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      兼容多形態(tài)盤的測試裝置的制作方法

      文檔序號:40285443發(fā)布日期:2024-12-13 10:59閱讀:11來源:國知局
      兼容多形態(tài)盤的測試裝置的制作方法

      本申請涉及固態(tài)硬盤測試裝置,尤其涉及一種兼容多形態(tài)盤的測試裝置。


      背景技術(shù):

      1、ssd固態(tài)硬盤形態(tài)越來越多樣,滿足多使用需求,但是同時也給固態(tài)硬盤的測試帶來一定問題,即在對多種不同形態(tài),不同尺寸的固態(tài)硬盤進(jìn)行測試時,需要設(shè)計不同的pcb,以適應(yīng)不同形態(tài),不同尺寸的固態(tài)硬盤,兼容性差。

      2、現(xiàn)有公開號為cn219811348u,公開了一種msata固態(tài)硬盤測試裝置,包括:測試印刷電路板;安裝于測試印刷電路板的一側(cè)的msata接口插座,用于與msata固態(tài)硬盤的接口端插接;安裝于測試印刷電路板的一側(cè)的彈性固定件,并與msata接口插座間隔設(shè)置,其中,彈性固定件包括底座、卡扣以及彈性件,底座上設(shè)置有兩個限位柱,限位柱用于卡合msata固態(tài)硬盤上的螺孔;卡扣與底座可活動連接,彈性件夾持在卡扣與底座之間,以使彈性件推頂卡扣將msata固態(tài)硬盤夾持在卡扣與底座之間。該固態(tài)硬盤測試裝置只能實現(xiàn)對msata固態(tài)硬盤的測試,而不能適用于其他不同形態(tài),不同尺寸的固態(tài)硬盤,兼容性差。

      3、因此,目前亟需解決的技術(shù)問題是:如何提供一種兼容多形態(tài)盤的測試裝置,實現(xiàn)不同形態(tài)和/或不同尺寸固態(tài)硬盤的測試,提高測試裝置的兼容性,測試裝置總體設(shè)計方案簡單,易于維護(hù)。


      技術(shù)實現(xiàn)思路

      1、本申請的目的在于提供一種兼容多形態(tài)盤的測試裝置,實現(xiàn)不同形態(tài)和/或不同尺寸固態(tài)硬盤的測試,提高測試裝置的兼容性,測試裝置總體設(shè)計方案簡單,易于維護(hù)。

      2、為達(dá)到上述目的,本申請?zhí)峁┮环N兼容多形態(tài)盤的測試裝置,該測試裝置包括:pcb板、連接器和盤體固定支撐件;所述連接器和所述盤體固定支撐件固定連接在所述pcb板的同一側(cè)板面上;所述連接器用于插接待測試盤體,通過所述盤體固定支撐件將所述待測試盤體進(jìn)行限位固定。

      3、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述連接器包括多個,多個所述連接器平行間隔開排布在所述pcb板上。

      4、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述pcb板上同時設(shè)置支持插接兩種接口類型待測試盤體的連接器。

      5、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述盤體固定支撐件包括第一支撐主體和多個用于支撐和容納所述待測試盤體的限位支撐槽;每一個所述限位支撐槽對應(yīng)于一個所述連接器。

      6、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述盤體固定支撐件設(shè)置在所述連接器的旁側(cè),所述待測試盤體的插口部插入所述連接器,非插口部限位在所述限位槽內(nèi),所述插口部與所述非插口部位于所述待測試盤體的同一側(cè)邊的不同位置。

      7、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述限位支撐槽為u型凹槽,多個所述限位支撐槽分布在所述第一支撐主體的上方。

      8、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述盤體固定支撐件包括第二支撐主體和多個用于容納所述待測試盤體的限位槽,所述限位槽相對應(yīng)地設(shè)置于所述連接器的上方。

      9、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述限位槽為u型槽;多個所述限位槽分布在所述第二支撐主體的至少一個側(cè)邊,所述限位槽與所述第二支撐主體位于同一平面,且所述限位槽的開口朝向遠(yuǎn)離所述第二支撐主體的方向。。

      10、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述限位槽包括寬度不同的第一限位槽和第二限位槽,所述第一限位槽對應(yīng)設(shè)置在第一接口類型的連接器上方,所述第二限位槽對應(yīng)設(shè)置在第二接口類型的連接器上方。

      11、如上所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其中,所述測試裝置還包括:整體結(jié)構(gòu)支撐件;所述整體結(jié)構(gòu)支撐件固定連接在所述pcb板的底部。

      12、本申請實現(xiàn)的有益效果如下:

      13、(1)本申請測試裝置適用于對不同形態(tài)和/或不同尺寸的固態(tài)硬盤進(jìn)行測試,兼容性較強。

      14、(2)本申請測試裝置結(jié)構(gòu)簡單,方便對固態(tài)硬盤進(jìn)行測試操作,易于維護(hù)。



      技術(shù)特征:

      1.一種兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,該測試裝置包括:pcb板、連接器和盤體固定支撐件;

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述連接器包括多個,多個所述連接器平行間隔開排布在所述pcb板上。

      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述pcb板上同時設(shè)置支持插接兩種接口類型待測試盤體的連接器。

      4.根據(jù)權(quán)利要求1-3之一所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述盤體固定支撐件包括第一支撐主體和多個用于支撐和容納所述待測試盤體的限位支撐槽;

      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述盤體固定支撐件設(shè)置在所述連接器的旁側(cè),

      6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述限位支撐槽為u型凹槽,多個所述限位支撐槽分布在所述第一支撐主體的上方。

      7.根據(jù)權(quán)利要求1-3之一所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述盤體固定支撐件包括第二支撐主體和多個用于容納所述待測試盤體的限位槽,所述限位槽相對應(yīng)地設(shè)置于所述連接器的上方。

      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述限位槽為u型槽;

      9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述限位槽包括寬度不同的第一限位槽和第二限位槽,所述第一限位槽對應(yīng)設(shè)置在第一接口類型的連接器的上方,所述第二限位槽對應(yīng)設(shè)置在第二接口類型的連接器的上方。

      10.根據(jù)權(quán)利要求1-9之一所述的兼容多形態(tài)盤的測試裝置,其特征在于,所述測試裝置還包括:整體結(jié)構(gòu)支撐件;


      技術(shù)總結(jié)
      本申請?zhí)峁┮环N兼容多形態(tài)盤的測試裝置,涉及固態(tài)硬盤測試裝置技術(shù)領(lǐng)域,該測試裝置包括:PCB板、連接器和盤體固定支撐件;所述連接器和所述盤體固定支撐件固定連接在所述PCB板的同一側(cè)板面上;所述連接器用于插接待測試盤體,支持插接至少一種接口類型的待測試盤體,通過所述盤體固定支撐件將所述待測試盤體進(jìn)行限位固定。本申請一種兼容多形態(tài)盤的測試裝置,實現(xiàn)不同形態(tài)和/或不同尺寸固態(tài)硬盤的測試,提高測試裝置的兼容性,測試裝置總體設(shè)計方案簡單,易于維護(hù)。

      技術(shù)研發(fā)人員:李義,趙路
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:北京憶恒創(chuàng)源科技股份有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:20240304
      技術(shù)公布日:2024/12/12
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