專利名稱：信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)及信號(hào)發(fā)生方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種對(duì)試驗(yàn)對(duì)象的無(wú)線通信設(shè)備輸出RF試驗(yàn)信號(hào)并用于對(duì)該無(wú)線通信設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)的信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)及信號(hào)發(fā)生方法。
背景技術(shù)：
已知有為了對(duì)無(wú)線通信設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)而對(duì)該無(wú)線通信設(shè)備送出與該無(wú)線通信設(shè)備對(duì)應(yīng)的通信方式的試驗(yàn)信號(hào)的信號(hào)發(fā)生器。作為其一例，有如下信號(hào)發(fā)生器將與試驗(yàn)信號(hào)對(duì)應(yīng)的基帶信號(hào)作為數(shù)字波形數(shù)據(jù)而存儲(chǔ)于內(nèi)部的存儲(chǔ)器部，并反復(fù)輸出被存儲(chǔ)的波形數(shù)據(jù)并進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換，對(duì)被轉(zhuǎn)換的信號(hào)進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換，并作為RF試驗(yàn)信號(hào)進(jìn)行輸出。
在這種信號(hào)發(fā)生器中，存儲(chǔ)部的容量有限，因此波形數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)長(zhǎng)度也變得有限。 另一方面，由于以規(guī)格規(guī)定無(wú)線通信設(shè)備的試驗(yàn)條件等，有時(shí)無(wú)法自由地改變波形數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)長(zhǎng)度。因此，以往的信號(hào)發(fā)生器中，在反復(fù)輸出的波形數(shù)據(jù)的前端與末尾的連接部產(chǎn)生相位不連續(xù)的現(xiàn)象。由此，在相位的非連續(xù)點(diǎn)產(chǎn)生雜散，除此之外，還有無(wú)線通信的同步偏離而無(wú)法正常進(jìn)行無(wú)線通信設(shè)備的試驗(yàn)之虞。
圖13為此類現(xiàn)象的概念圖。示出反復(fù)輸出3次由01至1\的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的波形數(shù)據(jù)W并進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換的波形。其中，由于波形數(shù)據(jù)W的前端的采樣數(shù)據(jù)D1的相位和末尾的采樣數(shù)據(jù)Dm的相位大不相同，因此在波形數(shù)據(jù)反復(fù)的第1次與第2次的連接部及第 2次與第3次的連接部中，在進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換的波形中出現(xiàn)相位的非連續(xù)點(diǎn)。
針對(duì)這種問(wèn)題，提出有發(fā)生使連接部的相位連續(xù)的波形圖案的FSK(Frequency Shift Keying 頻率偏移調(diào)制)信號(hào)的任意波形信號(hào)發(fā)生裝置(例如，參考專利文獻(xiàn)1)。該任意波形信號(hào)發(fā)生裝置具備反復(fù)輸出PNO^seudo-Noise)信號(hào)的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)發(fā)生器和將校正值分割為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)發(fā)生器的輸出數(shù)據(jù)的各比特并進(jìn)行加法運(yùn)算的校正構(gòu)件，能夠發(fā)生連接部的相位連續(xù)的FSK信號(hào)。
專利文獻(xiàn)1 日本專利公開2002-44170號(hào)公報(bào)
但是在專利文獻(xiàn)1中公開的發(fā)明中存在如下問(wèn)題，即校正數(shù)據(jù)來(lái)使連接部的相位連續(xù)，其結(jié)果導(dǎo)致輸出信號(hào)的頻率改變，從而無(wú)法高精確度地進(jìn)行無(wú)線通信設(shè)備的試驗(yàn)。發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)如上課題，為了高精確度地進(jìn)行無(wú)線通信設(shè)備的試驗(yàn)，本發(fā)明的目的在于提供一種無(wú)需改變波形的頻率就能夠使已發(fā)生的波形的末尾和之后反復(fù)發(fā)生的波形的前端的相位連續(xù)來(lái)反復(fù)發(fā)生任意波形的信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)及信號(hào)發(fā)生方法。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器(10、11、12)具備波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件 (20)，存儲(chǔ)由M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的數(shù)字基帶信號(hào)的波形數(shù)據(jù)，并反復(fù)連續(xù)輸出該波形數(shù)據(jù)； D/A轉(zhuǎn)換構(gòu)件(40)，對(duì)所述波形數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換；頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件(60、70)，以預(yù)定頻率的載波信號(hào)對(duì)該已被數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換的基帶信號(hào)進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換，并作為用于對(duì)無(wú)線通信設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)的RF試驗(yàn)信號(hào)來(lái)輸出，其特征在于，具備相移器(30)，接收來(lái)自所述波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件的反復(fù)輸出次數(shù)為第η次的所述波形數(shù)據(jù)，將該第η次的波形數(shù)據(jù)的各采樣數(shù)據(jù)的相位僅移動(dòng)與所述反復(fù)輸出次數(shù)η對(duì)應(yīng)的相移量Φη，并輸出至D/A轉(zhuǎn)換構(gòu)件，其中， 為了使第η-1次的所述波形數(shù)據(jù)的末尾與第η次的所述波形數(shù)據(jù)的前端的相位變化連續(xù)， 從該第η-1次的波形數(shù)據(jù)與該第η次的波形數(shù)據(jù)的相位差，即基準(zhǔn)相位差θ及所述反復(fù)輸出次數(shù)η求出所述相移量Φη。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器可具備根據(jù)存儲(chǔ)于所述波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件的所述波形數(shù)據(jù)決定所述基準(zhǔn)相位差θ的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件03)。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器可如下，即所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有相位推斷構(gòu)件(8 ，根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)和第M-I個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位推斷第 M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位；及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(83)，從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器可如下，即所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有平均相位差計(jì)算構(gòu)件(81)，計(jì)算所述波形數(shù)據(jù)的每1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的平均相位差；相位推斷構(gòu)件(82)，根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和所述平均相位差推斷第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位；及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(83)，從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)，其特征在于，包括所述信號(hào)發(fā)生器和生成所述波形數(shù)據(jù)并送出至所述信號(hào)發(fā)生器的波形數(shù)據(jù)生成裝置(90)，所述波形數(shù)據(jù)生成裝置具備波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件(92)，生成所述波形數(shù)據(jù)；基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件(93)，決定所述基準(zhǔn)相位差θ ；及波形數(shù)據(jù)送出構(gòu)件(94)，將所述波形數(shù)據(jù)及所述基準(zhǔn)相位差θ送出至所述信號(hào)發(fā)生器。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)可如下，即所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有相位推斷構(gòu)件(8 ，根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和第M-I個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位推斷第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位；及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(83)，從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)可如下，即所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有平均相位差計(jì)算構(gòu)件(81)，計(jì)算所述波形數(shù)據(jù)的每1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的平均相位差；相位推斷構(gòu)件(82)， 根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和所述平均相位差推斷第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位；及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(83)，從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)可如下，即所述波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件生成從前端至第M 個(gè)為止的采樣數(shù)據(jù)，并且取得第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位，并利用該生成的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)生成所述波形數(shù)據(jù)，所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(83)，所述基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生方法具備反復(fù)連續(xù)輸出由M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的數(shù)字基帶信號(hào)的波形數(shù)據(jù)的階段(S9)、對(duì)所述波形數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換的階段(Sll)、及以預(yù)定頻率的載波信號(hào)對(duì)該已被數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換的基帶信號(hào)進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換，并作為用于對(duì)無(wú)線通信設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)的RF試驗(yàn)信號(hào)來(lái)輸出的階段(S12)，其特征在于，具備當(dāng)所述波形數(shù)據(jù)的反復(fù)輸出次數(shù)為第η次時(shí)，求出與所述反復(fù)輸出次數(shù)η對(duì)應(yīng)的相移量Φη的階段(S7)、及在進(jìn)行所述數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換的階段之前接收到所述反復(fù)輸出次數(shù)為第η次的所述波形數(shù)據(jù)時(shí)，使所述第η次的波形數(shù)據(jù)的各采樣數(shù)據(jù)的相位僅移動(dòng)所述相移量Φη的階段(SlO)，其中，為了使第η-1次的所述波形數(shù)據(jù)的末尾和第η次的所述波形數(shù)據(jù)的前端的相位變化連續(xù)，從該第η-1次的波形數(shù)據(jù)與該第η次的波形數(shù)據(jù)的相位差，即基準(zhǔn)相位差θ及所述反復(fù)輸出次數(shù)η求出所述相移量Φη。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生方法還可具備根據(jù)所述波形數(shù)據(jù)決定所述基準(zhǔn)相位差θ 的階段(S3)。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生方法可如下，即決定所述基準(zhǔn)相位差θ的階段具有根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和第M-I個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位推斷第Μ+1 個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位的階段(S23)；及從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第 Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ的階段(SM)。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生方法可如下，即決定所述基準(zhǔn)相位差θ的階段具有計(jì)算所述波形數(shù)據(jù)的每1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的平均相位差的階段(S3》、根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和所述平均相位差推斷第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位的階段(S34)、 及從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ的階段(S35)。
另外，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生方法可具備生成從前端至第M個(gè)為止的采樣數(shù)據(jù)，并且取得第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位的階段(S41)；利用該生成的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)生成所述波形數(shù)據(jù)的階段(S42)；及從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ的階段(S44)。
本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)及信號(hào)發(fā)生方法，無(wú)需改變波形的頻率就能夠使已發(fā)生的波形的末尾和之后反復(fù)發(fā)生的波形的前端的相位連續(xù)來(lái)反復(fù)發(fā)生任意的波形。


圖1是本發(fā)明的概念圖。
圖2是本發(fā)明的第1實(shí)施方式的塊圖。
圖3是本發(fā)明的第1實(shí)施方式的主要部分的塊圖。
圖4是本發(fā)明的第1實(shí)施方式的信號(hào)發(fā)生器的變形例。
圖5是本發(fā)明的第1實(shí)施方式的流程圖。
圖6(A)和6(B)是本發(fā)明的基準(zhǔn)相位差θ的決定方法的概要圖。
圖7(A)和7(B)是本發(fā)明的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件的第1實(shí)施例。
圖8(A)和8(B)是本發(fā)明的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件的第2實(shí)施例。
圖9(A)和9(B)是本發(fā)明的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件的第3實(shí)施例。
圖10㈧和10⑶是本發(fā)明的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件的第4實(shí)施例。
圖11是本發(fā)明的第2實(shí)施方式的塊圖。
圖12是本發(fā)明的第2實(shí)施方式的流程圖。
圖13是以往的信號(hào)發(fā)生器的波形數(shù)據(jù)輸出的概念圖。
圖中10、11、12_信號(hào)發(fā)生器，20-波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件，23-基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件， 30-相移器，31、32_乘法器，33-相移量計(jì)算構(gòu)件，40-D/A轉(zhuǎn)換構(gòu)件，41、42_D/A轉(zhuǎn)換器， 50-正交調(diào)制構(gòu)件，51,52-混合器，53-局部振蕩器，54-90度移相器，55-加法器，60-頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件，61-局部振蕩器，62-混合器，70-頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件，73-局部振蕩器，81-平均相位差計(jì)算構(gòu)件，82-相位推斷構(gòu)件，83-基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件，90-波形數(shù)據(jù)生成裝置，91-操作構(gòu)件，92-波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件，93-基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件，94-波形數(shù)據(jù)送出構(gòu)件，95-波形數(shù)據(jù)生成裝置，IOOUOl-信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)。
具體實(shí)施方式
首先，根據(jù)圖1對(duì)本發(fā)明的概念進(jìn)行說(shuō)明。圖1中示出反復(fù)輸出3次由D1 Dm的 M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的波形數(shù)據(jù)W并進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換的波形。將波形數(shù)據(jù)W的第1次反復(fù)設(shè)為 W1、下一個(gè)第2次反復(fù)設(shè)為W2、之后的第3次反復(fù)設(shè)為W3時(shí)，波形數(shù)據(jù)W的各采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的相位僅移動(dòng)與其反復(fù)次數(shù)η相應(yīng)的相移量Φη。該相移量Φη以各相位在波形數(shù)據(jù)W1 的末尾和波形數(shù)據(jù)W2的前端，波形數(shù)據(jù)W2的末尾和波形數(shù)據(jù)W3的前端分別連續(xù)的方式?jīng)Q定。由此，反復(fù)3次的波形數(shù)據(jù)w成為相位連續(xù)的波形數(shù)據(jù)m
具體而言，在波形數(shù)據(jù)W的第1次反復(fù)中，各采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的相位僅移動(dòng)(滯后)Φρ在此例子中，由于小工=。，因此實(shí)際上相位并不移動(dòng)，成為波形數(shù)據(jù)W = W115接著， 在波形數(shù)據(jù)W的第2次反復(fù)中，各采樣數(shù)據(jù)D1-Dm的相位僅移動(dòng)Φ 2，成為變成D1(Ct2) Μ(Φ2)的波形數(shù)據(jù)W2。在此例子中，Φ2= π/2。之后，在波形數(shù)據(jù)W的第3次反復(fù)中，各采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的相位僅移動(dòng)Φ3，成為變成D1(Ct3) Μ(Φ3)的波形數(shù)據(jù)W3。在此例子中，φ3 = π。
該相移量Φη從反復(fù)次數(shù)η和基準(zhǔn)相位差θ通過(guò)φη= (η-1) X θ計(jì)算。該基準(zhǔn)相位差θ為，使先輸出的波形數(shù)據(jù)的末尾(的采樣數(shù)據(jù))和其后反復(fù)輸出的波形數(shù)據(jù)的前端(的采樣數(shù)據(jù))的相位變化連續(xù)時(shí)，該先前的波形數(shù)據(jù)與該之后的波形數(shù)據(jù)的相位差。具體而言，是第1次反復(fù)的波形數(shù)據(jù)W1的末尾的采樣數(shù)據(jù)Dm與之后的第2次的反復(fù)波形數(shù)據(jù) W2的前端的采樣數(shù)據(jù)D1(Ct2)的相位變化得以連續(xù)的相位差，在此例子中，θ = π/2。另外，基準(zhǔn)相位差θ的決定方法的詳細(xì)內(nèi)容將進(jìn)行后述。
如此，在本發(fā)明中，決定基準(zhǔn)相位差θ，從反復(fù)次數(shù)η和基準(zhǔn)相位差θ求出相移量 Φ η，將波形數(shù)據(jù)W的各采樣數(shù)據(jù)D1-Dm的相位僅移動(dòng)與反復(fù)次數(shù)η相應(yīng)的相移量Φη。由此，無(wú)需改變波形的頻率且不會(huì)產(chǎn)生雜散就能夠使已發(fā)生的波形的末尾和其后反復(fù)發(fā)生的波形的前端的相位連續(xù)來(lái)反復(fù)發(fā)生任意的波形。
(第1實(shí)施方式)
圖2表示本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)100的結(jié)構(gòu)。信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)100具備波形數(shù)據(jù)生成裝置90，生成波形數(shù)據(jù)W，并且決定基準(zhǔn)相位差θ ；及信號(hào)發(fā)生器10，根據(jù)該波形數(shù)據(jù) W及基準(zhǔn)相位差θ發(fā)生RF試驗(yàn)信號(hào)。例如，該波形數(shù)據(jù)W為FSK調(diào)制信號(hào)的波形數(shù)據(jù)，信號(hào)發(fā)生器10發(fā)生與采用FSK調(diào)制方式的通信方式對(duì)應(yīng)的用于對(duì)無(wú)線通信設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)的 RF試驗(yàn)信號(hào)。采用FSK調(diào)制方式的通信方式例如為Bluetooth (注冊(cè)商標(biāo))。
波形數(shù)據(jù)生成裝置90具備操作構(gòu)件91、波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92、基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93、波形數(shù)據(jù)送出構(gòu)件94。波形數(shù)據(jù)生成裝置90例如由個(gè)人計(jì)算機(jī)及軟件構(gòu)成，實(shí)現(xiàn)這8些各構(gòu)件的功能。
操作構(gòu)件91是為了設(shè)定用于生成波形數(shù)據(jù)的參數(shù)而由用戶操作的構(gòu)件。例如，雖然省略了圖示，但操作構(gòu)件91具備有顯示用于設(shè)定參數(shù)的設(shè)定畫面的顯示器和鍵盤或鼠標(biāo)等輸入器件。
波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92根據(jù)用戶對(duì)操作構(gòu)件91進(jìn)行操作來(lái)輸入的參數(shù)生成數(shù)字的波形數(shù)據(jù)W。該波形數(shù)據(jù)W為基帶信號(hào)的波形數(shù)據(jù)，由D1至Dm的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成。更準(zhǔn)確地說(shuō)，該波形數(shù)據(jù)W為復(fù)合IQ數(shù)據(jù)，由M個(gè)I相數(shù)據(jù)(例如，各16bit數(shù)據(jù))和M個(gè)Q相數(shù)據(jù)(例如，各16bit數(shù)據(jù))構(gòu)成。因此，以IQ成為M組數(shù)據(jù)，但在此將1組IQ數(shù)據(jù)作為1 個(gè)采樣數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行說(shuō)明。另外，波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92對(duì)基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93送出與波形數(shù)據(jù)W相關(guān)的信息，并且對(duì)波形數(shù)據(jù)送出構(gòu)件94送出波形數(shù)據(jù)W。
基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93根據(jù)從波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92接收的與波形數(shù)據(jù)W相關(guān)的信息決定基準(zhǔn)相位差Θ?；鶞?zhǔn)相位差決定構(gòu)件93的詳細(xì)結(jié)構(gòu)將進(jìn)行后述。
波形數(shù)據(jù)送出構(gòu)件94將從波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92接收的波形數(shù)據(jù)W和從基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93接收的基準(zhǔn)相位差θ送出至信號(hào)發(fā)生器10。對(duì)信號(hào)發(fā)生器10的波形數(shù)據(jù)的送出可通過(guò)USB或Khernet (注冊(cè)商標(biāo))、無(wú)線LAN等連接波形數(shù)據(jù)生成裝置90和信號(hào)發(fā)生器10來(lái)進(jìn)行，也可通過(guò)⑶或SD卡等存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行。
信號(hào)發(fā)生器10具備波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20、相移器30、D/A轉(zhuǎn)換構(gòu)件40、正交調(diào)制構(gòu)件50及頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件60。信號(hào)發(fā)生器10以波形數(shù)據(jù)W為基礎(chǔ)，發(fā)生用于對(duì)無(wú)線通信設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)的RF試驗(yàn)信號(hào)。
波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20存儲(chǔ)從波形數(shù)據(jù)生成裝置90接收的波形數(shù)據(jù)W及基準(zhǔn)相位差θ，并反復(fù)輸出波形數(shù)據(jù)W的I相數(shù)據(jù)和Q相數(shù)據(jù)。另外，波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20對(duì)與輸出的波形數(shù)據(jù)W對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)相位差θ和波形數(shù)據(jù)W的反復(fù)輸出次數(shù)η進(jìn)行輸出。具體而言，波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20具有硬盤驅(qū)動(dòng)器(HDD)等大容量存儲(chǔ)部和可高速讀寫數(shù)據(jù)的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)的存儲(chǔ)器部，能夠在存儲(chǔ)部存儲(chǔ)多種波形數(shù)據(jù)W及基準(zhǔn)相位差θ的組合。而且，將用戶指定的波形數(shù)據(jù)W移動(dòng)至存儲(chǔ)器部，從該存儲(chǔ)器部輸出波形數(shù)據(jù)W。因此， 波形數(shù)據(jù)W的數(shù)據(jù)容量被設(shè)為不超過(guò)存儲(chǔ)器部的存儲(chǔ)容量。
相移器30根據(jù)從波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20接收的基準(zhǔn)相位差θ和反復(fù)輸出次數(shù)η計(jì)算相移量Φη，將波形數(shù)據(jù)W的I相數(shù)據(jù)和Q相數(shù)據(jù)的相位僅移動(dòng)該計(jì)算出的相移量。圖3 中示出相移器30的結(jié)構(gòu)。相移器30具有數(shù)字乘法器31a 31d、數(shù)字加法器32a、32b及相移量計(jì)算構(gòu)件33。相移量計(jì)算構(gòu)件33從波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20接收基準(zhǔn)相位差θ和波形數(shù)據(jù)W的反復(fù)輸出次數(shù)η，計(jì)算相移量Φη= (η-1) X θ，輸出與計(jì)算出的相移量相應(yīng)的相移數(shù)據(jù)cos Φ n、sin Φ η。乘法器31a 31d對(duì)波形數(shù)據(jù)W的各采樣數(shù)據(jù)的IQ數(shù)據(jù)分別乘上相移數(shù)據(jù)，以加法器32a、32b對(duì)這些輸出進(jìn)行加法運(yùn)算(或減法運(yùn)算)，輸出移動(dòng)各采樣數(shù)據(jù)的相位的IQ數(shù)據(jù)I’、Q’。具體而言，波形數(shù)據(jù)W的各采樣數(shù)據(jù)以Α。φ =A(C0sCj^jsinCj5) 表達(dá)，I相數(shù)據(jù)成為Acos Φ，Q相數(shù)據(jù)成為Asin Φ。其中，通過(guò)將相移數(shù)據(jù)設(shè)為ej$n，并在各采樣數(shù)據(jù)乘上該相移數(shù)據(jù)…Φη，從而各采樣數(shù)據(jù)的相位僅移動(dòng)相移量Φη。若展開此公式， 則為如下。
Aej4, *eJ<i,n = A (cos Φ+jsin Φ) · (cos Φη+jsin Φη) = (A *cos Φ *cos Φη~Α *sin Φ sin Φη)+」(A *sin Φ *cos Φη+Α *cos Φ *sin Φη) = (I -cos Φη_0 *sin Φη) +j (Q *cos Φη+Ι *sinΦ n) = I, +jQ'
其中，
I，= I · cos(i)n-Q · Sin(J)n
Q，= Q · cos Φη+Ι · Sin(J)n
圖3所示的相移器30進(jìn)行相當(dāng)于此的運(yùn)算，輸出已移動(dòng)相位的IQ數(shù)據(jù)I’、Q’。該相移器30通過(guò)運(yùn)算電路(FPGA、DSP)或CPU的運(yùn)算處理實(shí)現(xiàn)。
D/A轉(zhuǎn)換構(gòu)件40具有2個(gè)D/A轉(zhuǎn)換器41、42，對(duì)被相移的各采樣數(shù)據(jù)的IQ數(shù)據(jù)分別依次進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換。
正交調(diào)制構(gòu)件50由具有2個(gè)混合器51、52、局部振蕩器53、90度移相器M及加法器55的正交調(diào)制器構(gòu)成。被D/A轉(zhuǎn)換的I相信號(hào)和來(lái)自局部振蕩器53的局部振蕩信號(hào)混合，并且被D/A轉(zhuǎn)換的Q相信號(hào)和對(duì)來(lái)自局部振蕩器53的局部振蕩信號(hào)進(jìn)行90度(π /2) 移相的信號(hào)混合，對(duì)這些混合的信號(hào)進(jìn)行加法運(yùn)算來(lái)進(jìn)行輸出。
頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件60具有局部振蕩器61和混合器62，通過(guò)來(lái)自局部振蕩器61的局部振蕩信號(hào)對(duì)來(lái)自正交調(diào)制構(gòu)件50的信號(hào)進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換。被頻率轉(zhuǎn)換的信號(hào)通過(guò)未圖示的濾波器及放大器整形及放大，并作為RF試驗(yàn)信號(hào)來(lái)輸出。
另外，信號(hào)發(fā)生器可以是如圖4所示的信號(hào)發(fā)生器11那樣的結(jié)構(gòu)。圖4中，頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件70兼有圖2的正交調(diào)制構(gòu)件50及頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件60的功能，通過(guò)將來(lái)自局部振蕩器73的局部振蕩信號(hào)的頻率作為載波的頻率，以相同構(gòu)件進(jìn)行正交調(diào)制和頻率轉(zhuǎn)換。
接著，通過(guò)圖5的流程圖對(duì)本實(shí)施方式中的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)100的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。首先，對(duì)波形數(shù)據(jù)生成裝置90的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。用戶對(duì)操作構(gòu)件91進(jìn)行操作，設(shè)定用于生成波形數(shù)據(jù)W的參數(shù)(Si)。此參數(shù)為調(diào)制前的數(shù)據(jù)內(nèi)容、數(shù)據(jù)長(zhǎng)度等。波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92 以被設(shè)定的參數(shù)為基礎(chǔ)生成波形數(shù)據(jù)W (S2)?；鶞?zhǔn)相位差決定構(gòu)件93利用波形數(shù)據(jù)W的信息決定基準(zhǔn)相位差θ (S3)。波形數(shù)據(jù)送出構(gòu)件94將生成的波形數(shù)據(jù)W及決定的基準(zhǔn)相位差θ送出至信號(hào)發(fā)生器10 (S4)。
進(jìn)一步，對(duì)信號(hào)發(fā)生器10的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20存儲(chǔ)從波形數(shù)據(jù)生成裝置90接收的波形數(shù)據(jù)W及基準(zhǔn)相位差θ (SO。用戶對(duì)未圖示的操作部進(jìn)行操作， 設(shè)定用于輸出RF試驗(yàn)信號(hào)的參數(shù)(S6)。此參數(shù)為存儲(chǔ)于波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20的多種波形數(shù)據(jù)W的選擇、RF試驗(yàn)信號(hào)的載波頻率、輸出電平、輸出持續(xù)時(shí)間(或反復(fù)輸出持續(xù)次數(shù)) 等。相移量計(jì)算構(gòu)件33從波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20接收基準(zhǔn)相位差θ，分別對(duì)波形數(shù)據(jù)W的反復(fù)次數(shù)η(η= 1，2，3，…)計(jì)算相移量c^n(S7)。另外，相移量Φη的計(jì)算可利用設(shè)定的輸出持續(xù)時(shí)間或反復(fù)輸出持續(xù)次數(shù)作為參數(shù)，對(duì)預(yù)先設(shè)想的所有的η進(jìn)行計(jì)算，也可在每次反復(fù)輸出波形數(shù)據(jù)W時(shí)對(duì)當(dāng)時(shí)的反復(fù)輸出次數(shù)η進(jìn)行計(jì)算。
另外，波形數(shù)據(jù)W的反復(fù)輸出次數(shù)η被設(shè)定為η = 1 (S8)，波形數(shù)據(jù)W從波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20依次從前端的采樣數(shù)據(jù)D1輸出至末尾的采樣數(shù)據(jù)Dm(S9)。通過(guò)乘法器31、32， 對(duì)輸出的波形數(shù)據(jù)W的各采樣數(shù)據(jù)D1 Dm乘上相移數(shù)據(jù)，各采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的相位僅移動(dòng)相移量Φη(ειο)。該相移量Φη按波形數(shù)據(jù)W的反復(fù)次數(shù)η而不同。
被相移的各采樣數(shù)據(jù)通過(guò)D/A轉(zhuǎn)換器41、42被D/A轉(zhuǎn)換(Sll)，通過(guò)正交調(diào)制構(gòu)件50正交調(diào)制，通過(guò)頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件60頻率轉(zhuǎn)換為RF信號(hào)，并作為RF試驗(yàn)信號(hào)而被輸出 (S12)。另一方面，波形數(shù)據(jù)W的反復(fù)輸出次數(shù)η被增量(S13)，下一個(gè)反復(fù)的波形數(shù)據(jù)W從波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件20輸出。如此，S9 S13的動(dòng)作反復(fù)進(jìn)行至反復(fù)輸出次數(shù)η達(dá)到預(yù)定數(shù)為止。
接著，對(duì)決定基準(zhǔn)相位差θ的方法進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。首先，利用圖6(A)和6(B)對(duì)其概念進(jìn)行說(shuō)明，之后舉出4個(gè)實(shí)施例，并根據(jù)對(duì)應(yīng)的圖7(A)和7(B) 圖10(A)和10(B) 進(jìn)行說(shuō)明。
圖6(A)和6(B)是表示決定基準(zhǔn)相位差θ的方法的概念的圖，圖6 (A)是以時(shí)間軸示意地排列各采樣數(shù)據(jù)的圖，圖6(B)是將其示于IQ平面上的圖。如圖6(A)所示，若為了使相位在波形數(shù)據(jù)W的第1次反復(fù)和下一個(gè)第2次反復(fù)中連續(xù)而著眼于第2次反復(fù)的前端的采樣數(shù)據(jù)D1,則以第2次反復(fù)的D1的相位成為第1次反復(fù)的Dm+1的相位的方式移動(dòng)第2 次反復(fù)的D1的相位即可。如圖6⑶所示，D1與Dm+1的相位差為θ，它成為基準(zhǔn)相位差θ。 若采用其他表達(dá)方式，則基準(zhǔn)相位差θ是波形數(shù)據(jù)W的前端的采樣數(shù)據(jù)D1的相位與設(shè)想末尾的采樣數(shù)據(jù)Dm的下一個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dm+1時(shí)的該設(shè)想采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位的相位差。
但是，采樣數(shù)據(jù)Dm+1實(shí)際上是不存在的數(shù)據(jù)。因此，首先，得到采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位并由此決定基準(zhǔn)相位差θ，以這樣的方法決定基準(zhǔn)相位差θ。在以下的實(shí)施例中，將對(duì)其方法進(jìn)行詳述。第1實(shí)施例及第2實(shí)施例為在末尾的采樣數(shù)據(jù)Dm的相位上附加預(yù)定的相位 (ΨΑ或ΨΒ)來(lái)得到采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位的方法，第3實(shí)施例為分析波形數(shù)據(jù)W來(lái)推斷采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位的方法，第4實(shí)施例為直接得到采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位的方法。
(第1實(shí)施例)
圖7 (A)是表示第1實(shí)施例中的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93 (或后述的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件23)的結(jié)構(gòu)的塊圖?；鶞?zhǔn)相位差決定構(gòu)件93具有相位推斷構(gòu)件8 及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件83。圖7(B)是與圖7(A)相對(duì)應(yīng)地決定基準(zhǔn)相位差θ的方法的流程圖。
首先，通過(guò)波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92生成由采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的波形數(shù)據(jù)W(S21)。相位推斷構(gòu)件8 從波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92取得波形數(shù)據(jù)W的第1個(gè)采樣數(shù)據(jù)D1的相位W1、第M-I個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dsh的相位Wsh及第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dm的相位ΨΜ 這3個(gè)相位信息(S22)。其中，第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dm的相位ΨΜ與第M-I個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dsh的相位Ψ^的相位差設(shè)為ΨΑ，相位推斷構(gòu)件8 進(jìn)行ΨΜ+1 = ΨΜ+ΨΑ = ΨΜ+(ΨΜ-ΨΜ_1)的運(yùn)算，推斷設(shè)想第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dm+1時(shí)的采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位ΨΜ+1 (S23)。基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件83通過(guò)θ = Wsw-W1的運(yùn)算，從采樣數(shù)據(jù)D1的相位W1和推斷出的采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位計(jì)算基準(zhǔn)相位差θ (S24) 0由此，決定基準(zhǔn)相位差Θ。
根據(jù)本實(shí)施例，從生成的波形數(shù)據(jù)W的3個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位信息，通過(guò)簡(jiǎn)單的運(yùn)算決定基準(zhǔn)相位差θ，因此能夠輕松地決定基準(zhǔn)相位差θ。另外，即使是由以往的波形數(shù)據(jù)生成裝置生成的、未決定基準(zhǔn)相位差θ的波形數(shù)據(jù)，也能夠在之后決定基準(zhǔn)相位差Θ，并能夠通過(guò)本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器使波形的前端和末尾的相位連續(xù)來(lái)進(jìn)行輸出。
(第2實(shí)施例)
圖8 (A)是表示第2實(shí)施例中的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93 (或后述的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件23)的結(jié)構(gòu)的塊圖?；鶞?zhǔn)相位差決定構(gòu)件93具有平均相位差計(jì)算構(gòu)件81、相位推斷構(gòu)件82b及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件83。圖8 (B)是與圖8(A)相對(duì)應(yīng)地決定基準(zhǔn)相位差θ的方法的流程圖。
首先，通過(guò)波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92生成由采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的波形數(shù)據(jù)W(S31)。平均相位差計(jì)算構(gòu)件81從波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92接收采樣數(shù)據(jù)D1 Dm 的相位信息，計(jì)算某一采樣數(shù)據(jù)Dm與下一個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位差的平均值，即每1采樣數(shù)據(jù)的平均相位差ΨΒ (S32)。相位推斷構(gòu)件82b取得波形數(shù)據(jù)W的第1個(gè)采樣數(shù)據(jù)D1的相位 W1和第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dm的相位ΨΜ的相位信息(S33)。并且，相位推斷構(gòu)件82b進(jìn)行ΨΜ+1 =Ψ +ΨΒ的運(yùn)算，推斷設(shè)想第Μ+1個(gè)的采樣數(shù)據(jù)Dm+1時(shí)的采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位ΨΜ+1 (S34)。 基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件83通過(guò)θ = ΨΜ+1-Ψ1的運(yùn)算，從采樣數(shù)據(jù)D1的相位W1和推斷出的采樣數(shù)據(jù)Dsw的相位計(jì)算基準(zhǔn)相位差θ (S35)。由此，決定基準(zhǔn)相位差Θ。
根據(jù)本實(shí)施例，從生成的波形數(shù)據(jù)W的采樣數(shù)據(jù)的相位信息決定基準(zhǔn)相位差θ， 因此即使是由以往的波形數(shù)據(jù)生成裝置生成的、未決定基準(zhǔn)相位差θ的波形數(shù)據(jù)，也能夠在之后決定基準(zhǔn)相位差θ，并能夠通過(guò)本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器使波形的前端和末尾的相位連續(xù)來(lái)進(jìn)行輸出。
(第3實(shí)施例)
圖9(A)是表示第3實(shí)施例中的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93 (或后述的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件23)的結(jié)構(gòu)的塊圖?；鶞?zhǔn)相位差決定構(gòu)件93具有平均相位差計(jì)算構(gòu)件81、相位推斷構(gòu)件82c及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件83。圖9 (B)是與圖9(A)相對(duì)應(yīng)地決定基準(zhǔn)相位差θ的方法的流程圖。
首先，通過(guò)波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92生成由采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的波形數(shù)據(jù)W(S41)。相位推斷構(gòu)件82c從波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92接收波形數(shù)據(jù)W并對(duì)其進(jìn)行分析，推斷設(shè)想第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dm+1時(shí)的采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位ΨΜ+1 (S42)?；鶞?zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件83通過(guò)θ = ΨΜ+1-Ψ1的運(yùn)算，從采樣數(shù)據(jù)D1的相位W1和推斷出的采樣數(shù)據(jù)Dm+1 的相位計(jì)算基準(zhǔn)相位差θ (S43)。由此，決定基準(zhǔn)相位差Θ。
以下舉例說(shuō)明相位推斷構(gòu)件82c中的波形數(shù)據(jù)W的分析方法。
(a)分析波形數(shù)據(jù)W的前端的數(shù)據(jù)附近和末尾的數(shù)據(jù)附近的頻率。其結(jié)果，若這些頻率大致相同，則從末尾的數(shù)據(jù)附近至下一個(gè)反復(fù)波形數(shù)據(jù)W的前端的數(shù)據(jù)附近成為頻率幾乎不變化的期間，在其期間相位以恒定的比例變化，因此能夠輕松地推斷相位ΨΜ+1。
(b)分析波形數(shù)據(jù)W的頻率的時(shí)間變化。其結(jié)果，例如，若是隨著時(shí)間經(jīng)過(guò)交替變化為頻率IkHz和2kHz這樣的信號(hào)，則能夠推測(cè)為FSK調(diào)制信號(hào)。若是FSK調(diào)制信號(hào)，則由于在頻率不變化的期間內(nèi)相位以恒定比例變化，因此能夠輕松地推斷相位ΨΜ+1。
(c)分析波形數(shù)據(jù)W的相位的時(shí)間變化。其結(jié)果，例如，若是相位與時(shí)間成比例(1 次函數(shù)的關(guān)系)的信號(hào)，則由于相位以恒定比例變化，因此能夠輕松地推斷相位ΨΜ+1。而且，可以組合對(duì)波形數(shù)據(jù)W進(jìn)行FFT處理并分析頻率成分的方法來(lái)更準(zhǔn)確地推測(cè)波形數(shù)據(jù) W，并推斷相位Ψ_。
(d)分析波形數(shù)據(jù)W的振幅的時(shí)間變化。對(duì)其結(jié)果求出近似公式，從求出的近似公式計(jì)算相位Ψ_。
相位推斷構(gòu)件82b通過(guò)這些(a) (d)中的任一個(gè)或它們的組合推斷相位ΨΜ+1。
根據(jù)本實(shí)施例，對(duì)生成的波形數(shù)據(jù)W進(jìn)行分析來(lái)決定基準(zhǔn)相位差θ，因此即使是由以往的波形數(shù)據(jù)生成裝置生成的、未決定基準(zhǔn)相位差θ的波形數(shù)據(jù)，也能夠在之后決定基準(zhǔn)相位差θ，并能夠通過(guò)本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器使波形的前端和末尾的相位連續(xù)來(lái)進(jìn)行輸出ο
(第4實(shí)施例)
圖10(A)是表示第4實(shí)施例中的基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93的結(jié)構(gòu)的塊圖?；鶞?zhǔn)相位差決定構(gòu)件93具有基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件83。圖10(B)為與圖10(A)相對(duì)應(yīng)地決定基準(zhǔn)相位差θ的方法的流程圖。
首先，通過(guò)波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92生成采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)和至少采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位信息(也可生成D1 Dm+1這M+1個(gè)所有的采樣數(shù)據(jù))(S51)，并生成由該采樣數(shù)據(jù)D1 Dm的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的波形數(shù)據(jù)W (S5》?；鶞?zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件83從波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件92取得采樣數(shù)據(jù)D1的相位W1和采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位ΨΜ+1的相位信息(S53)， 并通過(guò)θ = ΨΜ+1-Ψι的運(yùn)算計(jì)算基準(zhǔn)相位差θ (S54) 0由此，決定基準(zhǔn)相位差θ。
根據(jù)本實(shí)施例，當(dāng)生成由M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的波形數(shù)據(jù)W時(shí)，還生成取得原本不會(huì)生成的第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)0 +1的相位信息，從其相位信息決定基準(zhǔn)相位差θ。由于不是通過(guò)推斷求出第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)Dm+1的相位ΨΜ+1，而是實(shí)際生成取得，因此能夠高精確度地決定基準(zhǔn)相位差θ，并能夠通過(guò)本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器使波形的前端和末尾的相位連續(xù)來(lái)進(jìn)行輸出。
(第2實(shí)施方式)
圖11表示本發(fā)明的第2實(shí)施方式中的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)101的結(jié)構(gòu)。信號(hào)發(fā)生系統(tǒng) 101具備生成波形數(shù)據(jù)W的波形數(shù)據(jù)生成裝置95和根據(jù)該波形數(shù)據(jù)W發(fā)生RF試驗(yàn)信號(hào)的信號(hào)發(fā)生器12。以下，主要對(duì)與第1實(shí)施方式的差異進(jìn)行說(shuō)明，對(duì)于和第1實(shí)施方式中的結(jié)構(gòu)相同的部分，適當(dāng)?shù)厥÷哉f(shuō)明。
波形數(shù)據(jù)生成裝置95沒(méi)有基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件93，這一點(diǎn)與第1實(shí)施方式的波形數(shù)據(jù)生成裝置90不同。因此，在波形數(shù)據(jù)生成裝置95中不決定基準(zhǔn)相位差θ，基準(zhǔn)相位差 θ的信息不會(huì)從波形數(shù)據(jù)生成裝置95送出至信號(hào)發(fā)生器12。
信號(hào)發(fā)生器12具備基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件23，這一點(diǎn)與第1實(shí)施方式的信號(hào)發(fā)生器 10不同。基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件23具備前述的第1實(shí)施方式的第1實(shí)施例、第2實(shí)施例或第 3實(shí)施例中的任一結(jié)構(gòu)。基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件23通過(guò)運(yùn)算電路(FPGA、DSP)或CPU的運(yùn)算處理實(shí)現(xiàn)。另外，信號(hào)發(fā)生器12如圖4所示的信號(hào)發(fā)生器11那樣，可以是具備兼有正交調(diào)制構(gòu)件50及頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件60的功能的頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件70的結(jié)構(gòu)。
圖12是用于說(shuō)明本實(shí)施方式中的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)101的動(dòng)作的流程圖。在從S61至 S63的波形數(shù)據(jù)生成裝置的動(dòng)作中，沒(méi)有計(jì)算基準(zhǔn)相位差θ的順序，這一點(diǎn)與第1實(shí)施方式不同。另外，從S64至S73的信號(hào)發(fā)生器的動(dòng)作中，具備計(jì)算基準(zhǔn)相位差θ的順序(S66)， 這一點(diǎn)與第1實(shí)施方式不同。如前所述，計(jì)算該基準(zhǔn)相位差θ的順序能夠應(yīng)用第1實(shí)施方式的第1實(shí)施例、第2實(shí)施例或第3實(shí)施例中的任一順序。另外，計(jì)算基準(zhǔn)相位差θ的順序的序號(hào)，只要是在存儲(chǔ)波形數(shù)據(jù)W的順序之后且計(jì)算相移量Φη的順序之前，則可以在任意時(shí)候進(jìn)行。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性
如此，本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)及信號(hào)發(fā)生方法能夠反復(fù)發(fā)生任意的波形，并使發(fā)生的波形的前端和末尾的相位連續(xù)，因此有效地用于高精確度地進(jìn)行無(wú)線通信設(shè)備的試驗(yàn)。1權(quán)利要求
1.一種信號(hào)發(fā)生器(10、11、12)，其具備:波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件(20)，存儲(chǔ)由M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的數(shù)字基帶信號(hào)的波形數(shù)據(jù)，并反復(fù)連續(xù)輸出該波形數(shù)據(jù)；D/A轉(zhuǎn)換構(gòu)件00)，對(duì)所述波形數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換；及頻率轉(zhuǎn)換構(gòu)件(60、70)，以預(yù)定頻率的載波信號(hào)對(duì)該已被數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換的基帶信號(hào)進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換，并作為用于對(duì)無(wú)線通信設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)的RF試驗(yàn)信號(hào)來(lái)輸出，其特征在于， 具備相移器(30)，接收來(lái)自所述波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件的反復(fù)輸出次數(shù)為第η次的所述波形數(shù)據(jù)，將該第η次的波形數(shù)據(jù)的各采樣數(shù)據(jù)的相位僅移動(dòng)與所述反復(fù)輸出次數(shù)η對(duì)應(yīng)的相移量Φη，并輸出至D/A轉(zhuǎn)換構(gòu)件，為了使第η-1次的所述波形數(shù)據(jù)的末尾與第η次的所述波形數(shù)據(jù)的前端的相位變化連續(xù)，從該第η-1次的波形數(shù)據(jù)與該第η次的波形數(shù)據(jù)的相位差，即基準(zhǔn)相位差θ及所述反復(fù)輸出次數(shù)η求出所述相移量Φη。
2.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)發(fā)生器，其特征在于，具備基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件(23)，根據(jù)存儲(chǔ)于所述波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)構(gòu)件的所述波形數(shù)據(jù)決定所述基準(zhǔn)相位差θ。
3.如權(quán)利要求2所述的信號(hào)發(fā)生器，其特征在于， 所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有相位推斷構(gòu)件(8 ，根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和第M-I個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位推斷第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位；及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(8 ，從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
4.如權(quán)利要求2所述的信號(hào)發(fā)生器，其特征在于， 所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有平均相位差計(jì)算構(gòu)件(81)，計(jì)算所述波形數(shù)據(jù)的每1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的平均相位差； 相位推斷構(gòu)件(8 ，根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和所述平均相位差推斷第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位；及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(8 ，從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
5.一種信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)，其特征在于，包括權(quán)利要求1所述的信號(hào)發(fā)生器和生成所述波形數(shù)據(jù)并送出至所述信號(hào)發(fā)生器的波形數(shù)據(jù)生成裝置(90)，所述波形數(shù)據(jù)生成裝置具備波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件(92)，生成所述波形數(shù)據(jù)；基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件(93)，決定所述基準(zhǔn)相位差θ ；及波形數(shù)據(jù)送出構(gòu)件(94)，將所述波形數(shù)據(jù)及所述基準(zhǔn)相位差θ送出至所述信號(hào)發(fā)生ο
6.如權(quán)利要求5所述的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)，其特征在于， 所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有相位推斷構(gòu)件(8 ，根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和第M-I個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位推斷第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位；及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(8 ，從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
7.如權(quán)利要求5所述的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)，其特征在于， 所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有平均相位差計(jì)算構(gòu)件(81)，計(jì)算所述波形數(shù)據(jù)的每1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的平均相位差； 相位推斷構(gòu)件(8 ，根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和所述平均相位差推斷第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位；及基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(8 ，從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第M+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
8.如權(quán)利要求5所述的信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)，其特征在于，所述波形數(shù)據(jù)生成構(gòu)件生成從前端至第M個(gè)為止的采樣數(shù)據(jù)，并且取得第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位，并利用該生成的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)生成所述波形數(shù)據(jù)，所述基準(zhǔn)相位差決定構(gòu)件具有基準(zhǔn)相位差計(jì)算構(gòu)件(83)，其從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ。
9.一種信號(hào)發(fā)生方法，其具備反復(fù)連續(xù)輸出由M個(gè)采樣數(shù)據(jù)構(gòu)成的數(shù)字基帶信號(hào)的波形數(shù)據(jù)的階段(S9)； 對(duì)所述波形數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換的階段(Sll)；及以預(yù)定頻率的載波信號(hào)對(duì)該已被數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換的基帶信號(hào)進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換，并作為用于對(duì)無(wú)線通信設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)的RF試驗(yàn)信號(hào)來(lái)輸出的階段(S12)， 其特征在于，具備當(dāng)所述波形數(shù)據(jù)的反復(fù)輸出次數(shù)為第η次時(shí)，求出與所述反復(fù)輸出次數(shù)η對(duì)應(yīng)的相移量小 的階段(S7)；及在進(jìn)行所述數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換的階段之前接收到所述反復(fù)輸出次數(shù)為第η次的所述波形數(shù)據(jù)時(shí)，將所述第η次的波形數(shù)據(jù)的各采樣數(shù)據(jù)的相位僅移動(dòng)所述相移量Φη的階段 (SlO)，為了使第η-1次的所述波形數(shù)據(jù)的末尾與第η次的所述波形數(shù)據(jù)的前端的相位變化連續(xù)，從該第η-1次的波形數(shù)據(jù)與該第η次的波形數(shù)據(jù)的相位差，即基準(zhǔn)相位差θ及所述反復(fù)輸出次數(shù)η求出所述相移量Φη。
10.如權(quán)利要求9所述的信號(hào)發(fā)生方法，其特征在于，具備根據(jù)所述波形數(shù)據(jù)決定所述基準(zhǔn)相位差θ的階段(S3)。
11.如權(quán)利要求10所述的信號(hào)發(fā)生方法，其特征在于， 決定所述基準(zhǔn)相位差θ的階段具有根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和第M-I個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位推斷第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位的階段(S23)；及從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ的階段(S24)。
12.如權(quán)利要求10所述的信號(hào)發(fā)生方法，其特征在于，決定所述基準(zhǔn)相位差θ的階段具有計(jì)算所述波形數(shù)據(jù)的每1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的平均相位差的階段(S32)； 根據(jù)從所述波形數(shù)據(jù)的前端起第M個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位和所述平均相位差推斷第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位的階段(S34)；及從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ的階段(S35)。
13.如權(quán)利要求9所述的信號(hào)發(fā)生方法，其特征在于，具備生成從前端至第M個(gè)為止的采樣數(shù)據(jù)，并且取得第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位的階段 (S41)；利用該生成的M個(gè)采樣數(shù)據(jù)生成所述波形數(shù)據(jù)的階段(S42)；及從所述波形數(shù)據(jù)的前端的采樣數(shù)據(jù)的相位與所述第Μ+1個(gè)采樣數(shù)據(jù)的相位之差計(jì)算所述基準(zhǔn)相位差θ的階段(S44)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)及信號(hào)發(fā)生方法，其能夠反復(fù)發(fā)生任意的波形，無(wú)需改變波形頻率就能夠使已發(fā)生的波形的前端和末尾的相位連續(xù)。本發(fā)明的信號(hào)發(fā)生器(10、11、12)具備相移器(30)，所述相移器接收反復(fù)輸出次數(shù)為第n次的波形數(shù)據(jù)，將該第n次的波形數(shù)據(jù)的各采樣數(shù)據(jù)的相位僅移動(dòng)與所述反復(fù)輸出次數(shù)n對(duì)應(yīng)的相移量φn，并輸出至D/A轉(zhuǎn)換構(gòu)件，其中，為了使第n-1次的所述波形數(shù)據(jù)的末尾與第n次的波形數(shù)據(jù)的前端的相位變化連續(xù)，從該第n-1次的波形數(shù)據(jù)與該第n次的所述波形數(shù)據(jù)的相位差，即基準(zhǔn)相位差θ及所述反復(fù)輸出次數(shù)n求出所述相移量φn。
文檔編號(hào)H03K5/01GK102545843SQ201110402528
公開日2012年7月4日 申請(qǐng)日期2011年12月6日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月16日
發(fā)明者伊藤伸一, 小野純, 花屋達(dá)郎 申請(qǐng)人:安立股份有限公司