集束測試轉(zhuǎn)接器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種測試工裝，特別是涉及一種用于測試四芯、五芯集束連接器公頭組件的電性能和天線電性能的集束測試轉(zhuǎn)接器。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的集束測試轉(zhuǎn)接器每次測試時，都需要在其8個孔位置安裝測試負(fù)載，這種安裝測試方式，減慢了測試效率。另外，由于測試接頭的磨損，測試負(fù)載的磨損，均直接抬高了測試成本，而且測試精度也無法保證。
[0003]中國專利CN 203288912 U公開了一種集束連接器測試用轉(zhuǎn)接器，包括SMA轉(zhuǎn)接器，該測試用轉(zhuǎn)接器還包括螺套、軸狀基體和壓板；所述基體安裝在所述螺套的螺孔內(nèi)，該基體沿軸向開設(shè)有若干個用于穿入所述SMA轉(zhuǎn)接器的通孔，所述SMA轉(zhuǎn)接器通過述壓板壓緊在所述基體的通孔內(nèi)。所述基體的通孔優(yōu)選有五個，在基體的軸端上還設(shè)有五條凹槽，SMA轉(zhuǎn)接器軸身上的軸肩防轉(zhuǎn)平面卡入所述基體的凹槽內(nèi)。
[0004]但是該轉(zhuǎn)接器在轉(zhuǎn)接時依然很麻煩，轉(zhuǎn)接后的測試精度也有待提升。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本實用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、轉(zhuǎn)接方便、測試精度高的集束測試轉(zhuǎn)接器，以克服現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷。
[0006]為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了一種集束測試轉(zhuǎn)接器，所述集束測試轉(zhuǎn)接器設(shè)置有相互卡合的公頭和母頭，所述公頭內(nèi)設(shè)置有圍繞所述公頭的圓周均勻分布的公頭通孔，所述公頭通孔內(nèi)插設(shè)有負(fù)載，在對應(yīng)于母頭的公頭的一側(cè)設(shè)置有若干個定位珠；所述母頭內(nèi)設(shè)置有母頭通孔，所述母頭通孔的位置與所述公頭通孔的位置相對應(yīng)，所述母頭通孔內(nèi)插設(shè)有彈簧和接觸pin針，在所述彈簧的壓力下，所述接觸pin針向所述公頭通孔方向擠壓并與所述負(fù)載電連接；所述母頭還設(shè)置有若干個凹孔，所述凹孔的位置與所述定位珠的位置相對應(yīng)以使定位珠可卡入所述凹孔內(nèi)并使所述公頭與母頭能夠精確定位。
[0007]作為對本實用新型所述的集束測試轉(zhuǎn)接器的進(jìn)一步說明，優(yōu)選地，所述公頭與母頭可旋轉(zhuǎn)螺紋連接。
[0008]由此可見，本實用新型提供的集束測試轉(zhuǎn)接器的結(jié)構(gòu)簡單、轉(zhuǎn)接方便，在需要轉(zhuǎn)接的時候，只需相對旋轉(zhuǎn)公頭與母頭，轉(zhuǎn)接非常容易、測試精度高。
【附圖說明】
[0009]圖1是本實用新型的集束測試轉(zhuǎn)接器的分解結(jié)構(gòu)示意圖；
[0010]圖2是本實用新型的集束測試轉(zhuǎn)接器的組合結(jié)構(gòu)剖視圖；
[0011]圖3是本實用新型的四芯集束測試轉(zhuǎn)接器的母頭的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖4是本實用新型的五芯集束測試轉(zhuǎn)接器的母頭的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]附圖標(biāo)記說明如下:
[0014]公頭1、公頭通孔11、負(fù)載12、定位珠13、母頭2、公頭通孔21、彈簧22、接觸pin針23、凹孑L 24。
【具體實施方式】
[0015]為了使審查員能夠進(jìn)一步了解本實用新型的結(jié)構(gòu)、特征及其他目的，現(xiàn)結(jié)合所附較佳實施例附以附圖詳細(xì)說明如下，本附圖所說明的實施例僅用于說明本實用新型的技術(shù)方案，并非限定本實用新型。
[0016]首先，請同時參考圖1和圖2，圖1是本實用新型的集束測試轉(zhuǎn)接器的分解結(jié)構(gòu)示意圖，圖2是本實用新型的集束測試轉(zhuǎn)接器的組合結(jié)構(gòu)剖視圖。如圖1和圖2所示，本實用新型提供的集束測試轉(zhuǎn)接器設(shè)置有相互卡合的公頭I和母頭2，公頭I內(nèi)設(shè)置有圍繞公頭I的圓周均勻分布的公頭通孔11，公頭通孔11內(nèi)插設(shè)有負(fù)載12，在對應(yīng)于母頭2的公頭I的一側(cè)設(shè)置有若干個定位珠13。母頭2內(nèi)設(shè)置有母頭通孔21，母頭通孔21的位置與公頭通孔11的位置相對應(yīng)(如圖3和圖4所示)，母頭通孔21內(nèi)插設(shè)有彈簧22和接觸pin針23，在彈簧22的壓力下，接觸pin針23向公頭通孔11方向擠壓并與負(fù)載12電連接，同時，母頭2還設(shè)置有若干個凹孔24，凹孔24的位置與定位珠13的位置相對應(yīng)，以使定位珠13卡入凹孔24內(nèi)，使公頭I與母頭2能夠精確定位。由此可見，當(dāng)本實用新型的集束測試轉(zhuǎn)接器需要轉(zhuǎn)接的時候，只需相對旋轉(zhuǎn)公頭I與母頭2即可，使得轉(zhuǎn)接非常容易，而且測試精度也很高。
[0017]為了便于公頭I與母頭2的卡合連接，公頭I與母頭2可旋轉(zhuǎn)螺紋連接，從而便于公頭I與母頭2之間的旋轉(zhuǎn)對接。
[0018]需要聲明的是，上述【實用新型內(nèi)容】及【具體實施方式】意在證明本實用新型所提供技術(shù)方案的實際應(yīng)用，不應(yīng)解釋為對本實用新型保護(hù)范圍的限定。本領(lǐng)域技術(shù)人員在本實用新型的精神和原理內(nèi)，當(dāng)可作各種修改、等同替換或改進(jìn)。本實用新型的保護(hù)范圍以所附權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
【主權(quán)項】
1.一種集束測試轉(zhuǎn)接器，其特征在于，所述集束測試轉(zhuǎn)接器設(shè)置有相互卡合的公頭(I)和母頭(2)， 公頭(I)內(nèi)設(shè)置有圍繞公頭(I)的圓周均勻分布的公頭通孔(11)，公頭通孔(11)內(nèi)插設(shè)有負(fù)載(12)，在對應(yīng)于母頭⑵的公頭⑴的一側(cè)設(shè)置有若干個定位珠(13); 母頭⑵內(nèi)設(shè)置有母頭通孔(21)，母頭通孔(21)的位置與公頭通孔(11)的位置相對應(yīng)，母頭通孔(21)內(nèi)插設(shè)有彈簧(22)和接觸pin針(23)，在彈簧(22)的壓力下，接觸pin針(23)向公頭通孔(11)方向擠壓并與負(fù)載(12)電連接；母頭⑵還設(shè)置有若干個凹孔(24)，凹孔(24)的位置與定位珠(13)的位置相對應(yīng)以使定位珠(13)卡入凹孔(24)內(nèi)并使公頭(I)與母頭(2)能夠精確定位。
2.如權(quán)利要求1所述的集束測試轉(zhuǎn)接器，其特征在于，公頭(I)與母頭(2)可旋轉(zhuǎn)螺紋連接。
【專利摘要】本實用新型提供了一種集束測試轉(zhuǎn)接器，所述集束測試轉(zhuǎn)接器設(shè)置有相互卡合的公頭和母頭，所述公頭內(nèi)設(shè)置有圍繞所述公頭的圓周均勻分布的公頭通孔，所述公頭通孔內(nèi)插設(shè)有負(fù)載，在對應(yīng)于母頭的公頭的一側(cè)設(shè)置有若干個定位珠；所述母頭在與公頭通孔相對應(yīng)的位置處設(shè)置有母頭通孔，所述母頭通孔內(nèi)插設(shè)有彈簧和接觸pin針，在彈簧的壓力下，接觸pin針向公頭通孔方向擠壓并與負(fù)載電連接，所述母頭還設(shè)置有若干個與所述定位珠的位置相對應(yīng)的凹孔以使定位珠可卡入所述凹孔內(nèi)，并使所述公頭與母頭能夠精確定位。本實用新型提供的集束測試轉(zhuǎn)接器的結(jié)構(gòu)簡單、轉(zhuǎn)接方便，在需要轉(zhuǎn)接的時候，只需相對旋轉(zhuǎn)公頭與母頭，轉(zhuǎn)接非常容易、測試精度高。
【IPC分類】H01R31-06
【公開號】CN204481288
【申請?zhí)枴緾N201520175605
【發(fā)明人】陳君
【申請人】東莞市趨勢通信科技有限公司
【公開日】2015年7月15日
【申請日】2015年3月26日