專利名稱：叢集硬盤自動(dòng)化測試方法及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種叢集硬盤自動(dòng)化測試方法及其系統(tǒng)，特別是有關(guān)于一種具有三階層結(jié)構(gòu)化的叢集硬盤自動(dòng)化測試的方法及運(yùn)用此方法構(gòu)成的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
計(jì)算機(jī)硬盤的數(shù)據(jù)接口主要為 ATA (Advanced Technology Attachment)或 SATA(Serial Advanced Technology Attachment)及 SCSI (小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口 Small Computer System Interface 或 SAS，Serial Attached SCSI)，當(dāng)計(jì)算機(jī)裝上硬盤時(shí)，應(yīng)使用對(duì)應(yīng)于數(shù)據(jù)接口的工具進(jìn)行硬盤的測試，例如使用SCSI測試工具對(duì)SCSI硬盤進(jìn)行測試。SCSI在1980年代早期推出，1986年成為標(biāo)準(zhǔn)并沿用至今，在儲(chǔ)存裝置如硬式磁盤驅(qū)動(dòng)器中，SCSI硬盤廣為工作站級(jí)個(gè)人計(jì)算機(jī)以及服務(wù)器所使用，因?yàn)樗霓D(zhuǎn)速快，且數(shù)據(jù)傳輸時(shí)占用CPU運(yùn)算資源較低。SCSI接口則藉由設(shè)定獨(dú)一無二的數(shù)字地址，或稱SCSI ID, 來辨別所有裝置。SCSI總線上的所有裝置，都必須事先設(shè)定SCSI ID(通常是透過跳線，或切換開關(guān))。當(dāng)計(jì)算機(jī)裝上SCSI總線，就需要對(duì)這些SCSI上的各個(gè)裝置進(jìn)行測試，例如進(jìn)行讀取速度、瞬間速度、隨機(jī)存取時(shí)間、平均讀取速度以及CPU使用率等測試項(xiàng)目。例如， SCSI硬式磁盤驅(qū)動(dòng)器(以下簡稱SCSI硬盤)制造出廠前更要經(jīng)過在不同自身溫度與環(huán)境溫度下的最大輸出入(10)能力(速度)、反應(yīng)時(shí)間及CPU使用率等的測試；其它不同的數(shù)據(jù)接口，也有類似的測試需求。再如，若SCSI硬盤以數(shù)組排列(array SCSI HD)時(shí)，風(fēng)扇轉(zhuǎn)動(dòng)會(huì)造成SCSI硬盤數(shù)組的機(jī)架產(chǎn)生震動(dòng)，因此，SCSI硬盤需先在不同的風(fēng)扇轉(zhuǎn)速下進(jìn)行機(jī)架內(nèi)硬盤的轉(zhuǎn)動(dòng)震動(dòng)測試(Rotational Vibration test)，以確保機(jī)架的機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)在風(fēng)扇旋轉(zhuǎn)(及其它相鄰硬盤的旋轉(zhuǎn))所造成的機(jī)架震動(dòng)下，仍能讓硬盤的存取效能在合理范圍之內(nèi)；在測試時(shí)，須使用風(fēng)扇轉(zhuǎn)速模型(fan speed pattern)對(duì)每個(gè)SCSI硬盤進(jìn)行測試，測試循環(huán)(test loop)相當(dāng)繁復(fù)，所花費(fèi)的時(shí)間很長。更，若SCSI硬盤以叢集排列(Clustered SCSI HD)時(shí)，操作人員的操作困難度更以倍數(shù)成長。在現(xiàn)有技術(shù)上，如美國專利公開號(hào)揭示US2008/0074107揭示使用按鍵控制器，以選擇對(duì)硬盤數(shù)組選定硬盤進(jìn)行測試，然而這種測試需要較多的人工依序測試。又如臺(tái)灣專利495085對(duì)揭示磁盤陣列測試的方法，如圖1，對(duì)于多個(gè)磁盤(81a、81b、81c…81η)經(jīng)由總線排線連接至控制電路基板83，由控制電路基板83連接至計(jì)算機(jī)系統(tǒng)82，控制電路基板 83的控制電路可以檢測磁盤功能(含溫度高低、各磁盤好壞、訊號(hào)是否正常等)，以增加組裝上的便利性。對(duì)于其它的進(jìn)階應(yīng)用，如圖1及圖2，在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)82設(shè)有多個(gè)測試程序 (821a、821b、821c...821n)，經(jīng)由總線排線對(duì)磁盤(81a、81b、81c…81η)進(jìn)行檢測；然而這些的測試方法都需要由操作人員分別選定磁盤驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行測試、監(jiān)控與記錄，仍是相當(dāng)耗費(fèi)人力的工作。對(duì)于采取自動(dòng)化的檢測上，臺(tái)灣專利1230857揭示使用高階操作系統(tǒng)以自動(dòng)化測
4試主機(jī)板，如圖3，服務(wù)器911裝有高階操作系統(tǒng)，高階操作系統(tǒng)則含有各種測試程序及批次文件，服務(wù)器911經(jīng)由多任務(wù)器921連接于待測計(jì)算機(jī)912，待測主機(jī)板9121安裝于待測計(jì)算機(jī)912中，每一待測計(jì)算機(jī)912有一軟盤9122、硬盤9123及一網(wǎng)絡(luò)卡9124。操作時(shí)，由操作人員選擇待測主機(jī)板9121測試項(xiàng)目，進(jìn)行測試完成后，將測試結(jié)果送至服務(wù)器儲(chǔ)存。 這種測試方法可由高階操作系統(tǒng)對(duì)各別計(jì)算機(jī)912主機(jī)板9121進(jìn)行一次一對(duì)一的測試，但若應(yīng)用于硬盤數(shù)組的反復(fù)測試則仍需要大量的人工。臺(tái)灣專利1303765則揭示使用多個(gè)緩沖器分別接收磁盤陣列檢測并暫存磁盤陣列檢測數(shù)據(jù)，再藉由輸出選擇器選擇其中一個(gè)緩沖器，將檢測數(shù)據(jù)傳輸至計(jì)算機(jī)中進(jìn)行記錄；然而此種方法雖可以處理一次多個(gè)硬盤的測試，但對(duì)于反復(fù)多個(gè)模式的測試，則需要更多倍的緩沖器，雖有減少部份人工，但多量的緩沖器及硬件聯(lián)機(jī)，更顯復(fù)雜。如前所述，當(dāng)進(jìn)行數(shù)組硬盤測試時(shí)，尤其在服務(wù)器的機(jī)架上裝設(shè)有叢集硬盤，在叢集硬盤測試時(shí)，測試循環(huán)(test loop)相當(dāng)繁復(fù)，因此如何以自動(dòng)化執(zhí)行測試計(jì)劃(testing plan)，自動(dòng)檢測記錄，并更進(jìn)一步產(chǎn)生分析報(bào)表，則為迫切所需。

發(fā)明內(nèi)容有鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)問題，本發(fā)明主要目的之一就是在提供一種叢集硬盤自動(dòng)化測試方法，以三階層結(jié)構(gòu)化解決叢集硬盤的測試?yán)щy；該方法由第0階排程模塊、第1階監(jiān)控模塊及第2階測試模塊的三階層結(jié)構(gòu)化，對(duì)叢集的硬盤進(jìn)行測試，其包含下列步驟Sl 設(shè)定第0階排程模塊，規(guī)劃硬盤測試矩陣(testing matrix)，此測試矩陣包含有測試循環(huán)(testing loop)與測試排程(testing schedule)；S2 第0階排程模塊依測試矩陣，驅(qū)動(dòng)第1階監(jiān)控模塊執(zhí)行該測試矩陣；S3 第1階監(jiān)控模塊啟動(dòng)第2階測試模塊，執(zhí)行硬盤功能測試，該功能測試在SCSI 硬盤可為SCSI工具箱(SCSI Toolbox)測試或I/O測試(10 testing)；對(duì)于叢集的SCSI硬盤，進(jìn)一步可在機(jī)架各SCSI硬盤的風(fēng)扇以不同風(fēng)扇轉(zhuǎn)速下進(jìn)行功能測試；S4 第1階監(jiān)控模塊監(jiān)控第2階測試模塊，是否完成叢集硬盤功能測試；S5 如果完成功能測試，則由第1階監(jiān)控模塊擷取第2階測試模塊測試屏幕畫面的數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)傳送至第0階排程模塊，第0階排程模塊將數(shù)據(jù)寫入檔案；其中，測試屏幕畫面的數(shù)據(jù)包含但不限于第2階測試模塊的測試屏幕畫面或使用的測試軟件產(chǎn)生的測試屏幕畫面；S6 重復(fù)S3至S5直到所有的叢集硬盤，依據(jù)測試矩陣執(zhí)行完成；S7 第0階分析報(bào)表模塊將第1階監(jiān)控模塊傳送的數(shù)據(jù)完成檔案，對(duì)該檔案進(jìn)行分析；S8 第0階分析報(bào)表模塊將分析的結(jié)果產(chǎn)生報(bào)表檔案，輸出該報(bào)表檔案。本發(fā)明另一個(gè)主要目的就是在提供一種叢集硬盤自動(dòng)化系統(tǒng)，該系統(tǒng)包含一個(gè)或一個(gè)以上的受測單元、一測試服務(wù)器及一測試工作站；其中受測單元可為小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口(SCSI)硬盤及機(jī)架(rack)的風(fēng)扇(fan)；其中，測試服務(wù)器裝設(shè)有第0階排程模塊， 測試工作站裝設(shè)有第1階監(jiān)控模塊及第2階測試模塊；測試工作站與測試服務(wù)器連接，可接收該測試服務(wù)器的第0階排程模塊執(zhí)行命令，并可執(zhí)行第1階監(jiān)控模塊，第1階測試模塊可監(jiān)控該第2階測試模塊，并將第1階監(jiān)控模塊的結(jié)果傳送至該測試服務(wù)器儲(chǔ)存；測試工作站與受測單元連接，可執(zhí)行第2階測試模塊對(duì)受測單元進(jìn)行功能測試。本發(fā)明再一個(gè)目的就是在提供一種叢集硬盤自動(dòng)化系統(tǒng)，該系統(tǒng)的測試服務(wù)器包含有第0階排程模塊，用以設(shè)定硬盤測試排程；測試服務(wù)器進(jìn)一步包含第0階分析報(bào)表模塊，用以將功能測試信息，進(jìn)行分析及制作報(bào)表。本發(fā)明又一個(gè)目的就是在提供一種叢集硬盤自動(dòng)化系統(tǒng)，該系統(tǒng)的測試工作站所裝設(shè)第1階監(jiān)控模塊，進(jìn)一步包含有圖形使用者界面GUI軟件程序，該GUI軟件程序可為 AutoIT軟件程序，可利用GUI軟件程序?qū)Φ?階測試模塊進(jìn)行控制，及對(duì)第2階測試模塊測試的結(jié)果或屏幕畫面擷取相關(guān)信息。本發(fā)明又一個(gè)目的就是在提供一種叢集硬盤自動(dòng)化系統(tǒng)，該系統(tǒng)的測試工作站所裝設(shè)第2階測試模塊，至少包含I/O測試軟件程序或測試工具箱任一個(gè)；對(duì)于叢集SCSI硬盤，其中I/O測試軟件程序可為Iometer軟件程序，以對(duì)SCSI硬盤進(jìn)行I/O測試。承上所述，依本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試方法及其系統(tǒng)，其可具有一或多個(gè)下述優(yōu)點(diǎn)(1)此叢集硬盤自動(dòng)化測試方法具有三階層結(jié)構(gòu)化的測試方法，可對(duì)受測單元進(jìn)行測試排程規(guī)劃、監(jiān)督控制并可擷取測試結(jié)果及按照測試排程進(jìn)行測試，更可對(duì)測試的結(jié)果產(chǎn)生分析及報(bào)表，以自動(dòng)化測試達(dá)到減少人工工時(shí)與減少測試錯(cuò)誤發(fā)生的目標(biāo)。(2)此叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)具有測試服務(wù)器及測試工作站，裝設(shè)有第O階排程模塊、第1階測試模塊、第2階測試模塊，可對(duì)叢集(或數(shù)組)的硬盤，自動(dòng)進(jìn)行不同風(fēng)扇轉(zhuǎn)速循環(huán)I/O測試或測試工具箱測試，達(dá)到減少人工工時(shí)與減少測試錯(cuò)誤發(fā)生的目標(biāo)。為對(duì)本發(fā)明的目的、構(gòu)造特征及其功能有進(jìn)一步的了解，茲配合附圖詳細(xì)說明如下

圖1為現(xiàn)有硬盤測試系統(tǒng)示意圖；圖2為現(xiàn)有硬盤測試系統(tǒng)的塊解圖；圖3為現(xiàn)有自動(dòng)化計(jì)算機(jī)主機(jī)板的測試系統(tǒng)圖；圖4為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)示意圖；圖5為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)第一實(shí)施例的塊解圖；圖6為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)第一實(shí)施例的流程圖；圖7為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)第二實(shí)施例的塊解圖；圖8為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)第二實(shí)施例的流程圖；圖9為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)循環(huán)的流程圖；圖10為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試方法流程圖；以及圖11為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)使用IO測試軟件的屏幕畫面范例圖及擷取屏幕畫面數(shù)據(jù)的范圍范例。
具體實(shí)施方式請參閱圖4，其為本發(fā)明叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)示意圖。圖中，叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)1，包含一個(gè)或數(shù)個(gè)受測單元，數(shù)個(gè)受測單元以數(shù)組排列，受測單元21a 21η的種類至少包含硬盤21a 21η，也可包含風(fēng)扇24a 24η，硬盤21a 21η與風(fēng)扇24a 24η 裝設(shè)于機(jī)架22 (rack)內(nèi)，硬盤21a 21η上有磁盤輸出/入端口 23a 23n (I/O port)， 磁盤輸出/入端口 23a 23η使用排線(bus)相連接，并連接于控制界面電路18上，另風(fēng)扇24a 24η也連接于控制界面電路18上；一測試服務(wù)器31，具有屏幕33可顯示各種信息及測試畫面，測試服務(wù)器31裝設(shè)有第0階排程模塊34(未于圖上顯示)；一測試工作站 11，裝設(shè)有第1階監(jiān)控模塊14(未于圖上顯示)及第2階測試模塊15(未于圖上顯示)，測試工作站11的第一輸出/入埠12使用排線與控制界面電路18連接，其連接的方式不予以限定，也可使用IP通訊連接等；測試工作站11經(jīng)由第二輸出/入埠13使用排線與測試服務(wù)器31的輸出/入埠32連接，其連接的方式不予以限定，也可使用IP通訊連接等。其中， 測試工作站11設(shè)有可儲(chǔ)存數(shù)據(jù)的媒體(未于圖上顯示)，如內(nèi)存、硬盤或磁盤等，用以儲(chǔ)存測試的結(jié)果的數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)。對(duì)于不同的應(yīng)用，測試服務(wù)器31可連接一個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)測試工作站11，由測試服務(wù)器31對(duì)一個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)測試工作站11進(jìn)行一組或多組的測試，為更廣泛的運(yùn)用。不同數(shù)據(jù)接口的測試方式或測試工具不同，以下僅以小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口(SCSI) 硬盤為說明，但不以此為限。當(dāng)使用于叢集小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口(SCSI)硬盤測試時(shí)，如圖 4，叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)1，包含一個(gè)或數(shù)個(gè)受測單元，數(shù)個(gè)受測單元為數(shù)組排列，受測單元21a 21η的種類包含SCSI硬盤21a 21η，及風(fēng)扇24a 24n，SCSI硬盤21a 21η與風(fēng)扇24a 24η裝設(shè)于機(jī)架22 (rack)內(nèi)，利用測試服務(wù)器31及測試工作站11進(jìn)行測試請參閱圖10，其為本發(fā)明的叢集硬盤自動(dòng)化測試方法流程圖，其三階層結(jié)構(gòu)化的測試方法為步驟Sl 設(shè)定第0階排程模塊34，規(guī)劃硬盤21a 21η測試矩陣，此測試矩陣包含有測試循環(huán)與測試排程，若應(yīng)用于叢集SCSI硬盤測試，測試矩陣如表一及表二 ；表一 SCSI硬盤IO(Iometer)功能測試矩陣
SCSI aSCSI bSCSI cSCSI dFan a on〇〇〇Fan b on〇〇〇Fan c on〇〇〇Fan d on〇〇〇Fan a d on〇〇〇〇 表二 SCSI硬盤工具箱(Toolbox)測試矩陣
權(quán)利要求
1.一種叢集硬盤自動(dòng)化測試方法，由一第O階排程模塊、一第1階監(jiān)控模塊及一第2階測試模塊的三階層結(jié)構(gòu)化，對(duì)叢集的硬盤進(jìn)行測試，其特征在于，其包含下列步驟51設(shè)定該第0階排程模塊，規(guī)劃硬盤的一測試矩陣；52使該第0階排程模塊依該測試矩陣，驅(qū)動(dòng)該第1階監(jiān)控模塊執(zhí)行該測試矩陣；53使該第1階監(jiān)控模塊啟動(dòng)該第2階測試模塊，執(zhí)行硬盤的功能測試；54使該第1階監(jiān)控模塊監(jiān)控該第2階測試模塊，是否完成硬盤的功能測試；55如果完成功能測試，則由該第1階監(jiān)控模塊擷取該第2階測試模塊測試屏幕畫面的數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)傳送至該第0階排程模塊，該第0階排程模塊將數(shù)據(jù)寫入一檔案；及56重復(fù)S3至S5直到所有的硬盤，依據(jù)該測試矩陣執(zhí)行完成。
2.如權(quán)利要求1所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試方法，進(jìn)一步包含一第0階分析報(bào)表模塊， 其特征在于，在步驟S6完成后，進(jìn)一步包含57該第0階分析報(bào)表模塊將該第1階監(jiān)控模塊傳送的數(shù)據(jù)完成一檔案，對(duì)該檔案進(jìn)行分析；58該第0階分析報(bào)表模塊將分析的結(jié)果產(chǎn)生一報(bào)表檔案，輸出該報(bào)表檔案。
3.如權(quán)利要求1所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試方法，其特征在于，步驟S3的該第2階測試模塊執(zhí)行硬盤的功能測試，至少包含1/0測試、測試工具箱測試的任一種測試或其組合測試。
4.一種叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，其包含一個(gè)或一個(gè)以上的受測單元，該受測單元的種類至少包含硬盤；一測試服務(wù)器，裝設(shè)有一第0階排程模塊；及一測試工作站，裝設(shè)有一第1階監(jiān)控模塊及一第2階測試模塊；該測試工作站與該測試服務(wù)器連接，用以接收該測試服務(wù)器的該第0階排程模塊執(zhí)行命令，并用以執(zhí)行該第1階監(jiān)控模塊，該第1階測試模塊用以監(jiān)控該第2階測試模塊，并將該第1階監(jiān)控模塊的監(jiān)控結(jié)果傳送至該測試服務(wù)器；該測試工作站又與該受測單元連接，用以執(zhí)行該第2階測試模塊對(duì)該受測單元進(jìn)行功能測試。
5.如權(quán)利要求4所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試服務(wù)器所裝設(shè)的該第0階排程模塊，包含有一硬盤測試排程。
6.如權(quán)利要求4所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試工作站所裝設(shè)的該第1階監(jiān)控模塊，用以擷取該第2階測試模塊的功能測試信息，并傳送至該測試服務(wù)ο
7.如權(quán)利要求4所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試服務(wù)器進(jìn)一步包含有一第0階分析報(bào)表模塊，用以搜集該測試工作站所傳送的功能測試信息，進(jìn)行分析及制作一報(bào)表。
8.如權(quán)利要求4所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試工作站所裝設(shè)的該第1階監(jiān)控模塊包含有一用戶界面軟件程序。
9.如權(quán)利要求4所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試工作站所裝設(shè)的該第2階測試模塊至少包含一 I/O測試軟件程序或一測試工具箱。
10.如權(quán)利要求4所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該受測單元的種類進(jìn)一步包含一風(fēng)扇，以控制測試該風(fēng)扇轉(zhuǎn)動(dòng)，以調(diào)整該風(fēng)扇轉(zhuǎn)速進(jìn)行硬盤的功能測試。
11.如權(quán)利要求10所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，測試服務(wù)器所裝設(shè)的該第0階排程模塊，包含有一硬盤功能測試與一硬盤的風(fēng)扇轉(zhuǎn)速測試的排程。
12.如權(quán)利要求10所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試工作站所裝設(shè)的該第1階監(jiān)控模塊，用以擷取該第2階測試模塊的功能測試信息，并傳送至該測試服務(wù)器。
13.如權(quán)利要求10所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試服務(wù)器進(jìn)一步包含一第0階分析報(bào)表模塊，用以搜集該測試工作站所傳送的功能測試信息，進(jìn)行分析及制作一報(bào)表。
14.如權(quán)利要求10所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試工作站所裝設(shè)的該第1階監(jiān)控模塊包含有一用戶界面軟件程序。
15.如權(quán)利要求10所述的叢集硬盤自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試工作站所裝設(shè)該第2階測試模塊至少包含一 I/O測試軟件程序或一測試工具箱。
全文摘要
本發(fā)明揭示一種叢集硬盤自動(dòng)化測試方法及其系統(tǒng)，采用三階層結(jié)構(gòu)化的第0階排程模塊、第1階監(jiān)控模塊及第2階測試模塊對(duì)叢集硬盤進(jìn)行測試；叢集硬盤測試系統(tǒng)包含一測試服務(wù)器及一測試工作站，利用三階層結(jié)構(gòu)化的模塊對(duì)硬盤在測試排程，進(jìn)行不同風(fēng)扇轉(zhuǎn)速下的功能測試，并可產(chǎn)生分析結(jié)果與報(bào)表，達(dá)到自動(dòng)化、減少人工工時(shí)與減少測試錯(cuò)誤發(fā)生的目的。
文檔編號(hào)G11B20/18GK102222517SQ20101014856
公開日2011年10月19日 申請日期2010年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月16日
發(fā)明者張曉文, 陳萬福, 陳興平 申請人:昆達(dá)電腦科技(昆山)有限公司, 神達(dá)電腦股份有限公司