讀介質(zhì)，所述計算機程序代碼使得計算機基礎(chǔ)設(shè)施能夠根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)，所述計算機可讀介質(zhì)包括用于執(zhí)行本發(fā)明的方法步驟的計算機程序代碼。
本發(fā)明的第六個方面提供了一種用于根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)的商業(yè)方法，該商業(yè)方法包括管理執(zhí)行本發(fā)明的每個步驟的計算機基礎(chǔ)設(shè)施；以及根據(jù)所述管理步驟接收付款。
本發(fā)明的第七個方面提供了一種提供根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告測試數(shù)據(jù)的服務(wù)的方法，該方法包括獲取計算機基礎(chǔ)設(shè)施；以及對于本發(fā)明的方法的每個步驟，將用于執(zhí)行所述步驟的單元部署到所述計算機基礎(chǔ)設(shè)施。
本發(fā)明的示例性方面旨在解決文中描述的問題和其他可由本領(lǐng)域的技術(shù)人員發(fā)現(xiàn)的尚未討論的問題。


從以下結(jié)合示出本發(fā)明的各種實施例的附圖的對本發(fā)明的各個方面的詳細描述，可以更容易地理解本發(fā)明的這些和其他特點，這些附圖是圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)的位失效圖；圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的測試數(shù)據(jù)報告和分析系統(tǒng)的方塊圖；圖3是示出圖2的系統(tǒng)的運行方法的一個實施例的流程圖；圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的示例性數(shù)據(jù)陣列；圖5示出了與圖4的數(shù)據(jù)陣列一起使用的示例性轉(zhuǎn)換表；
圖6示出了與圖4的數(shù)據(jù)陣列一起使用的示例性坐標文件；圖7示出了與圖4的數(shù)據(jù)陣列一起使用的示例性芯片報告；圖8是示出了圖2的系統(tǒng)的分析方法的一個實施例的流程圖；要指出的是，本發(fā)明的附圖并不成比例。所述附圖旨在只是示出本發(fā)明的典型方面，因此不應(yīng)被看作限制本發(fā)明的范圍。在附圖中，相同的標號表示附圖中相同的元素。
具體實施例方式
如上所述，本發(fā)明提供了使用數(shù)據(jù)陣列根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)。出于說明的目的，將用于描述本發(fā)明的一種類型的陣列結(jié)構(gòu)是存儲器陣列。但是，應(yīng)認識到本發(fā)明的教導(dǎo)可應(yīng)用于多種陣列結(jié)構(gòu)，例如，熔絲陣列、缺陷檢測器形陣列(defect detector shapes array)等。
轉(zhuǎn)到附圖，圖2示出了用于使用數(shù)據(jù)陣列根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)144的示例性環(huán)境100。在此方面，環(huán)境100包括可以執(zhí)行文中所述的各種過程步驟以便使用數(shù)據(jù)陣列根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)的計算機基礎(chǔ)設(shè)施102。具體地說，計算機基礎(chǔ)設(shè)施102示為包括包含測試數(shù)據(jù)報告/分析系統(tǒng)106(下文簡稱“系統(tǒng)106”)的計算設(shè)備104，系統(tǒng)106使得計算設(shè)備104能夠通過執(zhí)行本發(fā)明的過程步驟來使用數(shù)據(jù)陣列根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試報告和/或分析測試數(shù)據(jù)。
計算設(shè)備104示為包括存儲器112、處理器114、輸入/輸出(I/O)接口116和總線118。另外，計算設(shè)備104示為與外部I/O設(shè)備/資源102及存儲系統(tǒng)122通信。如本領(lǐng)域中公知的，處理器114通常執(zhí)行存儲在存儲器112和/或存儲系統(tǒng)122中的計算機程序代碼，例如，系統(tǒng)106。在執(zhí)行計算機程序代碼時，處理器114可以從存儲器112、存儲系統(tǒng)122和/或I/O接口116讀取和/或向它們寫入數(shù)據(jù)130，例如，測試數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)陣列等。總線118提供了計算設(shè)備104中的每個組件間的通信鏈路。I/O設(shè)備118可以包括任何可使用戶與計算設(shè)備104交互或可使計算設(shè)備104與一個或多個其他計算設(shè)備通信的設(shè)備。
在任何情況下，計算設(shè)備104可以包括任何能夠執(zhí)行用戶安裝的計算機程序代碼的通用計算制品(例如，個人電腦、服務(wù)器、手持設(shè)備等)。但是，應(yīng)當理解，計算設(shè)備104和系統(tǒng)106只是代表可以執(zhí)行本發(fā)明的各種過程步驟的各種可能的等價計算設(shè)備。在這個意義上，在其他實施例中，計算設(shè)備104可以包括任何包含用于執(zhí)行特定功能的硬件和/或計算機程序代碼的專用計算制品，任何包含專用和通用硬件/軟件的組合的計算制品，或此類計算制品。在每種情況下，可以分別使用標準的編程和工程技術(shù)來創(chuàng)建所述程序代碼和硬件。
同樣，計算機基礎(chǔ)設(shè)施102只是說明各種類型的用于實現(xiàn)本發(fā)明的計算機基礎(chǔ)設(shè)施。例如，在一個實施例中，計算機基礎(chǔ)設(shè)施102包括兩個或兩個以上在任何類型的有線和/或無線通信鏈路(例如，網(wǎng)絡(luò)、共享存儲器等)上通信以執(zhí)行本發(fā)明的各種過程步驟的計算設(shè)備(例如，服務(wù)器集群)。當通信鏈路包括網(wǎng)絡(luò)時，該網(wǎng)絡(luò)可以包括一種或多種類型的網(wǎng)絡(luò)(例如，因特網(wǎng)、廣域網(wǎng)、局域網(wǎng)、虛擬專用網(wǎng)絡(luò)等)的任意組合。無論如何，計算設(shè)備間的通信可以使用各種類型的傳輸技術(shù)的任何組合。
盡管不是必須的，基礎(chǔ)設(shè)施102還可以包括陣列結(jié)構(gòu)測試器140。陣列結(jié)構(gòu)測試器140示為在通信鏈路142上與計算設(shè)備104通信。如上所述，通信鏈路142可以包括本領(lǐng)域公知的各種類型的通信鏈路的任何組合。測試器140可以包括任何現(xiàn)在已知或?qū)黹_發(fā)的適合要測試的陣列結(jié)構(gòu)類型的測試設(shè)備(即，硬件和/或軟件)，例如，用于存儲器陣列的存儲器測試器。應(yīng)當理解，陣列結(jié)構(gòu)測試器140可以包括與為計算設(shè)備104示出的組件相同的組件(處理器、存儲器、I/O接口等)。為了簡潔，并未單獨示出和討論這些組件。
系統(tǒng)106示為包括以下組件測試數(shù)據(jù)獲取器150；轉(zhuǎn)換表生成器151；包括數(shù)據(jù)陣列生成器154、坐標文件生成器158和芯片報告生成器160的報告器152；成像器162和數(shù)據(jù)分析器164。其他系統(tǒng)組件166可以包括任何其他操作所需但未在此處明確說明的外圍功能。這些組件中的每個組件的操作會在下文進一步討論。但是應(yīng)當理解，圖2示出的各種系統(tǒng)中的某些系統(tǒng)可以被獨立實現(xiàn)、組合和/或存儲于包括在計算機基礎(chǔ)設(shè)施102中的一個或多個單獨的計算設(shè)備的存儲器內(nèi)。此外應(yīng)當理解，某些系統(tǒng)和/或功能可能沒有實現(xiàn)，或其他系統(tǒng)和/或功能可被包括為環(huán)境100的一部分。
轉(zhuǎn)到圖3，結(jié)合圖2和4-7，現(xiàn)在將說明系統(tǒng)106的操作方法的一個實施例。本發(fā)明的一個實施例獲取測試數(shù)據(jù)144(圖2)并在數(shù)據(jù)陣列170(圖4)中報告所述數(shù)據(jù)，而不是將每個測試的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)儲至無詳細信息的位失效圖中或生成具有所有數(shù)據(jù)的龐大的ASCII文件。將生成轉(zhuǎn)換表180(圖5)來說明所述數(shù)據(jù)陣列的組織。
在第一步驟S1中，數(shù)據(jù)獲取器150導(dǎo)致獲取測試數(shù)據(jù)144。該步驟可以包括任何當前已知或?qū)黹_發(fā)的從測試器140接收測試數(shù)據(jù)144的方法。例如，通過通信鏈路142、無線傳輸?shù)?。可以以諸如位失效圖、數(shù)據(jù)流等的多種方式中的任何方式來提供測試數(shù)據(jù)144。
接下來在步驟S2，轉(zhuǎn)換表生成器151導(dǎo)致生成轉(zhuǎn)換表180。轉(zhuǎn)換表指示了數(shù)據(jù)陣列170(圖4)中特定測試的測試數(shù)據(jù)的位置，即，它說明了數(shù)據(jù)陣列170(圖4)的組織，以及在數(shù)據(jù)陣列中分析數(shù)據(jù)的準則。應(yīng)當認識到，如果用戶(雖然不大可能)可以跟蹤數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)陣列170中的位置，則使用數(shù)據(jù)陣列170不一定需要轉(zhuǎn)換表180。轉(zhuǎn)換表180可以包括以下信息為數(shù)據(jù)陣列170(圖4)中的各種測試的數(shù)據(jù)提供標識符的測試名稱(例如，Map_FScan、Map_SSCAN1等)和數(shù)據(jù)陣列170中測試的數(shù)據(jù)位置，即，與數(shù)據(jù)陣列170中的測試對應(yīng)的部分172的位置。對于數(shù)據(jù)位置，轉(zhuǎn)換表180可以包括數(shù)據(jù)陣列中測試數(shù)據(jù)的起始列、數(shù)據(jù)陣列中測試數(shù)據(jù)的結(jié)束列、數(shù)據(jù)陣列中測試數(shù)據(jù)的起始行以及數(shù)據(jù)陣列中測試數(shù)據(jù)的結(jié)束行。例如，測試Map_FScan具有在行0到224(未全部示出)和列0到0包括其數(shù)據(jù)的部分174(圖4)。因此，可以在部分182(圖5中的轉(zhuǎn)換表180的第一行)中提供Map_FScan的數(shù)據(jù)，假設(shè)轉(zhuǎn)換表180被擴展到完整大小。但是，并不總是置于數(shù)據(jù)陣列170的一行中這種情況。例如，測試SM4_WLNS1具有在行448到895和列515到626中包括其數(shù)據(jù)的部分(未在數(shù)據(jù)陣列中示出)。
轉(zhuǎn)換表180還可以包括每個測試的其他信息，例如指示測試所屬的組的集標識符(如，集1、2或3)；測試所屬的集中的測試數(shù)；集中的相對測試位置(如，2/4、4/8等)。此外，如以下將說明的，轉(zhuǎn)換表180還可以包括要在坐標文件(圖6)中報告的特定測試的失效點的預(yù)定數(shù)(坐標文件最大值)。
接下來，在步驟S3，報告器152導(dǎo)致在數(shù)據(jù)陣列170中報告測試數(shù)據(jù)144(圖2)，如圖4所示。具體地說，在子步驟S3A，使用數(shù)據(jù)陣列生成器154生成數(shù)據(jù)陣列170。參考圖4，數(shù)據(jù)陣列170包括至少兩個代表不同測試的部分172。也就是說，不同的部分172代表測試器140(圖2)所完成的不同測試的結(jié)果。盡管它們看起來相似，但是數(shù)據(jù)陣列170與位失效圖不同。數(shù)據(jù)陣列170像位失效圖一樣指示存儲器單元的失效點，但是數(shù)據(jù)陣列中的失效點的位置與陣列結(jié)構(gòu)中的位置之間沒有關(guān)系。由于數(shù)據(jù)陣列170可以包括用于陣列結(jié)構(gòu)的大量測試的單元，所以它還可以具有是陣列結(jié)構(gòu)中的單元數(shù)的倍數(shù)的大小。注意，出于說明目的簡化了示例性數(shù)據(jù)陣列170；它通常是一個非常大的陣列，例如，1024×2048的陣列。
優(yōu)選地根據(jù)轉(zhuǎn)換表180來組織存儲在數(shù)據(jù)陣列170中的數(shù)據(jù)，圖5中示出了轉(zhuǎn)換表180的一個示例性實施例。再次地，應(yīng)當認識到，如果用戶(雖然不大可能)可以跟蹤數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)陣列170中的位置，則使用數(shù)據(jù)陣列170不一定需要轉(zhuǎn)換表180。
在可選的子步驟S3B中，坐標文件生成器158導(dǎo)致生成如圖6所示的坐標文件190，其中包括特定測試的失效點的預(yù)定數(shù)，例如20。所述預(yù)定數(shù)在轉(zhuǎn)換表180中提供并可以是用戶定義的。如圖6所示，坐標文件190包括6個失效點。每個失效點可以包括例如晶片批次ID、晶片ID、指示晶片上測試的芯片的位置的芯片部位X、Y(測試部位)、測試名稱(例如，PLD3B)，以及包括具有相應(yīng)陣列結(jié)構(gòu)單元位置的失效點位置的數(shù)據(jù)陣列170中的坐標。也就是說，坐標表190包括數(shù)據(jù)陣列坐標和定義的最大數(shù)目的失效點的陣列結(jié)構(gòu)坐標。坐標文件190對確定失效點的類型和確切位置非常有用。
在另一個可選的子步驟S3C中，芯片報告生成器160可以生成包括芯片上的每個測試的結(jié)果的芯片報告。圖7示出了示例性的芯片報告196。在一個實施例中，芯片報告196可以包括晶片上芯片(小片)的X和Y位置、測試名稱及每個測試的失效數(shù)(失效計數(shù))。如本領(lǐng)域的技術(shù)人員將認識到的，芯片報告190還可以包括每個芯片的各種其他信息。
在步驟S3期間，可以為批次內(nèi)的其他晶片繼續(xù)測試，因此無需暫停以便進行數(shù)據(jù)再現(xiàn)。
繼續(xù)參考圖4，一旦完成測試，可選的下一步驟S4可以包括成像器162(圖2)導(dǎo)致數(shù)據(jù)陣列170被再現(xiàn)為圖像。在一個實施例中，所述圖像為壓縮文件，例如，標記圖像文件格式(TIFF)圖像，其中包含每個芯片的數(shù)據(jù)陣列170的位圖，即測試部位。成像器162可以將數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)陣列170提取到二進制數(shù)據(jù)流中(數(shù)據(jù)陣列170中的每個位可以是TIFF文件中的1個像素，其可以被轉(zhuǎn)換為二進制)，即位數(shù)據(jù)光柵。
在步驟S5中，數(shù)據(jù)分析器166導(dǎo)致使用數(shù)據(jù)陣列170(例如，以TIFF文件的形式)來分析數(shù)據(jù)。轉(zhuǎn)到圖8，現(xiàn)在將說明分析方法的流程圖。在一個實施例中，在第一步驟S101中，數(shù)據(jù)分析器166接收數(shù)據(jù)陣列170中測試數(shù)據(jù)的報告，該數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個代表不同測試的部分。然后，在步驟S102，數(shù)據(jù)分析器166根據(jù)轉(zhuǎn)換表180掃描數(shù)據(jù)陣列170以獲取陣列結(jié)構(gòu)的測試數(shù)據(jù)。如上所述，數(shù)據(jù)陣列170可以是圖像，例如為TIFF格式。在這此方面，數(shù)據(jù)分析器166可以包括任何當前已知或?qū)黹_發(fā)的圖像掃描器及用于識別測試數(shù)據(jù)的相關(guān)硬件/軟件，例如，光學(xué)字符識別等。轉(zhuǎn)換表180用于轉(zhuǎn)換掃描的數(shù)據(jù)陣列。在步驟S103，數(shù)據(jù)分析器166導(dǎo)致分析測試數(shù)據(jù)。所述分析可以包括任何當前已知或?qū)黹_發(fā)的測試數(shù)據(jù)分析，例如失效分析?？梢詫y試的分析結(jié)果添加到常規(guī)的分析概要中?？梢詫拿總€數(shù)據(jù)陣列170進行分析并總結(jié)所述分析。由于數(shù)據(jù)分析器166作為數(shù)據(jù)陣列生成的后期過程執(zhí)行，所以它可以在測試其他陣列結(jié)構(gòu)并生成數(shù)據(jù)陣列時(步驟S3A)用作并行過程。數(shù)據(jù)陣列170和數(shù)據(jù)分析器166的使用顯著減少了得到測試結(jié)果所需的測試時間和資源。
應(yīng)當理解，上述步驟的順序僅為示例性的。在此意義上，可以并行、以不同的順序、相隔很長時間等來執(zhí)行一個或多個步驟。進而，在本發(fā)明的各種實施例中可以不執(zhí)行一個或多個這些步驟。此外，系統(tǒng)106及測試器140的結(jié)構(gòu)可以與圖中所示的結(jié)構(gòu)不同。例如，系統(tǒng)106可以被實現(xiàn)為更大的測試器系統(tǒng)的一部分。
雖然在此作為用于使用數(shù)據(jù)陣列根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)的方法和系統(tǒng)示出并描述了本方面，但是應(yīng)當理解，本發(fā)明還提供了各種備選實施例。例如，在一個實施例中，本發(fā)明提供了一種包括計算機程序代碼的計算機可讀介質(zhì)，所述計算機程序代碼使得計算機基礎(chǔ)設(shè)施能夠使用數(shù)據(jù)陣列根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)。在此意義上，所述計算機可讀介質(zhì)包括程序代碼，例如系統(tǒng)106(圖2)，它可以實現(xiàn)本發(fā)明的各種過程步驟的每個步驟。應(yīng)當理解，術(shù)語“計算機可讀介質(zhì)”包括一個或多個任何類型的程序代碼的物理體現(xiàn)。具體地說，所述計算機可讀介質(zhì)可以包括在一個或多個便攜式存儲制品(例如，光盤、磁盤、磁帶等)上、計算設(shè)備的一個或多個數(shù)據(jù)存儲部分(例如，存儲器112(圖2)和/或存儲系統(tǒng)122(圖2)(如固定盤、只讀存儲器、隨機存取存儲器、高速緩沖存儲器等))上包含的和/或包含為在網(wǎng)絡(luò)上傳輸?shù)臄?shù)據(jù)信號(例如，在程序代碼的有線/無線電子分發(fā)期間)的程序代碼。
在其他實施例中，本發(fā)明提供了一種基于訂閱、廣告和/或收費來執(zhí)行本發(fā)明的過程步驟的商業(yè)方法。也就是說，服務(wù)提供商(例如，因特網(wǎng)服務(wù)提供商)可以如上所述提供使用數(shù)據(jù)陣列根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)。在這種情況下，服務(wù)提供商可以管理(例如，創(chuàng)建、維護、支持等)為一個或多個客戶執(zhí)行本發(fā)明的處理步驟的計算機基礎(chǔ)設(shè)施(例如，計算機基礎(chǔ)設(shè)施102(圖2))。作為回報，服務(wù)提供商可以在訂閱和/或收費協(xié)議下收取一個或多個客戶的付款，和/或服務(wù)提供商可以從將廣告空間出售給一個或多個第三方來收取費用。
在再一個實施例中，本發(fā)明提供了一種提供用于使用數(shù)據(jù)陣列根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)的服務(wù)的方法。在這種情況下，可以獲取(例如，創(chuàng)建、維護、提供等)計算機基礎(chǔ)設(shè)施(例如，計算機基礎(chǔ)設(shè)施102(圖2))及獲取(例如，創(chuàng)建、購買、使用、調(diào)整等)一個或多個用于執(zhí)行本發(fā)明的過程步驟的系統(tǒng)并將其部署到所述計算機基礎(chǔ)設(shè)施。在此意義上，部署每個系統(tǒng)可以包括以下一個或多個步驟(1)從計算機可讀介質(zhì)中將程序代碼安裝至計算設(shè)備，例如，計算設(shè)備104(圖2)；(2)將一個或多個計算設(shè)備添加到所述計算機基礎(chǔ)設(shè)施；以及(3)結(jié)合和/或修改所述計算機基礎(chǔ)設(shè)施的一個或多個現(xiàn)有系統(tǒng)，使得所述計算機基礎(chǔ)設(shè)施能夠執(zhí)行本發(fā)明的過程步驟。
如本文中使用的，應(yīng)當理解，術(shù)語“程序代碼”和“計算機程序代碼”為同義詞，意指一組指令的以任何語言、代碼或符號表示的任何表達，旨在使具有信息處理能力的計算設(shè)備直接執(zhí)行特定的功能，或者在執(zhí)行以下項的任意組合后執(zhí)行特定的功能a)轉(zhuǎn)換為另一種語言、代碼或符號；b)以不同的材料形式再現(xiàn)；和/或(c)解壓縮。在此意義上，程序代碼可以體現(xiàn)為一種或多種類型的程序產(chǎn)品，例如，應(yīng)用/軟件程序、組件軟件/功能庫、操作系統(tǒng)、特定計算和/或I/O設(shè)備的基本I/O系統(tǒng)/驅(qū)動器，及此類產(chǎn)品。
出于示例和描述目的提供了本發(fā)明的各種方面的上述描述。其并非旨在是窮舉的或?qū)⒈景l(fā)明限于所公開的精確形式，并且很顯然，許多修改和變化都是可能的。這些對本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說顯而易見的修改和變化旨在被包括在如所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告測試數(shù)據(jù)的方法，所述方法包括以下步驟獲取所述測試數(shù)據(jù)；以及在數(shù)據(jù)陣列中報告所述測試數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個代表不同測試的部分。
2.如權(quán)利要求1中所述的方法，還包括在所述報告步驟之前，生成指示所述數(shù)據(jù)陣列中特定測試的測試數(shù)據(jù)位置的轉(zhuǎn)換表的步驟。
3.如權(quán)利要求2中所述的方法，其中所述轉(zhuǎn)換表還包括要在坐標文件中報告的特定測試的預(yù)定數(shù)量的失效點。
4.如權(quán)利要求3中所述的方法，其中所述報告步驟還包括生成包含特定測試的所述預(yù)定數(shù)量的失效點的坐標文件。
5.如權(quán)利要求4中所述的方法，其中所述坐標文件包括數(shù)據(jù)陣列坐標和所述預(yù)定數(shù)量的失效點的陣列結(jié)構(gòu)坐標。
6.如權(quán)利要求1中所述的方法，其中所述報告步驟還包括生成以下項中的至少一項包括特定測試的預(yù)定數(shù)量的失效點的坐標文件；以及包括芯片上每個測試的結(jié)果的芯片報告。
7.如權(quán)利要求1中所述的方法，還包括將所述數(shù)據(jù)陣列再現(xiàn)為圖像的步驟。
8.一種提供用于根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告測試數(shù)據(jù)的服務(wù)的方法，所述方法包括獲取計算機基礎(chǔ)設(shè)施；以及對于權(quán)利要求1的每個步驟，將用于執(zhí)行所述步驟的單元部署到所述計算機基礎(chǔ)設(shè)施。
9.一種根據(jù)陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告測試數(shù)據(jù)的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括導(dǎo)致獲取所述測試數(shù)據(jù)的獲取器；以及導(dǎo)致報告數(shù)據(jù)陣列中的所述測試數(shù)據(jù)的報告器，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個代表不同測試的部分。
10.如權(quán)利要求9中所述的系統(tǒng)，還包括導(dǎo)致生成轉(zhuǎn)換表的生成器，所述轉(zhuǎn)換表指示所述數(shù)據(jù)陣列中特定測試的測試數(shù)據(jù)的位置。
11.如權(quán)利要求10中所述的系統(tǒng)，其中所述轉(zhuǎn)換表還包括要在坐標文件中報告的特定測試的預(yù)定數(shù)量的失效點，并且所述報告裝置還生成包括特定測試的預(yù)定數(shù)量的失效點的坐標文件。
12.如權(quán)利要求11中所述的系統(tǒng)，其中所述坐標文件包括數(shù)據(jù)陣列坐標和所述預(yù)定數(shù)量的失效點的陣列結(jié)構(gòu)坐標。
13.如權(quán)利要求10中所述的系統(tǒng)，還包括導(dǎo)致使用所述轉(zhuǎn)換表來分析所述數(shù)據(jù)陣列的分析器。
14.如權(quán)利要求9中所述的系統(tǒng)，其中所述報告器還生成以下項中的至少一項包括特定測試的預(yù)定數(shù)量的失效點的坐標文件；以及包括芯片上每個測試的結(jié)果的芯片報告。
15.如權(quán)利要求9中所述的系統(tǒng)，還包括導(dǎo)致將所述數(shù)據(jù)陣列再現(xiàn)為圖像的成像器。
16.一種分析陣列結(jié)構(gòu)的測試數(shù)據(jù)的方法，所述方法包括以下步驟在數(shù)據(jù)陣列中接收所述測試數(shù)據(jù)的報告，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個代表不同測試的部分；以及根據(jù)轉(zhuǎn)換表掃描所述數(shù)據(jù)陣列以獲取所述陣列結(jié)構(gòu)的所述測試數(shù)據(jù)；以及分析所述數(shù)據(jù)。
17.如權(quán)利要求16中所述的方法，其中所述數(shù)據(jù)陣列在圖像中。
18.如權(quán)利要求16中所述的方法，其中所述分析步驟在測試其他陣列結(jié)構(gòu)期間發(fā)生。
全文摘要
本發(fā)明公開了使用數(shù)據(jù)陣列從陣列結(jié)構(gòu)的多個測試來報告和/或分析測試數(shù)據(jù)。一種方法包括獲取所述測試數(shù)據(jù)并在數(shù)據(jù)陣列中報告所述測試數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個表示不同測試的部分。根據(jù)轉(zhuǎn)換表來組織存儲在所述數(shù)據(jù)陣列中的數(shù)據(jù)，所述轉(zhuǎn)換表描述了所述數(shù)據(jù)陣列中要測試的數(shù)據(jù)的位置和要分析的數(shù)據(jù)的準則。還可以生成大量其他數(shù)據(jù)布置，例如，列出預(yù)定最大數(shù)量的失效點的坐標文件或芯片做出的包括失效點的芯片報告。所述數(shù)據(jù)陣列以更易于生成和存儲的形式報告所有測試數(shù)據(jù)，并且其可以被轉(zhuǎn)換成圖像。本發(fā)明還公開了用于使用所述數(shù)據(jù)陣列來分析數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)分析方法。
文檔編號G11C29/00GK1953102SQ20061013577
公開日2007年4月25日 申請日期2006年10月19日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月21日
發(fā)明者W·J·弗朗特, S·吳, J·卡斯爾斯 申請人:國際商業(yè)機器公司