專(zhuān)利名稱(chēng)：：光學(xué)拾取器以及光盤(pán)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及光學(xué)拾取器(opticalpickup)以及光盤(pán)裝置，優(yōu)選適用于例如與具有多個(gè)記錄層的光盤(pán)對(duì)應(yīng)的光盤(pán)裝置。
背景技術(shù)：
：以往，在光盤(pán)裝置中，廣泛普及有如CD、DVD、Blu-rayDisc(注冊(cè)商標(biāo)，以下稱(chēng)作BD)等那樣，通過(guò)對(duì)光盤(pán)照射光束并讀取其反射光來(lái)再現(xiàn)信息的裝置。在該光盤(pán)中，將應(yīng)當(dāng)記錄的信息進(jìn)行編碼并調(diào)制之后作為凹坑(pit)等來(lái)記錄在形成為螺旋狀或者同心圓狀的軌道(track)上。因此，在光盤(pán)裝置中，利用物鏡對(duì)光束進(jìn)行聚光，并且，當(dāng)從光盤(pán)再現(xiàn)信息時(shí)，將該光束對(duì)焦到以螺旋狀或者同心圓狀形成在光盤(pán)的記錄層上的軌道。此時(shí)，光盤(pán)裝置通過(guò)在光電探測(cè)器(photodetector)上設(shè)置預(yù)定形狀的受光區(qū)域等來(lái)接收反射光。光盤(pán)裝置基于該受光結(jié)果，分別計(jì)算出表示應(yīng)當(dāng)照射光束的軌道(以下稱(chēng)作目標(biāo)軌道)和光束的焦點(diǎn)在對(duì)焦方向(focusdirection)上和尋軌方向(trackingdirection)上的偏移量的對(duì)焦誤差信號(hào)以及尋軌誤差信號(hào)。接下來(lái)，光盤(pán)裝置基于對(duì)焦誤差信號(hào)向?qū)狗较蛞苿?dòng)物鏡，并且基于尋軌誤差信號(hào)向?qū)ぼ壏较蛞苿?dòng)該物鏡，由此能夠?qū)⒐馐鴮?duì)焦到目標(biāo)軌道。然而，在光盤(pán)中存在如下光盤(pán)具有二層的記錄層，在各記錄層中分別以預(yù)定的反射率反射光束。對(duì)于這樣的光盤(pán)，光盤(pán)裝置進(jìn)行控制以將光束對(duì)焦到期望的記錄層上，然后檢測(cè)出其反射光。這里，在光盤(pán)裝置中，光束的一部分在與期望的記錄層不同的其他的記錄層中被反射而形成的層間雜散光(interlayerstraylight)有時(shí)被照射到光電探測(cè)器的受光區(qū)域。此時(shí)，光盤(pán)裝置恐怕由于該層間雜散光而使尋軌誤差信號(hào)產(chǎn)生誤差從而無(wú)法正確地進(jìn)行尋軌控制。另外，為了增加光盤(pán)的記錄容量，可以考慮對(duì)光盤(pán)設(shè)置4層或6層的記錄層。在該光盤(pán)中，與現(xiàn)有的具有2層的記錄層的光盤(pán)的層間隔相比較可知，最接近(即，相鄰)的記錄層之間的層間隔變窄，而最遠(yuǎn)離的記錄層之間的層間隔變寬。因此，在光盤(pán)裝置中，根據(jù)期望的記錄層和其他記錄層之間的層間距離，層間雜散光的照射狀態(tài)各自不同。因此，在光盤(pán)裝置中，提出了一種在增加了光盤(pán)的記錄層的情況下也能夠避免層間雜散光的影響的、利用了所謂的單束推拉方法(on-beampush-pullmethod)的光盤(pán)裝置。(例如，參照專(zhuān)利文件1)在該光盤(pán)裝置中，如圖1所示，利用全息元件(hologramelement)1等針對(duì)反射光的每個(gè)區(qū)域使反射光向不同的方向(圖中用箭頭表示)衍射，并且，如圖2所示，通過(guò)設(shè)置在光電探測(cè)器2上的多個(gè)受光區(qū)域針對(duì)反射光的每個(gè)區(qū)域進(jìn)行接收。如圖1和圖2所示，該光盤(pán)裝置使反射光中的包含有所謂的推拉分量的區(qū)域(主區(qū)域)和包含有所謂的透鏡移位(lens-shift)分量的區(qū)域(副區(qū)域)向不同的方向衍射。由此，光盤(pán)裝置即使在將任一個(gè)記錄層作為了期望的記錄層的情況下也能夠防止層間雜散光對(duì)受光區(qū)域的(圖中用虛線表示)照射，或者即使被照射了層間雜散光時(shí)也能夠防止產(chǎn)生尋軌誤差信號(hào)等中的誤差。專(zhuān)利文件1日本專(zhuān)利文獻(xiàn)特開(kāi)2008-135151公報(bào)(圖8)
發(fā)明內(nèi)容發(fā)明所要解決的問(wèn)題然而，根據(jù)光盤(pán)裝置的原理，當(dāng)光盤(pán)裝置進(jìn)行了使物鏡向?qū)ぼ壏较蛞苿?dòng)的尋軌控制時(shí)、即當(dāng)發(fā)生了透鏡移位時(shí)，層間雜散光的照射狀態(tài)也會(huì)發(fā)生變化。另外，在光盤(pán)裝置中，由于來(lái)自與期望的記錄層的層間隔窄的其他的記錄層的層間雜散光與反射光束的光路長(zhǎng)度(opticalpathlength)差小，因此其照射范圍狹小，接近光電探測(cè)器的受光區(qū)域。因此，在光盤(pán)裝置中，如與圖2對(duì)應(yīng)的圖3所示的那樣，當(dāng)發(fā)生了透鏡移位時(shí)，基于與期望的記錄層的層間隔窄的其他的記錄層的層間雜散光可能會(huì)進(jìn)入受光區(qū)域。在這樣的情況下，該光盤(pán)裝置中還是會(huì)存在由于尋軌誤差信號(hào)產(chǎn)生誤差而導(dǎo)致尋軌控制的精度下降的問(wèn)題。本發(fā)明是鑒于以上的問(wèn)題而完成的，本發(fā)明提出了當(dāng)光盤(pán)具有多個(gè)記錄層并且發(fā)生了透鏡移位時(shí)也能夠生成可進(jìn)行高精度的尋軌控制的受光信號(hào)的光學(xué)拾取器以及當(dāng)光盤(pán)具有多個(gè)記錄層并且發(fā)生了透鏡移位時(shí)也能夠進(jìn)行高精度的尋軌控制的光盤(pán)裝置。用于解決問(wèn)題的手段為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明的光學(xué)拾取器包括光源，所述光源射出光束；物鏡，所述物鏡將所述光束聚光到在光盤(pán)上所設(shè)置的多個(gè)記錄層中作為對(duì)象的對(duì)象記錄層；透鏡移動(dòng)部，所述透鏡移動(dòng)部使物鏡向與螺旋狀或者同心圓狀地形成在對(duì)象記錄層上的軌道槽大致正交的尋軌方向移動(dòng)；聚光透鏡，所述聚光透鏡聚集光束被光盤(pán)反射而成的反射光束；衍射光學(xué)元件，當(dāng)衍射反射光束并分離成反射0次光束和反射1次光束時(shí)，通過(guò)第1區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向預(yù)定的第1方向衍射并作為第1光束，通過(guò)第2區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與第1方向不同的第2方向衍射并作為第2光束，通過(guò)第3區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與第1方向和第2方向中的任一個(gè)都不同的第3方向衍射并作為第3光束，通過(guò)第4區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向第3方向衍射并作為第4光束，其中，所述第1區(qū)域是與反射1次光束中的包含被軌道槽衍射的+1次光的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第2區(qū)域是與反射1次光束中的包含被軌道槽衍射的-1次光的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第3區(qū)域是與反射1次光束中幾乎不包含被軌道槽衍射的+1次光和-1次光并相當(dāng)于光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第4區(qū)域是與反射1次光束中幾乎不包含被軌道槽衍射的+1次光和-1次光并相當(dāng)于光盤(pán)的外周側(cè)的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域；以及光檢測(cè)器，通過(guò)分別設(shè)置在反射0次光束的照射位置中的第1方向側(cè)和第2方向側(cè)的第1受光區(qū)域和第2受光區(qū)域分別接收第1光束和第2光束并生成受光信號(hào)，并且通過(guò)分別設(shè)置在反射0次光束的照射位置中的第3方向側(cè)的第3受光區(qū)域和第4受光區(qū)域分別接收第3光束和第4光束并生成受光信號(hào)；通過(guò)預(yù)定的信號(hào)處理部基于分別通過(guò)第1受光區(qū)域、第2受光區(qū)域、第3受光區(qū)域、以及第4受光區(qū)域生成的受光信號(hào)，生成尋軌誤差信號(hào)，所述尋軌誤差信號(hào)表示在尋軌方向上的光束的焦點(diǎn)與軌道槽的中心線的偏移量，通過(guò)預(yù)定的伺服控制部基于尋軌誤差信號(hào)經(jīng)由透鏡移動(dòng)部使物鏡向?qū)ぼ壏较蛞苿?dòng)。本發(fā)明的光學(xué)拾取器使第1受光區(qū)域、第2受光區(qū)域、第3受光區(qū)域、以及第4受光區(qū)域彼此隔開(kāi)配置，并且能夠分別接收第1光束、第2光束、第3光束、以及第4光束。并且，光學(xué)拾取器對(duì)于由與聚集光束的記錄層最接近或最遠(yuǎn)離的記錄層中的任一個(gè)產(chǎn)生的層間雜散光，也能夠分別避免由光學(xué)衍射元件的第2區(qū)域所引起的層間雜散光對(duì)第1受光區(qū)域的照射以及由光學(xué)衍射元件的第1區(qū)域所引起的層間雜散光對(duì)第2受光區(qū)域的照射。另外，在本發(fā)明的光盤(pán)裝置中，包括光源，所述光源射出光束；物鏡，所述物鏡將光束聚光到在光盤(pán)上所設(shè)置的多個(gè)記錄層中作為對(duì)象的對(duì)象記錄層；透鏡移動(dòng)部，所述透鏡移動(dòng)部使物鏡向與螺旋狀或者同心圓狀地形成在對(duì)象記錄層上的軌道槽大致正交的尋軌方向移動(dòng)；聚光透鏡，所述聚光透鏡聚集光束被光盤(pán)反射而成的反射光束；衍射光學(xué)元件，當(dāng)衍射反射光束并分離成反射0次光束和反射1次光束時(shí)，通過(guò)第1區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向預(yù)定的第1方向衍射并作為第1光束，通過(guò)第2區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與第1方向不同的第2方向衍射并作為第2光束，通過(guò)第3區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與第1方向和第2方向中的任一個(gè)都不同的第3方向衍射并作為第3光束，通過(guò)第4區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向第3方向衍射并作為第4光束，其中，所述第1區(qū)域是與反射1次光束中的包含被軌道槽衍射的+1次光的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第2區(qū)域是與反射1次光束中的包含被軌道槽衍射的-1次光的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第3區(qū)域是與反射1次光束中幾乎不包含被軌道槽衍射的+1次光和-1次光并相當(dāng)于光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第4區(qū)域是與反射1次光束中幾乎不包含被軌道槽衍射的+1次光和-1次光并相當(dāng)于光盤(pán)的外周測(cè)的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域；以及光檢測(cè)器，通過(guò)分別設(shè)置在反射0次光束的照射位置中的第1方向側(cè)和第2方向側(cè)的第1受光區(qū)域和第2受光區(qū)域分別接收第1光束和第2光束并生成受光信號(hào)，并且通過(guò)分別設(shè)置在反射0次光束的照射位置中的第3方向側(cè)的第3受光區(qū)域和第4受光區(qū)域分別接收第3光束和第4光束并生成受光信號(hào)；信號(hào)處理部，所述信號(hào)處理部基于分別通過(guò)第1受光區(qū)域、第2受光區(qū)域、第3受光區(qū)域、以及第4受光區(qū)域生成的受光信號(hào)，生成尋軌誤差信號(hào)，所述尋軌誤差信號(hào)表示在尋軌方向上的光束的焦點(diǎn)與軌道槽的中心線的偏移量；以及伺服控制部，所述伺服控制部基于尋軌誤差信號(hào)經(jīng)由透鏡移動(dòng)部使物鏡向?qū)ぼ壏较蛞苿?dòng)。由此，本發(fā)明的光盤(pán)裝置使第1受光區(qū)域、第2受光區(qū)域、第3受光區(qū)域、以及第4受光區(qū)域彼此隔開(kāi)配置，并且能夠分別接收第1光束、第2光束、第3光束、以及第4光束。并且，光盤(pán)裝置對(duì)于由與聚集光束的記錄層最接近或最遠(yuǎn)離的記錄層中的任一個(gè)產(chǎn)生的層間雜散光，也能夠分別避免由光學(xué)衍射元件的第2區(qū)域所引起的層間雜散光對(duì)第1受光區(qū)域的照射以及由光學(xué)衍射元件的第1區(qū)域所引起的層間雜散光對(duì)第2受光區(qū)域的照射。發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明，使第1受光區(qū)域、第2受光區(qū)域、第3受光區(qū)域、以及第4受光區(qū)域相互隔開(kāi)配置，并且能夠分別接收第1光束、第2光束、第3光束、以及第4光束。并且，在本發(fā)明中，對(duì)于由與聚集光束的記錄層最接近或著最遠(yuǎn)離的記錄層中的任一個(gè)產(chǎn)生的層間雜散光，也能夠避免由光學(xué)衍射元件的第2區(qū)域所引起的層間雜散光對(duì)第1受光區(qū)域的照射以及由光學(xué)衍射元件的第1區(qū)域所引起的層間雜散光對(duì)第2受光區(qū)域的照射。這樣，本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)當(dāng)光盤(pán)具有多個(gè)記錄層并且發(fā)生了透鏡移位時(shí)也能夠生成可進(jìn)行高精度的尋軌控制的受光信號(hào)的光學(xué)拾取器以及當(dāng)光盤(pán)具有多個(gè)記錄層并且發(fā)生了透鏡移位時(shí)也能夠進(jìn)行高精度的尋軌控制的光盤(pán)裝置。圖1是示出現(xiàn)有的全息元件的構(gòu)成的簡(jiǎn)略圖；圖2是示出現(xiàn)有的層間雜散光的照射情況(1)的簡(jiǎn)略圖；圖3是示出現(xiàn)有的層間雜散光的照射情況(2)的簡(jiǎn)略圖；圖4是示出光盤(pán)裝置的整體構(gòu)成的簡(jiǎn)略圖；圖5是用于說(shuō)明光盤(pán)的反射光束以及層間雜散光束的發(fā)生的簡(jiǎn)略圖；圖6是示出光學(xué)拾取器的構(gòu)成的簡(jiǎn)略圖；圖7是示出全息元件的構(gòu)成的簡(jiǎn)略圖；圖8是示出第1實(shí)施方式的反射光束的分離的情況的簡(jiǎn)略圖；圖9是示出第1實(shí)施方式的光檢測(cè)器的構(gòu)成的簡(jiǎn)略圖；圖10是用于說(shuō)明雜散光圖案的形成(1)的簡(jiǎn)略圖；圖11是用于說(shuō)明雜散光圖案的形成(2)的簡(jiǎn)略圖；圖12是用于說(shuō)明雜散光圖案的形成(3)的簡(jiǎn)略圖；圖13是用于說(shuō)明其他層衍射雜散光圖案的形成的簡(jiǎn)略圖；圖14是用于說(shuō)明由于透鏡移位而引起的反射光束的照射位置的移動(dòng)的簡(jiǎn)略圖；圖15是用于說(shuō)明雜散光圖案的形成(4)的簡(jiǎn)略圖；圖16是用于說(shuō)明現(xiàn)有的其他層衍射雜散光圖案的形成的簡(jiǎn)略圖；圖17是用于說(shuō)明雜散光圖案的形成(5)的簡(jiǎn)略圖；圖18是用于說(shuō)明雜散光圖案的形成(6)的簡(jiǎn)略圖；圖19是示出當(dāng)發(fā)生了透鏡移位時(shí)的雜散光層間隔和光量之間的關(guān)系的簡(jiǎn)略圖；圖20是示出第3實(shí)施方式的反射光束的分離的情況的簡(jiǎn)略圖；圖21是示出第3實(shí)施方式的光檢測(cè)器的構(gòu)成的簡(jiǎn)略圖；圖22是用于說(shuō)明第3實(shí)施方式的雜散光圖案的形成的簡(jiǎn)略圖。具體實(shí)施例方式以下，利用用于實(shí)施發(fā)明的方式(以下稱(chēng)作實(shí)施方式)。并且，用以下的順序進(jìn)行說(shuō)明。1.第1實(shí)施方式(利用了設(shè)置在推拉分量的受光區(qū)域附近的雜散光受光區(qū)域的受光結(jié)果的例子)2.第2實(shí)施方式(利用了設(shè)置在透鏡移位分量的受光區(qū)域附近的雜散光受光區(qū)域的受光結(jié)果的例子)3.第3實(shí)施方式(對(duì)于反射光束的一部分區(qū)域不生成0次光的例子)4.其他的實(shí)施方式<1.第1實(shí)施方式>[1-1.光盤(pán)裝置的結(jié)構(gòu)]如圖4所示，光盤(pán)裝置10以綜合控制部11為中心來(lái)構(gòu)成，并且能夠?qū)獗P(pán)100記錄信息，并且從該光盤(pán)100再現(xiàn)信息。如圖5的(A)的剖面圖所示，光盤(pán)100具有例如4層的記錄層Y0、YUY2、Y3(以下，將這些統(tǒng)稱(chēng)為記錄層Y)。該各記錄層Y形成有螺旋狀或者同心圓狀的軌道槽，并且沿該軌道槽記錄信息。綜合控制部11由未圖示的CPU(CentralProcessingUnit，中央處理器)、存儲(chǔ)有各種程序等的R0M(ReadOnlyMemory，只讀存儲(chǔ)器)、用作該CPU的工作存儲(chǔ)器的RAM(RandomAccessMemory，隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)來(lái)構(gòu)成。當(dāng)從光盤(pán)100再現(xiàn)信息時(shí)，綜合控制部11經(jīng)由驅(qū)動(dòng)控制部12旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)(spindlemotor)15，使載放在轉(zhuǎn)臺(tái)15T上的光盤(pán)100以期望的速度旋轉(zhuǎn)。另外，綜合控制部11通過(guò)經(jīng)由驅(qū)動(dòng)控制部12驅(qū)動(dòng)步進(jìn)馬達(dá)(Sledmotor)16，由此使光學(xué)拾取器17沿移動(dòng)軸向?qū)ぼ壏较?、即朝向光盤(pán)100的內(nèi)周側(cè)或者外周側(cè)的方向大幅度移動(dòng)。光學(xué)拾取器17安裝有物鏡18和二軸執(zhí)行器19等多個(gè)部件，并且基于綜合控制部11的控制向光盤(pán)100照射光束。另外，當(dāng)向光盤(pán)100照射光束時(shí)，綜合控制部11將記錄層YOY3中的作為讀取信息的對(duì)象的記錄層Y、即光束應(yīng)對(duì)焦的記錄層Y選定為對(duì)象記錄層YT。另外，光學(xué)拾取器17接收光束被光盤(pán)反射而形成的反射光束，生成與該受光結(jié)果對(duì)應(yīng)的受光信號(hào)，并提供給信號(hào)處理部13。信號(hào)處理部13利用被提供的受光信號(hào)進(jìn)行預(yù)定的計(jì)算處理，由此分別生成對(duì)焦誤差信號(hào)和尋軌誤差信號(hào)，并將這些信號(hào)提供給驅(qū)動(dòng)控制部12。驅(qū)動(dòng)控制部12的伺服控制部12A基于被提供的對(duì)焦誤差信號(hào)和尋軌誤差信號(hào)生成用于驅(qū)動(dòng)物鏡18的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，并將其提供給光學(xué)拾取器17的二軸執(zhí)行器19。光學(xué)拾取器17的二軸執(zhí)行器19基于該驅(qū)動(dòng)信號(hào)進(jìn)行物鏡18的對(duì)焦控制以及尋軌控制，并且調(diào)整由該物鏡18聚光的光束的焦點(diǎn)位置。另外，驅(qū)動(dòng)控制部12從綜合控制部11接收到對(duì)象記錄層YT的通知，并且進(jìn)行對(duì)焦控制以將該光束對(duì)焦到該對(duì)象記錄層YT。信號(hào)處理部13通過(guò)對(duì)受光信號(hào)進(jìn)行預(yù)定的計(jì)算處理、解調(diào)處理、解碼處理等，能夠再現(xiàn)記錄在光盤(pán)100中的信息。另外，當(dāng)將信息記錄到光盤(pán)100時(shí)，綜合控制部11從未圖示的外部設(shè)備等接收應(yīng)記錄的信息，并將其提供給信號(hào)處理部13。信號(hào)處理部13通過(guò)對(duì)該信息進(jìn)行預(yù)定的編碼處理和調(diào)制處理等來(lái)生成記錄用信號(hào)，并將其提供給光學(xué)拾取器17。光學(xué)拾取器17使光束成為記錄用的強(qiáng)度并且使其與記錄用信號(hào)對(duì)應(yīng)地被調(diào)制，由此形成與記錄用信號(hào)對(duì)應(yīng)的記錄記號(hào)(recordingmark)。例如在光盤(pán)100的記錄方式與BD-RE(Blu-rayDisc-Rewritable)相同的情況下，通過(guò)使形成記錄層的材料的相位局部變化來(lái)形成該記錄記號(hào)。如上所述，光盤(pán)裝置10使光束從光學(xué)拾取器17向光盤(pán)100照射，并基于該反射光進(jìn)行對(duì)焦控制和尋軌控制，并且能夠進(jìn)行信息的再現(xiàn)處理和記錄處理。[1-2.光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu)]如圖6所示，光學(xué)拾取器17向光盤(pán)100照射光束Li，并接收該光束Ll被該光盤(pán)100反射而成的反射光束LR。激光二極管21被構(gòu)成為能夠基于光源控制部31的控制將由波長(zhǎng)約為405[nm]的藍(lán)紫色激光構(gòu)成的光束Ll作為發(fā)散光來(lái)射出。另外，激光二極管21的安裝角度等被調(diào)整成光束Ll成為P偏振光。實(shí)際上，綜合控制部11通過(guò)控制光源控制部31而從激光二極管21發(fā)射光束Ll并入射到準(zhǔn)直鏡(collimatorlens)22。準(zhǔn)直鏡22將光束Ll從發(fā)散光轉(zhuǎn)換成平行光，并入射至IJ偏振分光器(polarizationbeamsplitter)23。偏振分光器23具有根據(jù)光束的偏振光方向而透射率不同的反射透射面23S，使P偏振光的光束幾乎全部透射，并且?guī)缀跞糠瓷銼偏振光的光束。實(shí)際上，偏振分光器23由反射透射面23S使光束Ll幾乎全部透射，并且使其入射至1Ji求差校IE部(sphericalaberrationcorrectionunit)24。球差校正部24例如由液晶元件構(gòu)成，并且改變光束Ll的球差并入射到1/4波長(zhǎng)板25。另外，球差校正部24能夠通過(guò)伺服控制部12A的球差控制部12AS調(diào)整液晶元件的球差的變化程度。實(shí)際上，球差校正部24基于綜合控制部11和球差控制部12AS的控制，對(duì)光束Ll預(yù)先賦予與當(dāng)光束Ll被聚光并到達(dá)光盤(pán)100的對(duì)象記錄層YT時(shí)所產(chǎn)生的球差的特性相反的球差。由此，球差校正部24能夠校正當(dāng)光束Ll到達(dá)對(duì)象記錄層YT時(shí)的球差。1/4波長(zhǎng)板25被構(gòu)成為能夠?qū)⒐馐谥本€偏振光和圓偏振光之間相互轉(zhuǎn)換，例如將由P偏振光構(gòu)成的光束Ll轉(zhuǎn)換成左圓偏振光并入射到物鏡18。物鏡18對(duì)光束Ll進(jìn)行聚光。在這里，綜合控制部11經(jīng)由對(duì)焦控制部12AF由對(duì)焦執(zhí)行器9F調(diào)整物鏡18的對(duì)焦方向上的位置。因此，物鏡18以將光束Ll的焦點(diǎn)Fl大致對(duì)焦到光盤(pán)100的對(duì)象記錄層YT的方式進(jìn)行照射。此時(shí)，光束Ll被對(duì)象記錄層YT反射，由此成為反射光束LR，被入射到物鏡18。另夕卜，由于圓偏振光的旋轉(zhuǎn)方向在被反射時(shí)被反轉(zhuǎn)，因此反射光束LR成為右圓偏振光。例如，當(dāng)記錄層YO為對(duì)象記錄層YT時(shí)(圖5的㈧)，光束Ll通過(guò)在記錄層YO被反射而成為反射光束LR。此后，反射光束LR由物鏡18從發(fā)散光轉(zhuǎn)換成平行光后，由1/4波長(zhǎng)板25從右圓偏振光轉(zhuǎn)換成S偏振光(直線偏振光)，再被入射到球差校正部24。球差校正部24校正從反射光束LR被對(duì)象記錄層YT反射后至通過(guò)物鏡18之間產(chǎn)生的球差，并將該反射光束LR入射到偏振分光器23。偏振分光器23在反射透射面23S反射由S偏振光構(gòu)成的反射光束LR，并且入射到聚光透鏡26。聚光透鏡26將反射光束LR轉(zhuǎn)換成收斂光，并入射到全息元件27。全息元件27根據(jù)作為衍射元件的性質(zhì)，使反射光束LR衍射并將其至少分離為0次光和1次光。此時(shí)，全息元件27使由0次光構(gòu)成的反射光束LRO大致直進(jìn)，并且使由1次光構(gòu)成的反射光束LRl向與0次光不同的方向行進(jìn)，并入射到柱面透鏡(cylindricallens)28。然而，當(dāng)光束Ll的焦點(diǎn)Fl相對(duì)于光盤(pán)100的期望的軌道向內(nèi)周側(cè)或者外周側(cè)變位了時(shí)，反射光束LR(圖1)由于該軌道的槽結(jié)構(gòu)的衍射作用而圖1的斜線部分的光量發(fā)生變化。該斜線部分被稱(chēng)作推拉區(qū)域，將與該斜線部分相當(dāng)?shù)墓饬康姆至恳卜Q(chēng)作推拉分量?？芍性撏评至康墓饬扛鶕?jù)光束Ll的焦點(diǎn)Fl從期望的軌道變位了時(shí)的變位量而變化。因此，在光盤(pán)裝置10中，通過(guò)檢測(cè)出該推拉分量，可進(jìn)行物鏡18的尋軌控制。為了與該推拉區(qū)域?qū)?yīng)，全息元件27如圖7的(A)所示反射光束LR的通過(guò)部分被分割為多個(gè)區(qū)域27E27J，并且如圖7的(B)所示針對(duì)各個(gè)區(qū)域設(shè)定反射光束LR的衍射方向。區(qū)域27E將在反射光束LRl中包含有很多由光盤(pán)100的軌道的槽結(jié)構(gòu)而被衍射的1次衍射光(即，+1次光或-ι次光)、并且與該光盤(pán)100的內(nèi)周側(cè)部分相當(dāng)?shù)牟糠肿鳛榉瓷涔馐鳯R1E。此時(shí)，區(qū)域27E使反射光束LRlE從大致沿軌道的走行方向的方向(為了方便，以下將該方向稱(chēng)作縱向)向傾向內(nèi)周側(cè)(圖的左側(cè))的方向衍射。區(qū)域27F將在反射光束LRl中包含有很多由光盤(pán)100的軌道的槽結(jié)構(gòu)而被衍射的1次衍射光(即，-ι次光或+1次光)、并且與該光盤(pán)100的外周側(cè)的部分相當(dāng)?shù)牟糠肿鳛榉瓷涔馐鳯R1F。此時(shí)，區(qū)域27F使反射光束LRlF從縱向向傾向外周側(cè)(圖的右側(cè))的方向衍射。其中，反射光束LRlF的行進(jìn)方向在與縱向正交的橫向上與反射光束LRlE的行進(jìn)方向大致對(duì)稱(chēng)。換言之，反射光束LRlE和LRlF在縱向上向相互大致相同的方向行進(jìn)，并且在橫向上分別向相互相反的方向行進(jìn)。區(qū)域27G1和27G2將反射光束LRl中幾乎不包含被光盤(pán)100的軌道衍射的1次衍射光、并且在去除反射光束LRl的中央部分的區(qū)域中的與光盤(pán)100的內(nèi)周側(cè)部分相當(dāng)?shù)牟糠肿鳛榉瓷涔馐鳯RlGl和LR1G2。此時(shí)，區(qū)域27G1和27G2(以下，將其統(tǒng)稱(chēng)為區(qū)域27G)使反射光束LRlGl和LR1G2(以下，將其統(tǒng)稱(chēng)為反射光束LR1G)大致向橫向的外周方向(圖的右方向)衍射。區(qū)域27H1和27H2將反射光束LRl中幾乎不包含被光盤(pán)100的軌道衍射的1次衍射光、并且在去除該反射光束LRl的中央部分的區(qū)域中的與光盤(pán)100的外周側(cè)部分相當(dāng)?shù)牟糠肿鳛榉瓷涔馐鳯RlHl和LR1H2。此時(shí)，區(qū)域27H1和27H2(以下，將其統(tǒng)稱(chēng)為區(qū)域27H)使反射光束LRlHl和LR1H2(以下，將其統(tǒng)稱(chēng)為反射光束LR1H)大致向橫向的外周方向衍射并且比反射光束LRlG稍大地衍射。區(qū)域27J將反射光束LRl的中央部分作為反射光束LR1J。此時(shí)，區(qū)域27J使反射光束LRlJ向縱向和橫向的大致中間的斜向、即向圖的右下方向衍射。這樣，全息元件27將由1次光構(gòu)成的反射光束LRl中的包含推拉分量的部分作為反射光束LRlE和LR1F，使它們分別向縱向的內(nèi)周側(cè)以及外周側(cè)衍射。另外，全息元件27將反射光束LRl中的幾乎不包含推拉分量且軌道的走行方向的前后部分作為反射光束LRlG和LR1H，使它們分別向橫向衍射。另外，全息元件27在各區(qū)域27E27J形成了所謂的二元全息圖(binaryholograms)，因此實(shí)際上由于衍射作用分別生成+1次光和_1次光。但是，在光學(xué)拾取器17中，作為1次衍射光，僅利用了+1次光或-1次光中的某一者，未利用另一者。如上所述，全息元件27通過(guò)使反射光束LRl向針對(duì)每個(gè)區(qū)域設(shè)定的方向衍射，由此分割為多個(gè)反射光束LRlELRlJ并使它們相互分離。柱面透鏡28使由0次光構(gòu)成的反射光束LRO帶有像散(astigmatism)，并照射到光檢測(cè)器29。順便說(shuō)一下，柱面透鏡28根據(jù)其光學(xué)性質(zhì)使由1次光構(gòu)成的反射光束LR1E、LR1F、LR1G、LR1H、LR1J也同樣地帶有像散。但是，反射光束LRlELRlJ由形成在全息元件27上的衍射光柵預(yù)先賦予了能夠與該像散相抵消的像差(aberration)，由此在從柱面透鏡28射出的時(shí)點(diǎn)上就使其幾乎不具有像差。其中，如果示意性地表示反射光束LR被全息元件27分割并照射到光檢測(cè)器29的情況，則成為圖8所示。如圖9所示，光檢測(cè)器29形成有多個(gè)受光部DA、DE、DF、DG、DH、以及DJ，并且在各受光部分別形成有多個(gè)受光區(qū)域。受光部DA通過(guò)以與由0次光構(gòu)成的反射光束LRO的光軸對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)點(diǎn)P2為中心、在縱向以及橫向上分別被分割為2個(gè)部分、即被分割為格子狀的4個(gè)受光區(qū)域RA、RB、RC、RD構(gòu)成。并且，受光區(qū)域RARD均被形成為大小幾乎相等的近似正方形形狀。受光區(qū)域RA、RB、RC、RD分別接收由反射光束LRO形成的光斑(spot)TA的一部分，并分別生成與其受光量相應(yīng)的受光信號(hào)SA、SB、SC、SD并輸出給前置放大器32(圖6)。受光部DE整體上被形成為縱向長(zhǎng)的長(zhǎng)方形形狀，并且在縱向被分割為3個(gè)部分。受光部DE的中央部分成為了大致正方形形狀的受光區(qū)域RE，其兩端部分分別成為了縱向短的雜散光受光區(qū)域REm和REN2。即，在受光部DE中，在中央配置受光區(qū)域RE，并且在橫向上橫跨與該受光區(qū)域RE幾乎相等的范圍并與該受光區(qū)域RE鄰接地配置了雜散光受光區(qū)域REm和REN2。受光區(qū)域RE接收由反射光束LRlE形成的光斑TE，生成與其受光量相應(yīng)的受光信號(hào)SE并輸出給前置放大器32(圖2)。另外，雜散光受光區(qū)域REm和REN2生成相當(dāng)于各自受光量的相加值的受光信號(hào)SEN，并輸出給前置放大器32。受光部DF以通過(guò)基準(zhǔn)點(diǎn)P2并縱向延長(zhǎng)的假想的直線Vl為對(duì)稱(chēng)軸設(shè)置在與受光部DE幾乎對(duì)稱(chēng)的位置上。另外，受光部DF被形成為與受光部DE同樣的形狀，由分別與受光區(qū)域RE以及雜散光受光區(qū)域REm和REN2對(duì)應(yīng)的受光區(qū)域RF以及雜散光受光區(qū)域RFNl禾口RFN2構(gòu)成。受光區(qū)域RF接收由反射光束LRlF形成的光斑TF，生成與其受光量相應(yīng)的受光信號(hào)SF并輸出給前置放大器32(圖2)。另外，雜散光受光區(qū)域RFNl和RFN2生成相當(dāng)于各自受光量的相加值的受光信號(hào)SFN，并輸出給前置放大器32。受光部DG配置在通過(guò)基準(zhǔn)點(diǎn)P2并橫向延長(zhǎng)的假想的直線V2上。受光部DG與受光部DE同樣地整體上被形成為縱向長(zhǎng)的長(zhǎng)方形形狀，并且在縱向被分割為3個(gè)部分。受光部DG的中央部分成為了大致正方形形狀的受光區(qū)域RG，其兩端部分分別成為了縱向短的雜散光受光區(qū)域RGNl和RGN2。S卩，在受光部DG中，與受光部DE同樣地，在中央配置有受光區(qū)域RG，并且與該受光區(qū)域RG在縱向上分別鄰接地配置有雜散光受光區(qū)域RGNl和RGN2。受光區(qū)域RG接收由反射光束LRlGl和LR1G2形成的光斑TGl和TG2，生成與其受光量相應(yīng)的受光信號(hào)SG并輸出給前置放大器32(圖2)。另外，雜散光受光區(qū)域RGNl和RGN2生成相當(dāng)于各自受光量的相加值的受光信號(hào)SGN，并輸出給前置放大器32。受光部DH在假想的直線V2上當(dāng)從基準(zhǔn)點(diǎn)P2觀察時(shí)比受光部DG遠(yuǎn)的位置處配置成與該受光部DG稍微隔開(kāi)。另外，受光部DH成為與受光部DG同樣的形狀，并由分別與受光區(qū)域RG以及雜散光受光區(qū)域RGNl和RGN2對(duì)應(yīng)的受光區(qū)域RH以及雜散光受光區(qū)域RHNl禾口RHN2構(gòu)成。受光區(qū)域RH接收由反射光束LRlHl和LR1H2形成的光斑THl和TH2，生成與其受光量相應(yīng)的受光信號(hào)SH并輸出給前置放大器32(圖2)。另外，雜散光受光區(qū)域RHNl和RHN2生成相當(dāng)于各自受光量的相加值的受光信號(hào)SHN，并輸出給前置放大器32。受光部DJ配置在從基準(zhǔn)點(diǎn)P2傾斜的方向(即成為縱向和橫向的大致中間的方向)上與該基準(zhǔn)點(diǎn)P2隔開(kāi)、并且與受光部DF稍微隔開(kāi)的位置上。受光部DJ由被分割為格子狀的4個(gè)部分的受光區(qū)域RJA、RJB、RJC、RJD來(lái)接收反射光束LR1J。順便說(shuō)一下，受光部DJ中的各受光區(qū)域的分割方向形成與受光部DA的分割方向約成45度的角度。另外，受光區(qū)域RJARJD均被形成為大小幾乎相等的大致正方形形狀。受光區(qū)域RJA、RJB、RJC、RJD生成與各自的受光量相應(yīng)的受光信號(hào)SJA、SJB、SJC、SJD,并將它們輸出給前置放大器32(圖2)。如上所述，光檢測(cè)器29通過(guò)受光部DA和DEDJ的各受光區(qū)域R分別生成與各自的受光量相應(yīng)的受光信號(hào)S,并輸出給前置放大器32。順便說(shuō)一下，在光學(xué)拾取器17中，通過(guò)聚光透鏡26和全息元件27的設(shè)計(jì)等，反射光束LRO、LRlELRlJ分別對(duì)焦到光檢測(cè)器29的照射面附近。[1-3.雜散光的照射和受光部的配置]然而，光盤(pán)100在記錄層YlY3中始終分別以預(yù)定的反射率反射光束L并且使剩余的光束透射，并且使透射記錄層Yl的光束Ll被記錄層YO反射。因此，光束Ll即使由光盤(pán)裝置10例如將記錄層YO選定為對(duì)象記錄層YT，光束Ll也始終被其他的記錄層YlY3分別反射。如上所述，將光束Ll的一部分被其他的記錄層YlY3反射所成的光束稱(chēng)作層間雜散光束LN。層間雜散光束LN通過(guò)與反射光束LR同樣的光路被全息元件27衍射后，最終被照射到光檢測(cè)器29。然而，層間雜散光束LN與反射光束LR相比，從物鏡18作為光束Ll射出之后再次入射到物鏡18為止的光路的長(zhǎng)度不同。因此，層間雜散光束LN當(dāng)入射到物鏡18時(shí)的收斂狀態(tài)(發(fā)散狀態(tài))與反射光束LR不同。另一方面，在光學(xué)拾取器17中，對(duì)于反射光束LR決定各種光學(xué)部件的配置以及光學(xué)特性等，以使得光檢測(cè)器29成為對(duì)象記錄層YT的共焦點(diǎn)(confocalpoint)。因此，層間雜散光束LN在被全息元件27分割成與反射光束LR同樣的分割模式divisionpattern)并且焦點(diǎn)偏離的狀態(tài)、即所謂的失焦?fàn)顟B(tài)下被照射到光檢測(cè)器29。另外，光盤(pán)100具有多個(gè)(該情況下為3個(gè))其他的記錄層Y。因此，層間雜散光束LN根據(jù)被反射的記錄層Y(即記錄層YlΥ3)而與反射光束LR的光路長(zhǎng)度差也不同，被照射到光檢測(cè)器29上時(shí)的失焦?fàn)顟B(tài)變得不同。S卩，在光檢測(cè)器29中，根據(jù)生成層間雜散光束LN的記錄層Y和對(duì)象記錄層YT之間的層間隔，該層間雜散光束LN的照射模式(以下將其稱(chēng)作雜散光圖案(straylightpattern)W)有所不同。以下，分別針對(duì)對(duì)象記錄層YT和生成了層間雜散光束LN的記錄層Y之間的層間隔寬時(shí)和窄時(shí)照射了雜散光圖案W的情況進(jìn)行說(shuō)明。[1-3-1.層間隔寬時(shí)]在這里，首先，假設(shè)以下情況光盤(pán)100中的最靠?jī)?nèi)側(cè)的記錄層YO被選定為對(duì)象記錄層YT，并且光束Ll的焦點(diǎn)Fl對(duì)焦到該記錄層YO(圖5的(A))。在該情況下，光束Ll被最靠跟前側(cè)的記錄層Y3反射而成的層間雜散光束LN(以下，將其稱(chēng)為層間雜散光束LN3)在光檢測(cè)器29上形成如圖10所示那樣的雜散光圖案群W30該雜散光圖案群W3通過(guò)全息元件27形成0次光的雜散光圖案WA。另外，雜散光圖案群W3通過(guò)全息元件27的區(qū)域27E、27F、27G1、27G2、27H1、以及27H2分別形成1次光的雜散光圖案WE、WF、WGl、WG2、WHl、以及WH2。雜散光圖案TO與雜散光圖案WA具有相等的半徑，并且成為以光斑TE的照射位置為中心的假想的雜散光圖案VffE(圖中以單點(diǎn)劃線示出)中的、與全息元件27的27E對(duì)應(yīng)的部分。對(duì)于其他的雜散光圖案WF、WG1、WG2、WH1以及WH2也是一樣的。這里，記錄層Y3(圖5的(A))是距作為對(duì)象記錄層YT的記錄層YO最遠(yuǎn)的記錄層Y。即，各記錄層Y的層間雜散光束LN和反射光束LR之間的光路長(zhǎng)度差中，層間雜散光束LN3的光路長(zhǎng)度差最長(zhǎng)。因此，雜散光圖案群W3是分別由各層間雜散光束LN形成的雜散光圖案群W中最被放大的。因此，決定光檢測(cè)器29的受光部DE、DF、DG、DH的大小以及配置以使其不與該雜散光圖案群W3中的雜散光圖案WA、TO、WF、WG1、WG2、WH1、WH2的任一個(gè)重疊。接下來(lái)，如與圖5的㈧對(duì)應(yīng)的圖5的⑶所示，假設(shè)以下情況光盤(pán)100中最靠跟前側(cè)的記錄層Y3被選定為對(duì)象記錄層YT，并且光束Ll的焦點(diǎn)Fl對(duì)焦到該記錄層Y3。在該情況下，光束Ll被最靠里側(cè)的記錄層YO反射而成的層間雜散光束LN(以下，將其稱(chēng)作層間雜散光束LN0)在光檢測(cè)器29上形成如與圖10對(duì)應(yīng)的圖11所示那樣的雜散光圖案群WO。雜散光圖案群WO與雜散光圖案群W3的情況同樣地通過(guò)全息元件27形成0次光的雜散光圖案WA。另外，雜散光圖案群WO通過(guò)全息元件27的區(qū)域27E、27F、27G1、27G2、27H1、以27H2分別形成1次光的雜散光圖案TO、WF、WG1、WG2、WH1、WH2。此時(shí)，層間雜散光束LNO的光路長(zhǎng)度比反射光束LR的光路長(zhǎng)度被延長(zhǎng)。因此，層間雜散光束LNO—旦被聚光透鏡26聚光，則比反射光束LR靠跟前側(cè)、即在到達(dá)光檢測(cè)器29之前結(jié)成焦點(diǎn)一次，此后成為發(fā)散光。此時(shí)，層間雜散光束LNO的像(即，截面的形狀)以光軸為中心旋轉(zhuǎn)180度。因此，例如雜散光圖案群WO(圖11)中的雜散光圖案WE與雜散光圖案群W3中的雜散光圖案WE相比，被形成為以光斑TE的照射位置為中心旋轉(zhuǎn)了180度的狀態(tài)。對(duì)于其他的雜散光圖案WF、WGl、WG2、WHl、WH2也是同樣的。順便說(shuō)一下，在雜散光圖案群W3和雜散光圖案群WO中，由于雜散光圖案WA為圓形，并且雜散光圖案WJ為長(zhǎng)方形，因此即使被旋轉(zhuǎn)180度也是相同的形狀。如上所述，在雜散光圖案群WO中，雜散光圖案TO、WF、WG1、WG2、WH1、WH2的形成位置以及方向與雜散光圖案群W3(圖10)不同。S卩，層間雜散光束LN即使與反射光束LR的光路長(zhǎng)度差相等，也根據(jù)光路長(zhǎng)度差比該反射光束LR或被延長(zhǎng)或被縮短，而當(dāng)照射到光檢測(cè)器29上時(shí)形成的雜散光圖案的形狀不同。因此，光檢測(cè)器29的受光部DE、DF、DG、DH被配置成除了雜散光圖案群W3之外，也不與雜散光圖案群WO中的雜散光圖案WA、TO、WF、WG1、WG2、WH1、WH2中的任一個(gè)重疊。這里，研究在光檢測(cè)器29中用于使受光部DE和DF回避雜散光圖案WE和WF中的任一個(gè)的具體的回避條件。首先，將全息元件27(圖7)中的區(qū)域27H1和27H2的邊界線以及區(qū)域27F和27J的邊界線之間的間隔設(shè)為dl，并且反射光束LR的半徑設(shè)為rl。另外，將光檢測(cè)器29(圖10)中的受光部DE和DF之間的間隔(即、受光區(qū)域RE和RF的間隔或者光斑TE和TF的間隔)設(shè)為d2，并且將雜散光圖案WA的半徑設(shè)為r2。接下來(lái)，假設(shè)全息元件27中的反射光束LR的半徑rl和光檢測(cè)器29中的雜散光圖案WA的半徑r2相等。此時(shí)，回避條件成為“間隔d2比半徑rl和間隔dl的相加值大”。實(shí)際上，半徑rl和r2根據(jù)光學(xué)拾取器17的光學(xué)設(shè)計(jì)等而相互不同。因此，如果使上述的回避條件反映半徑rl和r2的比率，則能夠以下式(1)那樣表示。[數(shù)學(xué)式1]<formula>formulaseeoriginaldocumentpage16</formula>如果將該(1)式變形，則能夠獲得下式(2)。[數(shù)學(xué)式2]<formula>formulaseeoriginaldocumentpage16</formula>因此，光檢測(cè)器29被設(shè)計(jì)成受光部DE和DF之間的間隔d2滿足該⑵式。[1-3-2.層間隔窄時(shí)]接下來(lái)，假設(shè)以下情況光盤(pán)100中的記錄層YO再次被選定為對(duì)象記錄層YT，并且光束Ll的焦點(diǎn)Fl對(duì)焦到該記錄層YO(圖5的(A))。在該情況下，光束Ll被與該記錄層YO接近的、即層間隔窄的記錄層Yl反射而成的層間雜散光束LN(以下，將其稱(chēng)作層間雜散光束LNl)在光檢測(cè)器29上形成如與圖10對(duì)應(yīng)的圖12所示的雜散光圖案群W1。該雜散光圖案群Wl與雜散光圖案群W3的情況相同，通過(guò)全息元件27形成0次光的雜散光圖案WA。另外，雜散光圖案群Wl通過(guò)全息元件27的區(qū)域27E、27F、27G1、27G2、27H1、以及27H2分別形成1次光的雜散光圖案WE、WF、WG1、WG2、WHl、以及冊(cè)2。這里，被光盤(pán)100的記錄層Yl反射的層間雜散光束LNl和反射光束LR之間的光路長(zhǎng)度差比被記錄層Y3反射的層間雜散光束LN3和該反射光束LR之間的光路長(zhǎng)度差短。因此，雜散光圖案群Wl的各雜散光圖案W成為了將雜散光圖案群W3(圖10)的各雜散光圖案W以相應(yīng)的光斑T為中心縮小了的形狀。隨之，雜散光圖案群Wl的雜散光圖案冊(cè)、1、161、162、1!11、以及冊(cè)2分別與檢測(cè)部DE、DF、DG、DH鄰近。這里，記錄層Yl(圖5的(A))為與作為對(duì)象記錄層YT的記錄層YO最接近的記錄層Y。即，各記錄層Y的層間雜散光束LN和反射光束LR之間的光路長(zhǎng)度差中，對(duì)于層間雜散光束LNl的光路長(zhǎng)度差最短。因此，雜散光圖案群Wl是分別由各層間雜散光束LN形成的雜散光圖案群W中最被縮小的。因此，決定光檢測(cè)器29的受光部DE、DF、DG、DH的大小以及配置等，以使其不與該雜散光圖案群Wl中的雜散光圖案WA、TO、WF、WG1、WG2、WH1、WH2中的任一個(gè)重疊。這樣，決定了光檢測(cè)器29的受光部DE、DF、DG、DH的大小以及配置等，以使受光部DE、DF、DG、DH不與各雜散光圖案群W中的各雜散光圖案的任一個(gè)重疊。[1-3-3.由其他的記錄層的軌道引起的雜散光的影響]然而，在光盤(pán)100(圖5的㈧和(B))中，如上所述光束Ll的一部分被與目標(biāo)記錄層YT不同的其他的記錄層Y反射，成為層間雜散光束LN。除此之外，在光盤(pán)100中，由于形成在其他記錄層Y的軌道的槽結(jié)構(gòu)而光束Ll的一部分被反射和衍射，由此產(chǎn)生由+1次和-1次衍射光構(gòu)成的其他層衍射雜散光束LM。當(dāng)該其他層衍射雜散光束LM到達(dá)光檢測(cè)器29時(shí)，如圖13所示分別以光斑TE和TF的照射位置為中心，分別形成大致橢圓狀或者檸檬形狀的其他層衍射雜散光圖案WME和WMF。這里，在光檢測(cè)器29中，如上所述受光部DE和DF被配置成隔開(kāi)一定程度。因此，在光檢測(cè)器29中，以光斑TE的照射位置為中心的其他層衍射雜散光圖案WME雖然與檢測(cè)區(qū)域RE重疊，但是不與檢測(cè)區(qū)域RF重疊。與此相反，以光斑TF的照射位置為中心的其他層衍射雜散光圖案WMF雖然與檢測(cè)區(qū)域RF重疊，但是不與檢測(cè)區(qū)域RE重疊。如上所述，在光檢測(cè)器29中，能夠?qū)⒂善渌麑友苌潆s散光束LM引起的其他層衍射雜散光圖案WME和其他層衍射雜散光圖案WMF相互分離，因此該其他層衍射雜散光圖案WME和WMF不會(huì)重疊。[1-4.對(duì)焦控制和尋軌控制]光盤(pán)裝置1的前置放大器32(圖6)分別放大受光信號(hào)SA、SB、SC、SD、SE、SF、SG、SH、以及SJA、SJB、SJC、SJD,并提供給信號(hào)處理部13。另外，前置放大器32也分別放大雜散光受光信號(hào)SEN、SFN、SGN、SHN,并提供給信號(hào)處理部13。信號(hào)處理部13通過(guò)對(duì)焦誤差信號(hào)計(jì)算電路13F進(jìn)行按照下式(1)的計(jì)算，由此通過(guò)像散法計(jì)算出對(duì)焦誤差信號(hào)SFE，將其提供給伺服控制部12A的對(duì)焦控制部12AF。[數(shù)學(xué)式3]SFE=(SA+SC)-(SB+SD)......(3)該對(duì)焦誤差信號(hào)SFE在光盤(pán)100中表示光束Ll的焦點(diǎn)Fl和對(duì)象記錄層YT之間的偏移量。伺服控制部12A的對(duì)焦控制部12AF(圖6)基于對(duì)焦誤差信號(hào)SFE生成對(duì)焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)SFD，并將其提供給對(duì)焦執(zhí)行器19F。對(duì)焦執(zhí)行器19F基于對(duì)焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)SFD進(jìn)行將物鏡18向?qū)狗较蝌?qū)動(dòng)的所謂的對(duì)焦控制。光盤(pán)裝置1通過(guò)反復(fù)進(jìn)行該對(duì)焦控制(即、進(jìn)行反饋控制)，使光束Ll的焦點(diǎn)Fl和對(duì)象記錄層YT的對(duì)焦方向上的偏移量收斂到任意的目標(biāo)值。另外，信號(hào)處理部13使用1束推拉法(one-beampush-pullmethod)生成了表示光束Ll的焦點(diǎn)Fl和對(duì)象記錄層YT中的期望的軌道之間的偏移量的尋軌誤差信號(hào)。在該1束推拉法中，基本上計(jì)算出在反射光束LR中的、在圖1中以斜線表示的推拉分量的差值。然而，在光盤(pán)裝置10中，使由物鏡18聚光的光束Ll的焦點(diǎn)Fl追隨光盤(pán)100中期望的軌道。這里，當(dāng)該軌道發(fā)生了偏心等時(shí)，光盤(pán)裝置10為了使焦點(diǎn)Fl追隨該軌道，執(zhí)行將光學(xué)拾取器17的物鏡18向半徑方向移動(dòng)的所謂的透鏡移位。在發(fā)生了該透鏡移位的情況下，與圖1的斜線部分對(duì)應(yīng)的光斑TE和TF(圖9)的光量根據(jù)該透鏡移位而變化。信號(hào)處理部13為了與該透鏡移位對(duì)應(yīng)而通過(guò)尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路13T按照下式(4)進(jìn)行計(jì)算，由此計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STEl。[數(shù)學(xué)式4]STEl=(SF-SE)-KtX(SH-SG)......(4)在該(4)式中，前半項(xiàng)包含有推拉分量和透鏡移位分量，后半項(xiàng)只包含有透鏡移位分量。系數(shù)Kt是被酌情設(shè)定為當(dāng)光學(xué)拾取器17中發(fā)生了透鏡移位時(shí)能夠抵消前半項(xiàng)所包含的透鏡移位分量的系數(shù)。然而，當(dāng)產(chǎn)生了物鏡18的透鏡移位時(shí)，形成在光檢測(cè)器29的雜散光圖案群Wl如與圖12對(duì)應(yīng)的圖15所示的那樣，出現(xiàn)例如雜散光圖案WF被向內(nèi)周側(cè)延長(zhǎng)而與檢測(cè)部DF相重疊的情況。此時(shí)，受光區(qū)域RF檢測(cè)出光斑TF以及雜散光圖案WF兩者被相加的光量，從而無(wú)法檢測(cè)出計(jì)算尋軌誤差信號(hào)STE所需的光斑TF的光量。這里，雜散光圖案WF的內(nèi)周側(cè)的邊成為與縱向大致平行的直線狀。因此，被照射到受光區(qū)域RF的雜散光圖案WF的光量與被照射到受光區(qū)域RFNl和受光區(qū)域RFN2的雜散光圖案WF的光量始終保持大致固定的比率。因此，光盤(pán)裝置10如果利用受光區(qū)域RFNl和受光區(qū)域RFN2的光量來(lái)抵消被照射到受光區(qū)域RF的雜散光圖案WF的光量，則能夠計(jì)算出光斑TF的光量。另外，對(duì)于受光區(qū)域RE也是同樣的，光盤(pán)裝置10如果利用受光區(qū)域REm和受光區(qū)域REN2的光量來(lái)抵消被照射到受光區(qū)域RE的雜散光圖案WE的光量，則能夠計(jì)算出光斑TE的光量。S卩，光盤(pán)裝置10的信號(hào)處理部13通過(guò)代替上述的(4)式而按照下式(5)來(lái)進(jìn)行計(jì)算，能夠計(jì)算出排除了檢測(cè)區(qū)域RE和RF中的雜散光圖案的影響的尋軌誤差信號(hào)STE2。[數(shù)學(xué)式5]STE2={(SF-SE)-KppX(SFN-SEN)}-KtX(SH-SG)......(5)這里，系數(shù)Kpp被設(shè)定為以下值在與該系數(shù)Kpp相匹配地設(shè)定最合適的系數(shù)Kt的情況下，當(dāng)光盤(pán)100中的各記錄層Y的反射率變化了時(shí)，系數(shù)Kt的變動(dòng)幅度變得最小。伺服控制部12A的對(duì)焦控制部12AF(圖6)基于尋軌誤差信號(hào)STE2生成尋軌驅(qū)動(dòng)信號(hào)STD，并將其提供給尋軌執(zhí)行器19T。尋軌執(zhí)行器19T基于尋軌驅(qū)動(dòng)信號(hào)STD執(zhí)行將物鏡18向?qū)ぼ壏较蝌?qū)動(dòng)的所謂的尋軌控制。光盤(pán)裝置10也通過(guò)反復(fù)進(jìn)行該尋軌控制(即、進(jìn)行反饋控制)，使光束Ll的焦點(diǎn)Fl和對(duì)象記錄層YT中期望的軌道在尋軌方向上的偏移量收斂到任意的目標(biāo)值。這樣，光盤(pán)裝置10通過(guò)進(jìn)行對(duì)焦控制和尋軌控制將光束Ll的焦點(diǎn)Fl對(duì)焦到對(duì)象記錄層YT中期望的軌道上。另外，光盤(pán)裝置10通過(guò)在信號(hào)處理部13的再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算電路13R中按照下式(6)將受光信號(hào)SASD相加來(lái)計(jì)算出再現(xiàn)RF信號(hào)SRF。[數(shù)學(xué)式6]SRF=SA+SB+SC+SD......(6)該再現(xiàn)RF信號(hào)SRF表示相當(dāng)于由0次光構(gòu)成的反射光束LRO整體的光量并且被記錄在光盤(pán)100中的信號(hào)。此后，再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算電路13R通過(guò)對(duì)再現(xiàn)RF信號(hào)SRF執(zhí)行預(yù)定的解調(diào)處理和解碼處理，再現(xiàn)被記錄在光盤(pán)100中的信息。[1-5.安裝位置的調(diào)整]并且，在光學(xué)拾取器17中，當(dāng)調(diào)整全息元件27和光檢測(cè)器29等的安裝位置時(shí)，利用受光部DA和DJ的檢測(cè)結(jié)果來(lái)進(jìn)行。S卩，光學(xué)拾取器17在其組裝工序等中在安裝了調(diào)整用的光盤(pán)之后基于綜合控制部11的控制將光束Ll照射到該調(diào)整用的光盤(pán)上。與此對(duì)應(yīng)地，將由0次光構(gòu)成的LRO以具有像散的狀態(tài)照射到光檢測(cè)器29的受光部DA上。在該組裝工序中，首先對(duì)光檢測(cè)器29沿反射光束LRO的光軸的方向上的安裝位置和與該光軸正交的平面上的安裝位置進(jìn)行微調(diào)。此時(shí)，光檢測(cè)器29被調(diào)整為對(duì)焦誤差信號(hào)SFE的值為“0”，受光信號(hào)SA和SB的和以及受光信號(hào)SC和SD的和成為幾乎同等的信號(hào)電平，并且，受光信號(hào)SA與SD的和以及受光信號(hào)SB與SC的和幾乎相等。由此，光檢測(cè)器29沿反射光束LRO的光軸的方向上的安裝位置被最優(yōu)化，并且縱向和橫向上的安裝位置也被最優(yōu)化。另外，光檢測(cè)器29被調(diào)整以基準(zhǔn)點(diǎn)P2為中心的安裝角度以使得由受光部DJ生成的受光信號(hào)SJA與SJB的和以及受光信號(hào)SJC與SJD的和成為幾乎同等的信號(hào)電平。由此，光檢測(cè)器29在以基準(zhǔn)點(diǎn)P2為中心的旋轉(zhuǎn)方向的安裝角度也被最優(yōu)化。并且，全息元件27被調(diào)整沿反射光束LRO的光軸的方向上的位置以使得由受光部DJ生成的受光信號(hào)SJA與SJD的和以及受光信號(hào)SJB與SJC的和成為幾乎同等的信號(hào)電平。由此，全息元件27成為從基準(zhǔn)點(diǎn)P2的反射光束LRlJ的距離、以及到反射光束LR1E、LR1F、LR1G、LRlH的距離被最優(yōu)化了的狀態(tài)。[1-6.動(dòng)作和效果]在以上的構(gòu)成中，光盤(pán)裝置10的光學(xué)拾取器17將光束Ll照射到光盤(pán)100，并且通過(guò)全息元件27分割并分離被該光盤(pán)100反射而成的反射光束LR。S卩，全息元件27使由0次光構(gòu)成的反射光束LRO大致直進(jìn)，并且由于區(qū)域27E27J(圖7的(A))的衍射作用，分離為由1次光構(gòu)成的反射光束LRlELRlJ。此時(shí)，全息元件27使包含推拉分量、透鏡移位分量以及雜散光分量的反射光束LRlE和LRlF分別向縱向的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)衍射。另外，全息元件27使包含透鏡移位分量和雜散光分量的反射光束LRlG和LRlH分別向橫向衍射，并且使反射光束LRlJ向斜向衍射。與此對(duì)應(yīng)地，光檢測(cè)器29通過(guò)受光部DA的受光區(qū)域RARD接收反射光束LR0，生成受光信號(hào)SASD。另外，光檢測(cè)器29分別通過(guò)受光部DE的受光區(qū)域RE和受光部DF的受光區(qū)域RF分別接收反射光束LRlE和反射光束LR1F，生成受光信號(hào)SE和SF。并且，光檢測(cè)器29分別通過(guò)受光部DG的受光區(qū)域RG和受光部DH的受光區(qū)域RH分別接收反射光束LRlG和反射光束LR1H，生成受光信號(hào)SG和SH。并且，光檢測(cè)器29通過(guò)受光部DE的雜散光受光區(qū)域REW和REN2接收雜散光生成受光信號(hào)SEN，通過(guò)受光部DF的雜散光受光區(qū)域RFNl和RFN2接收雜散光生成受光信號(hào)SFN。另外，光檢測(cè)器29通過(guò)受光部DG的雜散光受光區(qū)域RGNl和RGN2接收雜散光生成受光信號(hào)SGN，通過(guò)受光部DH的雜散光受光區(qū)域RHNl和RHN2接收雜散光生成受光信號(hào)SHN。信號(hào)處理部13通過(guò)對(duì)焦誤差信號(hào)計(jì)算電路13F按照(3)式計(jì)算出對(duì)焦誤差信號(hào)SFE。伺服控制部12A的對(duì)焦控制部12AF基于該對(duì)焦誤差信號(hào)SFE進(jìn)行對(duì)焦控制。另外，信號(hào)處理部13通過(guò)尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路13T按照(5)式計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE2。伺服控制部12A的尋軌控制部12AT基于該尋軌誤差信號(hào)STE2進(jìn)行尋軌控制。并且，信號(hào)處理部13通過(guò)再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算電路13R按照(6)式生成再現(xiàn)RF信號(hào)SRF，并且基于此再現(xiàn)被記錄在光盤(pán)100中的信息。這里，在1束推拉法中，通常為了提高再現(xiàn)RF信號(hào)SRF的信號(hào)電平，而通過(guò)由全息元件27的衍射作用使得由0次光構(gòu)成的反射光束LRO的光強(qiáng)度比由1次光構(gòu)成的反射光束LRl的光強(qiáng)度高。并且，在光檢測(cè)器29中，由1次光構(gòu)成的反射光束LR1E、LR1F、LR1G、以及LRlH的照射強(qiáng)度相對(duì)地變?nèi)酰芄庑盘?hào)SE等的S/N(Signal/Noise)的比等變得比較低。因此，在光盤(pán)裝置10中，當(dāng)光檢測(cè)器29中用于接收1次光的受光區(qū)域DE、DF、DG、DH與雜散光圖案W重疊時(shí)，恐怕會(huì)導(dǎo)致尋軌誤差信號(hào)STEl的線性變差等、精度大幅度地降低。與此相對(duì)，全息元件27使包含有很多推拉分量的反射光束LRlE和LRlF以及包含有很多透鏡移位分量的反射光束LRlG和LRlH向相互不同的方向衍射。由此，在光檢測(cè)器29中，能夠避免區(qū)域27E和27F的雜散光圖案WE和WF被照射到受光部DG和DH，并且能夠避免區(qū)域27G和27H的雜散光圖案WG和WH被照射到受光部DE禾口DF0因此，在光檢測(cè)器29中，對(duì)于受光部DE和DF設(shè)計(jì)成能夠回避由0次光以及區(qū)域27E和27F引起的雜散光圖案W即可。另外，在光檢測(cè)器29中，對(duì)于受光部DG和DH設(shè)計(jì)成能夠回避由0次光以及區(qū)域27G和27H引起的雜散光圖案W即可，因此能夠減輕設(shè)計(jì)難度。這樣，光檢測(cè)器29能夠配置受光部DE、DF、DG、DH使得能夠有效地避免由位于光盤(pán)100中的對(duì)象記錄層YT的里側(cè)和跟前側(cè)而層間距離不同的多個(gè)記錄層Y所引起的各種雜散光圖案W。實(shí)際上，光檢測(cè)器29在未產(chǎn)生透鏡移位的情況下，如圖10圖12所示能夠避免層間雜散光對(duì)受光部DE、DF、DG、DH的照射。因此，在光盤(pán)裝置10中，在未產(chǎn)生透鏡移位的情況下，能夠在受光部DE、DF、DG、DH不與雜散光圖案W重疊的情況下，生成品質(zhì)良好的尋軌誤差信號(hào)。然而，在光檢測(cè)器29中，當(dāng)由于光盤(pán)100中的軌道槽的偏心等產(chǎn)生了物鏡18的透鏡移位的情況下，如圖15所示，由于層間距離短的記錄層Y所引起的雜散光圖案W有時(shí)會(huì)與受光區(qū)域RE或RF重疊。特別是，如圖3所示，在受光區(qū)域RE和RF相鄰配置的情況下，雜散光圖案WF或TO被不完整地照射到受光區(qū)域RE或RF，恐怕無(wú)法由雜散光受光區(qū)域中的受光量抵消受光區(qū)域RE或RF中的雜散光分量。與此相對(duì)，在光檢測(cè)器29中，以滿足(2)式的方式分離配置了受光部DE和受光部DF(圖9)。因此，光檢測(cè)器29的受光區(qū)域RE在產(chǎn)生了物鏡18的透鏡移位等的情況下，雖然能夠被照射雜散光圖案WE，但是能夠避免被照射雜散光圖案WF(圖14)。另外，受光區(qū)域RF也同樣地能夠避免雜散光圖案WE的照射。此時(shí)，光檢測(cè)器29即使雜散光被照射到受光區(qū)域RE上并且受光信號(hào)SE包含了雜散光分量，也不會(huì)受到雜散光圖案WF的影響，而能夠通過(guò)雜散光受光區(qū)域REm和雜散光受光區(qū)域REN2檢測(cè)出與該雜散光分量相應(yīng)的光量。與此同樣地，光檢測(cè)器29即使雜散光被照射到受光區(qū)域RF上并且受光信號(hào)SF包含了雜散光分量，也不會(huì)受到雜散光圖案WE的影響，而能夠通過(guò)雜散光受光區(qū)域RFm和雜散光受光區(qū)域RFN2檢測(cè)出與該雜散光分量相應(yīng)的光量。因此，在光盤(pán)裝置10中，通過(guò)進(jìn)行(5)式的計(jì)算，能夠從由受光區(qū)域RE和RF生成的受光信號(hào)SE、SF中可靠地抵消雜散光分量。另外，在光檢測(cè)器29中，在受光部DE中以從縱向夾住受光區(qū)域RE的方式設(shè)置了雜散光受光區(qū)域REm和REN2。因此，光檢測(cè)器29即使是在反射光束LRO不垂直入射的情況或該光檢測(cè)器29和全息元件27等的安裝位置或角度等存在偏差的情況下，也能夠生成與被照射到受光區(qū)域RE的雜散光圖案WE的光量相應(yīng)的受光信號(hào)SEN。對(duì)于雜散光受光區(qū)域RFNl和RFN2也能夠同樣地生成受光信號(hào)SFN。另外，如與圖3對(duì)應(yīng)的圖16所示，在將受光區(qū)域RE和RF相鄰配置了的情況下，其他層衍射雜散光圖案WME和WMF重疊，并且光斑TE或TF重疊，由此恐怕會(huì)形成復(fù)雜的干涉條紋。特別在該情況下，由于光盤(pán)100的表面晃動(dòng)或透鏡移位等原因，有可能會(huì)導(dǎo)致該干涉條紋的狀態(tài)變化，使尋軌誤差信號(hào)的品質(zhì)大幅度下降。并且，難以從該尋軌誤差信號(hào)排除該干涉條紋的影響。另外，在該構(gòu)成中，如果在0次光的光軸相對(duì)于光檢測(cè)器不垂直入射的情況或者全息元件和光檢測(cè)器的安裝位置或角度等存在誤差的情況等下產(chǎn)生了透鏡移位，則其他層衍射雜散光圖案WME和WMF也有可能被不均衡地照射。此時(shí)，尋軌誤差信號(hào)產(chǎn)生了偏移，恐怕會(huì)降低尋軌控制的精度。關(guān)于這一點(diǎn)，在光檢測(cè)器29中，通過(guò)將受光區(qū)域RE和受光區(qū)域RF相互隔開(kāi)配置，能夠使由于其他層衍射雜散光束LM所引起的其他層衍射雜散光圖案WME和WMF不重疊而相互分離(圖13)。因此，在光檢測(cè)器29中，能夠排除受光區(qū)域RE和RF中的干涉條紋的形成，能夠根據(jù)該干涉條紋的變化等大幅度降低受光信號(hào)SE和SF所包含的干擾分量。這樣，光盤(pán)裝置10基于由將受光區(qū)域RE和RF分離配置了的光檢測(cè)器29所生成的受光信號(hào)S按照(5)式進(jìn)行計(jì)算處理，能夠計(jì)算出基本上排除了雜散光的影響的高精度的尋軌誤差信號(hào)STE2。并且，光學(xué)拾取器17通過(guò)設(shè)計(jì)聚光透鏡26和全息元件27而聚光成使得被照射到光檢測(cè)器29的受光部DE、DF、DG、DH的反射光束LRlE等成為比較小的射束點(diǎn)(beamspot)。因此，光學(xué)拾取器17能夠?qū)⒐鈾z測(cè)器29的各受光區(qū)域的面積抑制得很小，并且也能夠?qū)⒃诋a(chǎn)生了物鏡18的透鏡移位時(shí)的各射束點(diǎn)的移動(dòng)量抑制得很小。此時(shí)，光學(xué)拾取器17對(duì)雜散光圖案W也能夠盡量小地進(jìn)行聚光，因此能夠盡量縮小該雜散光圖案W的照射范圍。并且，光學(xué)拾取器17在其組裝工序等中利用受光部DA和DJ的檢測(cè)結(jié)果能夠調(diào)整全息元件27和光檢測(cè)器29等的安裝位置和安裝角度等。由此，在光盤(pán)裝置10中，當(dāng)反射光束LR等發(fā)生了各種擾動(dòng)時(shí)，能夠防止各反射光束LRlELRlJ分別超出受光區(qū)域RERG以及RJARJD的情況。隨之，光盤(pán)裝置10能夠預(yù)先防止發(fā)生尋軌誤差信號(hào)STE2等各種信號(hào)包含偏移分量或者信號(hào)電平降低等問(wèn)題。根據(jù)以上的構(gòu)成，光盤(pán)裝置10的光學(xué)拾取器17通過(guò)全息元件27使反射光束LR衍射。全息元件27使包含有推拉分量和透鏡移位分量的反射光束LRlE和LRlF向縱向的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)分離行進(jìn)，使包含有透鏡移位分量的反射光束LRlG和LRlH分別向橫向行進(jìn)。光檢測(cè)器29通過(guò)在橫向上以d2的距離隔開(kāi)配置的受光區(qū)域RE和RF、受光區(qū)域RG和RH、以及分別與該受光區(qū)域RE、RF、RG、RH相鄰配置的雜散光受光區(qū)域來(lái)生成受光信號(hào)S。光盤(pán)裝置10通過(guò)利用受光信號(hào)S按照(5)式計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE2能夠排除雜散光圖案W和透鏡移位的影響，能夠進(jìn)行高精度的尋軌控制。<2.第2實(shí)施方式>[2-1.光盤(pán)裝置和光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu)]第2實(shí)施方式的光盤(pán)裝置50與第1實(shí)施方式的光盤(pán)裝置10(圖4)相比，不同點(diǎn)在于設(shè)置信號(hào)處理部53來(lái)代替信號(hào)處理部13，其他的結(jié)構(gòu)相同。信號(hào)處理部53與第一實(shí)施方式的信號(hào)處理部13相比，不同點(diǎn)在于設(shè)置尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路53T來(lái)代替尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路13T，其他的結(jié)構(gòu)相同。[2-2.雜散光的照射和尋軌誤差信號(hào)的生成]在第2實(shí)施方式中，光盤(pán)100(圖5)中的記錄層Y之間的層間隔極小。這里，假設(shè)以下情況光盤(pán)100中的記錄層YO被選定為對(duì)象記錄層YT，并且光束Ll的焦點(diǎn)Fl對(duì)焦到該記錄層YO(圖5的(A))。在該情況下，靠近該記錄層YO的記錄層Yl上形成的層間雜散光束LNl在光檢測(cè)器29上形成與圖12對(duì)應(yīng)的圖17所示的雜散光圖案群W1。在圖17中，雜散光圖案群Wl的雜散光圖案WE、WF分別與受光部DE和受光部DF重疊。此時(shí)，受光信號(hào)SE和SF中分別包含有雜散光圖案WE和WF的分量，由雜散光受光區(qū)域REm和REN2以及RFNl和RFN2所生成的受光信號(hào)SEN和SFN中分別包含有雜散光圖案WE禾ΠWF的分量。此時(shí)，信號(hào)處理部53如果根據(jù)(5)式計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE2，則能夠與第1實(shí)施方式同樣地排除雜散光圖案WE和WF的影響。接下來(lái)，假設(shè)以下情況產(chǎn)生物鏡18的透鏡移位，并且如圖14所示反射光束LRO對(duì)全息元件27的照射位置在橫向上移動(dòng)了的情況。此時(shí)，在光檢測(cè)器29中，如與圖17對(duì)應(yīng)的圖18所示，雜散光圖案TO向外周方向被縮短，并且雜散光圖案WE向內(nèi)周方向被延長(zhǎng)。這里，將光盤(pán)100中的對(duì)象記錄層YT和發(fā)生了層間雜散光束LN的記錄層Y之間的層間隔設(shè)為雜散光層間隔dn(圖5)。另外，將(5)式中的(SF-SE)項(xiàng)(以下，將其稱(chēng)作第1項(xiàng))所包含的雜散光分量稱(chēng)作推拉雜散光分量SNpp。在光學(xué)拾取器57中，當(dāng)產(chǎn)生了透鏡移位時(shí)的推拉雜散光分量SNpp對(duì)雜散光層間隔dn的關(guān)系如圖19的(A)中的特性曲線Ql。根據(jù)該特性曲線Q1，當(dāng)雜散光層間隔dn比較大時(shí)(dn>dn2)，推拉雜散光分量SNpp的值成為“0”。這相當(dāng)于在第1實(shí)施方式中如上述的圖10、圖12、以及圖13那樣雜散光圖案W完全不與受光區(qū)域RE和RF的中的任一個(gè)重疊的狀態(tài)。另外，根據(jù)特性曲線Q1，隨著雜散光層間隔dn變小、即當(dāng)dnl<dn<dn2時(shí)，推拉雜散光分量SNpp的值逐漸增加。這里，(5)式中的(SFN-SEN)項(xiàng)(以下，將其稱(chēng)作第2項(xiàng))與雜散光層間隔dn之間的關(guān)系如圖19的(A)的特性曲線Q2那樣。這相當(dāng)于如圖15所示的那樣由于透鏡移位而雜散光圖案WE和WF與受光區(qū)域RE和RF重疊的狀態(tài)。根據(jù)該特性曲線Q2，當(dāng)雜散光層間隔dn處于(dnl<dn<dn2)的范圍時(shí)，特性曲線Ql和Q2大致成比例關(guān)系。這意味著，如(5)式所示的那樣通過(guò)從第1項(xiàng)減去在第2項(xiàng)上乘以系數(shù)Kpp而得的值，能夠抵消該第1項(xiàng)所包含的推拉雜散光分量SNpp。并且，根據(jù)特性曲線Q1，隨著雜散光層間隔dn變得更小、即當(dāng)dn<dnl時(shí)，推拉雜散光分量SNpp的值急劇增加。然而，在特性曲線Q2中，(SFN-SEN)值只是稍稍增加，而不成為比例關(guān)系。這意味著，當(dāng)dn<dnl時(shí)，無(wú)法通過(guò)(5)式抵消推拉雜散光分量SNpp。這里，如果著眼于光檢測(cè)器29的雜散光受光區(qū)域RGN1、RGN2、RHNl、以及RHN2，貝Ij在圖17和18中成為分別與雜散光圖案WG1、WG2、WH1、WH2重疊的狀態(tài)。并且，當(dāng)比較圖17和18時(shí)，在產(chǎn)生了透鏡移位的圖18的狀態(tài)下，雜散光圖案WGl和WG2分別向外周方向縮短，并且雜散光圖案WH1、WH2分別向內(nèi)周方向延長(zhǎng)。因此，當(dāng)比較圖17和18時(shí)，受光信號(hào)SGN的值減少，而受光信號(hào)SHN的值增加。上述的由透鏡移位引起的雜散光圖案W的形狀的變化是由于如圖14所示反射光束LR對(duì)全息元件27的照射位置被移動(dòng)?？紤]到這些，可以推導(dǎo)出伴隨著透鏡移位的受光區(qū)域RF中的雜散光分量的增加量、與雜散光受光區(qū)域RHNl和RHN2中的雜散光受光量的增加量、即受光信號(hào)SHN的增加量之間具有某種相關(guān)關(guān)系。與此同樣地，可以推導(dǎo)出伴隨著透鏡移位的受光區(qū)域RE中的雜散光分量的減少量、與雜散光受光區(qū)域RGNl和RGN2中的受光量的減少量、即受光信號(hào)SGN的減少量之間具有某種相關(guān)關(guān)系。實(shí)際上，如果與(SFN-SEN)的情況同樣地表示(SHN-SGN)的值和雜散光層間隔dn之間的關(guān)系，則成為圖19的特性曲線Q3。該特性曲線Q3在雜散光層間隔dn比較大時(shí)、即dn>dnl時(shí)，大致成為值“0”。這表示如圖10、圖11以及圖12那樣在雜散光層間隔dn比較大的情況下雜散光圖案WG1、WG2、WHl以及WH2不與雜散光受光區(qū)域RGN1、RGN2、RHNl以及RHN2中的任一個(gè)重疊。另一方面，該特性曲線Q3在雜散光層間隔dn比較小時(shí)、即當(dāng)dn(dnl時(shí)，隨著該雜散光層間隔dn變小，(SHN-SGN)的值急劇增加，并且與特性曲線Ql大致成比例關(guān)系。因此，信號(hào)處理部53的尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路53T按照下式(7)以代替上述的(5)式，來(lái)計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE3。[數(shù)學(xué)式7]STE3={(SF-SE)-KppX(SFN-SEN)-KlsX(SHN-SGN)}-KtX(SH-SG)......(7)這里，系數(shù)Kls也與系數(shù)Kpp的情況同樣地被設(shè)定為以下值在與該系數(shù)Kls和Kpp相匹配地設(shè)定了最合適的系數(shù)Kt的情況下，當(dāng)光盤(pán)100中的各記錄層Y的反射率變化了時(shí)，該系數(shù)Kt的變動(dòng)幅度變得最小。這里，將通過(guò)(7)式中的(SFN-SEN)項(xiàng)和(SHN-SGN)項(xiàng)抵消后的推拉雜散光分量SNpp的值和雜散光層間隔dn之間的關(guān)系在與圖19的(A)對(duì)應(yīng)的圖19的(B)中表示成特性曲線Q4。圖19的(B)中也示出了比較用的特性曲線Q1。在圖19的⑶中，特性曲線Q4與雜散光層間隔dn的值無(wú)關(guān)地在幾乎所有范圍內(nèi)光量的值大致為“0”。由此可知，在(7)式中，通過(guò)(SFN-SEN)項(xiàng)和(SHN-SGN)項(xiàng)，能夠有效地抵消(SF-SE)項(xiàng)所包含的推拉雜散光分量SNpp。如上所述，信號(hào)處理部53也利用雜散光受光區(qū)域RGNl、RGN2、RHNl、以及RHN2中的受光結(jié)果按照(7)式進(jìn)行計(jì)算。由此，信號(hào)處理部13在雜散光層間隔dn極小并且產(chǎn)生了透鏡移位的情況下能夠生成良好地抵消了推拉雜散光分量SNpp的高品質(zhì)的尋軌誤差信號(hào)STE3。[2-3.動(dòng)作和效果]在以上的構(gòu)成中，第2實(shí)施方式的光盤(pán)裝置50的光學(xué)拾取器57與第1實(shí)施方式同樣地通過(guò)全息元件27分割并分離反射光束LR。光檢測(cè)器29通過(guò)受光區(qū)域RA、RB、RC、RD分別生成受光信號(hào)SA、SB、SC、SD,并且通過(guò)受光區(qū)域RE、RF、RG、RH分別生成受光信號(hào)SE、SF、SG、SH。另外，光檢測(cè)器29通過(guò)各雜散光受光區(qū)域分別接收雜散光并生成受光信號(hào)。信號(hào)處理部53通過(guò)尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路53T按照(7)式計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE3，將其提供給尋軌控制部12AT，由此進(jìn)行尋軌控制。此時(shí)，信號(hào)處理部53也利用雜散光受光區(qū)域RGNl、RGN2、RHNl、以及RHN2中的受光結(jié)果。特別是，雜散光受光區(qū)域RGNl、RGN2、RHN1、以及RHN2的形狀以及配置被設(shè)定成當(dāng)雜散光層間隔dn小時(shí)(dn<dnl時(shí))特性曲線Q3(圖19的(A))和特性曲線Ql大致成比例。結(jié)果，在光盤(pán)裝置50中，特別是，即使在雜散光層間隔dn小并且產(chǎn)生了透鏡移位的情況下，也能夠基于推拉雜散光分量SNpp幾乎全都被抵消了的高品質(zhì)的尋軌誤差信號(hào)STE3，進(jìn)行高精度的尋軌控制。另外，在光檢測(cè)器29中，在受光部DG中以從縱向夾住受光區(qū)域RG的方式設(shè)置了兩個(gè)雜散光受光區(qū)域RGNl和RGN2。因此，在光檢測(cè)器29中，即使在反射光束LRO不垂直入射的情況或該光檢測(cè)器29和全息元件27等的安裝位置或角度等存在偏移的情況下，也能夠生成與被照射到受光區(qū)域RG的雜散光圖案WG的光量相應(yīng)的受光信號(hào)SGN。對(duì)于雜散光受光區(qū)域RHNl和RHN2也能夠同樣地生成受光信號(hào)SHN0另外，與(5)式相比(7)式成為了追加在(SHN-SGN)乘上預(yù)定的系數(shù)Kls并減去該相乘值的項(xiàng)的形式。因此，在信號(hào)處理部53的尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路53T中，僅增加了減法運(yùn)算和乘法運(yùn)算這樣的極其簡(jiǎn)單的計(jì)算處理，而不需要對(duì)于第1實(shí)施方式中的信號(hào)處理部13的構(gòu)成進(jìn)行處理能力的增強(qiáng)等。另外，光盤(pán)裝置50在其他方面起到與第1實(shí)施方式同樣的作用效果。根據(jù)以上的構(gòu)成，光盤(pán)裝置50的光學(xué)拾取器57通過(guò)全息元件27使反射光束LR衍射，并且分割并分離成多個(gè)。光檢測(cè)器29通過(guò)受光區(qū)域RE、RF、RG、RH分別生成受光信號(hào)SE、SF、SG、SH。另外，光檢測(cè)器29通過(guò)雜散光受光區(qū)域REm、REN2、RFNURFN2、RGNURGN2、RHN1以及RHN2生成受光信號(hào)SEN、SFN、SGN以及SHN。信號(hào)處理部53根據(jù)(7)式能夠生成利用受光信號(hào)SEN、SFN以及受光信號(hào)SGN、SHN來(lái)抵消了受光信號(hào)SE、SF所包含的推拉雜散光分量SNpp的尋軌誤差信號(hào)STE3。結(jié)果，在光盤(pán)裝置50中，即使在雜散光層間隔dn小的情況下，也能夠基于推拉雜散光分量SNpp幾乎全都被抵消了的高品質(zhì)的尋軌誤差信號(hào)STE3，進(jìn)行高精度的尋軌控制。<3.第3實(shí)施方式>[3-1.光盤(pán)裝置以及光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu)]第3實(shí)施方式的光盤(pán)裝置70與第1實(shí)施方式的光盤(pán)10(圖4)相比不同點(diǎn)在于，設(shè)置信號(hào)處理部73和光學(xué)拾取器77來(lái)代替信號(hào)處理部13和光學(xué)拾取器17，其他的結(jié)構(gòu)相同。信號(hào)處理部73與第一實(shí)施方式的信號(hào)處理部13相比，不同點(diǎn)在于設(shè)置再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算電路73R來(lái)代替再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算電路13R，其他的結(jié)構(gòu)相同(詳細(xì)情況后述)。光學(xué)拾取器77與第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取器17(圖6)相比，不同點(diǎn)在于設(shè)置全息元件87和光檢測(cè)器89來(lái)代替全息元件27和光檢測(cè)器29，其他的結(jié)構(gòu)相同。光學(xué)拾取器77的全息元件87(圖7)與第1實(shí)施方式的全息元件27相比通過(guò)同樣的分割圖案被分割為區(qū)域87E、87F、87G1、87G2、87H1、87H2、以及87J。在區(qū)域87G1、87G2、87H1、87H2分別形成與區(qū)域27G1、27G2、27H1、27H2同樣的衍射光柵，并分別使反射光束LR的一部分衍射。另一方面，區(qū)域87E和87F上所形成的衍射光柵的性質(zhì)與區(qū)域27E和27F上所形成的不同，即成為所謂的炫耀全息圖(blazehologram)。因此，區(qū)域87E和87F分別通過(guò)將反射光束LR的幾乎全部作為1次光來(lái)衍射來(lái)使其成為反射光束LRlE以及LR1F。S卩，全息元件87只在除了區(qū)域87E和87F以外的部分生成由0次光構(gòu)成的反射光束LRO。順便說(shuō)一下，區(qū)域87E和87F被設(shè)計(jì)為與區(qū)域27E和27F相比1次光的衍射角度較小。另外，區(qū)域87J與區(qū)域27J同樣地使反射光束LRO的一部分衍射，但是具有無(wú)法完全抵消由柱面透鏡28賦予的像散的程度的像差。這里，如果示意性地示出反射光束LR被全息元件87分割而被照射到光檢測(cè)器89的情況，則成為與圖8對(duì)應(yīng)的圖20那樣。如與圖9對(duì)應(yīng)的圖21那樣，光檢測(cè)器89與光檢測(cè)器29相比，光檢測(cè)部DE和DF在縱向上與光檢測(cè)部DA相鄰配置的方面不同，但是其他的結(jié)構(gòu)相同。即，檢測(cè)部DE和DF的間隔d2被設(shè)計(jì)成滿足(2)式。在圖21中，由0次光構(gòu)成的反射光束LRO照射到受光部DA而形成的光斑TA成為了與全息元件87中的區(qū)域87E和87F相當(dāng)?shù)牟糠帧⒓磁c推拉區(qū)域相當(dāng)?shù)牟糠智啡钡男螤?。另外，反射光束LRlJ被照射到受光部DJ而形成的光斑TJ與第1實(shí)施方式(圖9)相比成為稍微放大的狀態(tài)。受光區(qū)域RA、RB、RC、RD分別生成與各自的光強(qiáng)度相應(yīng)的受光信號(hào)SA、SB、SC、SD。另外，受光區(qū)域RE、RF、RG、RH、RJA、RJB、RJC、以及RJD分別生成與各自的光強(qiáng)度相應(yīng)的受光信號(hào)SE、SF、SG、SH、SJA、SJB、SJC、以及SJD。并且，各雜散光受光區(qū)域生成與各自的光強(qiáng)度相應(yīng)的受光信號(hào)。如上所述，在第3實(shí)施方式的光盤(pán)裝置70中，由0次光構(gòu)成的反射光束LRO中，推拉區(qū)域欠缺，并且受光部DJ上所形成的光斑TJ變得比較大。[3-2.雜散光的照射和受光部的配置]在將光盤(pán)100中最里側(cè)的記錄層YO作為了對(duì)象記錄層YT的情況下(圖5的(A))，層間雜散光束LN3的雜散光圖案群W3被形成為與圖10對(duì)應(yīng)的圖22所示的那樣。在光檢測(cè)器89中，與第1實(shí)施方式中的光檢測(cè)器29相同，被設(shè)計(jì)成光檢測(cè)部DE和DF的間隔d2滿足⑵式。因此，受光區(qū)域RE和RF在未發(fā)生物鏡18的透鏡移位的情況下不會(huì)與雜散光圖案WE和WF中的任一個(gè)重疊。另外，受光區(qū)域RE和RF在未發(fā)生物鏡18的透鏡移位的情況下也不會(huì)與雜散光圖案WG1、WG2、WH1、以及WH2中的任一個(gè)重疊。并且，光檢測(cè)部DG和DH與光檢測(cè)器29的情況同樣地在未發(fā)生物鏡18的透鏡移位的情況下也不會(huì)與雜散光圖案WA、TO、WF、WG1、WG2、WH1、以及WH2中的任一個(gè)重疊。另一方面，在光檢測(cè)器89中，如上述的那樣，由于光檢測(cè)部DE和DF在縱向上與光檢測(cè)部DA相鄰配置，因此雜散光圖案WA與受光區(qū)域RE和RF重疊。[3-3.對(duì)焦控制和尋軌控制]在第3實(shí)施方式中，如上述的那樣，在由0次光構(gòu)成的反射光束LRO中與推拉區(qū)域相當(dāng)?shù)牟糠智啡薄?duì)焦誤差信號(hào)計(jì)算電路13F與第1實(shí)施方式同樣地按照(3)式計(jì)算出對(duì)焦誤差信號(hào)SFE，并將其提供給伺服控制部12A的對(duì)焦控制部12AF。這里，由于在反射光束LRO中與推拉區(qū)域相當(dāng)?shù)牟糠智啡保虼藱z測(cè)信號(hào)SA、SB、SC、SD幾乎不包含有推拉分量。因此，對(duì)焦誤差信號(hào)SFE也幾乎不包含推拉分量。另外，尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路13T與第1實(shí)施方式同樣地按照(5)式計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE2，并將其提供給伺服控制部12A的尋軌控制部12AT。這里，受光信號(hào)SE和SF中都不包含由雜散光圖案WA所引起的分量。然而，雜散光圖案WA(圖22)在橫向上成為了以假想的直線Vl為對(duì)稱(chēng)軸的大致對(duì)稱(chēng)的形狀。另外，受光部DE和DF以該假想的直線Vl為對(duì)稱(chēng)軸大致對(duì)稱(chēng)地被配置。因此，受光信號(hào)SE和SF中所包含的由于雜散光圖案WA引起的分量成為相互大致相同的程度。另外，在(5)式中，進(jìn)行受光信號(hào)SE和SF的減法運(yùn)算。因此，在按照(5)式計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE的情況下，受光信號(hào)SE和SF所包含的由于雜散光圖案WA引起的分量被相互抵消，對(duì)該尋軌誤差信號(hào)STE幾乎沒(méi)有影響。另外，在再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算電路73R中，代替(6)式按照下式(8)計(jì)算出再現(xiàn)RF信號(hào)SRF。[數(shù)學(xué)式8]SRF2=SA+SB+SC+SD+SE+SF......(8)在該(8)式中，由于由0次光構(gòu)成的反射光束LRO中不包含有推拉分量，因此為了包含該推拉分量，與(6)式相比較，還加上了與該推拉分量相當(dāng)?shù)氖芄庑盘?hào)SE和SF。[3-4.安裝位置的調(diào)整]光學(xué)拾取器77在其組裝工序等中與第1實(shí)施方式同樣地利用受光部DA和DJ中的檢測(cè)結(jié)果，調(diào)整全息元件87和光檢測(cè)器89等的安裝位置和安裝角度等。即光檢測(cè)器89首先被微調(diào)整沿反射光束LRO的光軸的方向上的安裝位置和與該光軸正交的平面上的安裝位置。此時(shí)，光檢測(cè)器89被微調(diào)整為對(duì)焦誤差信號(hào)SFE的值為“0”，受光信號(hào)SA和SB的和以及受光信號(hào)SC和SD的和成為幾乎同等的信號(hào)電平，并且，受光信號(hào)SA與SD的和以及受光信號(hào)SB與SC的和成為幾乎同等。另外，光檢測(cè)器89被調(diào)整以基準(zhǔn)點(diǎn)P2為中心的安裝角度以使得由受光部DJ生成的受光信號(hào)SJA與SJB的和以及受光信號(hào)SJC與SJD的和成為幾乎同等的信號(hào)電平。并且，全息元件87被調(diào)整沿反射光束LRO的光軸的方向上的位置以使得由受光部DJ生成的受光信號(hào)SJA與SJD的和以及受光信號(hào)SJB與SJC的和成為幾乎同等的信號(hào)電平。[3-5.動(dòng)作和效果]在以上的構(gòu)成中，光盤(pán)裝置70的光學(xué)拾取器77與第1實(shí)施方式同樣地將光束Ll照射到光盤(pán)100，并且通過(guò)全息元件87分割并分離被該光盤(pán)100反射而成的反射光束LR。S卩，全息元件87在除區(qū)域87E和87F以外的部分使由0次光構(gòu)成的反射光束LRO大致直進(jìn)，并且通過(guò)區(qū)域87E87J的衍射作用，分離為由1次光構(gòu)成的反射光束LRlELRlJ0此時(shí)，全息元件87使反射光束LRlE和LRlF分別向縱向的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)衍射，并使反射光束LRlG和LRlH分別向橫向衍射，并且使反射光束LRlJ向斜向衍射。與此對(duì)應(yīng)地，光檢測(cè)器89通過(guò)受光區(qū)域RA、RB、RC、RD分別生成受光信號(hào)SA、SB、SC、SD，并且通過(guò)受光區(qū)域RE、RF、RG、RH分別生成受光信號(hào)SE、SF、SG、SH。另外，光檢測(cè)器89通過(guò)各雜散光受光區(qū)域分別接收雜散光并生成受光信號(hào)。信號(hào)處理部73通過(guò)對(duì)焦誤差信號(hào)計(jì)算電路13F按照(3)式計(jì)算出對(duì)焦誤差信號(hào)SFE，并將其提供給對(duì)焦控制部12AF，由此進(jìn)行對(duì)焦控制。另外，信號(hào)處理部73通過(guò)尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路13T按照(5)式計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE2，并將其提供給尋軌控制部12AT，由此進(jìn)行尋軌控制。并且，信號(hào)處理部73通過(guò)再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算電路73R按照(8)式生成再現(xiàn)RF信號(hào)SRF，并基于該再現(xiàn)RF信號(hào)SRF再現(xiàn)被記錄在光盤(pán)100中的信息。這里，在光檢測(cè)器89中，雜散光圖案WA與受光區(qū)域RE和RF重疊。然而，受光信號(hào)SE和SF中的每一個(gè)所包含的由于該雜散光圖案WA引起的分量相互大致相等。因此，信號(hào)處理部73與第1實(shí)施方式同樣地按照(5)式進(jìn)行計(jì)算，由此能夠計(jì)算出雜散光圖案WA的分量被抵消了的尋軌誤差信號(hào)STE2。另外，光檢測(cè)器89設(shè)計(jì)有滿足(2)式的光檢測(cè)部DE和DF的間隔d2。因此，在未發(fā)生物鏡18的透鏡移位的情況下，受光區(qū)域RE和RF不與雜散光圖案WE和WF中的任一個(gè)重疊。另外，在未發(fā)生物鏡18的透鏡移位的情況下，受光區(qū)域RE和RF與第1實(shí)施方式同樣地不與雜散光圖案WG1、WG2、WH1、WH2中的任一個(gè)重疊。并且，在未發(fā)生物鏡18的透鏡移位的情況下，受光區(qū)域RG和RH與第1實(shí)施方式同樣地不與雜散光圖案WA、TO、WF、WG1、WG2、WH1、WH2中的任一個(gè)相接觸。因此，信號(hào)處理部73通過(guò)按照(5)式進(jìn)行計(jì)算，在未發(fā)生透鏡移位的情況下，能夠不受雜散光圖案WE、WF、WG1、WG2、WH1、WH2的影響而計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE2。并且，在由于透鏡移位等而雜散光圖案TO與受光區(qū)域RE重疊的情況下，對(duì)雜散光受光區(qū)域REm和REN2只照射相對(duì)于被照射到受光區(qū)域RE的雜散光圖案WE的光量成固定比率的光量的該雜散光圖案WE(圖14)。對(duì)于雜散光受光區(qū)域RFNl和RFN2也同樣地能夠照射雜散光圖案WF。因此，信號(hào)處理部53通過(guò)按照(5)式進(jìn)行計(jì)算，即使在發(fā)生了物鏡18的透鏡移位的情況下，也能夠計(jì)算出雜散光圖案WE和WF的分量被抵消了的尋軌誤差信號(hào)STE2。另外，由于由0次光構(gòu)成的反射光束LRO中不包含有推拉分量，因此通過(guò)(3)式計(jì)算出的對(duì)焦誤差信號(hào)SFE中也幾乎不包含該推拉分量。這意味著即使在有光檢測(cè)器89的安裝位置誤差或者反射光束LR中的波面像差大的情況下，也能夠防止由于推拉分量的泄漏而導(dǎo)致的對(duì)焦誤差信號(hào)SFE的品質(zhì)惡化。因此，信號(hào)處理部73能夠生成排除了透鏡移位的影響的高品質(zhì)的對(duì)焦誤差信號(hào)SFE。隨之，對(duì)焦控制部12AF能夠進(jìn)行排除了透鏡移位的影響的精度極高的對(duì)焦控制。此時(shí)，在全息元件87的區(qū)域87E和87F中，與第1實(shí)施方式相比，能夠使得反射光束LRlE和LRlF的衍射角度小。由此，能夠使得形成在區(qū)域87E和87F中的衍射光柵的間距大，因此能夠降低其制造難度。另外，在區(qū)域87E和87F使用炫耀全息圖的情況下，通過(guò)擴(kuò)大衍射光柵的間距能夠提高衍射效率，因此能夠提高受光信號(hào)SE和SF中的S/N(Signal/Noise)比。并且，光檢測(cè)器89與光檢測(cè)器29相比，能夠縮短縱向的長(zhǎng)度。因此，光學(xué)拾取器77與光學(xué)拾取器17相比能夠?qū)崿F(xiàn)整體結(jié)構(gòu)的小型化。并且，光學(xué)拾取器77在其組裝工序等中利用受光部DA和DJ中的檢測(cè)結(jié)果來(lái)調(diào)整全息元件87和光檢測(cè)器89等的安裝位置和安裝角度等。特別是，在第3實(shí)施方式中，與第1實(shí)施方式相比，成為了光斑TJ被放大的狀態(tài)(圖22)。在光斑TJ被聚光的情況下，當(dāng)稍微調(diào)整光檢測(cè)器89等的安裝位置或安裝角度時(shí)，成為受光信號(hào)SJASJD的值完全不變或者急劇變化很大這樣的“多峰特性(peakycharacteristics)”，有可能極難進(jìn)行調(diào)整作業(yè)。與此相對(duì)，在如第3實(shí)施方式那樣光斑TJ被放大了的情況下，當(dāng)稍微調(diào)整了光檢測(cè)器89等的安裝位置或安裝角度時(shí)，受光信號(hào)SJASJD的值一點(diǎn)點(diǎn)變大或者變大某一程度。由次，在調(diào)整作業(yè)等中，容易進(jìn)行例如“當(dāng)向哪邊移動(dòng)時(shí)能靠近最優(yōu)的安裝位置”這樣的判斷。其結(jié)果是，在光學(xué)拾取器77的組裝工序中，能夠簡(jiǎn)化調(diào)整作業(yè)，能夠縮短所需要的時(shí)間。另外，光盤(pán)裝置70在其他的方面發(fā)揮與第1實(shí)施方式同樣的作用和效果。根據(jù)以上的構(gòu)成，光盤(pán)裝置70的光學(xué)拾取器77通過(guò)全息元件87使反射光束LR衍射。全息元件87使不包含有推拉分量的反射光束LRO直進(jìn)，并使反射光束LRlE和LRlF向縱向的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)分離并行進(jìn)，并使反射光束LRlG和LRlH分別向橫向行進(jìn)。光檢測(cè)器29通過(guò)在橫向上以d2的距離隔開(kāi)配置的受光區(qū)域RE和RF、受光區(qū)域RG和RH、以及分別與該受光區(qū)域RE、RF、RG、RH相鄰配置的雜散光受光區(qū)域來(lái)生成受光信號(hào)S。光盤(pán)裝置70利用受光信號(hào)S按照(5)式計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE2，由此能夠排除雜散光圖案W和透鏡移位的影響，能夠進(jìn)行高精度的尋軌控制。<4.其它的實(shí)施方式〉在上述的第1實(shí)施方式中，對(duì)將檢測(cè)部DE和DF配置在以假想的直線Vl為對(duì)稱(chēng)中心線大致對(duì)稱(chēng)的位置上的情況進(jìn)行了說(shuō)明。本發(fā)明并不限于此，也可以是從該對(duì)稱(chēng)的位置偏離的任意的位置。在該情況下，只要使得全息元件27的區(qū)域27E和27F中的衍射方向不同并使得檢測(cè)部DE和DF的間隔d2滿足⑵式即可。由此，只要檢測(cè)部DE不與雜散光圖案WF以及其他層衍射雜散光圖案WMF重疊并且檢測(cè)部DF不與雜散光圖案TO以及其他層衍射雜散光圖案WME重疊即可。對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也相同。另外，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了將檢測(cè)部DG和DH沿著假想的直線V2且配置在基準(zhǔn)點(diǎn)P2(圖10)的外周側(cè)的情況。本發(fā)明不限于此，可以將檢測(cè)部DG和DH配置在從假想的直線V2離開(kāi)的位置上，也可以將檢測(cè)部DG和DH這兩個(gè)或其中任一個(gè)配置在基準(zhǔn)點(diǎn)P2的內(nèi)周側(cè)。對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也相同。并且，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了在受光部DG和DH中分別設(shè)置了雜散光受光區(qū)域DGN1、DGN2、DHN1、DHN2的情況。本發(fā)明不限于此，例如在利用根據(jù)(5)式算出的尋軌誤差信號(hào)STE2來(lái)進(jìn)行尋軌控制的情況下、即在不使用受光信號(hào)SGN和SHN的情況下，也可以省略雜散光受光區(qū)域DGN1、DGN2、DHN1、DHN2。對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也相同。并且，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了在光檢測(cè)器29的受光部DE中與受光區(qū)域RE相鄰地形成雜散光受光區(qū)域REm和REN2的情況。本發(fā)明不限于此，可以只設(shè)置雜散光受光區(qū)域REm或REN2中的任一個(gè)，也可以從受光區(qū)域RE隔開(kāi)距離設(shè)置。并且，關(guān)于形狀，也可以是除了長(zhǎng)方形之外的形狀。只要通過(guò)雜散光受光區(qū)域REm等能夠檢測(cè)出與受光區(qū)域RE重疊的雜散光圖案WE的光量具有相關(guān)關(guān)系的光量既可。在該情況下，優(yōu)選的是根據(jù)雜散光圖案WE中的受光部DE側(cè)的邊被形成為大致在縱向上的直線形狀，使在橫向上的雜散光受光區(qū)域REm等的大小以及位置等與受光區(qū)域RE相匹配。對(duì)雜散光受光區(qū)域RFNl和RFN2也相同，對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也相同。并且，在上述的第2實(shí)施方式中，說(shuō)明了在光檢測(cè)器29的受光部DG中與受光區(qū)域RG相鄰地形成雜散光受光區(qū)域RGNl和RGN2的情況。本發(fā)明不限于此，可以只設(shè)置雜散光受光區(qū)域RGm或RGN2中的任一個(gè)，也可以從受光區(qū)域RG隔開(kāi)距離設(shè)置。并且，關(guān)于形狀，也可以是除了長(zhǎng)方形之外的形狀。只要通過(guò)雜散光受光區(qū)域REm等能夠檢測(cè)出與受光區(qū)域RE重疊的雜散光圖案WE的光量具有相關(guān)關(guān)系的光量、特別是當(dāng)雜散光層間隔dn<dnl時(shí)與特性曲線Ql(圖19的(A))大致成比例關(guān)系的光量既可。并且，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了通過(guò)分別形成在全息元件27的各區(qū)域27E27J的衍射光柵分別衍射反射光束LR中的一部分的情況。本發(fā)明并不限于此，也可以通過(guò)各種光學(xué)元件將反射光束LR針對(duì)每個(gè)區(qū)域分割并且使其中的每一個(gè)通過(guò)衍射等光學(xué)作用向期望的方向行進(jìn)。對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也是相同的。并且，在第3實(shí)施方式中，說(shuō)明了通過(guò)形成在全息元件87的區(qū)域87J的衍射光柵使得具有無(wú)法完全抵消由柱面透鏡28賦予的像散的程度的像差的情況。本發(fā)明不限于此，也可以通過(guò)形成在87J的衍射光柵提供失焦等其他分量的像差，重要的是，形成在光檢測(cè)器89的光斑TJ成為沒(méi)有高度聚光而被擴(kuò)散某種程度的狀態(tài)即可。并且，在上述的第3實(shí)施方式中，通過(guò)形成在全息元件87的區(qū)域87J的衍射光柵使得具有無(wú)法完全抵消由柱面透鏡28賦予的像散的程度的像差的情況。本發(fā)明不限于此，在第1和第2實(shí)施方式中，也可以通過(guò)形成在全息元件27的區(qū)域27J的衍射光柵使得具有無(wú)法完全抵消由柱面透鏡28賦予的像散的程度的像差。并且，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了將受光部DJ根據(jù)與縱向和橫向成約45度角度的分割線進(jìn)行了4分割的情況。本發(fā)明不限于此，可以不分割受光部DJ而作為單一的受光區(qū)域、或者以大于等于2的任意數(shù)來(lái)分割該受光部DJ，也可以沿著任意的方向進(jìn)行分割。在該情況下，只要進(jìn)行與受光部DJ的分割數(shù)或分割模式等相對(duì)應(yīng)的計(jì)算處理并基于該計(jì)算結(jié)果調(diào)整全息元件27或光檢測(cè)器29等的安裝位置或安裝角度等即可。重要的是，只要能夠生成與光學(xué)拾取器17中的全息元件27或光檢測(cè)器29等的安裝位置或安裝角度等對(duì)應(yīng)地變化的受光信號(hào)S即可。對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也是相同的。并且，在上述的第1和第2實(shí)施方式中，說(shuō)明了在光盤(pán)100設(shè)置4層記錄層Y的情況。本發(fā)明不限于此，也可以在光盤(pán)100上設(shè)置大于等于2層的任意層數(shù)的記錄層Y。在該情況下，無(wú)論是雜散光層間隔dn最寬的情況和最窄的情況，優(yōu)選的是在未發(fā)生透鏡移位的情況下受光區(qū)域RE和RF不與雜散光圖案WE和WF中的任一個(gè)重疊。另外，即使是在由于透鏡移位受光區(qū)域RE或RF與雜散光圖案TO或者WF重疊的情況下也能夠通過(guò)(5)式或(6)式抵消該雜散光分量即可。對(duì)于第3實(shí)施方式也是相同的。并且，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了在通過(guò)前置放大器32內(nèi)的多個(gè)放大器電路分別放大受光信號(hào)SASD之后再按照(5)式進(jìn)行加法運(yùn)算以此計(jì)算出再現(xiàn)RF信號(hào)SRF的情況。然而，本發(fā)明不限于此，也可以例如將受光信號(hào)SASD按照(5)式進(jìn)行加法運(yùn)算之后通過(guò)前置放大器32內(nèi)的單一的放大電路進(jìn)行放大來(lái)生成再現(xiàn)RF信號(hào)SRF。在該情況下，由于能夠減少所利用的放大電路的個(gè)數(shù)，能夠降低由于放大電路可能會(huì)被重疊的放大器噪聲。對(duì)于尋軌誤差信號(hào)STE2中的加法運(yùn)算部分也是同樣的，并且對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也是同樣的。并且，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了光盤(pán)裝置10通過(guò)單束推拉法生成尋軌誤差信號(hào)的情況。本發(fā)明不限于此，根據(jù)光盤(pán)100的種類(lèi)，也可以在例如BD-ROM的情況下使用DPD(DifferentialPhaseDetection，差分相位檢測(cè))法等的相位差法，在BD-R或BD-RE等情況下使用單束推拉法。在該情況下，也可以對(duì)信號(hào)處理部13追加與DPD法對(duì)應(yīng)的尋軌誤差信號(hào)計(jì)算電路。并且，在第1實(shí)施方式的情況下，光盤(pán)裝置10不僅對(duì)應(yīng)例如BD方式等單一的方式，也可以對(duì)應(yīng)增加了DVD方式或CD方式等的2個(gè)以上的方式。在該情況下，只要與分光器等一起設(shè)置能夠射出與各方式對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)的光束的激光二極管并且在光檢測(cè)器29設(shè)置與各方式對(duì)應(yīng)的受光區(qū)域即可。對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也是同樣的。并且，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了從激光二極管21射出的光束Ll的波長(zhǎng)為405[nm]的情況。本發(fā)明不限于此，可以射出與光盤(pán)100對(duì)應(yīng)的任意的波長(zhǎng)的光束。對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也是同樣的。并且，在上述的第1實(shí)施方式中，說(shuō)明了光盤(pán)裝置10可以對(duì)光盤(pán)100進(jìn)行信息的記錄處理以及再現(xiàn)處理兩者的情況。然而，本發(fā)明不限于此，也可以將本發(fā)明應(yīng)用于例如只進(jìn)行光盤(pán)100的再現(xiàn)處理的光盤(pán)裝置中。對(duì)于第2和第3實(shí)施方式也是同樣的。并且，在上述的實(shí)施方式中，說(shuō)明了通過(guò)作為光源的激光二極管21、做為物鏡的物鏡18、做為透鏡移動(dòng)部的二軸執(zhí)行器19、作為聚光透鏡的聚光透鏡26、作為衍射光學(xué)元件的全息元件27、作為光檢測(cè)器的光檢測(cè)器29來(lái)構(gòu)成作為光學(xué)拾取器的光學(xué)拾取器17的情況。然而，本發(fā)明不限于此，也可以通過(guò)由其他各種結(jié)構(gòu)形成的光源、物鏡、透鏡移動(dòng)部、聚光透鏡、衍射光學(xué)元件、光檢測(cè)器來(lái)構(gòu)成光學(xué)拾取器。并且，在上述的實(shí)施方式中，說(shuō)明了通過(guò)作為光源的激光二極管21、做為物鏡的物鏡18、做為透鏡移動(dòng)部的二軸執(zhí)行器19、作為聚光透鏡的聚光透鏡26、作為衍射光學(xué)元件的全息元件27、作為光檢測(cè)器的光檢測(cè)器29、作為信號(hào)處理部的信號(hào)處理部13、作為伺服控制部的伺服控制部12A來(lái)構(gòu)成作為光盤(pán)裝置的光盤(pán)裝置10的情況。然而，本發(fā)明不限于此，也可以通過(guò)由其他各種結(jié)構(gòu)形成的光源、物鏡、透鏡移動(dòng)部、聚光透鏡、衍射光學(xué)元件、光檢測(cè)器、信號(hào)處理部、伺服控制部來(lái)構(gòu)成光盤(pán)裝置。產(chǎn)業(yè)上的可利用性本發(fā)明能夠利用于將視頻、語(yǔ)音或各種數(shù)據(jù)等信息記錄在光盤(pán)上、并且從該光盤(pán)再現(xiàn)該信息的光盤(pán)裝置中。權(quán)利要求一種光學(xué)拾取器，包括光源，所述光源射出光束；物鏡，所述物鏡將所述光束聚光到在光盤(pán)上所設(shè)置的多個(gè)記錄層中作為對(duì)象的對(duì)象記錄層；透鏡移動(dòng)部，所述透鏡移動(dòng)部使所述物鏡向與螺旋狀或者同心圓狀地形成在所述對(duì)象記錄層上的軌道槽大致正交的尋軌方向移動(dòng)；聚光透鏡，所述聚光透鏡聚集所述光束被所述光盤(pán)反射而成的反射光束；衍射光學(xué)元件，當(dāng)衍射所述反射光束并分離成反射0次光束和反射1次光束時(shí)，通過(guò)第1區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向預(yù)定的第1方向衍射并作為第1光束，通過(guò)第2區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與所述第1方向不同的第2方向衍射并作為第2光束，通過(guò)第3區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與所述第1方向和所述第2方向中的任一個(gè)都不同的第3方向衍射并作為第3光束，通過(guò)第4區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向所述第3方向衍射并作為第4光束，其中，所述第1區(qū)域是與所述反射1次光束中的包含被所述軌道槽衍射的+1次光的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第2區(qū)域是與所述反射1次光束中的包含被所述軌道槽衍射的-1次光的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第3區(qū)域是與所述反射1次光束中幾乎不包含被所述軌道槽衍射的+1次光和-1次光并相當(dāng)于所述光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第4區(qū)域是與所述反射1次光束中幾乎不包含被所述軌道槽衍射的+1次光和-1次光并相當(dāng)于所述光盤(pán)的外周側(cè)的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域；以及光檢測(cè)器，通過(guò)分別設(shè)置在所述反射0次光束的照射位置中的所述第1方向側(cè)和所述第2方向側(cè)的第1受光區(qū)域和第2受光區(qū)域分別接收所述第1光束和所述第2光束并生成受光信號(hào)，并且通過(guò)分別設(shè)置在所述反射0次光束的照射位置中的所述第3方向側(cè)的第3受光區(qū)域和第4受光區(qū)域分別接收所述第3光束和所述第4光束并生成受光信號(hào)；通過(guò)預(yù)定的信號(hào)處理部基于分別通過(guò)所述第1受光區(qū)域、所述第2受光區(qū)域、所述第3受光區(qū)域、以及所述第4受光區(qū)域生成的受光信號(hào)，生成尋軌誤差信號(hào)，所述尋軌誤差信號(hào)表示在所述尋軌方向上的所述光束的焦點(diǎn)與所述軌道槽的中心線的偏移量，通過(guò)預(yù)定的伺服控制部基于所述尋軌誤差信號(hào)經(jīng)由所述透鏡移動(dòng)部使所述物鏡向所述尋軌方向移動(dòng)。2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，其中，所述衍射光學(xué)元件將相對(duì)于所述軌道槽的像的走行方向成預(yù)定角度的方向作為所述第1方向使所述第1光束沿該第1方向行進(jìn)，將與所述走行方向大致正交的正交方向上大致與所述第1方向?qū)ΨQ(chēng)的方向作為所述第2方向使所述第2光束沿該第2方向行進(jìn)，并且，將所述正交方向作為所述第3方向使所述第3光束和所述第4光束沿該第3方向行進(jìn)。3.如權(quán)利要求2所述的光學(xué)拾取器，其中，所述衍射光學(xué)元件使所述第1光束和所述第2光束的衍射角度彼此大致相等，并分別使所述第1光束和所述第2光束向所述第1方向和所述第2方向行進(jìn)，并且使所述第3光束和所述第4光束的衍射角度彼此不同并分別使所述第3光束和所述第4光束向所述第3方向行進(jìn)，所述光檢測(cè)器，在所述走行方向上彼此大致對(duì)稱(chēng)的位置上分別設(shè)置所述第1受光區(qū)域和所述第2受光區(qū)域，并且在通過(guò)所述反射O次光束的照射位置向所述第3方向延長(zhǎng)的假想直線上分別設(shè)置所述第3受光區(qū)域和所述第4受光區(qū)域。4.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)拾取器，其中，將所述衍射光學(xué)元件中的第5區(qū)域和所述第1區(qū)域或所述第2區(qū)域的邊界線與所述衍射光學(xué)元件中的所述第3區(qū)域和所述第4區(qū)域的邊界線之間的距離設(shè)為dl，其中所述第5區(qū)域由除了所述第1區(qū)域、所述第2區(qū)域、所述第3區(qū)域、以及所述第4區(qū)域之外的中央部分形成，將表示所述光檢測(cè)器上的所述第1受光區(qū)域的大致中心的點(diǎn)與表示所述第2受光區(qū)域的大致中心的點(diǎn)之間的距離設(shè)為D2，將入射到所述衍射光學(xué)元件時(shí)的所述反射光束的半徑設(shè)為rl，將由在所述光束的一部分被所述光盤(pán)中的與所述對(duì)象記錄層不同的其他的記錄層反射而成的層間雜散光中不被所述衍射光學(xué)元件衍射而透射的O次雜散光形成在所述光檢測(cè)器上的O次雜散光光斑最大時(shí)的半徑設(shè)為r2，此時(shí)，滿足下式的關(guān)系。[數(shù)學(xué)式1]<formula>formulaseeoriginaldocumentpage3</formula>5.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)拾取器，其中，所述衍射光學(xué)元件通過(guò)第5區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與所述第1方向、所述第2方向、以及所述第3方向中的任一個(gè)都不相同的第四方向衍射并作為第5光束，其中所述第5區(qū)域由除了所述第1區(qū)域、所述第2區(qū)域、所述第3區(qū)域、以及所述第4區(qū)域之外的中央部分構(gòu)成，所述光檢測(cè)部通過(guò)設(shè)置在所述O次光束的照射位置的所述第4方向側(cè)的第5受光區(qū)域來(lái)接收所述第5光束并生成受光信號(hào)。6.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)拾取器，其中，所述衍射光學(xué)元件通過(guò)對(duì)所述第5光束賦予預(yù)定的像差，放大在所述光檢測(cè)器的受光面中由所述第5光束形成的光斑并使得該光斑比由所述第1光束至所述第4光束分別形成的光斑大。7.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)拾取器，其中，在所述光檢測(cè)器中，所述第5受光區(qū)域至少被分割為2個(gè)以上的部分。8.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，其中，在所述光檢測(cè)器中，接收所述光束的一部分被所述光盤(pán)中的除所述對(duì)象記錄層之外的其他所述記錄層反射而成的層間雜散光的雜散光受光區(qū)域分別設(shè)置在所述第1受光區(qū)域和所述第2受光區(qū)域的附近。9.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，其中，在所述光檢測(cè)器中，接收所述光束的一部分被所述光盤(pán)中的除所述對(duì)象記錄層之外的其他所述記錄層反射而成的層間雜散光的雜散光受光區(qū)域分別設(shè)置在所述第3受光區(qū)域和所述第4受光區(qū)域的附近。10.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，其中，所述光檢測(cè)器的所述第1受光區(qū)域和所述第2受光區(qū)域分別配置成被照射由其他層+1次光束和其他層-1次光束分別形成的其他層+1次光斑和其他層-1次光斑中的至多一個(gè)，其中所述其他層+1次光束和所述其他層-1次光束分別由所述光束的一部分被所述光盤(pán)中的與所述對(duì)象記錄層不同的其他的記錄層所形成的軌道反射并衍射時(shí)的+1次光以及-1次光形成。11.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，其中，所述光檢測(cè)器在層間雜散光束被所述衍射光學(xué)元件衍射而生成的O次光束的照射范圍之外，配置所述第1受光區(qū)域、所述第2受光區(qū)域、所述第3受光區(qū)域、以及所述第4受光區(qū)域，其中所述層間雜散光束是通過(guò)所述光束的一部分被所述光盤(pán)中距所述對(duì)象記錄層最遠(yuǎn)的其他的記錄層反射而成的。12.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取器，其中，所述衍射光學(xué)元件在所述第1區(qū)域和所述第2區(qū)域中將所述反射光束的幾乎全部作為所述第1光束和所述第2光束來(lái)衍射，所述光檢測(cè)器通過(guò)所述O次光受光部接收不包含與所述第1區(qū)域和所述第2區(qū)域相當(dāng)?shù)牟糠值乃龇瓷銸次光束。13.一種光盤(pán)裝置，包括光源，所述光源射出光束；物鏡，所述物鏡將所述光束聚光到在光盤(pán)上所設(shè)置的多個(gè)記錄層中作為對(duì)象的對(duì)象記錄層；透鏡移動(dòng)部，所述透鏡移動(dòng)部使所述物鏡向與螺旋狀或者同心圓狀地形成在所述對(duì)象記錄層上的軌道槽大致正交的尋軌方向移動(dòng)；聚光透鏡，所述聚光透鏡聚集所述光束被所述光盤(pán)反射而成的反射光束；衍射光學(xué)元件，當(dāng)衍射所述反射光束并分離成反射O次光束和反射1次光束時(shí)，通過(guò)第1區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向預(yù)定的第1方向衍射并作為第1光束，通過(guò)第2區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與所述第1方向不同的第2方向衍射并作為第2光束，通過(guò)第3區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向與所述第1方向和所述第2方向中的任一個(gè)都不同的第3方向衍射并作為第3光束，通過(guò)第4區(qū)域?qū)⑺龇瓷?次光束的一部分向所述第3方向衍射并作為第4光束，其中，所述第1區(qū)域是與所述反射1次光束中的包含被所述軌道槽衍射的+1次光的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第2區(qū)域是與所述反射1次光束中的包含被所述軌道槽衍射的-1次光的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第3區(qū)域是與所述反射1次光束中幾乎不包含被所述軌道槽衍射的+1次光和-1次光并相當(dāng)于所述光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，所述第4區(qū)域是與所述反射1次光束中幾乎不包含被所述軌道槽衍射的+1次光和-1次光并相當(dāng)于所述光盤(pán)的外周側(cè)的部分相對(duì)應(yīng)的區(qū)域；以及光檢測(cè)器，通過(guò)分別設(shè)置在所述反射O次光束的照射位置中的所述第1方向側(cè)和所述第2方向側(cè)的第1受光區(qū)域和第2受光區(qū)域分別接收所述第1光束和所述第2光束并生成受光信號(hào)，并且通過(guò)分別設(shè)置在所述反射O次光束的照射位置中的所述第3方向側(cè)的第3受光區(qū)域和第4受光區(qū)域分別接收所述第3光束和所述第4光束并生成受光信號(hào)；信號(hào)處理部，所述信號(hào)處理部基于分別通過(guò)所述第1受光區(qū)域、所述第2受光區(qū)域、所述第3受光區(qū)域、以及所述第4受光區(qū)域生成的受光信號(hào)，生成尋軌誤差信號(hào)，所述尋軌誤差信號(hào)表示在所述尋軌方向上的所述光束的焦點(diǎn)與所述軌道槽的中心線的偏移量；以及伺服控制部，所述伺服控制部基于所述尋軌誤差信號(hào)經(jīng)由所述透鏡移動(dòng)部使所述物鏡向所述尋軌方向移動(dòng)。14.如權(quán)利要求13所述的光盤(pán)裝置，其中，在所述光檢測(cè)器中，接收所述光束的一部分被所述光盤(pán)中的除所述對(duì)象記錄層之外的其他所述記錄層反射而成的層間雜散光的雜散光受光區(qū)域分別設(shè)置在所述第1受光區(qū)域、所述第2受光區(qū)域、所述第3受光區(qū)域、以及所述第4受光區(qū)域的附近。15.如權(quán)利要求14所述的光盤(pán)裝置，其中，所述信號(hào)處理部除了基于所述受光信號(hào)之外還基于所述雜散光受光區(qū)域的受光結(jié)果來(lái)生成所述尋軌誤差信號(hào)。全文摘要本發(fā)明涉及光學(xué)拾取器以及光盤(pán)裝置。即使在光盤(pán)具有多個(gè)記錄層并且發(fā)生了透鏡移位時(shí)也能夠不受到層間雜散光的影響而生成尋軌控制所需要的受光信號(hào)。光學(xué)拾取器(17)通過(guò)全息元件(27)使反射光束LR衍射，并使包含有推拉分量和透鏡移位分量的反射光束LR1E和LR1F向縱向的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)分離并行進(jìn)，使包含有透鏡移位分量的反射光束LR1G和LR1H分別向橫向行進(jìn)，在光檢測(cè)器(29)中，通過(guò)在橫向上以d2的距離隔開(kāi)配置的受光區(qū)域RE和RF、受光區(qū)域RG和RH、以及分別與該受光區(qū)域RE、RF、RG、以及RH相鄰配置的雜散光受光區(qū)域來(lái)生成受光信號(hào)S。光盤(pán)裝置(10)通過(guò)利用受光信號(hào)S計(jì)算出尋軌誤差信號(hào)STE2，能夠排除雜散光圖案W和透鏡移位的影響。文檔編號(hào)G11B7/135GK101814298SQ20101012173公開(kāi)日2010年8月25日申請(qǐng)日期2010年2月20日優(yōu)先權(quán)日2009年2月24日發(fā)明者中尾敬,中川弘昭,中野文昭,天宅豐,安藤伸彥,西紀(jì)彰申請(qǐng)人:索尼公司