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      防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置的制作方法

      文檔序號:7159325閱讀:649來源:國知局
      專利名稱:防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置的制作方法
      技術領域
      本發(fā)明涉及一種半導體封裝件,尤指一種防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置。
      背景技術
      目前新一代的芯片特性為尺寸小、集積度高、頻率高,因此芯片運作時極易產生高熱。為此,封裝該芯片時,亦需將散熱能力考量在內。請參照圖1A、1B所示,該半導體封裝件包括一基板3’、芯片2’,基板3’設有錫球31’,芯片2’通過接合膠22’固定在基板3’上,并以金線21’與基板3’電連接。在芯片2’與基板3’接合區(qū)域外圍,以一散熱佳的金屬材料制成的散熱片1’覆蓋住芯片2’及其接合區(qū)域,散熱片1’為一薄殼狀,具有一底平面12’,底平面12’下方設有支撐墊14’,于散熱片1’中心部位設有隆起部11’,以隆起部11’覆蓋芯片及芯片接合模塊,散熱片1’內部13’亦設有封裝膠5’;再將之置入模具4’模穴41’之中,以封裝膠5’由澆道口42’灌入模穴41’內來包覆散熱片1’,且由于該散熱片1’的隆起部11’頂面111’整個平面是緊靠模穴41’頂面43’,故在灌膠時封裝膠5’不易進入,以便拆模后保持散熱片1’頂面111’區(qū)域暴露在外以增進散熱片1’內部的熱量傳出。但,由于公知散熱片1’的隆起部11’的頂面111’為一整個平坦面,在與模穴41’頂面43’接觸時,其接觸面積很大,除非該平面的真平度十分精確否則不易密閉,且由于接觸面積大,其所施壓力相對不足,故在灌膠時極易產生其封裝膠5’浸入其散熱片1’隆起部11’頂面111’形成溢膠51’情形,此溢膠51’影響散熱效果甚巨,此時往往另需以人力方式將之去除,徒增人力成本上的浪費。

      發(fā)明內容基于上述習用半導體封裝件中散熱片結構的缺失,本發(fā)明的目的是提供一種防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,能有效克服目前習知半導體封裝件中散熱片結構的缺點,使得封裝時封裝膠無法進入散熱片頂部形成溢膠,從而不必再以人工方式去除溢膠,并使該散熱片頂面更靠近芯片,縮小其熱傳導途徑,使散熱更快速。
      本發(fā)明提供一種防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,該半導體封裝件包括一基板、芯片及芯片接合模塊,一散熱片覆蓋于基板、芯片及芯片接合模塊上,在該散熱片與芯片間及散熱片外圍設有封裝膠,其特征在于該散熱片為一薄殼狀,具有一底平面部,并于中心部位設有隆起部,以隆起部覆蓋芯片及芯片接合模塊;在隆起部頂部設有一內縮的第一階環(huán)平臺,并在該第一階環(huán)平臺內緣設有下凹的下凹溝槽,于下凹溝槽內壁面向上垂直凸起一高于該第一階環(huán)平臺的第二階凸環(huán),并在第二階凸環(huán)內側中心處設有一下凹的頂凹面,并由此中央隆起部頂面的上述結構可在封裝時,藉第一階環(huán)平臺與下凹溝槽結構來初步減少封裝膠聚集,之后再以高起的第二階凸環(huán)頂住模穴上緣頂面,來形成一阻擋封裝膠的結構,使封裝膠不致溢入散熱片中心部位。
      所述的防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,其特征在于該散熱片底平面下方設有支撐墊。
      該支撐墊底部到第二階凸環(huán)頂面的垂直高度高于封裝模具的模穴高度。
      該基板與芯片接合模塊可以是采打線接合方式或采覆晶接合方式。
      本發(fā)明的防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,主要是應用于芯片與基板以打線(WireBonding)接合方式或覆晶(FlipChip)接合方式作電氣導通后,以本發(fā)明的散熱片覆蓋其上,并以封膠體將整個散熱片覆蓋,僅露出散熱片中心部位與空氣接觸,可達到快速散熱效果。

      圖1A是先前技術的半導體封裝件的散熱片溢膠結構剖面示意圖。圖1B是圖1A的局部放大圖。
      圖2是本發(fā)明的散熱片結構俯視圖。
      圖3是圖2的A-A剖視圖。
      圖4是本發(fā)明的立體剖面示意圖。
      圖5是本發(fā)明的塑模實施例。
      圖6是本發(fā)明的封裝件示意圖。
      具體實施方式為闡明本發(fā)明的技術內容、特點及功效,茲配合

      如后。
      請參照圖2、圖3及圖4所示,本發(fā)明的防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,主要的改良部份為其散熱片的隆起部頂面的結構。
      該半導體封裝件包括一基板3、芯片2及芯片接合模塊,基板3設有錫球31,芯片2通過接合膠22固定在基板3上,并以金線21與基板3電連接。在芯片2與基板3接合區(qū)域外圍,以一散熱佳的金屬材料制成的散熱片1覆蓋住芯片2及其接合區(qū)域,散熱片1的內部13亦設有封裝膠5;該散熱片1是一薄殼狀罩體結構,具有一底平面12,該散熱片1底平面12下方設有支撐墊14。并于散熱片1中心部位設有隆起部11,以形成一覆蓋芯片2及其接合體(如打線接合)的罩體;在散熱片1隆起部11頂部設有一內縮一短緣的第一階環(huán)平臺111,并在該第一階環(huán)平臺111內緣再下凹,形成下凹溝槽112結構后,其壁面再向上垂直升起成一凸起的高于第一階環(huán)平臺111的第二階凸環(huán)113,并在第二階凸113內側中心處內縮一短邊后內凹成一頂凹面114。
      續(xù)請參照圖5、圖6所示,上述的散熱片1結構是于一基板3與芯片2利用接合模塊如打線接合方式作電氣接合后,將本發(fā)明的散熱片1覆蓋于芯片2及接合模塊上,且利用隆起部11來固著于基板3上,再將之移入模具4的模穴41內,且該散熱片1的第二階凸環(huán)113端面頂住槽穴41頂面43,并由澆道口42灌入封裝膠5來充填基板3以上的空間。而由于該散熱片1第一階環(huán)平臺111與下凹溝槽112間的空間為靠近模穴41頂面43,可形成一狹小空間以減少封裝膠5與預留引導封裝膠5流向的空間作用,且第二階凸環(huán)113端面為一高起凸出環(huán)條狀,在頂住模穴41頂面43時,接觸面積小,相對地接觸壓力變大,可有效地杜絕封裝膠5溢入。
      又,本發(fā)明的散熱片1頂凹面114為一內凹結構,使散熱片1頂部可更接近芯片2熱源,這在熱傳導的效果上可更為快速,即熱量更快被帶出,集中到散熱片頂面上,達到散熱效果。
      本發(fā)明的基板3與芯片2接合技術亦可采用新的覆晶接合技術(圖中未示),此時該散熱片1的接著面積可較為縮小。
      當然,在本發(fā)明結構中,其散熱片的隆起部在圖示中雖為圓形結構,但實務中亦可轉用為方形隆起部的形態(tài)。
      雖然本發(fā)明以一較佳實施例揭露如上,然其并非用以限定本發(fā)明。
      權利要求
      1.一種防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,該半導體封裝件包括一基板、芯片及芯片接合模塊,一散熱片覆蓋于基板、芯片及芯片接合模塊上,在該散熱片與芯片間及散熱片外圍設有封裝膠,其特征在于該散熱片為一薄殼狀,具有一底平面部,并于中心部位設有隆起部,以隆起部覆蓋芯片及芯片接合模塊;在隆起部頂部設有一內縮的第一階環(huán)平臺,并在該第一階環(huán)平臺內緣設有下凹的下凹溝槽,于下凹溝槽內壁面向上垂直凸起一高于該第一階環(huán)平臺的第二階凸環(huán),并在第二階凸環(huán)內側中心處設有一下凹的頂凹面。
      2.如權利要求1所述的防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,其特征在于該散熱片底平面下方設有支撐墊。
      3.如權利要求1或2所述的防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,其特征在于該支撐墊底部到第二階凸環(huán)頂面的垂直高度高于封裝模具的模穴高度。
      4.如權利要求3所述的防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,其特征在于該基板與芯片接合模塊是采打線接合方式。
      5.如權利要求3所述的防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,其特征在于該基板與芯片接合模塊是采覆晶接合方式。
      全文摘要
      一種防止半導體封裝件中散熱片溢膠的散熱片裝置,該半導體封裝件包括一基板、芯片及芯片接合模塊,一散熱片覆蓋于基板、芯片及芯片接合模塊上,在該散熱片與芯片間及散熱片外圍設有封裝膠,該散熱片為一薄殼狀,具有一底平面部,并于中心部位設有隆起部,在隆起部頂部設有一內縮的第一階環(huán)平臺,并在該第一階環(huán)平臺內緣設有高于該第一階環(huán)平臺的第二階凸環(huán),在第二階凸環(huán)內側中心處設有一下凹的頂凹面。本發(fā)明能有效克服目前習知半導體封裝件中散熱片結構的缺點,使得封裝時封裝膠無法進入散熱片頂部形成溢膠,從而不必再以人工方式去除溢膠,并使該散熱片頂面更靠近芯片,縮小其熱傳導途徑,使散熱更快速。
      文檔編號H01L23/34GK1549337SQ03122388
      公開日2004年11月24日 申請日期2003年5月9日 優(yōu)先權日2003年5月9日
      發(fā)明者謝文樂, 金虹 申請人:華泰電子股份有限公司
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