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      全自動電子元件測試裝置的制作方法

      文檔序號:6861923閱讀:266來源:國知局
      專利名稱:全自動電子元件測試裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實用新型涉及一種電子元件的測試裝置。
      背景技術(shù)
      近代的電子產(chǎn)業(yè)持續(xù)發(fā)展,各種電子產(chǎn)品使人們的生活更加舒適,而電子產(chǎn)品在制造過程中,電子元件是不可或缺的電子組件,不穩(wěn)定的電子元件易造成電子產(chǎn)品的損壞,因此,在電子元件的生產(chǎn)過程中,對電子元件品質(zhì)做各種測試是極為重要的。一般的電子元件測試是在自動測試機上當(dāng)電子元件進入檢測裝置后才開始作檢測的動作,但因目前自動化設(shè)備的速度一直在提升,這樣的方式會造成檢測裝置與被檢的電子元件接觸時間過短而使得測試的準(zhǔn)確性下降。

      發(fā)明內(nèi)容
      本實用新型的目的在于設(shè)計一種全自動電子元件測試裝置,這種裝置在電子元件的測試過程,可增加檢測裝置對電子元件接觸的時間,確保了一定的測試時間,因而提高了測試精度,縮短了測試時間。
      按照本實用新型所提供的設(shè)計方案,在工作臺上有允許電子元件通過的通道,其特征是在工作臺上沿通道安裝導(dǎo)電座,在導(dǎo)電座上安裝若干具有彈性的導(dǎo)電裝置,在通道的上方有相互斷開的導(dǎo)電刷。
      在工作臺上安裝支架,在支架上安裝沿通道布置的絕緣板,在絕緣板上安裝相互斷開的呈條狀的導(dǎo)電刷。在導(dǎo)電座上間隔安裝沿通道布置的扭簧,該扭簧的一端靠在固定于導(dǎo)電座上的定位柱上,另一端有一個測試段,該測試段延伸至通道的上方,該測試段在對電子元件進行測試時,始終與電子元件的接腳接觸。
      在工作臺的下面有用于運送電子元件的輸送鏈,在輸送鏈上有用于夾持電子元件的夾具及固定座。在絕緣板上間隔安裝連接桿,在連接桿上安裝位于通道上方的作為導(dǎo)電裝置的導(dǎo)電鋼絲,在該導(dǎo)電鋼絲上有一個測試段,該測試段在對電子元件進行測試時,該測試段始終與電子元件的接腳接觸。
      相鄰兩個導(dǎo)電裝置的間隔距離短于輸送鏈上相鄰兩個夾具間的節(jié)距。在測試裝置中有一個測試段,在對電子元件進行測試時,該測試段始終與電子元件的接腳接觸。
      本實用新型的優(yōu)點是由于在工作臺上沿通道安裝了導(dǎo)電刷與彈性的導(dǎo)電裝置,在電子元件沿通道前進時,電子元件的接腳始終與導(dǎo)電刷或彈性的導(dǎo)電裝置接觸,從而實現(xiàn)了動態(tài)或靜態(tài)測試過程,使測試精度得到提高,測試時間得到縮短,同時簡化了整個測試設(shè)備。


      圖1為測試設(shè)備的局部結(jié)構(gòu)圖。
      圖2為測試設(shè)備的平面圖。
      具體實施方式
      如圖所示在工作臺9上有允許電子元件8通過的通道12,在工作臺9上沿通道12安裝導(dǎo)電座10,在導(dǎo)電座10上安裝若干個具有彈性的導(dǎo)電裝置4,在通道12的上方有相互斷開的導(dǎo)電刷7、14。在工作臺9的下面有用于運送電子元件8的輸送鏈,在輸送鏈上有用于夾持電子元件8的夾具1及固定座11。在本實施例中,所用的元器件為電容器,此外,還可將本裝置用于檢測二極管、電阻等具有兩個接腳15的元器件,甚至具有3個接腳的三極管等元器件。工作時,每個電子元件8都分別被夾持在輸送鏈的一個個夾具1上,在輸送鏈的帶動下,電子元件8依次進入工作臺9的通道12內(nèi),在電子元件8經(jīng)過通道12時,電子元件8的一個腳始終與導(dǎo)電刷7或14接觸,另一個腳則依次與一個個導(dǎo)電裝置4接觸,為此,應(yīng)確保相鄰兩個導(dǎo)電裝置4的間隔距離短于輸送鏈上相鄰兩個夾具1間的節(jié)距,使該腳與一個導(dǎo)電裝置4尚未脫離前,前一個導(dǎo)電裝置4已經(jīng)與該腳接觸,這樣就能實現(xiàn)增加檢測裝置對電子元件接觸的時間的目的,并確保一定的測試時間。通常情況下,對電子元件8的測試時間是確定的,為了滿足設(shè)定的測試時間,就必須保證電子元件8在通道12內(nèi)的通過時間。確保這個時間的方式有兩種延長通道12的長度,或減慢電子元件8的運送速度,顯然,這兩種方式都會降低測試機的工作效率。本實用新型采用連續(xù)送電的方式后,與原來的間歇式測試方式相比,由于沒有間隔的時間,因此在同樣的通道長度下,本實用新型可以提高電子元件8的運送速度,這樣就提高了生產(chǎn)效率;或者在同樣的運送速度下,可以縮短通道12的長度,這樣就簡化了設(shè)備,降低了設(shè)備投資。
      在工作臺9上安裝支架2,在支架2上安裝沿通道12布置的絕緣板3,在絕緣板3上安裝連續(xù)的呈條狀的相互斷開的導(dǎo)電刷7、14,其中,導(dǎo)電刷7通常位于通道12中部,用于在必要時對電子元件8進行動態(tài)充電,導(dǎo)電刷14位于通道12的兩端,用于對電子元件8進行測試,并且位于通道12進口端導(dǎo)電刷用于測試電子元件8的容量與損耗;位于出口端的導(dǎo)電刷14用于測試電子元件8的漏電狀況。
      上述是導(dǎo)電裝置4的一種安裝形式,此外還可以采用其它多種形式。如可以在導(dǎo)電座10上間隔安裝沿通道12布置的扭簧,該扭簧的一端靠在固定于導(dǎo)電座10上的定位柱上,另一端有一個測試段13,該測試段13延伸至通道12的上方,該測試段13在對電子元件8進行動態(tài)或靜態(tài)測試時,始終與電子元件8的接腳15接觸。導(dǎo)電裝置4的一種比較簡單而又實用的結(jié)構(gòu)是采用上述扭簧,當(dāng)然,除此以外,同樣還可以采用多種其它方式,本實用新型的發(fā)明點在于提出了一種可以將原來的間歇式輸電或測試方式改進為連續(xù)式輸電或測試方式的途徑,至于具體的實施方式可以是多種多樣的,本實用新型的保護范圍并不局限于實施例所公開的幾種方式。
      在絕緣板3上間隔安裝連接桿5,在連接桿5上安裝位于通道12上方的作為導(dǎo)電裝置4的導(dǎo)電鋼絲,在該導(dǎo)電鋼絲上有一個測試段13,該測試段13在對電子元件8進行動態(tài)或靜態(tài)測試時,該測試段13始終與電子元件8的接腳15接觸。這同樣也是導(dǎo)電刷7的一種比較簡單而又實用的方式,與上述觀點相同,本實用新型的保護范圍并不局限于該實施例所公開的方式。
      權(quán)利要求1.全自動電子元件測試裝置,在工作臺(9)上有允許電子元件(8)通過的通道(12),其特征是在工作臺(9)上沿通道(12)安裝導(dǎo)電座(10),在導(dǎo)電座(10)上安裝若干具有彈性的導(dǎo)電裝置(4),在通道(12)的上方有相互斷開的導(dǎo)電刷(7)、(14)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全自動電子元件測試裝置,其特征是在工作臺(9)上安裝支架(2),在支架(2)上安裝沿通道(12)布置的絕緣板(3),在絕緣板(3)上安裝相互斷開的呈條狀的導(dǎo)電刷(7)、(14)。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全自動電子元件測試裝置,其特征是在導(dǎo)電座(10)上間隔安裝沿通道(12)布置的扭簧(4),該扭簧(4)的一端靠在固定于導(dǎo)電座(10)上的定位柱上,另一端有一個測試段(13),該測試段(13)延伸至通道(12)的上方,該測試段(13)在對電子元件(8)進行測試時,始終與電子元件(8)的接腳(15)接觸。
      4.據(jù)權(quán)利要求1所述的全自動電子元件測試裝置,其特征是在工作臺(9)的下面有用于運送電子元件(8)的輸送鏈,在輸送鏈上有用于夾持電子元件(8)的夾具(1)及固定座(11)。
      5.據(jù)權(quán)利要求2所述的全自動電子元件測試裝置,其特征是在絕緣板(3)上間隔安裝連接桿(5),在連接桿(5)上安裝位于通道(12)上方的作為導(dǎo)電裝置(4)的導(dǎo)電鋼絲,在該導(dǎo)電鋼絲上有一個測試段(13),該測試段(13)在對電子元件(8)進行測試時,該測試段(13)始終與電子元件(8)的接腳(15)接觸。
      6.據(jù)權(quán)利要求1或4所述的全自動電子元件測試裝置,其特征是相鄰兩個導(dǎo)電裝置(4)的間隔距離短于輸送鏈上相鄰兩個夾具(1)間的節(jié)距。
      7.據(jù)權(quán)利要求1所述的全自動電子元件測試裝置,其特征是在測試裝置(4)中有一個測試段,在對電子元件(8)進行測試時,該測試段始終與電子元件(8)的接腳(15)接觸。
      專利摘要全自動電子元件測試裝置,涉及一種電子元件的測試裝置。按照本實用新型所提供的設(shè)計方案,在工作臺上有允許電子元件通過的通道,其特征是在工作臺上沿通道安裝導(dǎo)電座,在導(dǎo)電座上安裝若干具有彈性的導(dǎo)電裝置,在通道的上方有相互斷開的導(dǎo)電刷。這種裝置在電子元件的測試過程中,可增加檢測裝置對電子元件接觸的時間,因而提高了測試精度,縮短了測試時間。
      文檔編號H01L21/66GK2840062SQ20052007697
      公開日2006年11月22日 申請日期2005年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月31日
      發(fā)明者梁進卿 申請人:梁進卿
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