專利名稱：探測(cè)倒相器的功率晶體管的過熱裝置和探測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及探測(cè)倒相器的功率晶體管的過熱裝置和探測(cè)方法，尤其是，一種用于探測(cè)倒相器的功率晶體管的過熱裝置，以防止由于最終溫度增加造成對(duì)功率晶體管的損壞，以及探測(cè)裝置的探測(cè)方法。
通常，空調(diào)的倒相器將直流電DC變換產(chǎn)交流電AC，以驅(qū)動(dòng)空調(diào)的負(fù)載，例如壓縮器的馬達(dá)等。電流的變換通過多個(gè)功率晶體管的選擇開關(guān)進(jìn)行。
由于不良的，或不適當(dāng)?shù)木€路，或者空調(diào)操作時(shí)的過載均會(huì)引起過流使溫度增加，致使功率晶體管受到損壞。
因此，新的倒相器型的空調(diào)器采用一種保護(hù)裝置，用于防止對(duì)空調(diào)器的功率晶體管的任何損壞。


圖1表示傳統(tǒng)功率晶體管的過電流探測(cè)器的電路圖。
參見圖1，倒相器20與一個(gè)直流變換區(qū)10連接，所述的直流變換區(qū)將交流AC電壓1變換成直流DC電壓。
倒相器20包含多個(gè)晶體管Q1-Q6，用于將DC變換區(qū)10的電源切換到壓縮器的馬達(dá)21。
當(dāng)馬達(dá)21受到驅(qū)動(dòng)時(shí)，由控制區(qū)50以一種由功率晶體管Q1-Q6將三相AC電加到馬達(dá)21的方式有選擇地驅(qū)動(dòng)功率晶體管Q1-Q6。
倒相器20的輸入端連接到過流探測(cè)電路，其中，將連接到倒相器20的輸入端的第一和第三引線L1和L3連接到參考電壓產(chǎn)生區(qū)30，而第二引線L2連接到比較區(qū)40。
第二和第三引線L2和L3連接到倒相器20的各個(gè)端部，用于探測(cè)流過功率晶體管Q1-Q6的電流。
參考電壓產(chǎn)生區(qū)30包含連接在第一和第三引線L1和L3之間的第一到第四電阻R1-R4，用于限制電流源。還有，參考電壓產(chǎn)生區(qū)30包含一個(gè)連接到第一到第四電阻R1-R4的Zener二極管ZD1，第一電容器C1，用于充電，而第七和第八電阻R7和R8，用于對(duì)在第一電容器C1充電的電壓進(jìn)行分壓，并將被分的電壓輸入到比較器41的反相輸入端。
比較區(qū)40的比較器41對(duì)通過第二引線L2連接的第九和第十電阻器R9和R10分壓并通過無反相的終端輸入的電壓與從參考電壓產(chǎn)生區(qū)30到反相終端輸入的電壓進(jìn)行比較，并輸出比較后的最終信號(hào)。
控制區(qū)50按照由比較區(qū)40輸出的信號(hào)來控制馬達(dá)的驅(qū)動(dòng)。所述的控制區(qū)50包含一個(gè)連接到比較器41的輸出端的光電耦合器PC1，連接到光電耦合器PC1的第十二電阻器R12和第八電容器C8，以及微機(jī)50A。
下面將介紹具有上述結(jié)構(gòu)的傳統(tǒng)功率晶體管的過電流探測(cè)電路的操作。
首先，DC變換區(qū)10將AC電壓源1變換成DC電壓源。利用微機(jī)50A有選擇地切換，倒相器20通過功率晶體管Q1-Q6變換由DC變換區(qū)10產(chǎn)生的DC電壓，并把AC電壓加到壓縮機(jī)的馬達(dá)21。于是，可以在馬達(dá)21運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)進(jìn)行空調(diào)的加熱或冷卻操作。
這里，需將第一到第三引線的電壓信號(hào)L1，L2和L3加到過電流探測(cè)電路。
過電流探測(cè)電路的參考電壓產(chǎn)生區(qū)30產(chǎn)生一個(gè)相應(yīng)于在第一和第三引線L1和L3處的電壓，并把它加到比較器41的輸入端。
比較器41將通過反相輸入端從參考電壓產(chǎn)生區(qū)30輸入的電壓與相應(yīng)于在一個(gè)無反相端輸入的倒相器20的電流探測(cè)電阻R20處的電壓降進(jìn)行比較。
比較器41在輸入到無反相終端的電壓大于輸入到反相終端的電壓時(shí)輸出一個(gè)HIGH-信號(hào)。微機(jī)50A在倒相器20的過電流信號(hào)通過光電耦合器PC1從比較器41輸入時(shí)仃止壓縮機(jī)的馬達(dá)運(yùn)轉(zhuǎn)。
然而，由于傳統(tǒng)的過電流探測(cè)電路只探測(cè)超過某一個(gè)最大允許度的過電流，比如34A，它不能探測(cè)某一程度的電流，比如28A-34A，他們?nèi)阅芤疬^流晶體管Q1-Q6的溫度增加。因此，在電流28A-34A連續(xù)的加到壓縮機(jī)的馬達(dá)21上時(shí)，功率晶體管Q1-Q6的溫度增加。
因此，功率晶體管Q1-Q6的溫度一直上升超過某一度數(shù)，引起電流容量下降，最終當(dāng)電流容量低于28A時(shí)功率晶體管Q1-Q6被擊穿。
為了克服上述的問題，可以降低過電流的參照度。然而，在將過電流下降到28A以下時(shí)，間斷的過電流，這種過電流不會(huì)引起功率晶體管Q1-Q6的突然溫度增加，但也處于過電流范圍之內(nèi)，它將在正常操作時(shí)最終引起壓縮機(jī)的馬達(dá)21停止工作。
于是，近來已有建議，可以采用溫度傳感器來探測(cè)斷續(xù)的和連續(xù)的加到功率晶體管Q1-Q6的過電流，通過探測(cè)功率晶體管Q1-Q6的溫度來控制壓縮機(jī)的馬達(dá)21，以阻止任何對(duì)功率晶體管的損壞。
然而，采用溫度傳感器仍然存在價(jià)格的問題，這將增加材料的成本。其它的問題是，由于溫度傳感器只能探測(cè)功率晶體管Q1-Q6的表面溫度，所以在電路內(nèi)部的溫度改變不容易探測(cè)，這就使得精確的和有效的控制得不到保證。
因此，本發(fā)明對(duì)于克服已有技術(shù)中存在的上述問題進(jìn)行了研究，本發(fā)明的目的在于提供一種裝置，用于探測(cè)功率晶體管的過熱，通過即時(shí)地探測(cè)功率晶體管內(nèi)部的溫度變化來阻止功率晶體管的過熱，還提供探測(cè)的方法。
上述目的可以采用一種探測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)，該裝置對(duì)加上荷載的電源按照本發(fā)明的控制信號(hào)輸入進(jìn)行on／off切換的方式探測(cè)與電源連接的倒相器的功率晶體管的過熱，該裝置包括一個(gè)電阻件，設(shè)置在電源到功率晶體管所形成的電流通路上；一個(gè)積分器，用于對(duì)從電阻件的二端產(chǎn)生的電壓信號(hào)減去第一參考信號(hào)后所得到的剩余信號(hào)進(jìn)行積分；一個(gè)比較部分，用于輸出在將從積分器的輸出信號(hào)與第二參考信號(hào)比較之后所獲得的結(jié)果；以及一個(gè)控制部分，用于在測(cè)定從比較部分輸出的相應(yīng)于過熱信號(hào)的信號(hào)時(shí)斷開功率晶體管。
最好，所述的積分器包含一個(gè)運(yùn)算放大器，具有第一輸入終端，通過該終端輸入從電阻件產(chǎn)生的電壓信號(hào)，還具有一個(gè)第二輸入終端，通過該終端輸入第一參考信號(hào)；一個(gè)連接在運(yùn)算放大器的輸出端和第一輸入端之間的電容器；和一個(gè)與電容器并聯(lián)連接的電阻件。
同樣最好，將第一參考信號(hào)設(shè)置成等于，在相對(duì)于功率晶體管預(yù)定的額定電流流過電阻件時(shí)，由電阻件二端產(chǎn)生的電壓信號(hào)。同樣，最好將第二參考信號(hào)設(shè)置成，在功率晶體管的溫度到達(dá)一個(gè)預(yù)定的過熱參考度時(shí)，等于積分器的輸出值。
上述的目的也可以采用一種探測(cè)方法實(shí)現(xiàn)，該方法對(duì)加上荷載的電源按照本發(fā)明的控制信號(hào)輸入進(jìn)行on／off切換的方式探測(cè)與電源連接的倒相器的功率晶體管的過熱，該方法包含下述步驟在預(yù)定度以上的電流從電源流到功率晶體管時(shí)產(chǎn)生一個(gè)相應(yīng)于過量電流的第一信號(hào)；對(duì)第一信號(hào)按時(shí)間進(jìn)行積分；將積分信號(hào)與預(yù)定的過熱參考信號(hào)進(jìn)行比較；在積分信號(hào)超過過熱參考信號(hào)時(shí)對(duì)功率晶體管進(jìn)行切換。
在積分步驟不產(chǎn)生第一信號(hào)時(shí)，最好包含按照預(yù)定的放電速率對(duì)積分的電壓進(jìn)行放電。
本發(fā)明的上述目的和特點(diǎn)將參見附圖和優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)描述變得更明白，其中圖1表示傳統(tǒng)的功率晶體管的過電流探測(cè)裝置的電路圖；圖2表示按照本發(fā)明的倒相器的功率晶體管的過熱探測(cè)裝置的電路圖；圖3表示按照本發(fā)明探測(cè)倒相器的功率晶體管的過熱過程的流程圖；圖4表示根據(jù)一個(gè)實(shí)例在驅(qū)動(dòng)圖2的功率晶體管時(shí)所輸出的積分器的輸出值和隨后的功率晶體管的溫度改變關(guān)系的曲線圖；圖5表示根據(jù)另一個(gè)實(shí)例在驅(qū)動(dòng)功率晶體管時(shí)所輸出的積分器的輸出值和隨后的功率晶體管的溫度改變關(guān)系的曲線圖。
下面將參見附圖詳細(xì)地介紹本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的倒相器的過熱探測(cè)裝置和探測(cè)方法。
圖2是表示根據(jù)本發(fā)明的倒相器的功率晶體管的過熱探測(cè)裝置的電路圖。
如圖2所示，倒相器200被連接到DC變換部分100，由該部分將通常使用的AC電壓101變換成DC電壓，并從DC變換部分100接收電功率。
倒相器200包含多個(gè)功率晶體管Q1-Q6，用于切換從DC變換部分100到壓縮機(jī)的馬達(dá)210的電源。
在馬達(dá)210受到驅(qū)動(dòng)時(shí)，功率晶體管的柵極端(a-f)由控制部分600以一種將司相AC功率加到馬達(dá)210的方式有選擇地予以切換。即，奇數(shù)功率晶體管Q1，Q3和Q5中的一個(gè)，以及偶數(shù)功率晶體管Q2，Q4和Q6被成對(duì)地切換。
按照本發(fā)明的功率晶體管Q1-Q6的過熱探測(cè)裝置包括一個(gè)電阻件R30，第一參考信號(hào)產(chǎn)生部分300，積分器400，第二參考信號(hào)產(chǎn)生部分450，比較部分500。和控制部分600。
所述的電阻件R30被設(shè)置在從DC變換部分到馬達(dá)210的電流供給通路上。
所述的第一參考信號(hào)產(chǎn)生部分300將第一參考信號(hào)V0輸入到積分器400的第二輸入端，即，倒相端，所述的第一參考信號(hào)是由與電源Vcc1串聯(lián)連接的分壓電阻R15和R16產(chǎn)生的。
最好，將第一參考信號(hào)V0設(shè)置成與額定電流相當(dāng)，這種設(shè)定對(duì)于作為功率晶體管Q1-Q6的電源是可以接受的。例如，在功率晶體管Q1-Q6的額定電流是20A時(shí)，電阻件R30的電阻值是0．02，而將電源參考信號(hào)產(chǎn)生部分300構(gòu)成為可以產(chǎn)生的第一參考信號(hào)V0為0．4V。
積分器400包含一個(gè)運(yùn)算放大器410，一個(gè)電阻器R0和一個(gè)電容器C0。所述的電阻器R0和電容器C0互相并聯(lián)連接在運(yùn)算放大器410的輸出端和非倒相端，即，運(yùn)算放大器410的第一輸入端之間。
運(yùn)算放大器410的非倒相端連接到電流探測(cè)電阻件R30，以接收相應(yīng)于電阻件R30的電壓降的電壓信號(hào)。
通過運(yùn)算放大器410的第二輸入端，即，通過倒相端，輸入從第一參考信號(hào)產(chǎn)生部分300輸出的第一參考信號(hào)。
最好，由連接到積分器400的非倒相端的電阻器R41和電容器C0測(cè)定的積分速率等于或稍大于與對(duì)馬達(dá)210供電時(shí)的電流相應(yīng)的功率晶體管Q1-Q6的溫度增加速率。
與電容器C0并聯(lián)的電阻器R0在功率晶體管Q1-Q6斷開期間即，在電流不流過電阻件R30時(shí)，對(duì)在電容器荷電的電壓進(jìn)行放電。于是，在所有的功率晶體管Q1-Q6斷開時(shí)，由于電容器C0通過電阻件R0的放電，使積分器400的輸出Vs下降。在電源停止對(duì)馬達(dá)210供電的某一時(shí)間之后，重新設(shè)定積分器400的輸出電壓Vs。
最好，電容器C0和放電電阻件R0的時(shí)間常數(shù)等于在加到馬達(dá)210的電源被停止的切斷期間的功率晶體管Q1-Q6的溫度下降的速率。
所述的第二參考信號(hào)產(chǎn)生部分450產(chǎn)生第二參考電壓Vt，該電壓是由與電源Vcc1串聯(lián)的分壓電阻R17和R18產(chǎn)生的。最好，使第二參考電壓Vt等于積分器400的輸出值，它是在由于電流連續(xù)或不連續(xù)的施加而使功率晶體管Q1-Q6的溫度達(dá)到某一個(gè)預(yù)定的過熱溫度時(shí)輸出的值。
比較部分500的比較器510將積分器400的輸出信號(hào)Vs與從第二參考信號(hào)產(chǎn)生部分450輸出的第二參考信號(hào)Vt進(jìn)行比較，然后輸出比較的結(jié)果。
根據(jù)比較部分500的輸出信號(hào)，控制部分600測(cè)定是否功率晶體管Q1-Q6過熱，并按照它的測(cè)定控制功率晶體管Q1-Q6的驅(qū)動(dòng)。
控制部分600通過光電耦合器PC2接收來自比較部分的輸出信號(hào)。
在比較部分500的輸出信號(hào)是一個(gè)高信號(hào)時(shí)，通過切斷光電耦合器PC2將該高信號(hào)(Vcc3電壓信號(hào))加到微機(jī)600A。相反，在比較部分500的輸出信號(hào)是一個(gè)低信號(hào)時(shí)，該低信號(hào)通過接通光電耦合器PC2加到微機(jī)600A。從比較部分500加到微機(jī)600A的高信號(hào)相當(dāng)于所述的過熱信號(hào)。
同時(shí)，控制部分600其構(gòu)成可以直接接收來自比較部分500的輸出信號(hào)，或通過任何其它轉(zhuǎn)換系統(tǒng)而不是光電耦合器PC2來接收。
甚至在功率晶體管切換控制下由電源電路對(duì)負(fù)載供能的情況下，即，采用不同于本實(shí)施例所示的功率轉(zhuǎn)換方法的情況下也可以采用所述的過熱探測(cè)裝置。尤其，在負(fù)載是一個(gè)單相的AC馬達(dá)的情況下，唯一的區(qū)別是晶體管的數(shù)目下降(下降到4個(gè))，而采用的是相同的過熱探測(cè)裝置。還有，甚至在采用具有功率晶體管的電路將電壓切換到負(fù)載的情況下，即，由DC電源直接驅(qū)動(dòng)的情況下，也可以采用過熱探測(cè)電路。
下面將參見圖3說明過熱探測(cè)方法。
首先根據(jù)負(fù)載驅(qū)動(dòng)條件，控制部分600驅(qū)動(dòng)負(fù)載(步驟S220)，即，將可比的AC功率加到馬達(dá)210，而控制部分600有選擇地切換功率晶體管Q1-Q6。
在負(fù)載驅(qū)動(dòng)步驟S220，相應(yīng)于通過功率晶體管Q1-Q6對(duì)負(fù)載施加的電流的電壓信號(hào)Va受到探測(cè)(步S222)。這里，電壓信號(hào)Va是通過積分器400的電阻R14產(chǎn)生的，它相應(yīng)于在電流探測(cè)電阻件R30的二端處由電壓降所產(chǎn)生的電壓信號(hào)。
接著，控制部分600測(cè)定是否所述的探測(cè)電壓信號(hào)Va超過電壓參考電壓信號(hào)Vo(S224)。
當(dāng)測(cè)定到在測(cè)定步驟S224中所探測(cè)的電壓信號(hào)Va低于第一參考信號(hào)Vo時(shí)，根據(jù)預(yù)定的放電速率對(duì)積分電壓Vs進(jìn)行放電。
相反，當(dāng)測(cè)定到在測(cè)定步驟S224中所探測(cè)的電壓信號(hào)Va超過第一參考信號(hào)Vo時(shí)，通過對(duì)超過值Va-Vo對(duì)積分Vs進(jìn)行計(jì)算(步驟S228)。這里，超過值Va-Vo相當(dāng)于低于信號(hào)。
于是，測(cè)定是否在積分計(jì)算步驟S228中所計(jì)算的積分Vt超過第二參考信號(hào)Vt(步驟S230)，并且控制部分600在所測(cè)定的積分Vs超過第二參考信號(hào)Vt(步驟S232)時(shí)，通過斷開功率晶體管Q1-Q6來停止馬達(dá)210的運(yùn)轉(zhuǎn)。
下面，將參見附圖4和5介紹利用本發(fā)明的探測(cè)功率晶體管Q1-Q6過熱的裝置和探測(cè)方法來驅(qū)動(dòng)倒相器的實(shí)例。
圖4表示在功率晶體管Q1-Q6按照一種實(shí)例受到驅(qū)動(dòng)，以及隨后功率晶體管Q1-Q6的溫度改變時(shí)積分器400的輸出值的曲線圖。
曲線圖4(A)是一個(gè)表示在控制部分600以電流的方式有選擇地驅(qū)動(dòng)功率晶體管Q1-Q6時(shí)電流流過電阻件R30的波形，所述的電流是一個(gè)相應(yīng)于第一參考信號(hào)的額定電流和可以擊穿功率晶體管Q1-Q6的過流(I峰值)之間的中間值，并被加到負(fù)載，而所加的電源的on／off驅(qū)動(dòng)速率是足以逐步地增加功率晶體管Q1-Q6的溫度。
曲線4(B)表示相應(yīng)于圖4(A)的電流波形的積分器400的輸出值，而圖4(C)表示在按照如圖4(A)的曲線驅(qū)動(dòng)功率晶體管時(shí)所探測(cè)到的功率晶體管Q1-Q6的溫度。
如圖4中的曲線所示，從積分器400輸出的Vs逐步地以正比于功率晶體管Q1-Q6溫度增加的速率增加。雖然作為負(fù)載的馬達(dá)210在某一時(shí)間停轉(zhuǎn)，但由于這種OFF時(shí)間相比于ON時(shí)間是相當(dāng)短的，所以積分器400的電容器C0的放電所可以忽略的。通過上述的反復(fù)驅(qū)動(dòng)，除了功率晶體管Q1-Q6的溫度增加外，積分器400的輸出值Vs也上升，并到達(dá)預(yù)定的第二參考電壓Vt，之后，控制部分600利用由比較部分500輸出的過熱信號(hào)停止馬達(dá)210運(yùn)轉(zhuǎn)。當(dāng)馬達(dá)210停止時(shí)，被斷開的功率晶體管Q1-Q6的溫度下降到低于擊穿參考溫度之下，積分器400的輸出值也由于電容器C0的放電而下降。
圖5表示在圖2的功率晶體管Q1-Q6按照另一種實(shí)例受到驅(qū)動(dòng)，以及隨后功率晶體管Q1-Q6的溫度改變時(shí)積分器400的輸出值的曲線圖。
曲線5(A)是表示在相對(duì)于功率晶體管Q1-Q6的驅(qū)動(dòng)ON-時(shí)間的驅(qū)動(dòng)OFF-時(shí)間相對(duì)地圖4(A)所示的情況時(shí)電流流過電阻件R30的波形。
功率晶體管Q1-Q6在受到如圖5(A)的條件下驅(qū)動(dòng)時(shí)，在預(yù)定的擊穿參考溫度下功率晶體管Q1-Q6的溫度增加或下降的情形。又如圖5(B)所示，積分器400的輸出值同樣在過熱測(cè)定的信號(hào)，即在第二參考信號(hào)Vt的情況下，相應(yīng)于功率晶體管Q1-Q6的溫度增加或降低而降低或增加的情況。在電流不流過電阻件R30時(shí)，積分器400的積分Vs通過電容器C0的放電以功率晶體管Q1-Q6的下降速率成比例地下降。在驅(qū)動(dòng)OFF-時(shí)間足夠長(zhǎng)時(shí)，尤其需要重新設(shè)置積分器400的輸出值。于是，在施加斷續(xù)的電流時(shí)，由于積分器400的電壓積分通過并聯(lián)連接到電容器C0的放電電阻R0而下降相應(yīng)于電流不加上時(shí)所引起的功率晶體管Q1-Q6的溫度下降，所以根據(jù)功率晶體管Q1-Q6的驅(qū)動(dòng)狀態(tài)，相應(yīng)于溫度改變的信號(hào)從積分器400輸出。
如上所述，在根據(jù)本發(fā)明探測(cè)倒相器的功率晶體管過熱的這種和探測(cè)的方法中，利用成本低于溫度傳感器的積分器400有利于相應(yīng)于功率晶體管Q1-Q6內(nèi)溫度改變的信號(hào)，并更有利于阻止功率晶體管Q1-Q6的可能的過熱，同時(shí)還可以取得經(jīng)濟(jì)利益。
權(quán)利要求
1．一種過熱探測(cè)裝置，該裝置采用對(duì)加上負(fù)載的電源按照控制信號(hào)輸入進(jìn)行on／off切換的方式探測(cè)與電源連接的倒相器的功率晶體管的過熱，該裝置包括一個(gè)電阻件，設(shè)置在電源到功率晶體管所形成的電流通路上；一個(gè)積分器，用于對(duì)從電阻件的二端所產(chǎn)生的電壓信號(hào)減去第一參考信號(hào)后所得到的剩余信號(hào)進(jìn)行積分；一個(gè)比較部分，用于輸出在將積分器的輸出信號(hào)與第二參考信號(hào)比較之后所獲得的結(jié)果；以及一個(gè)控制部分，用于在測(cè)定從比較部分輸出的相應(yīng)于過熱信號(hào)的信號(hào)時(shí)斷開功率晶體管。
2．如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述的積分器包含一個(gè)運(yùn)算放大器，通過其第一輸入端輸入由電阻件產(chǎn)生的電壓信號(hào)，并通過第二輸入端輸入一個(gè)第一參考信號(hào)；一個(gè)比較器，連接在運(yùn)算放大器的輸出端和第一輸入端之間；一個(gè)電阻件，該電阻件與電容器并聯(lián)連接。
3．如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，設(shè)定第一參考信號(hào)等于在相對(duì)于功率晶體管預(yù)定的，流過電阻件的額定電流時(shí)，在電阻件的二端所產(chǎn)生的電壓信號(hào)。
4．如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，在功率晶體管的溫度到達(dá)一個(gè)預(yù)定的過熱參考度時(shí)，設(shè)定第二參考信號(hào)為積分器的一個(gè)輸出值。
5．一種按照控制信號(hào)輸入對(duì)加載的電源進(jìn)行切換的方式探測(cè)與電源相連接的倒相器的功率晶體管的過熱的方法，該方法包含下述步驟在從電源流到功率晶體管的電流超過預(yù)定的程度時(shí)，產(chǎn)生一個(gè)相當(dāng)于一個(gè)過剩電流的第一信號(hào)；將第一信號(hào)隨時(shí)間積分；將積分信號(hào)與預(yù)定的過熱參考信號(hào)進(jìn)行比較；在積分信號(hào)超過過熱參考信號(hào)時(shí)切換功率晶體管。
6．如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，該方法還包含在第一信號(hào)不是在積分步驟產(chǎn)生時(shí)，按照預(yù)定的放電速率對(duì)積分電壓進(jìn)行放電的步驟。
全文摘要
一種探測(cè)功率晶體管過熱的裝置和方法,該裝置包含一個(gè)設(shè)置在電源到功率晶體管所形成的電流通路上電阻件,一個(gè)用于對(duì)從電阻件的二端所產(chǎn)生的電壓信號(hào)減去第一參考信號(hào)后所得到的剩余信號(hào)進(jìn)行積分的積分器,一個(gè)用于輸出在將積分器的輸出信號(hào)與第二參考信號(hào)比較之后所獲得的結(jié)果的比較部分,一個(gè)用于在測(cè)定從比較部分輸出的相應(yīng)于過熱信號(hào)的信號(hào)時(shí)斷開功率晶體管控制部分,可防止功率晶體管過熱和獲得經(jīng)濟(jì)利益。
文檔編號(hào)H02H3/08GK1290058SQ0012470
公開日2001年4月4日 申請(qǐng)日期2000年9月13日 優(yōu)先權(quán)日1999年9月28日
發(fā)明者李東圭 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社