專利名稱：新型漏電檢測保護(hù)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種安裝在電源插座內(nèi)的具有漏電檢測、保護(hù)功能的電路。
背景技術(shù)：
隨著具有漏電保護(hù)功能的電源插座(簡稱GFCI)產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展，人們對具有漏電保護(hù)功能的電源插座的功能、使用安全性、可靠性、使用壽命等要求越來越高。這使得業(yè)內(nèi)人士不斷地致力于研究、改進(jìn)安裝在電源插座內(nèi)的漏電檢測保護(hù)電路，使其電路更簡潔、 功能更強(qiáng)勁、使用更安全、工作更可靠、使用壽命更長。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述原因，本發(fā)明的主要目的是提供一種安裝在電源插座內(nèi)的、具有壽命終止檢測功能的新型漏電檢測保護(hù)電路。本發(fā)明的另一目的是提供一種對由于雷擊或其他原因引起的瞬間高壓對電源插座以及與電源插座相連的其它設(shè)備引起的破壞具有保護(hù)作用的新型漏電檢測保護(hù)電路。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案一種漏電檢測保護(hù)電路，它包括用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈、控制芯片、內(nèi)置有鐵芯的脫扣線圈、可控硅；其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括有一個(gè)用于檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止的檢測開關(guān)。所述檢測開關(guān)的一端經(jīng)限流電阻與電源輸入端零線/火線相連，另一端與穿過所述用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈的電源輸入端火線/ 零線相連。在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，所述檢測開關(guān)為常閉開關(guān)；當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，自動產(chǎn)生模擬漏電流，自動檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止；隨即，所述檢測開關(guān)斷開，模擬漏電流消失。在本發(fā)明的另一優(yōu)選實(shí)施例中，所述檢測開關(guān)為常開開關(guān)，該檢測開關(guān)與電源插座的測試按鈕聯(lián)動；按壓測試按鈕，所述檢測開關(guān)閉合，手動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止；釋放測試按鈕(TEST)，所述檢測開關(guān)斷開，模擬漏電流消失。在本發(fā)明的另一優(yōu)選實(shí)施例中，所述檢測開關(guān)為常開開關(guān)；該檢測開關(guān)與復(fù)位按鈕聯(lián)動，當(dāng)復(fù)位按鈕被按下時(shí)，該檢測開關(guān)閉合，釋放復(fù)位按鈕，該檢測開關(guān)早已斷開；該檢測開關(guān)的一端與所述可控硅的觸發(fā)極相連，另一端通過電阻與所述控制芯片的工作電源輸入端相連；當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，手動觸發(fā)可控硅， 檢測漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。在本發(fā)明的另一優(yōu)選實(shí)施例中，所述檢測開關(guān)為常閉開關(guān)；所述檢測開關(guān)的一端經(jīng)限流電阻與電源輸入端零線相連，另一端與穿過所述用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈的電源輸入端零線相連；當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，自動產(chǎn)生低電阻故障電流，檢測漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。


圖1為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例1具體電路圖；圖2為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例2具體電路圖；圖3為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例3具體電路圖；圖4為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例4具體電路圖；圖4-1為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例5具體電路圖；圖5為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例6具體電路圖；圖5-1為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例7具體電路圖；圖6為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例8具體電路圖；圖7為本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例9具體電路圖。
具體實(shí)施例方式圖1為本發(fā)明公開的安裝在電源插座內(nèi)的具有漏電檢測、保護(hù)功能的漏電檢測保護(hù)電路具體電路圖。如圖1所示，該漏電檢測保護(hù)電路包括用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈 LK1000 1)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2(200 1)、控制芯片ICl (RV4145)、內(nèi)置有鐵芯的脫扣線圈SOL、可控硅V4、檢測開關(guān)KR-1、與測試按鈕TEST聯(lián)動的模擬漏電流產(chǎn)生開關(guān)KR-5、半波整流二極管VI、常閉開關(guān)K1、常開開關(guān)K2。漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端LINE(即電源插座的電源輸入端)的火線HOT、零線WHITE穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll (1000 1)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2Q00 1)后，通過與電源插座復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動的電源開關(guān)KR-2-1、KR-2-2與漏電檢測保護(hù)電路的電源輸出端(即電源插座的電源輸出端)LOAD的火線HOT、零線WHITE相連；同時(shí)，穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll (1000 1)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2Q00 1)的電源輸入端火線、零線還通過與電源插座復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動的另一組電源開關(guān)KR-3-l、KR-3-2與電源插座表面的電源火線、零線輸出插孔相連。用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈LldOOO 1)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈 L2(200 1)的信號輸出端與控制芯片ICl的信號輸入端1、2、3、7相連，控制芯片ICl的控制信號輸出端5與可控硅V4的觸發(fā)極相連?？刂菩酒琁Cl的工作電源輸入端6通過電阻 R1、半波整流二極管VI、開關(guān)K1/K2、脫扣線圈SOL與漏電檢測保護(hù)電路的電源輸入端LINE 的火線HOT相連?？刂菩酒琁Cl的工作地管腳4與電源輸入端LINE的零線WHITE相連。可控硅V4的陽極通過常閉開關(guān)Kl/常開開關(guān)K2、脫扣線圈SOL與漏電檢測保護(hù)電路的電源輸入端LINE的火線HOT相連，可控硅V4的陰極與電源輸入端LINE的零線WHITE 相連。如圖1所示，脫扣線圈SOL的一端與電源輸入端LINE的火線HOT相連；脫扣線圈 SOL的另一端通過常閉開關(guān)Kl/常開開關(guān)K2與可控硅V4的陽極、控制芯片ICl的工作電源輸入端相連，為可控硅V4和控制芯片ICl提供工作電源。當(dāng)復(fù)位按鈕RESET處于脫扣狀態(tài)時(shí)，常閉開關(guān)Kl閉合，常開開關(guān)K2斷開，脫扣線圈SOL的一端與電源輸入端LINE的火線HOT 相連，脫扣線圈SOL的另一端通過閉合的常閉開關(guān)Kl與可控硅V4的陽極、控制芯片ICl的工作電源輸入端相連，為可控硅V4和控制芯片ICl提供工作電源。當(dāng)復(fù)位按鈕RESET處于復(fù)位狀態(tài)時(shí)，常閉開關(guān)Kl斷開，常開開關(guān)K2閉合，脫扣線圈SOL的一端與電源輸入端LINE 的火線HOT相連，脫扣線圈SOL的另一端通過閉合的常開開關(guān)K2與可控硅V4的陽極、控制芯片ICl的工作電源輸入端相連，為可控硅V4和控制芯片ICl提供工作電源。如圖1所示，該漏電檢測保護(hù)電路包括一個(gè)與測試按鈕TEST聯(lián)動的模擬漏電流產(chǎn)生開關(guān)KR-5。該模擬漏電流產(chǎn)生開關(guān)KR-5的一端通過限流電阻R3與電源輸入端LINE的零線相連，另一端與電源輸出端的火線相連。按壓測試按鈕TEST，該模擬漏電流產(chǎn)生開關(guān) KR-5閉合，電源輸入端的零線經(jīng)限流電阻R3、閉合的模擬漏電流產(chǎn)生開關(guān)KR-5與電源輸出端的火線相連，形成回路，產(chǎn)生模擬漏電流。漏電檢測保護(hù)電路檢測到該漏電流后，使電源插座內(nèi)的機(jī)械組件動作，使復(fù)位按鈕RESET跳閘，切斷電源插座的電源輸出。如圖1所示，該漏電檢測保護(hù)電路還包括一個(gè)檢測開關(guān)KR-I。該檢測開關(guān)KR-I為常閉開關(guān)，檢測開關(guān)KR-I的一端經(jīng)限流電阻R3與電源輸入端的零線相連，另一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端的火線相連。當(dāng)本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，無需操作任何部件，就可自動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。如果漏電檢測保護(hù)電路沒有壽命終止，則該漏電檢測保護(hù)電路使電源插座內(nèi)的機(jī)械組件動作，自動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測開關(guān)KR-I自動斷開，等待復(fù)位按鈕復(fù)位；反之，如果漏電檢測保護(hù)電路壽命終止了，則該漏電檢測保護(hù)電路通過使電源插座內(nèi)的機(jī)械組件不動作，阻止復(fù)位按鈕復(fù)位。如圖1所示，當(dāng)本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，無需操作任何部件，由于檢測開關(guān)KR-I為常閉開關(guān)，電源輸入端的零線經(jīng)限流電阻R3、閉合的檢測開關(guān)KR-I與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連，形成閉合回路，自動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測開關(guān) KR-I自動斷開，等待復(fù)位按鈕復(fù)位。如果漏電檢測保護(hù)電路沒有壽命終止，則用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll檢測到該漏電流，輸出信號給控制芯片IC1，控制芯片ICl的5腳輸出高電平信號，觸發(fā)可控硅V4， 使可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁場，內(nèi)置在脫扣線圈 SOL內(nèi)的鐵芯動作，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動作，鎖扣被打開，復(fù)位導(dǎo)向鎖穿過鎖孔，等待復(fù)位按鈕復(fù)位；同時(shí)，電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動作，使檢測開關(guān)KR-I斷開，模擬漏電流消失。此時(shí)，按壓復(fù)位按鈕RESET，復(fù)位按鈕復(fù)位成功，漏電檢測保護(hù)電路電源輸出端LOAD有電源輸出，證明電路內(nèi)有元件壞了。反之，如果漏電檢測保護(hù)電路壽命終止，則控制芯片ICl的5腳始終為低電平，不觸發(fā)可控硅V4，可控硅V4不導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)無電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)無磁場產(chǎn)生，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯不動作，電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置不動作，鎖扣無法打開， 復(fù)位按鈕始終無法復(fù)位，漏電檢測保護(hù)電路電源輸出端LOAD沒有電源輸出；檢測開關(guān)KR-I 始終閉合，模擬漏電流不消失。在電源插座或漏電檢測保護(hù)電路正常工作過程中，如果電源插座供電電路中出現(xiàn)漏電現(xiàn)象或低電阻故障，則感應(yīng)線圈Ll或自檢測線圈L2輸出信號給控制芯片IC1，控制芯片ICl的管腳5輸出高電平，觸發(fā)可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL 內(nèi)產(chǎn)生磁場，使內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯動作，從而使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動作，使電源插座上的復(fù)位按鈕RESET脫扣，與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動的開關(guān)KR-2-1、KR-2-2、KR-3-l、 KR-3-2斷開，切斷電源插座/漏電檢測保護(hù)電路的電源輸出；常開開關(guān)K2從閉合狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)閿嚅_狀態(tài)，常閉開關(guān)Kl又從斷開狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)殚]合狀態(tài)，檢測開關(guān)KR-I從斷開狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)殚]合狀態(tài)，產(chǎn)生模擬漏電流，隨即檢測開關(guān)KR-I又從閉合狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)閿嚅_狀態(tài)，等待復(fù)位按鈕復(fù)位。待產(chǎn)生漏電現(xiàn)象或低電阻故障的原因消除，按壓復(fù)位按鈕，復(fù)位按鈕才能復(fù)位。在電源插座或漏電檢測保護(hù)電路正常工作過程中，如果想切斷漏電檢測保護(hù)電路或電源插座的電源輸出，則按壓測試按鈕TEST，使開關(guān)KR-5閉合，電源輸出端的火線HOT經(jīng)閉合的開關(guān)KR-5、限流電阻R3與電源輸入端的零線WHITE相連，形成閉合回路，手動產(chǎn)生模擬漏電流，如果此時(shí)漏電檢測保護(hù)電路沒有壽命終止，則該漏電檢測保護(hù)電路使電源插座內(nèi)的機(jī)械組件動作，使復(fù)位按鈕脫扣，使與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動的開關(guān)KR-2-1、KR-2-2、 KR-3-l、KR-3-2斷開，切斷電源插座/漏電檢測保護(hù)電路的電源輸出切斷電源輸出。釋放測試按鈕TEST，開關(guān)KR-5斷開，手動模擬漏電流消失；瞬間，檢測開關(guān)KR-I閉合自動產(chǎn)生模擬漏電流，隨即檢測開關(guān)KR-I又從閉合狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)閿嚅_狀態(tài)，模擬漏電流消失，等待復(fù)位按鈕復(fù)位。圖2為本發(fā)明漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例2具體電路圖。圖2所示漏電檢測保護(hù)電路與圖1所示漏電檢測保護(hù)電路的工作原理相同，其區(qū)別在于圖1所示漏電檢測保護(hù)電路中，脫扣線圈SOL的一端與電源輸入端LINE的火線HOT相連；另一端通過常閉開關(guān)Kl/常開開關(guān)K2與可控硅V4的陽極、控制芯片IC1(RV4145)的工作電源輸入端相連，為可控硅V4 和控制芯片ICl提供工作電源。而，圖2所示漏電檢測保護(hù)電路中的脫扣線圈SOL的一端與電源輸入端LINE的火線HOT相連；另一端直接與可控硅V4的陽極相連，為其提供工作電源，同時(shí)，脫扣線圈SOL的另一端還通過常閉開關(guān)Kl/常開開關(guān)K2與控制芯片ICl的工作電源輸入端6相連，為控制芯片ICl提供工作電源。圖3為本發(fā)明漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例3具體電路圖。圖3所示漏電檢測保護(hù)電路與圖1、圖2所示漏電檢測保護(hù)電路的區(qū)別在于當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路的電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，無需操作任何部件，圖1、圖2所示漏電檢測保護(hù)電路自動產(chǎn)生模擬漏電流；而，圖3所示漏電檢測保護(hù)電路自動產(chǎn)生低電阻故障電流。如圖3所示，漏電檢測保護(hù)電路中的檢測開關(guān)KR-I的一端經(jīng)限流電阻R3與電源輸入端的零線相連，另一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端零線相連。如圖3所示，當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，無需操作任何部件，由于檢測開關(guān)KR-I為常閉開關(guān)，電源輸入端的零線經(jīng)限流電阻R3、閉合的檢測開關(guān)KR-I與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈 L2的電源輸入端零線相連，形成閉合回路，自動產(chǎn)生低電阻故障電流。如果漏電檢測保護(hù)電路沒有壽命終止，則用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2 檢測到該故障電流，輸出信號給控制芯片IC1，控制芯片ICl的5腳輸出高電平信號，觸發(fā)可控硅V4，使可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁場，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯動作，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動作，鎖扣被打開，復(fù)位導(dǎo)向鎖穿過鎖孔，等待復(fù)位按鈕復(fù)位；同時(shí)，電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動作，使檢測開關(guān)KR-I斷開，低電阻故障電流消失。此時(shí)按壓復(fù)位按鈕RESET，復(fù)位按鈕復(fù)位成功，漏電檢測保護(hù)電路電源輸出端LOAD有電源輸出。反之，如果漏電檢測保護(hù)電路壽命終止，則控制芯片ICl的5腳始終為低電平，不觸發(fā)可控硅V4，可控硅V4不導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)無電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)無磁場產(chǎn)生，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯不動作，電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置不動作，鎖扣無法打開， 復(fù)位按鈕始終無法復(fù)位，漏電檢測保護(hù)電路電源輸出端LOAD沒有電源輸出；檢測開關(guān)KR-I 始終閉合，模擬低電阻故障電流不消失。圖4為本發(fā)明漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例4具體電路圖。圖4所示漏電檢測保護(hù)電路與圖1、圖2、圖3所示漏電檢測保護(hù)電路的區(qū)別在于當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路的電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，無需操作任何部件，圖1、圖2、圖3所示漏電檢測保護(hù)電路自動產(chǎn)生模擬漏電流或低電阻故障電流；而，圖4所示漏電檢測保護(hù)電路必須先按壓測試按鈕TEST，才能夠產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。如圖4所示，該漏電檢測保護(hù)電路中的檢測開關(guān)KR-I為常開開關(guān)，與測試按鈕 TEST聯(lián)動。當(dāng)測試按鈕TEST被按下時(shí)，檢測開關(guān)KR-I閉合，當(dāng)測試按鈕TEST被釋放時(shí)，檢測開關(guān)KR-I斷開。檢測開關(guān)KR-I的一端經(jīng)限流電阻R3與電源輸入端的零線相連，另一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連。 如圖4所示，當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，先按壓測試按鈕TEST，使與之聯(lián)動的檢測開關(guān)KR-I閉合。由于檢測開關(guān)KR-I閉合，電源輸入端的零線經(jīng)限流電阻R3、閉合的檢測開關(guān)KR-I與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連，形成閉合回路，手動產(chǎn)生模擬漏電流。如果漏電檢測保護(hù)電路沒有壽命終止，則用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll檢測到該漏電流，輸出信號給控制芯片IC1，控制芯片ICl的5腳輸出高電平信號，觸發(fā)可控硅V4， 使可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁場，內(nèi)置在脫扣線圈 SOL內(nèi)的鐵芯動作，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動作，鎖扣被打開，復(fù)位導(dǎo)向鎖穿過鎖孔，等待復(fù)位按鈕復(fù)位；同時(shí)，釋放測試按鈕TEST，使檢測開關(guān)KR-I斷開，模擬漏電流消失。此時(shí)按壓復(fù)位按鈕RESET，復(fù)位按鈕復(fù)位成功，漏電檢測保護(hù)電路電源輸出端LOAD有電源輸出。反之，如果漏電檢測保護(hù)電路壽命終止，則控制芯片ICl的5腳始終為低電平，不觸發(fā)可控硅V4，可控硅V4不導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)無電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)無磁場產(chǎn)生，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯不動作，電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置不動作，鎖扣無法打開， 復(fù)位按鈕始終無法復(fù)位，漏電檢測保護(hù)電路電源輸出端LOAD沒有電源輸出。圖4-1為本發(fā)明漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例5具體電路圖。圖4-1所示漏電檢測保護(hù)電路與圖4所示漏電檢測保護(hù)電路的工作原理相同先按壓測試按鈕TEST，手動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止，其區(qū)別在于圖4-1所示漏電檢測保護(hù)電路的手動模擬漏電流產(chǎn)生回路中串聯(lián)了一個(gè)常閉開關(guān)KR-6。S卩，檢測開關(guān)KR-I的一端經(jīng)常閉開關(guān)KR-6、限流電阻R3與電源輸入端的零線相連，另一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連。
當(dāng)按壓測試按鈕TEST，使與之聯(lián)動的檢測開關(guān)KR-I閉合后，電源輸入端的零線經(jīng)限流電阻R3、常閉開關(guān)KR-6、閉合的檢測開關(guān)KR-I與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll 和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連，形成閉合回路，手動產(chǎn)生模擬漏電流。當(dāng)模擬漏電流產(chǎn)生后，電源插座內(nèi)的機(jī)械組件動作，立即將常閉開關(guān)KR-6斷開，使模擬漏電流消失。這種設(shè)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)是避免由于長時(shí)間不釋放測試按鈕TEST，檢測開關(guān)KR-I不斷開，模擬漏電流長時(shí)間不消失，將漏電檢測保護(hù)電路燒壞。圖5為本發(fā)明漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例6具體電路圖。圖5所示漏電檢測保護(hù)電路與圖4所示漏電檢測保護(hù)電路的工作原理相同先按壓測試按鈕TEST，手動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止，其區(qū)別在于圖4所示漏電檢測保護(hù)電路中的脫扣線圈SOL的一端與電源輸入端的火線相連，控制芯片ICl的工作地管腳和可控硅V4 的陰極分別與電源輸入端的零線相連；而圖5所示漏電檢測保護(hù)電路中的脫扣線圈SOL的一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連，控制芯片ICl的工作地管腳和可控硅V4的陰極分別與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端零線相連。圖5-1為本發(fā)明漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例7具體電路圖。圖5-1所示漏電檢測保護(hù)電路與圖4-1所示漏電檢測保護(hù)電路的工作原理相同先按壓測試按鈕TEST，手動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止；并且，在模擬漏電流產(chǎn)生回路中串聯(lián)有一個(gè)常閉開關(guān)KR-6，當(dāng)手動產(chǎn)生模擬漏電流后，立即使常閉開關(guān)KR-6斷開，使手動產(chǎn)生的模擬漏電流消失，避免漏電檢測保護(hù)電路燒毀，延長漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。其區(qū)別在于圖4-1所示漏電檢測保護(hù)電路中的脫扣線圈SOL的一端與電源輸入端的火線相連，控制芯片ICl的工作地管腳和可控硅V4的陰極分別與電源輸入端的零線相連；而圖5-1所示漏電檢測保護(hù)電路中的脫扣線圈SOL的一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連，控制芯片ICl 的工作地管腳和可控硅V4的陰極分別與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端零線相連。圖6為本發(fā)明漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例8具體電路圖。圖6所示漏電檢測保護(hù)電路與圖5所示漏電檢測保護(hù)電路的工作原理相同先按壓測試按鈕TEST，手動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止，其區(qū)別在于圖5所示漏電檢測保護(hù)電路中的脫扣線圈SOL的一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連，另一端通過開關(guān)K1/K2與可控硅V4的陽極以及控制芯片ICl的工作電源輸入端6相連，為可控硅V4和控制芯片ICl提供工作電源；而圖6所示漏電檢測保護(hù)電路中的脫扣線圈SOL的一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線相連，另一端直接與可控硅V4的陽極相連，為其提供工作電源，同時(shí)，脫扣線圈SOL的另一端通過開關(guān)K1/K2與控制芯片ICl 的工作電源輸入端6相連，為控制芯片ICl提供工作電源。圖7為本發(fā)明漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例9具體電路圖。圖7所示漏電檢測保護(hù)電路與圖4、圖4-1、圖5、圖5-1、圖6所示漏電檢測保護(hù)電路的工作原理相同都是通過手動的方式檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止；其區(qū)別在于圖4、圖4-1、圖5、圖5-1、圖6所示漏電檢測保護(hù)電路是通過手動的方式產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止，而，圖7所示漏電檢測保護(hù)電路是通過手動觸發(fā)漏電檢測保護(hù)電路中的可控硅，使漏電檢測保護(hù)電路工作的方式，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。如圖7所示，檢測開關(guān)KR-I的一端與可控硅的觸發(fā)極相連，另一端通過電阻R6與控制芯片ICl的工作電源輸入端6相連。該檢測開關(guān)KR-I與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動，當(dāng)復(fù)位按鈕RESET被按下時(shí)，檢測開關(guān)KR-I閉合，直接電源觸發(fā)可控硅V4。如果漏電檢測保護(hù)電路沒有壽命終止，則可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁場，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯動作，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動作，鎖扣被打開，檢測開關(guān)同時(shí)斷開，復(fù)位導(dǎo)向鎖穿過鎖孔，釋放復(fù)位按鈕，復(fù)位按鈕復(fù)位成功，漏電檢測保護(hù)電路電源輸出端LOAD有電源輸出；同時(shí)，檢測開關(guān)KR-I斷開，可控硅V4截止。反之，如果漏電檢測保護(hù)電路壽命終止，則即使可控硅V4的觸發(fā)極直接與電源相連為高電平，可控硅V4也不導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)無電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)無磁場產(chǎn)生，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯不動作，電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置不動作，鎖扣無法打開， 復(fù)位按鈕始終無法復(fù)位，漏電檢測保護(hù)電路電源輸出端LOAD沒有電源輸出。為了提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命，避免由于雷擊或其他原因引起的瞬間高壓對電源插座以及與其相連的外部設(shè)備引起的破壞，如圖5 圖7所示，本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路在穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈 L2的電源輸入端火線HOT和零線WHITE處連接有一組用于放電的直角三角形或等腰三角形狀的尖端避雷金屬片Ml和M2，尖端避雷金屬片Ml和M2相對放置，兩個(gè)尖端避雷金屬片下部內(nèi)側(cè)之間的距離大于其上部內(nèi)側(cè)之間的距離。當(dāng)電源輸出端的火線和零線由于雷擊或其他原因引起瞬間高壓時(shí)，接于輸出端火線處的尖端避雷金屬片和接于輸出端零線處的尖端避雷金屬片之間的空氣介質(zhì)被擊穿，形成空氣放電，大部分高壓通過避雷金屬片消耗掉，剩余一小部分通過脫扣線圈SOL、壓敏電阻MOV消耗掉，從而保護(hù)了漏電檢測保護(hù)電路/電源插座，以及與電源插座相連的其它設(shè)備的安全運(yùn)行。為了更好地顯示漏電檢測保護(hù)電路的工作狀態(tài)，如圖7所示，本發(fā)明在電源輸出端LOAD火線和零線之間并聯(lián)有指示燈V3，在穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線和零線之間并聯(lián)有指示燈V6。指示燈V3、 V6的顏色不同，它們發(fā)出的光通過一根引光桿輸出到電源插座表面。當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路上電正常工作后，指示燈V3、V6都亮，兩種燈光混合轉(zhuǎn)變?yōu)榈谌N顏色輸出，所以，使用者可以根據(jù)顏色判斷該漏電檢測保護(hù)電路的工作狀態(tài)。綜上所述，由于本發(fā)明采用以上技術(shù)方案，故本發(fā)明公開的漏電檢測保護(hù)電路具有以下突出的優(yōu)點(diǎn)(1)該漏電檢測保護(hù)電路為了節(jié)省能源、減少電子原件，利用半波整流Vl的技術(shù)原理，同樣能達(dá)到壽命終止檢測功能，而電路布線更簡單，特別在檢測到元件和漏電流元件損壞時(shí)，會自動阻止復(fù)位按鈕復(fù)位。(2)當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，通過自動/或手動的方式產(chǎn)生模擬漏電流，檢測漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。
(3)具有防雷擊以及其他原因引起的瞬間高壓對電源插座以及與該電源插座相連的其它設(shè)備引起的破壞。以上所述是本發(fā)明的具體實(shí)施例及所運(yùn)用的技術(shù)原理，任何基于本發(fā)明技術(shù)方案基礎(chǔ)上的等效變換，均屬于本發(fā)明保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種漏電檢測保護(hù)電路，它包括用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)、控制芯片(ICl)、內(nèi)置有鐵芯的脫扣線圈(SOL)、可控硅(V4)；其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括有一個(gè)用于檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止的檢測開關(guān)(KR-I)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述檢測開關(guān)(KR-I)的一端經(jīng)限流電阻(R3)與電源輸入端零線/火線相連，另一端與穿過所述用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)的電源輸入端火線/零線相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述檢測開關(guān)(KR-I)為常閉開關(guān)；當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，自動產(chǎn)生模擬漏電流， 自動檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止；隨即，所述檢測開關(guān)(KR-I)斷開，模擬漏電流消失。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述檢測開關(guān)(KR-I)為常開開關(guān)，該檢測開關(guān)(KR-I)與電源插座的測試按鈕(TEST)聯(lián)動；按壓測試按鈕(TEST)，所述檢測開關(guān)(KR-I)閉合，手動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止；釋放測試按鈕(TEST)，所述檢測開關(guān)(KR-I)斷開，模擬漏電流消失。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括一常閉開關(guān)(KR-6)；所述檢測開關(guān)(KR-I)的一端經(jīng)所述常閉開關(guān)(KR-6)、限流電阻與電源輸入端零線/火線相連，另一端與穿過所述用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)的電源輸入端火線/零線相連；按壓測試按鈕(TEST)，所述檢測開關(guān)(KR-I)閉合，手動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止；隨即，所述常閉開關(guān)(KR-6)斷開，模擬漏電流消失；釋放測試按鈕(TEST)，所述檢測開關(guān)(KR-I)斷開。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述檢測開關(guān)(KR-I)為常開開關(guān)；該檢測開關(guān)(KR-I)與復(fù)位按鈕(RESET)聯(lián)動，當(dāng)復(fù)位按鈕(RESET)被按下時(shí)，該檢測開關(guān)(KR-I)閉合，釋放復(fù)位按鈕前，該檢測開關(guān)早已斷開；該檢測開關(guān)(KR-I)的一端與所述可控硅的觸發(fā)極相連，另一端通過電阻與所述控制芯片(ICl)的工作電源輸入端(6)相連；當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，手動觸發(fā)可控硅，檢測漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述檢測開關(guān)(KR-I)為常閉開關(guān)；所述檢測開關(guān)(KR-I)的一端經(jīng)限流電阻(R3)與電源輸入端零線相連，另一端與穿過所述用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)的電源輸入端零線相連；當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路電源輸入端與墻壁內(nèi)的電源線連接好后，自動產(chǎn)生低電阻故障電流，檢測漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7之一所述漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述脫扣線圈(SOL) 的一端與電源輸入端的火線相連；脫扣線圈(SOL)的另一端通過常閉開關(guān)(Kl)和常開開關(guān) (K2)與可控硅(V4)的陽極、控制芯片(ICl)的工作電源輸入端相連，為可控硅(V4)和控制芯片(ICl)提供工作電源。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-7之一所述漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述脫扣線圈(SOL) 的一端與電源輸入端的火線相連；另一端直接與可控硅(V4)的陽極相連，為其提供工作電源，脫扣線圈(SOL)的另一端通過常閉開關(guān)(Kl)和常開開關(guān)(K2)與控制芯片(ICl)的工作電源輸入端相連，為控制芯片(ICl)提供工作電源。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-7之一所述漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述脫扣線圈(SOL) 的一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2) 的電源輸入端火線相連；脫扣線圈(SOL)的另一端通過常閉開關(guān)(Kl)和常開開關(guān)(K2)與可控硅(V4)的陽極、控制芯片(ICl)的工作電源輸入端相連，為可控硅(V4)和控制芯片 (ICl)提供工作電源。
11.根據(jù)權(quán)利要求1-7之一所述漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述脫扣線圈(SOL) 的一端與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2) 的電源輸入端火線相連；另一端直接與可控硅(V4)的陽極相連，為其提供工作電源；脫扣線圈(SOL)的另一端通過常閉開關(guān)(Kl)和常開開關(guān)(K2)與控制芯片(ICl)的工作電源輸入端相連，為控制芯片(ICl)提供工作電源。
12.根據(jù)權(quán)利要求1 11之一所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括有一組用于放電的直角三角形或等腰三角形狀的尖端避雷金屬片(Ml和 M2)；所述尖端避雷金屬片(Ml和M2)分別與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)的電源輸入端火線和零線相連；所述尖端避雷金屬片(Ml和M2)相對放置，兩個(gè)尖端避雷金屬片下部內(nèi)側(cè)之間的距離大于其上部內(nèi)側(cè)之間的距離。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括有兩個(gè)指示燈；在電源輸出端(LOAD)火線和零線之間并聯(lián)有所述指示燈(V3)，在穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)和用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)的電源輸入端火線和零線之間并聯(lián)有另一個(gè)所述指示燈(V6)；所述兩個(gè)指示燈(V3、V6)的顏色不同，它們發(fā)出的光通過一根引光桿輸出到電源插座表面；當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路上電正常工作后，所述兩個(gè)指示燈(V3、V6)都亮，兩種燈光混合轉(zhuǎn)變?yōu)榈谌N顏色輸出。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種漏電檢測保護(hù)電路，它包括用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈、控制芯片、內(nèi)置有鐵芯的脫扣線圈、可控硅；其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括有一個(gè)用于檢測該漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止的檢測開關(guān)。該漏電檢測保護(hù)電路可以自動/手動產(chǎn)生模擬漏電流，檢測漏電檢測保護(hù)電路是否壽命終止。
文檔編號H02H3/32GK102340125SQ20101023774
公開日2012年2月1日 申請日期2010年7月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月27日
發(fā)明者黃華道 申請人:黃華道