無觸點開關(guān)裝置制造方法
無觸點開關(guān)裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明的目的在于提供耐久性高的開關(guān)裝置。本發(fā)明的開關(guān)裝置，開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部相對位移自如地被設(shè)置，所述開關(guān)鍵頂部具備相互連接的鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈，所述開關(guān)鍵底部具備：鍵底部發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈，該鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置在該鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位，該鍵底部接收線圈被設(shè)置在該鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位；電流供給部，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流；以及判定部，基于所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流來判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
【專利說明】無觸點開關(guān)裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及開關(guān)裝置，尤其涉及具備鍵頂部和鍵底部、且兩者相對位移自如地被 設(shè)置的開關(guān)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 作為這種開關(guān)裝置，以往有專利文獻1所記載的開關(guān)裝置。該開關(guān)裝置在開關(guān)鍵 頂部及開關(guān)鍵底部分別設(shè)置線圈，檢測通過按下開關(guān)鍵頂部而在開關(guān)鍵底部的線圈中產(chǎn)生 的感應(yīng)電位，進行開關(guān)鍵頂部的按下判定。這種開關(guān)裝置具有如下的優(yōu)點：不會產(chǎn)生使用物 理接觸的開關(guān)裝置中經(jīng)常出現(xiàn)的、由接觸銷的磨損或異物的附著引起的接觸不良。
[0003] 現(xiàn)有技術(shù)文獻
[0004] 專利文獻
[0005] 專利文獻1 :日本特開2000-311541號公報
[0006] 發(fā)明的概要
[0007] 發(fā)明所要解決的課題
[0008] 但是，專利文獻1的開關(guān)裝置通過布線將開關(guān)鍵頂部的線圈和電流供給部連接。 因此，隨著開關(guān)鍵頂部被反復(fù)按下，該布線磨損，有時難以正確地進行開關(guān)鍵頂部的按下判 定。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0009] 本發(fā)明是鑒于上述課題而做出的，其目的在于，提供一種耐久性高的開關(guān)裝置。
[0010] 解決課題所采用的技術(shù)手段
[0011] 本發(fā)明的開關(guān)裝置，開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部相對位移自如地被設(shè)置，所述開關(guān) 鍵頂部具備相互連接的鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈，所述開關(guān)鍵底部具備：鍵底部 發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈，該鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置在該鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部 接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作 而變化的部位，該鍵底部接收線圈被設(shè)置在該鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相 對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位； 電流供給部，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流；以及判定部，基于所述鍵底部接收線圈中產(chǎn) 生的感應(yīng)電流來判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0012] 發(fā)明的效果
[0013] 本發(fā)明的開關(guān)裝置，不設(shè)置因開關(guān)鍵頂部與開關(guān)鍵底部之間的相對位移操作而產(chǎn) 生負(fù)荷的布線，使用電磁感應(yīng)作用來判定開關(guān)鍵頂部的相對位移操作狀態(tài)，所以能夠提高 其耐久性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0014] 圖1是實施方式1的開關(guān)裝置100的搭載例。
[0015] 圖2是實施方式1的開關(guān)裝置100的概略圖。
[0016] 圖3(a)?（e)是用于說明實施方式1的開關(guān)裝置100的構(gòu)造的圖。
[0017] 圖4(a) (b)是實施方式1的開關(guān)裝置100的動作示意圖。
[0018] 圖5是說明實施方式1的判定部140的動作的流程圖。
[0019] 圖6是在實施方式1的鍵底部接收線圈109中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過的一 例。
[0020] 圖7是實施方式2的開關(guān)裝置200的概略圖。
[0021] 圖8是在實施方式2的各鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過的一例。
[0022] 圖9是實施方式3的開關(guān)裝置400的概略圖。
[0023] 圖10是在實施方式3的各鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過的一例。
[0024] 圖11 (a) (b)是專利文獻1的開關(guān)裝置的概略圖。
[0025] 圖12是開關(guān)裝置的安裝例。
【具體實施方式】
[0026] <得到發(fā)明的過程>
[0027] 在開關(guān)的使用頻度高的便攜電話等設(shè)備中，經(jīng)常因為開關(guān)裝置的故障而進行設(shè)備 的更換和修理，所以要求提供耐久性高的開關(guān)裝置。
[0028] -般的開關(guān)裝置，有檢測開關(guān)鍵頂部與開關(guān)鍵底部的物理接觸而進行開關(guān)鍵頂部 的按下檢測的開關(guān)裝置。該開關(guān)裝置隨著反復(fù)使用，由于接觸銷的磨損或異物的附著而存 在發(fā)生接觸不良的問題。
[0029] 另一方面，專利文獻1的開關(guān)裝置（圖11)由檢測電路（605)檢測通過按下設(shè)有線 圈A (602)的開關(guān)鍵頂部（601)而在線圈B (604)中產(chǎn)生的感應(yīng)電位，進行開關(guān)鍵頂部（601) 的按下判定。專利文獻1的開關(guān)裝置在鍵頂部的按下檢測中不使用物理接觸，所以不會發(fā) 生前述的接觸銷的磨損或異物的附著所導(dǎo)致的接觸不良。
[0030] 但是，專利文獻1的開關(guān)裝置通過布線來連接線圈A(602)和向線圈A(601)供給 電流的電流發(fā)生電路（603)。因此，隨著反復(fù)按下開關(guān)鍵頂部（601)，該布線磨損，有時難以 適當(dāng)?shù)剡M行開關(guān)鍵頂部（601)的按下判定。
[0031] 鑒于以上的情況，發(fā)明人考慮到，不設(shè)置因開關(guān)鍵頂部與開關(guān)鍵底部之間的相對 位移操作而產(chǎn)生負(fù)荷的布線，而使用電磁感應(yīng)的作用來進行開關(guān)鍵頂部的按下檢測即可， 從而得到了本發(fā)明的開關(guān)裝置。
[0032] 以下參照【專利附圖】
【附圖說明】本發(fā)明的實施方式。
[0033] < 1.實施方式1 >
[0034] 例如如圖1所示，本實施方式1的開關(guān)裝置100搭載于便攜終端10。
[0035] 圖2是開關(guān)裝置100的概略圖。
[0036] 開關(guān)裝置100具備開關(guān)鍵頂部101和開關(guān)鍵底部106。
[0037] [開關(guān)鍵頂部101的構(gòu)成]
[0038] 開關(guān)鍵頂部101例如是食指大小的呈四邊形狀的面板，如圖示那樣，在線圈彼此 適當(dāng)離開的狀態(tài)下，在內(nèi)部具備鍵頂部接收線圈103及鍵頂部發(fā)送線圈104。
[0039] 開關(guān)鍵頂部101例如使用絕緣樹脂的成型品。
[0040] 鍵頂部接收線圈103及鍵頂部發(fā)送線圈104為螺旋線圈，如圖3(a)所示，在基板 102上通過印刷形成。鍵頂部接收線圈103及鍵頂部發(fā)送線圈104的兩端通過連接圖案111 相互連接。
[0041] 在開關(guān)鍵頂部101的下表面中央突設(shè)有軸棒105。該軸棒105在后述的開關(guān)鍵底 部106的孔115中滑動自如地插通。
[0042] [開關(guān)鍵底部106的構(gòu)成]
[0043] 如圖2所示，開關(guān)鍵底部106是便攜終端10的本體部自身或設(shè)置于便攜終端10 的本體部的開關(guān)基座，在上表面開設(shè)有能夠承接開關(guān)鍵頂部101的方形的凹部107。
[0044] 在凹部107的中央形成有供開關(guān)鍵頂部101的軸棒105插通的孔115。
[0045] 如圖3(b)所示，在孔115內(nèi)配置有盤簧117。此外，在孔115的周壁的一部分沿上 下方向形成有鍵槽115a。與該鍵槽115a相對應(yīng)，在開關(guān)鍵頂部101的軸棒105周部形成有 球狀的突起l〇5a。
[0046] 通過將球狀的突起105a嵌入鍵槽115a，在開關(guān)鍵頂部101被進行按下操作時，突 起115a在鍵槽105a內(nèi)被引導(dǎo)，開關(guān)鍵頂部101不會隨便旋轉(zhuǎn)。
[0047] 如圖3(b)中箭頭引出表示的平面視圖所示，突起105a由設(shè)置于軸棒105內(nèi)的盤 簧向突出方向彈性施力。此外，鍵槽115a形成為不到達(dá)孔115的上端，也就是說，在孔115 的上端不存在鍵槽115a。
[0048] 之所以采用對突起105a進行彈性施力的構(gòu)成，是因為在將開關(guān)鍵頂部101安裝到 開關(guān)鍵底部106時，能夠使突起105a退回到軸棒105內(nèi)而插入到孔115內(nèi)。另一方面，一 旦組裝完成后，突起l〇5a向鍵槽115a內(nèi)突出，所以不能從孔115容易地拔出。
[0049] 圖3(c)表示開關(guān)鍵頂部101沒有被進行按下操作時的開關(guān)鍵頂部101與開關(guān)鍵 底部106的位置關(guān)系，圖3 (d)是表示開關(guān)鍵頂部101被按下操作到最下端時的開關(guān)鍵頂部 101與開關(guān)鍵底部106的位置關(guān)系。
[0050] 再次參照圖2來進行說明。
[0051] 在開關(guān)鍵底部106的凹部107底面，與開關(guān)鍵頂部101的鍵頂部接收線圈103和 鍵頂部發(fā)送線圈104分別對應(yīng)地埋設(shè)有鍵底部發(fā)送線圈108和鍵底部接收線圈109。
[0052] 鍵底部發(fā)送線圈108與設(shè)置于開關(guān)鍵底部106內(nèi)的電流供給部120連接，鍵底部 接收線圈109與AD轉(zhuǎn)換部130連接。
[0053] 電流供給部120例如使用PLL等相位同步電路，生成規(guī)定頻率的交流電流，并向鍵 底部發(fā)送線圈108供給該交流電流。
[0054] AD轉(zhuǎn)換部130將由于電磁感應(yīng)作用而在鍵底部接收線圈109中感應(yīng)出的感應(yīng)電流 變換為數(shù)字值。
[0055] 判定部140將判定按下狀態(tài)時成為基準(zhǔn)的閾值i及閾值ii與從AD轉(zhuǎn)換部130得 到的數(shù)字值進行比較，從而判定開關(guān)鍵頂部101的按下狀態(tài)。
[0056] 另外，在圖示例中，電流供給部120、AD轉(zhuǎn)換部130及判定部140設(shè)置于開關(guān)鍵底 部106,但是也可以裝入便攜終端10內(nèi)的半導(dǎo)體集成電路。
[0057] [動作]
[0058] 圖4是開關(guān)裝置100的動作示意圖。
[0059] 首先，電流供給部120向鍵底部發(fā)送線圈108供給電流，從而在鍵底部發(fā)送線圈 108中產(chǎn)生磁場。
[0060] 開關(guān)鍵頂部未被按下時（圖4(a))，鍵頂部接收線圈103與鍵底部發(fā)送線圈108、 鍵頂部發(fā)送線圈104與鍵底部接收線圈109都沒有向接近方向位移，所以不產(chǎn)生感應(yīng)電流。
[0061] 另一方面，開關(guān)鍵頂部101被按下后（圖4(b))，鍵頂部接收線圈103與鍵底部發(fā) 送線圈108、鍵頂部發(fā)送線圈104與鍵底部接收線圈109分別向接近方向位移，所以產(chǎn)生感 應(yīng)電動勢。
[0062] 詳細(xì)地說，通過開關(guān)鍵頂部101的按下，鍵頂部接收線圈103和鍵底部發(fā)送線圈 108的相對位置關(guān)系越變化，鍵頂部接收線圈103與鍵底部發(fā)送線圈108之間的交鏈的磁 通量越大地變化，在鍵頂部接收線圈103中產(chǎn)生越大的感應(yīng)電動勢。這時，由于鍵頂部接收 線圈103和鍵底部發(fā)送線圈104相互連接，所以通過產(chǎn)生的感應(yīng)電動勢而在鍵頂部發(fā)送線 圈104中流動電流。然后，通過該電流產(chǎn)生的磁力線與鍵底部接收線圈109交鏈，在該線圈 109中產(chǎn)生感應(yīng)電動勢。通過該電動勢，在AD轉(zhuǎn)換部130的輸入電路中流動電流，輸出與其 模擬值相應(yīng)的數(shù)字值。
[0063] 判定部140將在判定按下狀態(tài)時成為基準(zhǔn)的閾值i及閾值ii與從AD轉(zhuǎn)換130得 到的數(shù)字值進行比較，判定開關(guān)鍵頂部101的按下狀態(tài)。
[0064] 圖5是說明判定部140的動作的流程圖。
[0065] 判定部140在從AD轉(zhuǎn)換130得到的數(shù)字值低于閾值i時（S11 :否），判定為開關(guān)鍵 頂部101沒有被按下（S12)。另一方面，閾值i以上且低于閾值ii時（S11 :是，S13 :否）， 判定為開關(guān)鍵頂部101被半按下（S14)。閾值ii以上時（S11 :是，S13 :是），判定為開關(guān)鍵 頂部101被全按下（S15)。
[0066][在鍵底部接收線圈109中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的例子]
[0067] 圖6表示伴隨著開關(guān)鍵頂部101的操作和非操作而在鍵底部接收線圈109中產(chǎn)生 的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過。
[0068] 從時刻t0到時刻t2,發(fā)送線圈與接收線圈之間的交鏈的磁通量不變化，在鍵底部 接收線圈109中不產(chǎn)生感應(yīng)電流。另一方面，從時刻t2到時刻t5,發(fā)送線圈與接收線圈之 間的交鏈的磁通量變化，產(chǎn)生閾值i以上且低于ii的感應(yīng)電流。此外，從時刻t5到時刻 t9,發(fā)送線圈與接收線圈之間的交鏈的磁通量更大地變化，產(chǎn)生閾值ii以上的感應(yīng)電流。
[0069] [補充]
[0070] 在上述實施方式中，鍵底部接收線圈103與鍵底部發(fā)送線圈104的間隔，需要適當(dāng) 地分離以不產(chǎn)生串?dāng)_。但是，即使產(chǎn)生些許串?dāng)_，通過適當(dāng)?shù)卦O(shè)定判定部140的閾值的大 小，能夠避免其影響。
[0071] 此外，電源供給部120向鍵底部發(fā)送線圈108供給周期性變化的電流，所以即使開 關(guān)未被按下時，通過對應(yīng)的發(fā)送線圈與接收線圈之間的交鏈的磁通量的變化，有時也會產(chǎn) 生微量的感應(yīng)電流。但是，由于是微量的，所以不會妨礙判定部140判定按下狀態(tài)。
[0072] < 2.實施方式2 >
[0073] 在實施方式1中，公開了判定一點的按下狀態(tài)的開關(guān)裝置。但是，在開關(guān)裝置中， 還有所謂十字鍵那樣的能夠判定多點的按下狀態(tài)的開關(guān)裝置。在本實施方式2中，公開這 樣的能夠判定多點的按下狀態(tài)的開關(guān)裝置。
[0074] [構(gòu)成]
[0075] 圖7表示實施方式2的開關(guān)裝置200。201是開關(guān)鍵頂部，206是開關(guān)鍵底部。
[0076] 開關(guān)鍵頂部201是十字鍵，具備沿X軸方向和Y軸方向延伸的端部A、B、C、D。在 各端部A、B、C、D設(shè)有與實施方式1所示的開關(guān)鍵頂部相同構(gòu)成的、將鍵頂部發(fā)送線圈和鍵 頂部接收線圈相互連接的線圈圖案al、bl、cl、dl。
[0077] 在開關(guān)鍵底部206穿設(shè)有與開關(guān)鍵頂部201的形狀相輔的形狀的凹部207。在與 開關(guān)鍵頂部201的各端部A、B、C、D對應(yīng)的凹部207底面的規(guī)定位置設(shè)置有盤簧217a、b、 c、d。通過該盤簧217a、b、c、d，開關(guān)鍵頂部201被保持為從凹部207底面浮起的狀態(tài)。此 夕卜，在凹部207的中央設(shè)置有圓錐形的突起208。該突起208與開關(guān)鍵頂部201的中央部抵 接，在開關(guān)鍵頂部201的某一個端部A、B、C、D被按下時，起到防止其他端部同時下降的作 用。但是，在需要使全部端部A、B、C、D同時下降而全部開關(guān)成為接通狀態(tài)的情況下，不需 要該突起209。
[0078] 在開關(guān)鍵底部的凹部207的底面，埋設(shè)有與開關(guān)鍵頂部201的各端部A、B、C、D的 鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈分別對應(yīng)的鍵底部發(fā)送線圈a2、b2、c2、d2和鍵底部接 收線圈 a3、b3、c3、d3。
[0079] 各鍵底部發(fā)送線圈&242、(：2、(12連接著與實施方式1同樣的電流供給部，各鍵底 部接收線圈a3、b3、c3、d3單獨地連接著與實施方式1同樣的AD轉(zhuǎn)換部、判定部。
[0080] 因此，根據(jù)上述開關(guān)裝置200,在4個判定部中，基于4個鍵底部接收線圈a3、b3、 c3、d3中分別產(chǎn)生的感應(yīng)電流，單獨地判定開關(guān)鍵頂部的各端部A、B、C、D的按下狀態(tài)。
[0081] 相對于開關(guān)鍵頂部的端部A、B、C、D各自的按下操作的、開關(guān)裝置200的動作，與 實施方式1的開關(guān)裝置100的動作同樣，因此省略說明。
[0082] [開關(guān)裝置200的判定例]
[0083] 圖8表示伴隨著開關(guān)鍵頂部201的端部A、B、C、D各自的按下操作而在鍵底部接 收線圈a3、b3、c3、d3中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過。
[0084] 在圖8中，例如從時刻t0到時刻t4,在鍵底部接收線圈a3中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的數(shù) 字值為閾值i以上，所以判定為端部A被按下。這時，在其他鍵底部接收線圈b3、c3、d3中 分別產(chǎn)生的感應(yīng)電流的數(shù)字值低于閾值i，所以判定為端部B、C、D沒有被按下。此外，例如 從時刻t7到時刻tlO,在鍵底部接收線圈a3、d3中分別產(chǎn)生的感應(yīng)電流的數(shù)字值均為閾值 i以上，所以判定為端部A、D同時被按下。
[0085] < 3.實施方式3 >
[0086] 實施方式1、2是開關(guān)鍵頂部被進行按下操作的構(gòu)成，但是在本實施方式3中，采用 開關(guān)鍵頂部被進行旋轉(zhuǎn)操作的構(gòu)成。通過旋轉(zhuǎn)，開關(guān)鍵頂部的線圈與開關(guān)鍵底部的線圈的 距離也變化，所以產(chǎn)生感應(yīng)電流，能夠進行通斷判定。但是，由于開關(guān)鍵頂部旋轉(zhuǎn)，所以能夠 進行旋轉(zhuǎn)角的檢測這一特有的檢測動作。
[0087] [構(gòu)成]
[0088] 圖9表示實施方式3中的開關(guān)裝置400。401是開關(guān)鍵頂部，406是開關(guān)鍵底部。
[0089] 開關(guān)鍵頂部401在其下表面中央具有軸棒405,將該軸棒405旋轉(zhuǎn)自如地嵌入到形 成于開關(guān)鍵底部406的凹部407底面中央的軸孔415。關(guān)于旋轉(zhuǎn)構(gòu)造，與以往的轉(zhuǎn)子開關(guān)同 樣，因此省略詳細(xì)的說明。
[0090] 在開關(guān)鍵頂部401，在從其中心偏心的位置設(shè)置有與實施方式1所不的開關(guān)鍵頂 部同樣構(gòu)成的、將鍵頂部接收線圈si及鍵頂部發(fā)送線圈s2相互連接的1組線圈圖案。
[0091] 在開關(guān)鍵底部406,在距離軸孔415的中心的偏心量與鍵頂部接收線圈si和鍵頂 部發(fā)送線圈s2距離軸孔415的中心的偏心量相同的位置，沿周方向以大致90度的間隔設(shè) 置有鍵底部發(fā)送線圈a4、b4、c4、d4和鍵底接收線圈a5、b5、c5、d5。
[0092] 此外，鍵底部發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈的各組中的、接收線圈和發(fā)送線圈的位 置關(guān)系，與開關(guān)鍵頂部的接收線圈si和發(fā)送線圈s2的位置關(guān)系同樣。
[0093] 與實施方式2同樣，各鍵底部發(fā)送線圈a4、b4、c4、d4連接著電流供給部，各鍵底 部接收線圈a5、b5、c5、d5分別單獨地連接著AD轉(zhuǎn)換部、判定部。
[0094] [動作]
[0095] 根據(jù)上述構(gòu)成的開關(guān)裝置400,對開關(guān)鍵頂部401進行旋轉(zhuǎn)操作時，鍵頂部接收線 圈si和鍵頂部發(fā)送線圈s2分別與開關(guān)鍵底部的某一組鍵底發(fā)送線圈和鍵底接收線圈接 近。由于接近而磁耦合變強，產(chǎn)生感應(yīng)電流?；谠谀膫€鍵底部接收線圈中產(chǎn)生感應(yīng)電流， 判定開關(guān)鍵頂部401的旋轉(zhuǎn)位置。
[0096][開關(guān)裝置400的判定例]
[0097] 圖10表示伴隨著開關(guān)鍵頂部401旋轉(zhuǎn)操作而在鍵底部接收線圈a5、b5、c5、d5中 產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過。
[0098] 在圖10中，從時刻t0到時刻t3,在鍵底部接收線圈a5中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng) 電流，從時刻t4到時刻t7,在鍵底部接收線圈d5中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng)電流，從時刻t8 到時刻tll，在鍵底部接收線圈c5中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng)電流。基于此，判定為開關(guān)鍵頂 部401從時刻t0到til沿順時針被進行了 180度旋轉(zhuǎn)操作。
[0099] < 4.變形例 >
[0100] 在本發(fā)明的技術(shù)思想的范圍內(nèi)，能夠在上述實施方式的構(gòu)成以外實施。以下例舉 這樣的例子。
[0101] [1]上述實施方式的開關(guān)裝置，在其構(gòu)成中具備AD轉(zhuǎn)換部，在判定部中使用由AD 轉(zhuǎn)換部數(shù)字化的、在鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的電流值，判定開關(guān)鍵頂部的相對 位移操作狀態(tài)，但是也可以將AD轉(zhuǎn)換部除去，在判定部中直接使用在鍵底部接收線圈中產(chǎn) 生的感應(yīng)電流的模擬值來判定開關(guān)鍵頂部的相對位移操作狀態(tài)。
[0102] [2]在上述實施方式的開關(guān)裝置中，發(fā)送線圈及接收線圈印刷在基板上，但是也可 以使用繞線型或?qū)臃e型等各種各樣的線圈。近年來，將線圈小型化的技術(shù)廣泛研究，例如開 發(fā)了使用鐵素體的層積陶瓷線圈或繞線型微線圈等小型線圈。當(dāng)然能夠通過這些構(gòu)成來實 施本發(fā)明。
[0103] [3]在上述實施方式的開關(guān)裝置中，電流供給部例如在搭載了開關(guān)裝置的設(shè)備處 于睡眠狀態(tài)或鎖定狀態(tài)的情況下，也可以不向鍵底部發(fā)送線圈供給電流。這樣，根據(jù)搭載開 關(guān)裝置的設(shè)備的模式來控制電流的供給，從而實現(xiàn)了搭載開關(guān)裝置的設(shè)備的節(jié)電化。
[0104] [4]在上述實施方式的開關(guān)裝置中，電流供給部例如使用PLL等相位同步電路，但 是不限于相位同步電路，也可以使用各種電流發(fā)生電路。向鍵底部發(fā)送線圈供給的電流可 以不是由相位同步電路生成的一定周期的高速信號，只要是任意的判定間隔的一半以下的 周期的信號即可。
[0105] [5]在上述實施方式2的開關(guān)裝置200中，單獨地判定開關(guān)鍵頂部201的端部A、 B、C、D各自的按下狀態(tài)，但是不限于此，判定部也可以綜合地判定開關(guān)鍵頂部201的按下狀 態(tài)。例如也可以是，在鍵底部接收線圈a3中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng)電流緊之后，在鍵底部 接收線圈c3中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng)電流時，判定為開關(guān)鍵頂部201被從端部A向端部C 的方向被按下。
[0106] [6]上述實施方式2的開關(guān)裝置200為十字鍵開關(guān)，但是不限于此，開關(guān)鍵頂部的 形狀可以是各種形狀。此外，能夠判定開關(guān)鍵頂部的任意位置的按下狀態(tài)。
[0107] [7]在上述實施方式2中，舉出了使用一個閾值i的開關(guān)鍵頂部201的各端部A、 B、C、D的按下判定例。開關(guān)裝置200不限于此，也可以像上述實施方式1的開關(guān)裝置100 那樣，使用多個閾值來判定與各端部A、B、C、D的按入量對應(yīng)的多個按下狀態(tài)。
[0108] [8]在上述實施方式3的開關(guān)裝置400中，作為開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部的相對位 置位移操作的一例，舉出了轉(zhuǎn)動操作的例子，但例如也可以是，采用能夠?qū)﹂_關(guān)鍵頂部進行 滑動移動操作的構(gòu)造，判定開關(guān)鍵頂部的滑動移動狀態(tài)。具體地說，在開關(guān)鍵底部，將鍵底 部送接收線圈配置在滑動移動操作線上，基于在鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定 鍵頂部發(fā)送線圈的位置，從而能夠判定開關(guān)鍵頂部的滑動移動操作。
[0109] [9]在上述實施方式3的開關(guān)裝置400中，采用了將發(fā)送線圈和接收線圈的組在開 關(guān)鍵頂部設(shè)置一組、在開關(guān)鍵底部設(shè)置4組的構(gòu)造，但是也可以根據(jù)所判定的開關(guān)鍵頂部 和開關(guān)鍵底部的相對位移操作而將發(fā)送線圈和接收線圈的組在開關(guān)鍵頂部設(shè)置多組，也可 以在開關(guān)鍵底部設(shè)置1組。
[0110] [10]各實施方式都具備一個開關(guān)鍵頂部，但是不限于此，也可以具備多個開關(guān)鍵 頂部，分別判定各開關(guān)鍵頂部的相對位移狀態(tài)。進而，除了單獨地判定各開關(guān)鍵頂部的相對 位移狀態(tài)之外，也可以通過由各開關(guān)鍵頂部的操作產(chǎn)生的電流值的組合來綜合地判定開關(guān) 的操作狀態(tài)。
[0111] [11]可以在各種電子設(shè)備中搭載上述實施方式的開關(guān)裝置。例如，作為智能手機 等便攜終端或平板終端的起始鍵，可以使用上述實施方式的開關(guān)裝置。此外，例如如圖12 所示，靜態(tài)攝像機的快門鍵700-1、攝像機的拍攝鍵或縮放鍵（700-2、700-3)等可以使用上 述各實施方式的開關(guān)裝置。
[0112] < 5.補充>
[0113] 以下說明作為本發(fā)明的一個實施方式的開關(guān)裝置的構(gòu)成及變形例的效果。
[0114] (A)本發(fā)明的一個實施方式的開關(guān)裝置的特征在于，開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部相 對位移自如地被設(shè)置，所述開關(guān)鍵頂部具備相互連接的鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線 圈，所述開關(guān)鍵底部具備：鍵底部發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈，該鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置在 該鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述 開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位，該鍵底部接收線圈被設(shè)置在該鍵底部接收 線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之 間的相對位移操作而變化的部位；電流供給部，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流；以及判 定部，基于所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流來判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂 部之間的相對位移。
[0115] 通過該構(gòu)成，實施方式（A)的開關(guān)裝置不設(shè)置因開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部之間的 相對位移操作而產(chǎn)生負(fù)荷的布線，利用電磁感應(yīng)作用能夠判定開關(guān)鍵頂部的操作狀態(tài)。因 此，實施方式（A)的開關(guān)裝置大幅提高了其耐久性，并且容易向防水設(shè)備安裝。
[0116] (B)在所述實施方式（A)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述開關(guān)鍵底部還具備將所述 感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化的AD轉(zhuǎn)換部，所述判定部將進行所述判定時成為基準(zhǔn)的閾值與 由所述AD轉(zhuǎn)換部數(shù)字化的所述感應(yīng)電流的電流值進行比較，判定所述開關(guān)鍵底部與所述 開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0117] 通過該構(gòu)成，實施方式（B)的開關(guān)裝置能夠更準(zhǔn)確地判定開關(guān)鍵頂部的操作狀 態(tài)。
[0118] (C)在所述實施方式（B)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述相對位移操作是按下操 作、旋轉(zhuǎn)操作或滑動移動操作。
[0119] (D)在所述實施方式（C)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述閾值是第一閾值和比第一 閾值大的第二閾值，所述判定部將所述第一閾值及所述第二閾值與所述電流值進行比較， 判定與所述按下操作的按入量相應(yīng)的、所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位 移。
[0120] 通過該構(gòu)成，實施方式（D)的開關(guān)裝置能夠根據(jù)開關(guān)鍵頂部的按入量來判定多個 按下狀態(tài)。
[0121] (E)在所述實施方式（D)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述電流供給部在搭載了開關(guān) 裝置的設(shè)備處于輸入等待狀態(tài)的情況下，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流，在搭載了開關(guān) 裝置的所述設(shè)備不是輸入等待狀態(tài)的情況下，不向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流。
[0122] 通過該構(gòu)成，電流供給部能夠根據(jù)所述設(shè)備的模式來控制電流的供給，能夠?qū)崿F(xiàn) 所述設(shè)備的節(jié)電化。
[0123] (F)在所述實施方式（A)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述開關(guān)鍵底部具備多個鍵底 部發(fā)送線圈和多個鍵底部接收線圈，該多個鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置于該多個鍵底部發(fā)送線 圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間 的相對位移操作而變化的部位，該多個鍵底部接收線圈被設(shè)置于該多個鍵底部接收線圈與 所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相 對位移操作而變化的部位，所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流，所述判定 部基于在各所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂 部之間的相對位移。
[0124] 通過該構(gòu)成，實施方式（F)的開關(guān)裝置能夠判定更多樣的操作狀態(tài)。
[0125] (G)在所述實施方式（C)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述開關(guān)鍵底部具備多個鍵底 部發(fā)送線圈和多個鍵底部接收線圈，該多個鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置于該多個鍵底部發(fā)送線 圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間 的相對位移操作而變化的部位，該多個鍵底部接收線圈被設(shè)置于該多個鍵底部接收線圈與 所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相 對位移操作而變化的部位，所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流，所述ADR 換部將各所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化，所述判定部將進行 所述判定時成為基準(zhǔn)的閾值與數(shù)字化的各所述鍵底部接收線圈中的所述感應(yīng)電流的電流 值進行比較，判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0126] 通過該構(gòu)成，實施方式（G)的開關(guān)裝置能夠更準(zhǔn)確地判定多種多樣的操作狀態(tài)。
[0127] (Η)在所述實施方式㈧的開關(guān)裝置中，也可以是，所述相對位移操作是按下操 作，所述開關(guān)鍵頂部在與所述按下操作對應(yīng)的各位置具備相互連接的所述鍵頂部接收線圈 及鍵頂部發(fā)送線圈，所述開關(guān)鍵底部具備各鍵底部發(fā)送線圈和各鍵底部接收線圈，各鍵底 部發(fā)送線圈被設(shè)置于各鍵底部發(fā)送線圈與各所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的部位，各鍵底部接收線圈被設(shè) 置于各鍵底部接收線圈與各所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部 與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的部位，所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線 圈供給電流，所述判定部基于該鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定該位置的所述按 下操作導(dǎo)致的、所述開關(guān)鍵底部與開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0128] 通過該構(gòu)成，實施方式（Η)的開關(guān)裝置能夠判定例如十字鍵那樣的、開關(guān)鍵頂部 的各種按下位置的按下狀態(tài)。此外，實施方式（Η)的開關(guān)裝置，通過產(chǎn)生感應(yīng)電流的鍵底部 接收線圈的組合，例如能夠判定開關(guān)鍵頂部被斜向按下等、開關(guān)鍵頂部的綜合的按下狀態(tài)。
[0129] (I)在所述實施方式（Ε)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述開關(guān)鍵頂部在與所述按下 操作對應(yīng)的各位置具備相互連接的所述鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈，所述開關(guān)鍵底 部具備各鍵底部發(fā)送線圈和各鍵底接收線圈，各鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置于各鍵底部發(fā)送線 圈與各所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之 間的按下操作而變化的部位，各鍵底接收線圈被設(shè)置于各鍵底接收線圈與各所述鍵頂部發(fā) 送線圈的相對位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的 部位，所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流，所述AD轉(zhuǎn)換部將各所述鍵底部 接收線圈中產(chǎn)生的所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化，所述判定部將所述第一閾值及所述第二 閾值與數(shù)字化的該電流值進行比較，判定該位置的所述按下操作導(dǎo)致的、所述開關(guān)鍵底部 與開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0130] 通過該構(gòu)成，實施方式（I)的開關(guān)裝置能夠判定例如十字鍵那樣的、開關(guān)鍵頂部 的各種按下位置的與按入量相應(yīng)的按下狀態(tài)。此外，實施方式（I)的開關(guān)裝置通過產(chǎn)生感 應(yīng)電流的鍵底部接收的組合，例如能夠判定開關(guān)鍵頂部被斜向按下等、開關(guān)鍵頂部的綜合 的按下狀態(tài)。此外，實施方式（I)的開關(guān)裝置通過鍵底部接收線圈分別產(chǎn)生的感應(yīng)電流的 電流值的組合，也能夠判定開關(guān)鍵頂部的綜合的按下狀態(tài)。
[0131] (J)在所述實施方式（F)?⑴的開關(guān)裝置中，也可以是，具備多個所述開關(guān)鍵頂 部，判定部判定與所述各開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0132] 通過該構(gòu)成，實施方式（J)的開關(guān)裝置不僅能夠單獨地判定多個開關(guān)鍵頂部各自 的操作狀態(tài)，還能夠通過產(chǎn)生感應(yīng)電流的鍵底接收線圈的組合或各鍵底接收線圈中產(chǎn)生的 感應(yīng)電流的電流值的組合或其雙方，來綜合地判定實施方式（J)的開關(guān)裝置的各種操作狀 態(tài)。
[0133] (Κ)本發(fā)明的一實施方式的電子設(shè)備，具備所述實施方式（Α)?（J)的任一個的開 關(guān)裝置。
[0134] 通過該構(gòu)成，實施方式（Κ)的電子設(shè)備能夠大幅提高開關(guān)的耐久性。
[0135] 產(chǎn)業(yè)上的可利用性
[0136] 本發(fā)明的開關(guān)裝置，不設(shè)置因開關(guān)鍵頂部與開關(guān)鍵底部之間的相對位移操作而產(chǎn) 生負(fù)荷的布線，使用電磁感應(yīng)作用來判定開關(guān)鍵頂部的按下狀態(tài)，所以能夠大幅提高其耐 久性。因此，在開關(guān)的使用頻度高的設(shè)備或需要高耐久性的設(shè)備中是有用的。
[0137] 符號的說明：
[0138] 10便攜終端
[0139] 100、200、400 開關(guān)裝置
[0140] 101、201、401 開關(guān)鍵頂部
[0141] 102 基板
[0142] 103鍵頂部接收線圈
[0143] 104鍵頂部發(fā)送線圈
[0144] 105 軸棒
[0145] 105a、208 突起
[0146] 106、206、406 開關(guān)鍵底部
[0147] 107、207、407 凹部
[0148] 108鍵底部發(fā)送線圈
[0149] 109鍵底部接收線圈
[0150] 111連接圖案
[0151] 115、415 孔
[0152] 115a 鍵槽
[0153] 117、217 盤簧
[0154] 120電流供給部
[0155] 130 AD 轉(zhuǎn)換部
[0156] 140判定部
[0157] 601開關(guān)鍵頂部
[0158] 602 線圈 A
[0159] 603電流發(fā)生電路
[0160] 604 線圈 B
[0161] 605電流檢測電路
[0162] 700-1、700-2、700_3 開關(guān)裝置
[0163] al、bl、cl、dl 線圈圖案
[0164] a2、b2、c2、d2、a4、b4、c4、d4 鍵底部發(fā)送線圈
[0165] a3、b3、c3、d3、a5、b5、c5、d5 鍵底部接收線圈
[0166] si鍵頂部接收線圈
[0167] s2鍵頂部發(fā)送線圈
【權(quán)利要求】
1. 一種開關(guān)裝置，其特征在于， 開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部相對位移自如地被設(shè)置， 所述開關(guān)鍵頂部具備相互連接的鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈， 所述開關(guān)鍵底部具備： 鍵底部發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈，該鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置在該鍵底部發(fā)送線圈與 所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相 對位移操作而變化的部位，該鍵底部接收線圈被設(shè)置在該鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā) 送線圈相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變 化的部位； 電流供給部，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流；以及 判定部，基于所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流來判定所述開關(guān)鍵底部與所述開 關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
2. 如權(quán)利要求1所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述開關(guān)鍵底部還具備將所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化的AD轉(zhuǎn)換部， 所述判定部將進行所述判定時成為基準(zhǔn)的閾值與由所述AD轉(zhuǎn)換部數(shù)字化的所述感應(yīng) 電流的電流值進行比較，判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
3. 如權(quán)利要求2所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述相對位移操作是按下操作、旋轉(zhuǎn)操作或滑動移動操作。
4. 如權(quán)利要求3所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述閾值是第一閾值和比第一閾值大的第二閾值， 所述判定部將所述第一閾值及所述第二閾值與所述電流值進行比較，判定與所述按下 操作的按入量相應(yīng)的、所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
5. 如權(quán)利要求4所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述電流供給部在搭載了開關(guān)裝置的設(shè)備處于輸入等待狀態(tài)的情況下，向所述鍵底部 發(fā)送線圈供給電流，在搭載了開關(guān)裝置的所述設(shè)備不是輸入等待狀態(tài)的情況下，不向所述 鍵底部發(fā)送線圈供給電流。
6. 如權(quán)利要求1所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述開關(guān)鍵底部具備多個鍵底部發(fā)送線圈和多個鍵底部接收線圈，所述多個鍵底部發(fā) 送線圈被設(shè)置在所述多個鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位，所述多個鍵底部接 收線圈被設(shè)置在所述多個鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位， 所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流， 所述判定部基于在各所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定所述開關(guān)鍵底部與 所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
7. 如權(quán)利要求3所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述開關(guān)鍵底部具備多個鍵底部發(fā)送線圈和多個鍵底部接收線圈，所述多個鍵底部發(fā) 送線圈被設(shè)置在所述多個鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位，所述多個鍵底部接 收線圈被設(shè)置在所述多個鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位， 所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流， 所述AD轉(zhuǎn)換部將各所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化， 所述判定部將進行所述判定時成為基準(zhǔn)的閾值與數(shù)字化的各所述鍵底部接收線圈中 的所述感應(yīng)電流的電流值進行比較，判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位 移。
8. 如權(quán)利要求1所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述相對位移操作是按下操作， 所述開關(guān)鍵頂部在與所述按下操作對應(yīng)的各位置具備相互連接的所述鍵頂部接收線 圈及鍵頂部發(fā)送線圈， 所述開關(guān)鍵底部具備各鍵底部發(fā)送線圈和各鍵底部接收線圈，各鍵底部發(fā)送線圈被設(shè) 置在各鍵底部發(fā)送線圈與所述各鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部 與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的部位，各鍵底部接收線圈被設(shè)置在各鍵底部接 收線圈與所述各鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂 部之間的按下操作而變化的部位， 所述電流供給部向所述各鍵底部發(fā)送線圈供給電流， 所述判定部基于該鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定該位置的所述按下操作導(dǎo) 致的、所述開關(guān)鍵底部與開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
9. 如權(quán)利要求5所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述開關(guān)鍵頂部在與所述按下操作對應(yīng)的各位置具備相互連接的所述鍵頂部接收線 圈及鍵頂部發(fā)送線圈， 所述開關(guān)鍵底部具備各鍵底部發(fā)送線圈和各鍵底部接收線圈，各鍵底部發(fā)送線圈被設(shè) 置在各鍵底部發(fā)送線圈與所述各鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部 與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的部位，各鍵底部接收線圈被設(shè)置在各鍵底部接 收線圈與所述各鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂 部之間的按下操作而變化的部位， 所述電流供給部向所述各鍵底部發(fā)送線圈供給電流， 所述AD轉(zhuǎn)換部將所述各鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化， 所述判定部將所述第一閾值及所述第二閾值與數(shù)字化的該電流值進行比較，判定該位 置的所述按下操作導(dǎo)致的、所述開關(guān)鍵底部與開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
10. 如權(quán)利要求6?9中任一項所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 具備多個所述開關(guān)鍵頂部， 判定部判定所述開關(guān)鍵底部與各所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
11. 一種電子設(shè)備，其特征在于， 具備權(quán)利要求1?10中任一項所述的開關(guān)裝置。
【文檔編號】H01H13/00GK104067365SQ201380006137
【公開日】2014年9月24日 申請日期:2013年11月1日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月21日
【發(fā)明者】渡邊一弘, 石野公一, 中山武司, 石井雅博 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社
【專利摘要】本發(fā)明的目的在于提供耐久性高的開關(guān)裝置。本發(fā)明的開關(guān)裝置，開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部相對位移自如地被設(shè)置，所述開關(guān)鍵頂部具備相互連接的鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈，所述開關(guān)鍵底部具備：鍵底部發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈，該鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置在該鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位，該鍵底部接收線圈被設(shè)置在該鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位；電流供給部，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流；以及判定部，基于所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流來判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
【專利說明】無觸點開關(guān)裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及開關(guān)裝置，尤其涉及具備鍵頂部和鍵底部、且兩者相對位移自如地被 設(shè)置的開關(guān)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 作為這種開關(guān)裝置，以往有專利文獻1所記載的開關(guān)裝置。該開關(guān)裝置在開關(guān)鍵 頂部及開關(guān)鍵底部分別設(shè)置線圈，檢測通過按下開關(guān)鍵頂部而在開關(guān)鍵底部的線圈中產(chǎn)生 的感應(yīng)電位，進行開關(guān)鍵頂部的按下判定。這種開關(guān)裝置具有如下的優(yōu)點：不會產(chǎn)生使用物 理接觸的開關(guān)裝置中經(jīng)常出現(xiàn)的、由接觸銷的磨損或異物的附著引起的接觸不良。
[0003] 現(xiàn)有技術(shù)文獻
[0004] 專利文獻
[0005] 專利文獻1 :日本特開2000-311541號公報
[0006] 發(fā)明的概要
[0007] 發(fā)明所要解決的課題
[0008] 但是，專利文獻1的開關(guān)裝置通過布線將開關(guān)鍵頂部的線圈和電流供給部連接。 因此，隨著開關(guān)鍵頂部被反復(fù)按下，該布線磨損，有時難以正確地進行開關(guān)鍵頂部的按下判 定。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0009] 本發(fā)明是鑒于上述課題而做出的，其目的在于，提供一種耐久性高的開關(guān)裝置。
[0010] 解決課題所采用的技術(shù)手段
[0011] 本發(fā)明的開關(guān)裝置，開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部相對位移自如地被設(shè)置，所述開關(guān) 鍵頂部具備相互連接的鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈，所述開關(guān)鍵底部具備：鍵底部 發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈，該鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置在該鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部 接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作 而變化的部位，該鍵底部接收線圈被設(shè)置在該鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相 對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位； 電流供給部，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流；以及判定部，基于所述鍵底部接收線圈中產(chǎn) 生的感應(yīng)電流來判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0012] 發(fā)明的效果
[0013] 本發(fā)明的開關(guān)裝置，不設(shè)置因開關(guān)鍵頂部與開關(guān)鍵底部之間的相對位移操作而產(chǎn) 生負(fù)荷的布線，使用電磁感應(yīng)作用來判定開關(guān)鍵頂部的相對位移操作狀態(tài)，所以能夠提高 其耐久性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0014] 圖1是實施方式1的開關(guān)裝置100的搭載例。
[0015] 圖2是實施方式1的開關(guān)裝置100的概略圖。
[0016] 圖3(a)?（e)是用于說明實施方式1的開關(guān)裝置100的構(gòu)造的圖。
[0017] 圖4(a) (b)是實施方式1的開關(guān)裝置100的動作示意圖。
[0018] 圖5是說明實施方式1的判定部140的動作的流程圖。
[0019] 圖6是在實施方式1的鍵底部接收線圈109中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過的一 例。
[0020] 圖7是實施方式2的開關(guān)裝置200的概略圖。
[0021] 圖8是在實施方式2的各鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過的一例。
[0022] 圖9是實施方式3的開關(guān)裝置400的概略圖。
[0023] 圖10是在實施方式3的各鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過的一例。
[0024] 圖11 (a) (b)是專利文獻1的開關(guān)裝置的概略圖。
[0025] 圖12是開關(guān)裝置的安裝例。
【具體實施方式】
[0026] <得到發(fā)明的過程>
[0027] 在開關(guān)的使用頻度高的便攜電話等設(shè)備中，經(jīng)常因為開關(guān)裝置的故障而進行設(shè)備 的更換和修理，所以要求提供耐久性高的開關(guān)裝置。
[0028] -般的開關(guān)裝置，有檢測開關(guān)鍵頂部與開關(guān)鍵底部的物理接觸而進行開關(guān)鍵頂部 的按下檢測的開關(guān)裝置。該開關(guān)裝置隨著反復(fù)使用，由于接觸銷的磨損或異物的附著而存 在發(fā)生接觸不良的問題。
[0029] 另一方面，專利文獻1的開關(guān)裝置（圖11)由檢測電路（605)檢測通過按下設(shè)有線 圈A (602)的開關(guān)鍵頂部（601)而在線圈B (604)中產(chǎn)生的感應(yīng)電位，進行開關(guān)鍵頂部（601) 的按下判定。專利文獻1的開關(guān)裝置在鍵頂部的按下檢測中不使用物理接觸，所以不會發(fā) 生前述的接觸銷的磨損或異物的附著所導(dǎo)致的接觸不良。
[0030] 但是，專利文獻1的開關(guān)裝置通過布線來連接線圈A(602)和向線圈A(601)供給 電流的電流發(fā)生電路（603)。因此，隨著反復(fù)按下開關(guān)鍵頂部（601)，該布線磨損，有時難以 適當(dāng)?shù)剡M行開關(guān)鍵頂部（601)的按下判定。
[0031] 鑒于以上的情況，發(fā)明人考慮到，不設(shè)置因開關(guān)鍵頂部與開關(guān)鍵底部之間的相對 位移操作而產(chǎn)生負(fù)荷的布線，而使用電磁感應(yīng)的作用來進行開關(guān)鍵頂部的按下檢測即可， 從而得到了本發(fā)明的開關(guān)裝置。
[0032] 以下參照【專利附圖】
【附圖說明】本發(fā)明的實施方式。
[0033] < 1.實施方式1 >
[0034] 例如如圖1所示，本實施方式1的開關(guān)裝置100搭載于便攜終端10。
[0035] 圖2是開關(guān)裝置100的概略圖。
[0036] 開關(guān)裝置100具備開關(guān)鍵頂部101和開關(guān)鍵底部106。
[0037] [開關(guān)鍵頂部101的構(gòu)成]
[0038] 開關(guān)鍵頂部101例如是食指大小的呈四邊形狀的面板，如圖示那樣，在線圈彼此 適當(dāng)離開的狀態(tài)下，在內(nèi)部具備鍵頂部接收線圈103及鍵頂部發(fā)送線圈104。
[0039] 開關(guān)鍵頂部101例如使用絕緣樹脂的成型品。
[0040] 鍵頂部接收線圈103及鍵頂部發(fā)送線圈104為螺旋線圈，如圖3(a)所示，在基板 102上通過印刷形成。鍵頂部接收線圈103及鍵頂部發(fā)送線圈104的兩端通過連接圖案111 相互連接。
[0041] 在開關(guān)鍵頂部101的下表面中央突設(shè)有軸棒105。該軸棒105在后述的開關(guān)鍵底 部106的孔115中滑動自如地插通。
[0042] [開關(guān)鍵底部106的構(gòu)成]
[0043] 如圖2所示，開關(guān)鍵底部106是便攜終端10的本體部自身或設(shè)置于便攜終端10 的本體部的開關(guān)基座，在上表面開設(shè)有能夠承接開關(guān)鍵頂部101的方形的凹部107。
[0044] 在凹部107的中央形成有供開關(guān)鍵頂部101的軸棒105插通的孔115。
[0045] 如圖3(b)所示，在孔115內(nèi)配置有盤簧117。此外，在孔115的周壁的一部分沿上 下方向形成有鍵槽115a。與該鍵槽115a相對應(yīng)，在開關(guān)鍵頂部101的軸棒105周部形成有 球狀的突起l〇5a。
[0046] 通過將球狀的突起105a嵌入鍵槽115a，在開關(guān)鍵頂部101被進行按下操作時，突 起115a在鍵槽105a內(nèi)被引導(dǎo)，開關(guān)鍵頂部101不會隨便旋轉(zhuǎn)。
[0047] 如圖3(b)中箭頭引出表示的平面視圖所示，突起105a由設(shè)置于軸棒105內(nèi)的盤 簧向突出方向彈性施力。此外，鍵槽115a形成為不到達(dá)孔115的上端，也就是說，在孔115 的上端不存在鍵槽115a。
[0048] 之所以采用對突起105a進行彈性施力的構(gòu)成，是因為在將開關(guān)鍵頂部101安裝到 開關(guān)鍵底部106時，能夠使突起105a退回到軸棒105內(nèi)而插入到孔115內(nèi)。另一方面，一 旦組裝完成后，突起l〇5a向鍵槽115a內(nèi)突出，所以不能從孔115容易地拔出。
[0049] 圖3(c)表示開關(guān)鍵頂部101沒有被進行按下操作時的開關(guān)鍵頂部101與開關(guān)鍵 底部106的位置關(guān)系，圖3 (d)是表示開關(guān)鍵頂部101被按下操作到最下端時的開關(guān)鍵頂部 101與開關(guān)鍵底部106的位置關(guān)系。
[0050] 再次參照圖2來進行說明。
[0051] 在開關(guān)鍵底部106的凹部107底面，與開關(guān)鍵頂部101的鍵頂部接收線圈103和 鍵頂部發(fā)送線圈104分別對應(yīng)地埋設(shè)有鍵底部發(fā)送線圈108和鍵底部接收線圈109。
[0052] 鍵底部發(fā)送線圈108與設(shè)置于開關(guān)鍵底部106內(nèi)的電流供給部120連接，鍵底部 接收線圈109與AD轉(zhuǎn)換部130連接。
[0053] 電流供給部120例如使用PLL等相位同步電路，生成規(guī)定頻率的交流電流，并向鍵 底部發(fā)送線圈108供給該交流電流。
[0054] AD轉(zhuǎn)換部130將由于電磁感應(yīng)作用而在鍵底部接收線圈109中感應(yīng)出的感應(yīng)電流 變換為數(shù)字值。
[0055] 判定部140將判定按下狀態(tài)時成為基準(zhǔn)的閾值i及閾值ii與從AD轉(zhuǎn)換部130得 到的數(shù)字值進行比較，從而判定開關(guān)鍵頂部101的按下狀態(tài)。
[0056] 另外，在圖示例中，電流供給部120、AD轉(zhuǎn)換部130及判定部140設(shè)置于開關(guān)鍵底 部106,但是也可以裝入便攜終端10內(nèi)的半導(dǎo)體集成電路。
[0057] [動作]
[0058] 圖4是開關(guān)裝置100的動作示意圖。
[0059] 首先，電流供給部120向鍵底部發(fā)送線圈108供給電流，從而在鍵底部發(fā)送線圈 108中產(chǎn)生磁場。
[0060] 開關(guān)鍵頂部未被按下時（圖4(a))，鍵頂部接收線圈103與鍵底部發(fā)送線圈108、 鍵頂部發(fā)送線圈104與鍵底部接收線圈109都沒有向接近方向位移，所以不產(chǎn)生感應(yīng)電流。
[0061] 另一方面，開關(guān)鍵頂部101被按下后（圖4(b))，鍵頂部接收線圈103與鍵底部發(fā) 送線圈108、鍵頂部發(fā)送線圈104與鍵底部接收線圈109分別向接近方向位移，所以產(chǎn)生感 應(yīng)電動勢。
[0062] 詳細(xì)地說，通過開關(guān)鍵頂部101的按下，鍵頂部接收線圈103和鍵底部發(fā)送線圈 108的相對位置關(guān)系越變化，鍵頂部接收線圈103與鍵底部發(fā)送線圈108之間的交鏈的磁 通量越大地變化，在鍵頂部接收線圈103中產(chǎn)生越大的感應(yīng)電動勢。這時，由于鍵頂部接收 線圈103和鍵底部發(fā)送線圈104相互連接，所以通過產(chǎn)生的感應(yīng)電動勢而在鍵頂部發(fā)送線 圈104中流動電流。然后，通過該電流產(chǎn)生的磁力線與鍵底部接收線圈109交鏈，在該線圈 109中產(chǎn)生感應(yīng)電動勢。通過該電動勢，在AD轉(zhuǎn)換部130的輸入電路中流動電流，輸出與其 模擬值相應(yīng)的數(shù)字值。
[0063] 判定部140將在判定按下狀態(tài)時成為基準(zhǔn)的閾值i及閾值ii與從AD轉(zhuǎn)換130得 到的數(shù)字值進行比較，判定開關(guān)鍵頂部101的按下狀態(tài)。
[0064] 圖5是說明判定部140的動作的流程圖。
[0065] 判定部140在從AD轉(zhuǎn)換130得到的數(shù)字值低于閾值i時（S11 :否），判定為開關(guān)鍵 頂部101沒有被按下（S12)。另一方面，閾值i以上且低于閾值ii時（S11 :是，S13 :否）， 判定為開關(guān)鍵頂部101被半按下（S14)。閾值ii以上時（S11 :是，S13 :是），判定為開關(guān)鍵 頂部101被全按下（S15)。
[0066][在鍵底部接收線圈109中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的例子]
[0067] 圖6表示伴隨著開關(guān)鍵頂部101的操作和非操作而在鍵底部接收線圈109中產(chǎn)生 的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過。
[0068] 從時刻t0到時刻t2,發(fā)送線圈與接收線圈之間的交鏈的磁通量不變化，在鍵底部 接收線圈109中不產(chǎn)生感應(yīng)電流。另一方面，從時刻t2到時刻t5,發(fā)送線圈與接收線圈之 間的交鏈的磁通量變化，產(chǎn)生閾值i以上且低于ii的感應(yīng)電流。此外，從時刻t5到時刻 t9,發(fā)送線圈與接收線圈之間的交鏈的磁通量更大地變化，產(chǎn)生閾值ii以上的感應(yīng)電流。
[0069] [補充]
[0070] 在上述實施方式中，鍵底部接收線圈103與鍵底部發(fā)送線圈104的間隔，需要適當(dāng) 地分離以不產(chǎn)生串?dāng)_。但是，即使產(chǎn)生些許串?dāng)_，通過適當(dāng)?shù)卦O(shè)定判定部140的閾值的大 小，能夠避免其影響。
[0071] 此外，電源供給部120向鍵底部發(fā)送線圈108供給周期性變化的電流，所以即使開 關(guān)未被按下時，通過對應(yīng)的發(fā)送線圈與接收線圈之間的交鏈的磁通量的變化，有時也會產(chǎn) 生微量的感應(yīng)電流。但是，由于是微量的，所以不會妨礙判定部140判定按下狀態(tài)。
[0072] < 2.實施方式2 >
[0073] 在實施方式1中，公開了判定一點的按下狀態(tài)的開關(guān)裝置。但是，在開關(guān)裝置中， 還有所謂十字鍵那樣的能夠判定多點的按下狀態(tài)的開關(guān)裝置。在本實施方式2中，公開這 樣的能夠判定多點的按下狀態(tài)的開關(guān)裝置。
[0074] [構(gòu)成]
[0075] 圖7表示實施方式2的開關(guān)裝置200。201是開關(guān)鍵頂部，206是開關(guān)鍵底部。
[0076] 開關(guān)鍵頂部201是十字鍵，具備沿X軸方向和Y軸方向延伸的端部A、B、C、D。在 各端部A、B、C、D設(shè)有與實施方式1所示的開關(guān)鍵頂部相同構(gòu)成的、將鍵頂部發(fā)送線圈和鍵 頂部接收線圈相互連接的線圈圖案al、bl、cl、dl。
[0077] 在開關(guān)鍵底部206穿設(shè)有與開關(guān)鍵頂部201的形狀相輔的形狀的凹部207。在與 開關(guān)鍵頂部201的各端部A、B、C、D對應(yīng)的凹部207底面的規(guī)定位置設(shè)置有盤簧217a、b、 c、d。通過該盤簧217a、b、c、d，開關(guān)鍵頂部201被保持為從凹部207底面浮起的狀態(tài)。此 夕卜，在凹部207的中央設(shè)置有圓錐形的突起208。該突起208與開關(guān)鍵頂部201的中央部抵 接，在開關(guān)鍵頂部201的某一個端部A、B、C、D被按下時，起到防止其他端部同時下降的作 用。但是，在需要使全部端部A、B、C、D同時下降而全部開關(guān)成為接通狀態(tài)的情況下，不需 要該突起209。
[0078] 在開關(guān)鍵底部的凹部207的底面，埋設(shè)有與開關(guān)鍵頂部201的各端部A、B、C、D的 鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈分別對應(yīng)的鍵底部發(fā)送線圈a2、b2、c2、d2和鍵底部接 收線圈 a3、b3、c3、d3。
[0079] 各鍵底部發(fā)送線圈&242、(：2、(12連接著與實施方式1同樣的電流供給部，各鍵底 部接收線圈a3、b3、c3、d3單獨地連接著與實施方式1同樣的AD轉(zhuǎn)換部、判定部。
[0080] 因此，根據(jù)上述開關(guān)裝置200,在4個判定部中，基于4個鍵底部接收線圈a3、b3、 c3、d3中分別產(chǎn)生的感應(yīng)電流，單獨地判定開關(guān)鍵頂部的各端部A、B、C、D的按下狀態(tài)。
[0081] 相對于開關(guān)鍵頂部的端部A、B、C、D各自的按下操作的、開關(guān)裝置200的動作，與 實施方式1的開關(guān)裝置100的動作同樣，因此省略說明。
[0082] [開關(guān)裝置200的判定例]
[0083] 圖8表示伴隨著開關(guān)鍵頂部201的端部A、B、C、D各自的按下操作而在鍵底部接 收線圈a3、b3、c3、d3中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過。
[0084] 在圖8中，例如從時刻t0到時刻t4,在鍵底部接收線圈a3中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的數(shù) 字值為閾值i以上，所以判定為端部A被按下。這時，在其他鍵底部接收線圈b3、c3、d3中 分別產(chǎn)生的感應(yīng)電流的數(shù)字值低于閾值i，所以判定為端部B、C、D沒有被按下。此外，例如 從時刻t7到時刻tlO,在鍵底部接收線圈a3、d3中分別產(chǎn)生的感應(yīng)電流的數(shù)字值均為閾值 i以上，所以判定為端部A、D同時被按下。
[0085] < 3.實施方式3 >
[0086] 實施方式1、2是開關(guān)鍵頂部被進行按下操作的構(gòu)成，但是在本實施方式3中，采用 開關(guān)鍵頂部被進行旋轉(zhuǎn)操作的構(gòu)成。通過旋轉(zhuǎn)，開關(guān)鍵頂部的線圈與開關(guān)鍵底部的線圈的 距離也變化，所以產(chǎn)生感應(yīng)電流，能夠進行通斷判定。但是，由于開關(guān)鍵頂部旋轉(zhuǎn)，所以能夠 進行旋轉(zhuǎn)角的檢測這一特有的檢測動作。
[0087] [構(gòu)成]
[0088] 圖9表示實施方式3中的開關(guān)裝置400。401是開關(guān)鍵頂部，406是開關(guān)鍵底部。
[0089] 開關(guān)鍵頂部401在其下表面中央具有軸棒405,將該軸棒405旋轉(zhuǎn)自如地嵌入到形 成于開關(guān)鍵底部406的凹部407底面中央的軸孔415。關(guān)于旋轉(zhuǎn)構(gòu)造，與以往的轉(zhuǎn)子開關(guān)同 樣，因此省略詳細(xì)的說明。
[0090] 在開關(guān)鍵頂部401，在從其中心偏心的位置設(shè)置有與實施方式1所不的開關(guān)鍵頂 部同樣構(gòu)成的、將鍵頂部接收線圈si及鍵頂部發(fā)送線圈s2相互連接的1組線圈圖案。
[0091] 在開關(guān)鍵底部406,在距離軸孔415的中心的偏心量與鍵頂部接收線圈si和鍵頂 部發(fā)送線圈s2距離軸孔415的中心的偏心量相同的位置，沿周方向以大致90度的間隔設(shè) 置有鍵底部發(fā)送線圈a4、b4、c4、d4和鍵底接收線圈a5、b5、c5、d5。
[0092] 此外，鍵底部發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈的各組中的、接收線圈和發(fā)送線圈的位 置關(guān)系，與開關(guān)鍵頂部的接收線圈si和發(fā)送線圈s2的位置關(guān)系同樣。
[0093] 與實施方式2同樣，各鍵底部發(fā)送線圈a4、b4、c4、d4連接著電流供給部，各鍵底 部接收線圈a5、b5、c5、d5分別單獨地連接著AD轉(zhuǎn)換部、判定部。
[0094] [動作]
[0095] 根據(jù)上述構(gòu)成的開關(guān)裝置400,對開關(guān)鍵頂部401進行旋轉(zhuǎn)操作時，鍵頂部接收線 圈si和鍵頂部發(fā)送線圈s2分別與開關(guān)鍵底部的某一組鍵底發(fā)送線圈和鍵底接收線圈接 近。由于接近而磁耦合變強，產(chǎn)生感應(yīng)電流?；谠谀膫€鍵底部接收線圈中產(chǎn)生感應(yīng)電流， 判定開關(guān)鍵頂部401的旋轉(zhuǎn)位置。
[0096][開關(guān)裝置400的判定例]
[0097] 圖10表示伴隨著開關(guān)鍵頂部401旋轉(zhuǎn)操作而在鍵底部接收線圈a5、b5、c5、d5中 產(chǎn)生的感應(yīng)電流的時間經(jīng)過。
[0098] 在圖10中，從時刻t0到時刻t3,在鍵底部接收線圈a5中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng) 電流，從時刻t4到時刻t7,在鍵底部接收線圈d5中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng)電流，從時刻t8 到時刻tll，在鍵底部接收線圈c5中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng)電流。基于此，判定為開關(guān)鍵頂 部401從時刻t0到til沿順時針被進行了 180度旋轉(zhuǎn)操作。
[0099] < 4.變形例 >
[0100] 在本發(fā)明的技術(shù)思想的范圍內(nèi)，能夠在上述實施方式的構(gòu)成以外實施。以下例舉 這樣的例子。
[0101] [1]上述實施方式的開關(guān)裝置，在其構(gòu)成中具備AD轉(zhuǎn)換部，在判定部中使用由AD 轉(zhuǎn)換部數(shù)字化的、在鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流的電流值，判定開關(guān)鍵頂部的相對 位移操作狀態(tài)，但是也可以將AD轉(zhuǎn)換部除去，在判定部中直接使用在鍵底部接收線圈中產(chǎn) 生的感應(yīng)電流的模擬值來判定開關(guān)鍵頂部的相對位移操作狀態(tài)。
[0102] [2]在上述實施方式的開關(guān)裝置中，發(fā)送線圈及接收線圈印刷在基板上，但是也可 以使用繞線型或?qū)臃e型等各種各樣的線圈。近年來，將線圈小型化的技術(shù)廣泛研究，例如開 發(fā)了使用鐵素體的層積陶瓷線圈或繞線型微線圈等小型線圈。當(dāng)然能夠通過這些構(gòu)成來實 施本發(fā)明。
[0103] [3]在上述實施方式的開關(guān)裝置中，電流供給部例如在搭載了開關(guān)裝置的設(shè)備處 于睡眠狀態(tài)或鎖定狀態(tài)的情況下，也可以不向鍵底部發(fā)送線圈供給電流。這樣，根據(jù)搭載開 關(guān)裝置的設(shè)備的模式來控制電流的供給，從而實現(xiàn)了搭載開關(guān)裝置的設(shè)備的節(jié)電化。
[0104] [4]在上述實施方式的開關(guān)裝置中，電流供給部例如使用PLL等相位同步電路，但 是不限于相位同步電路，也可以使用各種電流發(fā)生電路。向鍵底部發(fā)送線圈供給的電流可 以不是由相位同步電路生成的一定周期的高速信號，只要是任意的判定間隔的一半以下的 周期的信號即可。
[0105] [5]在上述實施方式2的開關(guān)裝置200中，單獨地判定開關(guān)鍵頂部201的端部A、 B、C、D各自的按下狀態(tài)，但是不限于此，判定部也可以綜合地判定開關(guān)鍵頂部201的按下狀 態(tài)。例如也可以是，在鍵底部接收線圈a3中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng)電流緊之后，在鍵底部 接收線圈c3中產(chǎn)生閾值i以上的感應(yīng)電流時，判定為開關(guān)鍵頂部201被從端部A向端部C 的方向被按下。
[0106] [6]上述實施方式2的開關(guān)裝置200為十字鍵開關(guān)，但是不限于此，開關(guān)鍵頂部的 形狀可以是各種形狀。此外，能夠判定開關(guān)鍵頂部的任意位置的按下狀態(tài)。
[0107] [7]在上述實施方式2中，舉出了使用一個閾值i的開關(guān)鍵頂部201的各端部A、 B、C、D的按下判定例。開關(guān)裝置200不限于此，也可以像上述實施方式1的開關(guān)裝置100 那樣，使用多個閾值來判定與各端部A、B、C、D的按入量對應(yīng)的多個按下狀態(tài)。
[0108] [8]在上述實施方式3的開關(guān)裝置400中，作為開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部的相對位 置位移操作的一例，舉出了轉(zhuǎn)動操作的例子，但例如也可以是，采用能夠?qū)﹂_關(guān)鍵頂部進行 滑動移動操作的構(gòu)造，判定開關(guān)鍵頂部的滑動移動狀態(tài)。具體地說，在開關(guān)鍵底部，將鍵底 部送接收線圈配置在滑動移動操作線上，基于在鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定 鍵頂部發(fā)送線圈的位置，從而能夠判定開關(guān)鍵頂部的滑動移動操作。
[0109] [9]在上述實施方式3的開關(guān)裝置400中，采用了將發(fā)送線圈和接收線圈的組在開 關(guān)鍵頂部設(shè)置一組、在開關(guān)鍵底部設(shè)置4組的構(gòu)造，但是也可以根據(jù)所判定的開關(guān)鍵頂部 和開關(guān)鍵底部的相對位移操作而將發(fā)送線圈和接收線圈的組在開關(guān)鍵頂部設(shè)置多組，也可 以在開關(guān)鍵底部設(shè)置1組。
[0110] [10]各實施方式都具備一個開關(guān)鍵頂部，但是不限于此，也可以具備多個開關(guān)鍵 頂部，分別判定各開關(guān)鍵頂部的相對位移狀態(tài)。進而，除了單獨地判定各開關(guān)鍵頂部的相對 位移狀態(tài)之外，也可以通過由各開關(guān)鍵頂部的操作產(chǎn)生的電流值的組合來綜合地判定開關(guān) 的操作狀態(tài)。
[0111] [11]可以在各種電子設(shè)備中搭載上述實施方式的開關(guān)裝置。例如，作為智能手機 等便攜終端或平板終端的起始鍵，可以使用上述實施方式的開關(guān)裝置。此外，例如如圖12 所示，靜態(tài)攝像機的快門鍵700-1、攝像機的拍攝鍵或縮放鍵（700-2、700-3)等可以使用上 述各實施方式的開關(guān)裝置。
[0112] < 5.補充>
[0113] 以下說明作為本發(fā)明的一個實施方式的開關(guān)裝置的構(gòu)成及變形例的效果。
[0114] (A)本發(fā)明的一個實施方式的開關(guān)裝置的特征在于，開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部相 對位移自如地被設(shè)置，所述開關(guān)鍵頂部具備相互連接的鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線 圈，所述開關(guān)鍵底部具備：鍵底部發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈，該鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置在 該鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述 開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位，該鍵底部接收線圈被設(shè)置在該鍵底部接收 線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之 間的相對位移操作而變化的部位；電流供給部，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流；以及判 定部，基于所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流來判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂 部之間的相對位移。
[0115] 通過該構(gòu)成，實施方式（A)的開關(guān)裝置不設(shè)置因開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部之間的 相對位移操作而產(chǎn)生負(fù)荷的布線，利用電磁感應(yīng)作用能夠判定開關(guān)鍵頂部的操作狀態(tài)。因 此，實施方式（A)的開關(guān)裝置大幅提高了其耐久性，并且容易向防水設(shè)備安裝。
[0116] (B)在所述實施方式（A)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述開關(guān)鍵底部還具備將所述 感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化的AD轉(zhuǎn)換部，所述判定部將進行所述判定時成為基準(zhǔn)的閾值與 由所述AD轉(zhuǎn)換部數(shù)字化的所述感應(yīng)電流的電流值進行比較，判定所述開關(guān)鍵底部與所述 開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0117] 通過該構(gòu)成，實施方式（B)的開關(guān)裝置能夠更準(zhǔn)確地判定開關(guān)鍵頂部的操作狀 態(tài)。
[0118] (C)在所述實施方式（B)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述相對位移操作是按下操 作、旋轉(zhuǎn)操作或滑動移動操作。
[0119] (D)在所述實施方式（C)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述閾值是第一閾值和比第一 閾值大的第二閾值，所述判定部將所述第一閾值及所述第二閾值與所述電流值進行比較， 判定與所述按下操作的按入量相應(yīng)的、所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位 移。
[0120] 通過該構(gòu)成，實施方式（D)的開關(guān)裝置能夠根據(jù)開關(guān)鍵頂部的按入量來判定多個 按下狀態(tài)。
[0121] (E)在所述實施方式（D)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述電流供給部在搭載了開關(guān) 裝置的設(shè)備處于輸入等待狀態(tài)的情況下，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流，在搭載了開關(guān) 裝置的所述設(shè)備不是輸入等待狀態(tài)的情況下，不向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流。
[0122] 通過該構(gòu)成，電流供給部能夠根據(jù)所述設(shè)備的模式來控制電流的供給，能夠?qū)崿F(xiàn) 所述設(shè)備的節(jié)電化。
[0123] (F)在所述實施方式（A)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述開關(guān)鍵底部具備多個鍵底 部發(fā)送線圈和多個鍵底部接收線圈，該多個鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置于該多個鍵底部發(fā)送線 圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間 的相對位移操作而變化的部位，該多個鍵底部接收線圈被設(shè)置于該多個鍵底部接收線圈與 所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相 對位移操作而變化的部位，所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流，所述判定 部基于在各所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂 部之間的相對位移。
[0124] 通過該構(gòu)成，實施方式（F)的開關(guān)裝置能夠判定更多樣的操作狀態(tài)。
[0125] (G)在所述實施方式（C)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述開關(guān)鍵底部具備多個鍵底 部發(fā)送線圈和多個鍵底部接收線圈，該多個鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置于該多個鍵底部發(fā)送線 圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間 的相對位移操作而變化的部位，該多個鍵底部接收線圈被設(shè)置于該多個鍵底部接收線圈與 所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相 對位移操作而變化的部位，所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流，所述ADR 換部將各所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化，所述判定部將進行 所述判定時成為基準(zhǔn)的閾值與數(shù)字化的各所述鍵底部接收線圈中的所述感應(yīng)電流的電流 值進行比較，判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0126] 通過該構(gòu)成，實施方式（G)的開關(guān)裝置能夠更準(zhǔn)確地判定多種多樣的操作狀態(tài)。
[0127] (Η)在所述實施方式㈧的開關(guān)裝置中，也可以是，所述相對位移操作是按下操 作，所述開關(guān)鍵頂部在與所述按下操作對應(yīng)的各位置具備相互連接的所述鍵頂部接收線圈 及鍵頂部發(fā)送線圈，所述開關(guān)鍵底部具備各鍵底部發(fā)送線圈和各鍵底部接收線圈，各鍵底 部發(fā)送線圈被設(shè)置于各鍵底部發(fā)送線圈與各所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的部位，各鍵底部接收線圈被設(shè) 置于各鍵底部接收線圈與各所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部 與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的部位，所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線 圈供給電流，所述判定部基于該鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定該位置的所述按 下操作導(dǎo)致的、所述開關(guān)鍵底部與開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0128] 通過該構(gòu)成，實施方式（Η)的開關(guān)裝置能夠判定例如十字鍵那樣的、開關(guān)鍵頂部 的各種按下位置的按下狀態(tài)。此外，實施方式（Η)的開關(guān)裝置，通過產(chǎn)生感應(yīng)電流的鍵底部 接收線圈的組合，例如能夠判定開關(guān)鍵頂部被斜向按下等、開關(guān)鍵頂部的綜合的按下狀態(tài)。
[0129] (I)在所述實施方式（Ε)的開關(guān)裝置中，也可以是，所述開關(guān)鍵頂部在與所述按下 操作對應(yīng)的各位置具備相互連接的所述鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈，所述開關(guān)鍵底 部具備各鍵底部發(fā)送線圈和各鍵底接收線圈，各鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置于各鍵底部發(fā)送線 圈與各所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之 間的按下操作而變化的部位，各鍵底接收線圈被設(shè)置于各鍵底接收線圈與各所述鍵頂部發(fā) 送線圈的相對位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的 部位，所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流，所述AD轉(zhuǎn)換部將各所述鍵底部 接收線圈中產(chǎn)生的所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化，所述判定部將所述第一閾值及所述第二 閾值與數(shù)字化的該電流值進行比較，判定該位置的所述按下操作導(dǎo)致的、所述開關(guān)鍵底部 與開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0130] 通過該構(gòu)成，實施方式（I)的開關(guān)裝置能夠判定例如十字鍵那樣的、開關(guān)鍵頂部 的各種按下位置的與按入量相應(yīng)的按下狀態(tài)。此外，實施方式（I)的開關(guān)裝置通過產(chǎn)生感 應(yīng)電流的鍵底部接收的組合，例如能夠判定開關(guān)鍵頂部被斜向按下等、開關(guān)鍵頂部的綜合 的按下狀態(tài)。此外，實施方式（I)的開關(guān)裝置通過鍵底部接收線圈分別產(chǎn)生的感應(yīng)電流的 電流值的組合，也能夠判定開關(guān)鍵頂部的綜合的按下狀態(tài)。
[0131] (J)在所述實施方式（F)?⑴的開關(guān)裝置中，也可以是，具備多個所述開關(guān)鍵頂 部，判定部判定與所述各開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
[0132] 通過該構(gòu)成，實施方式（J)的開關(guān)裝置不僅能夠單獨地判定多個開關(guān)鍵頂部各自 的操作狀態(tài)，還能夠通過產(chǎn)生感應(yīng)電流的鍵底接收線圈的組合或各鍵底接收線圈中產(chǎn)生的 感應(yīng)電流的電流值的組合或其雙方，來綜合地判定實施方式（J)的開關(guān)裝置的各種操作狀 態(tài)。
[0133] (Κ)本發(fā)明的一實施方式的電子設(shè)備，具備所述實施方式（Α)?（J)的任一個的開 關(guān)裝置。
[0134] 通過該構(gòu)成，實施方式（Κ)的電子設(shè)備能夠大幅提高開關(guān)的耐久性。
[0135] 產(chǎn)業(yè)上的可利用性
[0136] 本發(fā)明的開關(guān)裝置，不設(shè)置因開關(guān)鍵頂部與開關(guān)鍵底部之間的相對位移操作而產(chǎn) 生負(fù)荷的布線，使用電磁感應(yīng)作用來判定開關(guān)鍵頂部的按下狀態(tài)，所以能夠大幅提高其耐 久性。因此，在開關(guān)的使用頻度高的設(shè)備或需要高耐久性的設(shè)備中是有用的。
[0137] 符號的說明：
[0138] 10便攜終端
[0139] 100、200、400 開關(guān)裝置
[0140] 101、201、401 開關(guān)鍵頂部
[0141] 102 基板
[0142] 103鍵頂部接收線圈
[0143] 104鍵頂部發(fā)送線圈
[0144] 105 軸棒
[0145] 105a、208 突起
[0146] 106、206、406 開關(guān)鍵底部
[0147] 107、207、407 凹部
[0148] 108鍵底部發(fā)送線圈
[0149] 109鍵底部接收線圈
[0150] 111連接圖案
[0151] 115、415 孔
[0152] 115a 鍵槽
[0153] 117、217 盤簧
[0154] 120電流供給部
[0155] 130 AD 轉(zhuǎn)換部
[0156] 140判定部
[0157] 601開關(guān)鍵頂部
[0158] 602 線圈 A
[0159] 603電流發(fā)生電路
[0160] 604 線圈 B
[0161] 605電流檢測電路
[0162] 700-1、700-2、700_3 開關(guān)裝置
[0163] al、bl、cl、dl 線圈圖案
[0164] a2、b2、c2、d2、a4、b4、c4、d4 鍵底部發(fā)送線圈
[0165] a3、b3、c3、d3、a5、b5、c5、d5 鍵底部接收線圈
[0166] si鍵頂部接收線圈
[0167] s2鍵頂部發(fā)送線圈
【權(quán)利要求】
1. 一種開關(guān)裝置，其特征在于， 開關(guān)鍵頂部和開關(guān)鍵底部相對位移自如地被設(shè)置， 所述開關(guān)鍵頂部具備相互連接的鍵頂部接收線圈及鍵頂部發(fā)送線圈， 所述開關(guān)鍵底部具備： 鍵底部發(fā)送線圈和鍵底部接收線圈，該鍵底部發(fā)送線圈被設(shè)置在該鍵底部發(fā)送線圈與 所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相 對位移操作而變化的部位，該鍵底部接收線圈被設(shè)置在該鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā) 送線圈相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變 化的部位； 電流供給部，向所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流；以及 判定部，基于所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流來判定所述開關(guān)鍵底部與所述開 關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
2. 如權(quán)利要求1所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述開關(guān)鍵底部還具備將所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化的AD轉(zhuǎn)換部， 所述判定部將進行所述判定時成為基準(zhǔn)的閾值與由所述AD轉(zhuǎn)換部數(shù)字化的所述感應(yīng) 電流的電流值進行比較，判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
3. 如權(quán)利要求2所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述相對位移操作是按下操作、旋轉(zhuǎn)操作或滑動移動操作。
4. 如權(quán)利要求3所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述閾值是第一閾值和比第一閾值大的第二閾值， 所述判定部將所述第一閾值及所述第二閾值與所述電流值進行比較，判定與所述按下 操作的按入量相應(yīng)的、所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
5. 如權(quán)利要求4所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述電流供給部在搭載了開關(guān)裝置的設(shè)備處于輸入等待狀態(tài)的情況下，向所述鍵底部 發(fā)送線圈供給電流，在搭載了開關(guān)裝置的所述設(shè)備不是輸入等待狀態(tài)的情況下，不向所述 鍵底部發(fā)送線圈供給電流。
6. 如權(quán)利要求1所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述開關(guān)鍵底部具備多個鍵底部發(fā)送線圈和多個鍵底部接收線圈，所述多個鍵底部發(fā) 送線圈被設(shè)置在所述多個鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位，所述多個鍵底部接 收線圈被設(shè)置在所述多個鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位， 所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流， 所述判定部基于在各所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定所述開關(guān)鍵底部與 所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
7. 如權(quán)利要求3所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述開關(guān)鍵底部具備多個鍵底部發(fā)送線圈和多個鍵底部接收線圈，所述多個鍵底部發(fā) 送線圈被設(shè)置在所述多個鍵底部發(fā)送線圈與所述鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位，所述多個鍵底部接 收線圈被設(shè)置在所述多個鍵底部接收線圈與所述鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照 所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移操作而變化的部位， 所述電流供給部向各所述鍵底部發(fā)送線圈供給電流， 所述AD轉(zhuǎn)換部將各所述鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化， 所述判定部將進行所述判定時成為基準(zhǔn)的閾值與數(shù)字化的各所述鍵底部接收線圈中 的所述感應(yīng)電流的電流值進行比較，判定所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位 移。
8. 如權(quán)利要求1所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述相對位移操作是按下操作， 所述開關(guān)鍵頂部在與所述按下操作對應(yīng)的各位置具備相互連接的所述鍵頂部接收線 圈及鍵頂部發(fā)送線圈， 所述開關(guān)鍵底部具備各鍵底部發(fā)送線圈和各鍵底部接收線圈，各鍵底部發(fā)送線圈被設(shè) 置在各鍵底部發(fā)送線圈與所述各鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部 與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的部位，各鍵底部接收線圈被設(shè)置在各鍵底部接 收線圈與所述各鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂 部之間的按下操作而變化的部位， 所述電流供給部向所述各鍵底部發(fā)送線圈供給電流， 所述判定部基于該鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電流，判定該位置的所述按下操作導(dǎo) 致的、所述開關(guān)鍵底部與開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
9. 如權(quán)利要求5所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 所述開關(guān)鍵頂部在與所述按下操作對應(yīng)的各位置具備相互連接的所述鍵頂部接收線 圈及鍵頂部發(fā)送線圈， 所述開關(guān)鍵底部具備各鍵底部發(fā)送線圈和各鍵底部接收線圈，各鍵底部發(fā)送線圈被設(shè) 置在各鍵底部發(fā)送線圈與所述各鍵頂部接收線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部 與所述開關(guān)鍵頂部之間的按下操作而變化的部位，各鍵底部接收線圈被設(shè)置在各鍵底部接 收線圈與所述各鍵頂部發(fā)送線圈的相對的位置關(guān)系按照所述開關(guān)鍵底部與所述開關(guān)鍵頂 部之間的按下操作而變化的部位， 所述電流供給部向所述各鍵底部發(fā)送線圈供給電流， 所述AD轉(zhuǎn)換部將所述各鍵底部接收線圈中產(chǎn)生的所述感應(yīng)電流的電流值數(shù)字化， 所述判定部將所述第一閾值及所述第二閾值與數(shù)字化的該電流值進行比較，判定該位 置的所述按下操作導(dǎo)致的、所述開關(guān)鍵底部與開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
10. 如權(quán)利要求6?9中任一項所述的開關(guān)裝置，其特征在于， 具備多個所述開關(guān)鍵頂部， 判定部判定所述開關(guān)鍵底部與各所述開關(guān)鍵頂部之間的相對位移。
11. 一種電子設(shè)備，其特征在于， 具備權(quán)利要求1?10中任一項所述的開關(guān)裝置。
【文檔編號】H01H13/00GK104067365SQ201380006137
【公開日】2014年9月24日 申請日期:2013年11月1日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月21日
【發(fā)明者】渡邊一弘, 石野公一, 中山武司, 石井雅博 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社
相關(guān)技術(shù)
網(wǎng)友詢問留言
已有0條留言
- 還沒有人留言評論。精彩留言會獲得點贊！
1