本申請涉及電子電路,特別涉及一種模數(shù)轉(zhuǎn)換器、芯片、模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法及電子設(shè)備。
背景技術(shù):
1、隨著半導(dǎo)體工藝節(jié)點(diǎn)不斷縮小與電源電壓不斷的下降,對高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)帶來新的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的逐次逼近(sar)模數(shù)轉(zhuǎn)換器與流水線(pipeline)模數(shù)轉(zhuǎn)換器,都難以同時實(shí)現(xiàn)高速率、高精度與低功耗的指標(biāo)要求,常常需要犧牲其中某項(xiàng)指標(biāo)來滿足其它指標(biāo)要求。
2、以傳統(tǒng)兩級流水線逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(pipeline-sar?adc)為例,pipeline-sar?adc是將pipeline?adc(流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器)中的全并行(flash)結(jié)構(gòu)用sar結(jié)構(gòu)代替,并利用第一級sar?adc的采樣保持網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)pipeline?adc的前端采樣保持功能。雖然pipeline-sar?adc速度有所降低,但是大大減少了功耗和面積。而限制pipeline-sar?adc性能的主要因素是第一級sar?adc電容失配帶來的誤差,從而影響整體adc的性能。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請實(shí)施例提供一種模數(shù)轉(zhuǎn)換器、芯片、模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法及電子設(shè)備,可以提高模數(shù)轉(zhuǎn)換器的性能,并且不需要增加額外的校準(zhǔn)量化電路。
2、第一方面,本申請實(shí)施例提供一種模數(shù)轉(zhuǎn)換器,包括:
3、第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路;
4、第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路,與所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路連接,所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路被配置為共同對輸入信號進(jìn)行采樣以及模數(shù)轉(zhuǎn)換,得到初始模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果;所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路還被配置為對所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差電壓進(jìn)行采樣和量化,得到所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差碼值;
5、誤差回補(bǔ)模塊,與所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路連接,被配置為根據(jù)所述失配誤差碼值對所述初始模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行回補(bǔ),得到最終模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果。
6、第二方面,本申請實(shí)施例還提供一種芯片,包括上述模數(shù)轉(zhuǎn)換器。
7、第三方面,本申請實(shí)施例還提供一種電子設(shè)備,包括上述芯片。
8、第四方面,本申請實(shí)施例還提供一種模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,包括:
9、控制第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路對第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差電壓進(jìn)行采樣和量化,得到所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差碼值;
10、控制所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路共同對輸入信號進(jìn)行采樣以及模數(shù)轉(zhuǎn)換,得到初始模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果;
11、根據(jù)所述失配誤差碼值對所述初始模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行回補(bǔ),得到最終模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果。
12、本申請實(shí)施例提供的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,不需要增加額外的校準(zhǔn)量化電路,通過復(fù)用第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路,能夠得到第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差碼值,并通過誤差回補(bǔ)模塊根據(jù)失配誤差碼值對初始模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行回補(bǔ),因此能夠消除第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差電壓造成的影響,提高模數(shù)轉(zhuǎn)換的精度,從而提高模數(shù)轉(zhuǎn)換器的性能。
1.一種模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路包括第一電容陣列,所述第一電容陣列包括多組電容,所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路被配置為:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,所述對每一組電容的失配誤差電壓進(jìn)行采樣和量化時:
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路被配置為:
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路被配置為按照從低位電容到高位電容的順序依次進(jìn)行以下處理,直至得到每一組所述電容的失配誤差碼值:
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,所述失配誤差碼值為多位碼值;
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,所述誤差回補(bǔ)模塊被配置為:
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于:
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,還包括:
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,所述級間放大器包括:
11.根據(jù)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其特征在于,還包括失配誤差碼值存儲模塊,設(shè)置在所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路與所述誤差回補(bǔ)模塊之間,被配置為存儲所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差碼值。
12.一種芯片,其特征在于,包括權(quán)利要求1至11任一項(xiàng)所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器。
13.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括權(quán)利要求12所述的芯片。
14.一種模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,其特征在于,包括:
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路包括第一電容陣列,所述第一電容陣列包括多組電容,所述控制第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路對第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差電壓進(jìn)行采樣和量化,得到所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的失配誤差碼值,包括:
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述對每一組電容的失配誤差電壓進(jìn)行采樣和量化,包括:
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述控制所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路依次對所述第一電容陣列的每一組電容的失配誤差電壓進(jìn)行采樣和量化,包括:
18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述控制所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路依次對所述第一電容陣列的每一組電容的失配誤差電壓進(jìn)行采樣和量化,包括:
19.根據(jù)權(quán)利要求14所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述失配誤差碼值為多位碼值,所述根據(jù)所述失配誤差碼值對所述初始模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行回補(bǔ),得到最終模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果,包括:
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一碼值選擇所述失配誤差碼值中的對應(yīng)碼值對所述第一碼值進(jìn)行回補(bǔ),包括:
21.根據(jù)權(quán)利要求14至20任一項(xiàng)所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述控制所述第一級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、所述第二級模數(shù)轉(zhuǎn)換電路共同對輸入信號進(jìn)行采樣以及模數(shù)轉(zhuǎn)換,得到初始模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果,包括: