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      一種降低模擬電路中寄生電容的方法

      文檔序號:7213533閱讀:1563來源:國知局
      專利名稱:一種降低模擬電路中寄生電容的方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及模擬電路版圖設(shè)計領(lǐng)域,尤其涉及一種降低模擬電路中寄 生電容的方法。
      背景技術(shù)
      本發(fā)明主要應(yīng)用在模擬集成電路的版圖設(shè)計及在半導(dǎo)體器件的實現(xiàn) 中。在模擬電路的物理實現(xiàn)過程中, 一些信號線上的寄生電容器件,通常 會很大程度的影響電路的性能,尤其是對一些比較敏感的高頻信號,寄生 電容的影響就更加明顯。信號線上的寄生電容會增加負(fù)載,降低工作頻率 導(dǎo)致工作帶寬變窄,并且會耦合到信號線上,降級信號的抗干擾能力。傳
      統(tǒng)的設(shè)計方法如圖1所示。在P型襯底1上生長一層絕緣層2,絕緣層2 上面是信號線3 ,那么就會在P型襯底1和信號線3之間形成一個寄生電 容C,此寄生電容C的大小只與信號線3的面積A,絕緣層2的厚度d和 介電參數(shù)s有關(guān)。關(guān)系見下式
      <formula>see original document page 3</formula>
      根據(jù)上述公式,如果要減小C,就需要減小A或減小s ,或增加d。 對于任何一個成熟的工藝,s和d都是晶圓廠家固定的,不可能更改,唯 一的可能就是減小信號線3的面積A。而減小A會帶來的問題是,增加了 該信號線3上的寄生電阻,和減小了電流的通道,間接導(dǎo)致電路的速度變 慢。因此,需要在保證工藝參數(shù)不改變,且信號線3寄生電阻和電流通道 不受影響的情況下來減小寄生電容。

      發(fā)明內(nèi)容
      鑒于上述問題,本發(fā)明的目的是提供一種降低模擬電路中寄生電容的方法,其能在保證工藝參數(shù)不改變,且信號線的寄生電阻和電流通道的影 響不會變壞的情況下減小寄生電容。
      本發(fā)明提出的一種降低模擬電路中寄生電容的方法,包括在半導(dǎo)體襯 底上生長一層絕緣層,然后在上述絕緣層上面制備信號線,其中還包括在
      生長上述絕緣層之前引入N阱層,使上述N阱層位于上述絕緣層與上述 半導(dǎo)體襯底之間。
      上述N阱層上制備有二極管,上述二極管的正極與高電壓耦合,上述 二極管的負(fù)極與上述N阱層耦合。
      與上述二極管耦合的電位可以是集成電路器件的供電電壓。 上述半導(dǎo)體襯底為P型襯底。
      本發(fā)明的降低模擬電路中寄生電容的方法,即在信號線與襯底之間引 入的N阱層會導(dǎo)致產(chǎn)生額外的寄生電容,上述額外的寄生電容與初始寄生 電容串連,這樣在信號線和襯底之間就可以得到一個較小的寄生電容,從 而達(dá)到了減少信號線寄生電容的目的。相同的電路設(shè)計,信號線上寄生電 容的減少會帶來很多好處,可以減小由于寄生電容存在而帶來的負(fù)載,提 高工作頻率,增加電路的工作帶寬,并在很大程度上增加信號的抗干擾能力,使電路可以在更惡劣的環(huán)境下工作。利用本發(fā)明,在減少寄生電容的 同時,并沒有增加版圖的面積,即在改善信號的寄生電容的同時,沒有增 加實現(xiàn)電路的成本。
      下面結(jié)合附圖,對本發(fā)明的具體實施方式
      作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。對于 所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員而言,從對本發(fā)明的詳細(xì)說明中,本發(fā)明的上述 和其他目的、特征和優(yōu)點將顯而易見。


      圖1是傳統(tǒng)的信號線與襯底的剖面圖。
      圖2是本發(fā)明一實施例的增加一層N阱層后的信號線與襯底的剖面圖。
      圖3是圖2的等效電路圖。
      具體實施例方式
      下面結(jié)合本發(fā)明所述方法的具體實施方式
      對本發(fā)明做進(jìn)一步說明。
      先參照圖2,該圖是本發(fā)明一實施例的增加一層N阱層后的信號線與 襯底的剖面圖。以半導(dǎo)體襯底為P型襯底1為例,在P型襯底1與絕緣層 2引入N阱層4,上述N阱層4和P型襯底1形成電容C1,并與原始電 容Cd串連。為了有效地利用Cl ,減少信號線3與襯底的原始電容Cd, N 阱層4必須交流浮(下稱AC floating)。如果N阱層4不是AC floating, 則在交流(下稱AC)情況下,N阱層4與P型襯底1的電位都是AC地, 那么相當(dāng)于在N阱層4與P型襯底1之間的電容Cl的兩個極板短路,Cl 對于減少信號線3與P型襯底1之間的寄生電容完全沒有貢獻(xiàn)。為了解決 這一問題,本實施例在N阱層4上制備了一個二極管5。 二極管5的正極 與高電壓耦合,二極管5的負(fù)極與N阱層4耦合,使得N阱層4偏置在 一個比P型襯底1高的電位上。與二極管5耦合的電位可以是這個集成電 路器件的供電電壓。這樣就在信號線3和P型襯底1之間形成了 2個串連 的電容,分別為Cd和Cl,最后的總電容就是這兩個電容的串連后的值 Cs:<formula>see original document page 5</formula>
      因為Cs〈Cd,從而達(dá)到了減小信號線3與P型襯底1之間的寄生電容 的目的。
      繼續(xù)參照圖3,該圖是圖2的直流(簡稱DC)、 AC情況下的等效電 路,A點表示N阱層4的電位??梢钥吹?,在DC情況下,二極管5正向 導(dǎo)通,A點的電位為高。在AC情況下,二極管5反偏,A點仍保留高電 位,從而得到N阱層4的AC floating且電位高于P型襯底1 。
      因此,根據(jù)本發(fā)明提出的降低模擬電路中寄生電容的方法,在減少寄 生電容的同時,并沒有增加版圖的面積,即在改善信號的寄生電容的同時, 又沒有增加實現(xiàn)電路的成本。
      當(dāng)然,本發(fā)明還可有其他實施例,在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情 況下,所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變,但 這些相應(yīng)的改變都應(yīng)屬于本發(fā)明的權(quán)利要求的保護范圍。
      權(quán)利要求
      1.一種降低模擬電路中寄生電容的方法,包括在半導(dǎo)體襯底上生長一層絕緣層,然后在上述絕緣層上面制備信號線,其特征在于還包括在生長上述絕緣層之前引入N阱層,使上述N阱層位于上述絕緣層與上述半導(dǎo)體襯底之間。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的降低模擬電路中寄生電容的方法,其特征在于,上述N阱層上制備有二極管,上述二極管的正極與高電壓耦合,上述二極管的負(fù)極與上述N阱層耦合。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的降低模擬電路中寄生電容的方法,其特征在于,與上述二極管耦合的電位是集成電路器件的供電電壓。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的降低模擬電路中寄生電容的方法,其特征在于,上述半導(dǎo)體襯底為P型襯底。
      全文摘要
      一種降低模擬電路中寄生電容的方法,包括在半導(dǎo)體襯底上生長一層絕緣層,然后在上述絕緣層上面制備信號線,其中還包括在生長上述絕緣層之前引入N阱層,使上述N阱層位于上述絕緣層與上述半導(dǎo)體襯底之間。利用本發(fā)明,在減少寄生電容的同時,并沒有增加版圖的面積,即在改善信號的寄生電容的同時,沒有增加實現(xiàn)電路的成本。
      文檔編號H01L21/822GK101174583SQ20061015039
      公開日2008年5月7日 申請日期2006年11月1日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月1日
      發(fā)明者吳小曄, 莉 周, 梅 李, 林滿院 申請人:中興通訊股份有限公司
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