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      一種電流模比較器的制造方法

      文檔序號:7543149閱讀:168來源:國知局
      一種電流模比較器的制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明提供一種電流模比較器,所述電流模比較器用于接收第一路電流和第二路電流,輸出比較結(jié)果電壓信號。所述電流模比較器至少包括:第一差模電流產(chǎn)生電路,用于接收第一路電流和第二路電流,輸出第一路電流和第二路電流的差值;第二差模電流產(chǎn)生電路,用于接收第一路電流和第二路電流,輸出第二路電流和第一路電流的差值;AB類輸出級電路,與所述第一差模電流產(chǎn)生電路以及所述第二差模電流產(chǎn)生電路相連,用于使所述第一差模電流產(chǎn)生電路和所述第二差模電流產(chǎn)生電路中的一路差模電流產(chǎn)生電路處于工作狀態(tài),同時另一路差模電流產(chǎn)生電路處于關(guān)斷狀態(tài),從而實現(xiàn)比較結(jié)果輸出。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單,功耗極低,系統(tǒng)帶寬大,比較速度快。
      【專利說明】—種電流模比較器
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種微電子與固體電子【技術(shù)領(lǐng)域】,特別是涉及信號在電流模式下實現(xiàn)比較的比較器。
      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著集成電路工藝的發(fā)展,集成電路工作電壓越來越低,使得能夠處理的信號的擺幅越來越小,電壓模信號處理系統(tǒng)的設(shè)計變得更加復雜和困難,將電壓模信號轉(zhuǎn)化為電流模進行處理,是解決這一難題的有效方法。
      [0003]目前,人們已研究開發(fā)出一系列的電流模比較器。例如,BULT.K,and GEELEN.G提出一種采用B類電壓輸出緩沖器構(gòu)成的電流模比較器,B.M.Min and S.ff.Kim和L.Chen, B.Shi and C.Lu分別提出一種電流模比較器,Traff也提出過一種電流模比較器,但是都無法在功耗、速度與精度之間獲得良好的折中,存在功耗大的問題。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點,本發(fā)明的目的在于提供一種電流模比較器,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中現(xiàn)有的電流模比較器靈敏度、速度與功耗的折中問題。
      [0005]為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本發(fā)明提供一種電流模比較器,所述電流模比較器用于接收第一路電流和第二路電流,輸出比較結(jié)果電壓信號;所述電流模比較器包括:第一差模電流產(chǎn)生電路,用于接收第一路電流和第二路電流,輸出第一路電流和第二路電流的差值;第二差模電流廣生電路,用于接收第一路電流和第二路電流,輸出第二路電流和第一路電流的差值;AB類輸出級電路,與所述第一差模電流產(chǎn)生電路以及所述第二差模電流產(chǎn)生電路相連,用于使所述第一差模電流產(chǎn)生電路和所述第二差模電流產(chǎn)生電路中的一路差模電流產(chǎn)生電路處于工作狀態(tài),同時另一路差模電流產(chǎn)生電路處于關(guān)斷狀態(tài),從而實現(xiàn)比較結(jié)果輸出。
      [0006]優(yōu)選地,所述第一差模電流產(chǎn)生電路包括NMOS管MUNMOS管M2、NM0S管M4、NM0S管 M5、NM0S 管 Ml 1、NM0S 管 M12,以及 PMOS 管 PUPMOS 管 P2、PM0S 管 P6、PM0S 管 P8 ;其中,所述第一電流輸入到所述NMOS管Ml的漏極,所述NMOS管Ml的漏極與所述NMOS管Ml的柵極相連,所述NMOS管Ml的柵極與所述NMOS管M2的柵極相連,所述NMOS管Ml的源極與所述NMOS管M2的源極相連,所述NMOS管Ml的漏極與所述PMOS管Pl的漏極相連,所述PMOS管Pl的漏極和所述PMOS管Pl的柵極相連,所述PMOS管Pl的柵極與所述PMOS管P2的柵極相連,所述PMOS管Pl的源極與所述PMOS管P2的源極相連;所述第二電流輸入到所述NMOS管M12的漏極,所述NMOS管M12的漏極與所述NMOS管M12的柵極相連,所述NMOS管M12的柵極與所述NMOS管Mll的柵極相連,所述NMOS管M12的源極與所述NMOS管Mll的源極相連,所述NMOS管Mll的漏極與所述PMOS管P8的漏極相連,所述PMOS管P8的漏極和所述PMOS管P8的柵極相連,所述PMOS管P8的柵極與所述PMOS管P6的柵極相連,所述PMOS管P8的源極與所述PMOS管P6的源極相連;所述PMOS管P6的漏極與所述NMOS管M5的漏極相連,所述NMOS管M5的漏極與所述NMOS管M5的柵極相連,所述NMOS管M5的柵極與所述NMOS管M4的柵極相連,所述NMOS管M5的源極與所述NMOS管M4的源極相連,所述NMOS管M4的漏極與所述PMOS管P2的漏極的連接點為輸出端。
      [0007]優(yōu)選地,所述NMOS管Ml、所述NMOS管M2、所述NMOS管Ml 1、所述NMOS管Ml2的寬長比之比為1:1:1:1 ;所述匪05管M4、所述NMOS管M5的寬長比之比為1:1管P1、所述PMOS管P2、所述PMOS管P6、所述PMOS管P8的寬長比之比為1:1:1:1。
      [0008]優(yōu)選地,所述第二差模電流產(chǎn)生電路包括NMOS管MUNMOS管M2、NM0S管M8、NM0S管 M9、NM0S 管 M11、NM0S 管 M12,以及 PMOS 管 PUPMOS 管 P3、PM0S 管 P7、PM0S 管 P8 ;其中,所述第一電流輸入到所述NMOS管Ml的漏極,所述NMOS管Ml的漏極與所述NMOS管Ml的柵極相連,所述NMOS管Ml的柵極與所述NMOS管M2的柵極相連,所述NMOS管Ml的源極與所述NMOS管M2的源極相連,所述NMOS管Ml的漏極與所述PMOS管Pl的漏極相連,所述PMOS管Pl的漏極和所述PMOS管Pl的柵極相連,所述PMOS管Pl的柵極與所述PMOS管P3的柵極相連,所述PMOS管Pl的源極與所述PMOS管P3的源極相連;所述第二電流輸入到所述NMOS管M12的漏極,所述NMOS管M12的漏極與所述NMOS管M12的柵極相連,所述NMOS管M12的柵極與所述NMOS管Mll的柵極相連,所述NMOS管M12的源極與所述NMOS管Mll的源極相連,所述NMOS管Mll的漏極與所述PMOS管P8的漏極相連,所述PMOS管P8的漏極和所述PMOS管P8的柵極相連,所述PMOS管P8的柵極與所述PMOS管P7的柵極相連,所述PMOS管P8的源極與所述PMOS管P7的源極相連;所述PMOS管P3的漏極與所述NMOS管M8的漏極相連,所述NMOS管M8的漏極與所述NMOS管M8的柵極相連,所述NMOS管M8的柵極與所述NMOS管M9的柵極相連,所述NMOS管M8的源極與所述NMOS管M9的源極相連,所述NMOS管M9的漏極與所述PMOS管P7的漏極的連接點為輸出端。
      [0009]優(yōu)選地,所述NMOS管Ml、所述NMOS管M2、所述NMOS管Ml 1、所述NMOS管Ml2的寬長比之比為1:1:1:1 ;所述NMOS管M8、所述NMOS管M9的寬長比之比為1:1 ;所述PMOS管P1、所述PMOS管P2、所述PMOS管P7、所述PMOS管P8的寬長比之比為1:1:1:1。
      [0010]優(yōu)選地,所述AB類輸出級電路包括NMOS管M3、NMOS管M6、NMOS管M7、NMOS管M10,以及PMOS管P4、PMOS管P5 ;所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M3的漏極相連,所述NMOS管M3的漏極與所述NMOS管M3的柵極相連,所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M6的柵極相連,所述NMOS管M6的漏極與所述PMOS管P4的漏極相連,所述PMOS管P4的漏極與所述PMOS管P4的柵極相連,所述PMOS管P4的柵極與所述PMOS管P5的柵極相連,所述PMOS管P4的源極與所述PMOS管P5的源極相連;所述第二差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管MlO的漏極相連,所述NMOS管MlO的漏極與所述NMOS管MlO的柵極相連,所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M7的柵極相連,所述NMOS管M7的漏極與所述PMOS管P5的漏極的連接點為輸出端。
      [0011]優(yōu)選地,所述PMOS管P4、所述PMOS管P5的寬長比之比為1:1 ;所述NMOS管M3、所述NMOS管MlO、所述NMOS管M6、所述NMOS管M7的寬長比之比為1:1:n:n,其中,η為大于I的任意值。
      [0012]如上所述,本發(fā)明的電流模比較器,具有以下有益效果:由于本發(fā)明采用了 AB類輸出,并且無需偏置電流,結(jié)構(gòu)簡單,功耗極低,比較器除輸出節(jié)點外無高阻節(jié)點,系統(tǒng)帶寬大,比較速度快。同時,由于本發(fā)明采用的電路具有很強的對稱性,對工藝變化有很高的魯 棒性。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0013]圖1顯示為本發(fā)明一種電流模比較器的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0014]圖2顯示為本發(fā)明一種電流模比較器的電路原理示意圖A。
      [0015]圖3顯示為本發(fā)明一種電流模比較器的電路原理示意圖B。
      [0016]圖4顯示為本發(fā)明一種電流模比較器工作時的輸入輸出信號比較示意圖。
      [0017]元件標號說明
      [0018]I 電流模比較器
      [0019]11 第一差模電流產(chǎn)生電路
      [0020]12 第二差模電流產(chǎn)生電路
      [0021]13 AB類輸出級電路
      【具體實施方式】
      [0022]以下由特定的具體實施例說明本發(fā)明的實施方式,熟悉此技術(shù)的人士可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點及功效。
      [0023]須知,本說明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等,均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容,以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀,并非用以限定本發(fā)明可實施的限定條件,故不具技術(shù)上的實質(zhì)意義,任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整,在不影響本發(fā)明所能產(chǎn)生的功效及所能達成的目的下,均應仍落在本發(fā)明所揭示的技術(shù)內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時,本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語,亦僅為便于敘述的明了,而非用以限定本發(fā)明可實施的范圍,其相對關(guān)系的改變或調(diào)整,在無實質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下,當亦視為本發(fā)明可實施的范疇。
      [0024]如圖1所示,本發(fā)明提供一種電流模比較器1,所述電流模比較器I用于接收第一路電流和第二路電流,輸出比較結(jié)果電壓信號。所述電流模比較器I包括:第一差模電流產(chǎn)生電路11,第二差模電流產(chǎn)生電路12,AB類輸出級電路13。其中:
      [0025]所述第一差模電流產(chǎn)生電路11用于接收第一路電流和第二路電流,輸出第一路電流和第二路電流的差值。第一差模電流產(chǎn)生電路11的一種實施例如圖2所示,所述第一差模電流產(chǎn)生電路11包括NMOS管Ml、NMOS管M2、NMOS管M4、NMOS管M5、NMOS管Ml 1、NMOS管Ml2,以及PMOS管PU PMOS管P2、PMOS管P6、PMOS管P8 ;其中,所述第一電流輸入到所述NMOS管Ml的漏極,所述NMOS管Ml的漏極與所述NMOS管Ml的柵極相連,所述NMOS管Ml的柵極與所述NMOS管M2的柵極相連,所述NMOS管Ml的源極與所述NMOS管M2的源極相連,所述NMOS管Ml的漏極與所述PMOS管Pl的漏極相連,所述PMOS管Pl的漏極和所述PMOS管Pl的柵極相連,所述PMOS管Pl的柵極與所述PMOS管P2的柵極相連,所述PMOS管Pl的源極與所述PMOS管P2的源極相連;所述第二電流輸入到所述NMOS管M12的漏極,所述NMOS管M12的漏極與所述NMOS管M12的柵極相連,所述NMOS管M12的柵極與所述NMOS管Ml I的柵極相連,所述NMOS管M12的源極與所述NMOS管Mll的源極相連,所述NMOS管Ml I的漏極與所述PMOS管P8的漏極相連,所述PMOS管P8的漏極和所述PMOS管P8的柵極相連,所述PMOS管P8的柵極與所述PMOS管P6的柵極相連,所述PMOS管P8的源極與所述PMOS管P6的源極相連;所述PMOS管P6的漏極與所述NMOS管M5的漏極相連,所述NMOS管M5的漏極與所述NMOS管M5的柵極相連,所述NMOS管M5的柵極與所述NMOS管M4的柵極相連,所述NMOS管M5的源極與所述NMOS管M4的源極相連,所述NMOS管M4的漏極與所述PMOS管P2的漏極的連接點為輸出端。
      [0026]具體地,如圖3所示,所述第一差模電流產(chǎn)生電路11的所述NMOS管Ml、所述NMOS管M2、所述NMOS管Ml1、所述NMOS管M12的寬長比之比為1:1:1:1 ;所述寬長比是指一個晶體管的尺寸參數(shù)W (寬)與L (長)的比值。所述NMOS管M4、所述NMOS管M5的寬長比之比為1:1 ;所述PMOS管P1、所述PMOS管P2、所述PMOS管P6、所述PMOS管P8的寬長比之比為 1:1:1:1
      [0027]所述第二差模電流產(chǎn)生電路12,用于接收第一路電流和第二路電流,輸出第二路電流和第一路電流的差值。第二差模電流產(chǎn)生電路12的一種實施例如圖2所示,所述第二差模電流產(chǎn)生電路12包括NMOS管Ml、NMOS管M2、NMOS管M8、NMOS管M9、NMOS管Ml 1、NMOS管M12,以及PMOS管PU PMOS管P3、PMOS管P7、PMOS管P8 ;其中,所述第一電流輸入到所述NMOS管Ml的漏極,所述NMOS管Ml的漏極與所述NMOS管Ml的柵極相連,所述NMOS管Ml的柵極與所述NMOS管M2的柵極相連,所述NMOS管Ml的源極與所述NMOS管M2的源極相連,所述NMOS管Ml的漏極與所述PMOS管Pl的漏極相連,所述PMOS管Pl的漏極和所述PMOS管Pl的柵極相連,所述PMOS管Pl的柵極與所述PMOS管P3的柵極相連,所述PMOS管Pl的源極與所述PMOS管P3的源極相連;所述第二電流輸入到所述NMOS管M12的漏極,所述NMOS管M12的漏極與所述NMOS管M12的柵極相連,所述NMOS管M12的柵極與所述NMOS管Mll的柵極相連,所述NMOS管M12的源極與所述NMOS管Mll的源極相連,所述NMOS管Mll的漏極與所述PMOS管P8的漏極相連,所述PMOS管P8的漏極和所述PMOS管P8的柵極相連,所述PMOS管P8的柵極與所述PMOS管P7的柵極相連,所述PMOS管P8的源極與所述PMOS管P7的源極相連;所述PMOS管P3的漏極與所述NMOS管M8的漏極相連,所述NMOS管M8的漏極與所述NMOS管M8的柵極相連,所述NMOS管M8的柵極與所述NMOS管M9的柵極相連,所述NMOS管M8的源極與所述NMOS管M9的源極相連,所述NMOS管M9的漏極與所述PMOS管P7的漏極的連接點為輸出端。
      [0028]具體地,如圖3所示,所述第二差模電流產(chǎn)生電路12的所述NMOS管Ml、所述NMOS管M2、所述NMOS管Ml1、所述NMOS管M12的寬長比之比為1:1:1:1 ;所述NMOS管M8、所述NMOS管M9的寬長比之比為1:1 ;所述PMOS管P1、所述PMOS管P2、所述PMOS管P7、所述PMOS管P8的寬長比之比為1:1:1:1。
      [0029]所述AB類輸出級電路13,與所述第一差模電流產(chǎn)生電路11以及所述第二差模電流產(chǎn)生電路12相連,用于使所述第一差模電流產(chǎn)生電路11和所述第二差模電流產(chǎn)生電路12中的一路差模電流產(chǎn)生電路處于工作狀態(tài),同時另一路差模電流產(chǎn)生電路處于關(guān)斷狀態(tài),從而實現(xiàn)比較結(jié)果輸出。所述AB類輸出級電路13的一種實施例如圖2所示,所述AB類輸出級電路13包括NMOS管M3、NMOS管M6、NM0S管M7、NM0S管MlO,以及PMOS管P4、PM0S管P5 ;所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M3的漏極相連,所述NMOS管M3的漏極與所述NMOS管M3的柵極相連,所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M6的柵極相連,所述NMOS管M6的漏極與所述PMOS管P4的漏極相連,所述PMOS管P4的漏極與所述PMOS管P4的柵極相連,所述PMOS管P4的柵極與所述PMOS管P5的柵極相連,所述PMOS管P4的源極與所述PMOS管P5的源極相連;所述第二差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管MlO的漏極相連,所述NMOS管MlO的漏極與所述NMOS管MlO的柵極相連,所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M7的柵極相連,所述NMOS管M7的漏極與所述PMOS管P5的漏極的連接點為輸出端。
      [0030]具體地,如圖3所示,所述AB類輸出級電路13的所述PMOS管P4、所述PMOS管P5的寬長比之比為1:1 ;所述NMOS管M3、所述NMOS管MlO、所述NMOS管M6、所述NMOS管M7的寬長比之比為m:m: (m*n): (m*n), S卩1:1:n:n,其中,n為大于I的任意值;可以通過改變所述η值來改變所述電流模比較器I的速度,η可以為大于I的任意值,η值越大,所述電流模比較器I速度越快,傳輸延時越短,但η的實際取值還需要綜合考慮對應的MOS管的柵極寄生電流和電流鏡的匹配性。
      [0031]所述電流模比較器I的實現(xiàn)方式為:當Iref>Iin時,所述第一差模電流產(chǎn)生電路11正常工作,第二差模電流產(chǎn)生電路12關(guān)斷狀態(tài);當IrefXIin時,所述第二差模電流產(chǎn)生電路12正常工作,第一差模電流產(chǎn)生電路11關(guān)斷狀態(tài);采用AB類輸出級電路,差模電流I產(chǎn)生電路與差模電流2產(chǎn)生電路交替控制,實現(xiàn)比較結(jié)果輸出。
      [0032]具體地,如圖2所示,所述電流模比較器I工作時,根據(jù)電流鏡的鏡像關(guān)系,通過Ml的電流Iref鏡像到M2,通過Pl的電流鏡像到Ρ2、Ρ3,同理,Iin經(jīng)Μ12鏡像至Mil、Ρ8鏡像至P7、P6,經(jīng)過M5的電流鏡像到M4,經(jīng)過M8的電流鏡像到M3,則通過M3的電流為Iref-1in,通過MlO的電流為Iin_Iref。當Iref>Iin時,通過M3的電流大于零,而通過MlO的電流為零,M9處于線性工作區(qū),從而M6導通,M7關(guān)斷,P4、P5導通。故此時,第一差模電流產(chǎn)生電路11工作,第二差模電流產(chǎn)生電路12輸出為低,AB類輸出級電路13的P5管導通,M7管關(guān)斷,比較器輸出為高電平;同理,當IrefXIin時,M7導通,M6、P4、P5關(guān)斷,第二差模電流產(chǎn)生電路12工作,第一差模電流產(chǎn)生電路11輸出為低,AB類輸出級電路13的P5管關(guān)斷,M7管導通,比較器輸出為低電平。
      [0033]在實際的工作例中,當Iref=5uA,Iin為O-1OuA線性變化的信號時,所述電流模比較器I的輸入電流Iref、輸入電流Iin與電流模比較器I輸出電壓關(guān)系如圖4所示。
      [0034]綜上所述,本發(fā)明一種電流模比較器,采用了 AB類輸出級電路,并且無需偏置電流,結(jié)構(gòu)簡單,功耗極低,比較器除輸出節(jié)點外無高阻節(jié)點,系統(tǒng)帶寬大,比較速度快。同時,由于本發(fā)明采用的電路具有很強的對稱性,對工藝變化有很高的魯棒性。所以,本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點而具高度產(chǎn)業(yè)利用價值。
      [0035]上述實施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效,而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下,對上述實施例進行修飾或改變。因此,舉凡所屬【技術(shù)領(lǐng)域】中具有通常知識者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變,仍應由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。
      【權(quán)利要求】
      1.一種電流模比較器,其特征在于,所述電流模比較器用于接收第一路電流和第二路電流,輸出比較結(jié)果電壓信號;所述電流模比較器至少包括: 第一差模電流產(chǎn)生電路,用于接收第一路電流和第二路電流,輸出第一路電流和第二路電流的差值; 第二差模電流產(chǎn)生電路,用于接收第一路電流和第二路電流,輸出第二路電流和第一路電流的差值; AB類輸出級電路,與所述第一差模電流產(chǎn)生電路以及所述第二差模電流產(chǎn)生電路相連,用于使所述第一差模電流產(chǎn)生電路和所述第二差模電流產(chǎn)生電路中的一路差模電流產(chǎn)生電路處于工作狀態(tài),同時另一路差模電流產(chǎn)生電路處于關(guān)斷狀態(tài),從而實現(xiàn)比較結(jié)果輸出。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電流模比較器,其特征在于:所述第一差模電流產(chǎn)生電路包括 NMOS 管 Ml、NMOS 管 M2、NMOS 管 M4、NMOS 管 M5、NMOS 管 Mil、NMOS 管 M12,以及 PMOS 管PUPMOS管P2、PM0S管P6、PM0S管P8 ;其中,所述第一電流輸入到所述NMOS管Ml的漏極,所述NMOS管Ml的漏極與所述NMOS管Ml的柵極相連,所述NMOS管Ml的柵極與所述NMOS管M2的柵極相連,所述NMOS管Ml的源極與所述NMOS管M2的源極相連,所述NMOS管Ml的漏極與所述PMOS管Pl的漏極相連,所述PMOS管Pl的漏極和所述PMOS管Pl的柵極相連,所述PMOS管Pl的柵極與所述PMOS管P2的柵極相連,所述PMOS管Pl的源極與所述PMOS管P2的源極相連;所述第二電流輸入到所述NMOS管M12的漏極,所述NMOS管M12的漏極與所述NMOS管M12的柵極相連,所述NMOS管M12的柵極與所述NMOS管Mll的柵極相連,所述NMOS管M12的源極與所述NMOS管Mll的源極相連,所述NMOS管Mll的漏極與所述PMOS管P8的漏極相連,所述PMOS管P8的漏極和所述PMOS管P8的柵極相連,所述PMOS管P8的柵極與所述PMOS管P6的柵極相連,所述PMOS管P8的源極與所述PMOS管P6的源極相連;所述PMOS管P6的漏極與所述NMOS管M5的漏極相連,所述NMOS管M5的漏極與所述NMOS管M5的柵極相連,所述NMOS管M5的柵極與所述NMOS管M4的柵極相連,所述NMOS管M5的源極與所述NMOS管M4的源極相連,所述NMOS管M4的漏極與所述PMOS管P2的漏極的連接點為輸出端。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電流模比較器,其特征在于:所述NMOS管Ml、所述NMOS管M2、所述NMOS管Mil、所述NMOS管M12的寬長比之比為1:1:1:1 ;所述NMOS管M4、所述NMOS管M5的寬長比之比為1:1 Jy^iiPMOS管P1、所述PMOS管P2、所述PMOS管P6、所述PMOS管P8的寬長比之比為1:1:1:1。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電流模比較器,其特征在于:所述第二差模電流產(chǎn)生電路包括 NMOS 管 Ml、NMOS 管 M2、NMOS 管 M8、NMOS 管 M9、NMOS 管 Mil、NMOS 管 M12,以及 PMOS 管PUPMOS管P3、PM0S管P7、PM0S管P8 ;其中,所述第一電流輸入到所述NMOS管Ml的漏極,所述NMOS管Ml的漏極與所述NMOS管Ml的柵極相連,所述NMOS管Ml的柵極與所述NMOS管M2的柵極相連,所述NMOS管Ml的源極與所述NMOS管M2的源極相連,所述NMOS管Ml的漏極與所述PMOS管Pl的漏極相連,所述PMOS管Pl的漏極和所述PMOS管Pl的柵極相連,所述PMOS管Pl的柵極與所述PMOS管P3的柵極相連,所述PMOS管Pl的源極與所述PMOS管P3的源極相連;所述第二電流輸入到所述NMOS管M12的漏極,所述NMOS管M12的漏極與所述NMOS管M12的柵極相連,所述NMOS管M12的柵極與所述NMOS管Mll的柵極相連,所述NMOS管M12的源極與所述NMOS管Mll的源極相連,所述NMOS管Mll的漏極與所述PMOS管P8的漏極相連,所述PMOS管P8的漏極和所述PMOS管P8的柵極相連,所述PMOS管P8的柵極與所述PMOS管P7的柵極相連,所述PMOS管P8的源極與所述PMOS管P7的源極相連;所述PMOS管P3的漏極與所述NMOS管M8的漏極相連,所述NMOS管M8的漏極與所述NMOS管M8的柵極相連,所述NMOS管M8的柵極與所述NMOS管M9的柵極相連,所述NMOS管M8的源極與所述NMOS管M9的源極相連,所述NMOS管M9的漏極與所述PMOS管P7的漏極的連接點為輸出端。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電流模比較器,其特征在于:所述NMOS管Ml、所述NMOS管M2、所述NMOS管Mil、所述NMOS管M12的寬長比之比為1:1:1:1 ;所述NMOS管M8、所述NMOS管M9的寬長比之比為1:1 ;所述PMOS管P1、所述PMOS管P2、所述PMOS管P7、所述PMOS管P8的寬長比之比為1:1:1:1。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電流模比較器,其特征在于:所述AB類輸出級電路包括NMOS管M3、NM0S管M6、NM0S管M7、NM0S管M10,以及PMOS管P4、PM0S管P5 ;所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M3的漏極相連,所述NMOS管M3的漏極與所述NMOS管M3的柵極相連,所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M6的柵極相連,所述NMOS管M6的漏極與所述PMOS管P4的漏極相連,所述PMOS管P4的漏極與所述PMOS管P4的柵極相連,所述PMOS管P4的柵極與所述PMOS管P5的柵極相連,所述PMOS管P4的源極與所述PMOS管P5的源極相連;所述第二差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管MlO的漏極相連,所述NMOS管MlO的漏極與所述NMOS管MlO的柵極相連,所述第一差模電流產(chǎn)生電路的輸出端與所述NMOS管M7的柵極相連,所述NMOS管M7的漏極與所述PMOS管P5的漏極的連接點為輸出端。
      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電流模比較器,其特征在于:所述PMOS管P4、所述PMOS管P5的寬長比之比為1:1 ;所述NMOS管M3、所述NMOS管M10、所述NMOS管M6、所述NMOS管M7的寬長比之比為1:1:n:n,其中,η為大于I的任意值。
      【文檔編號】H03K5/22GK103618525SQ201310656921
      【公開日】2014年3月5日 申請日期:2013年12月6日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月6日
      【發(fā)明者】張正民, 李建朋, 董春雷, 寧振球, 金星, 秦英安, 俞躍輝 申請人:中國科學院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所
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