專利名稱：被檢驗裝置是否合格以及不良部分的判定的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢驗裝置，檢驗系統(tǒng)，檢驗方法，更具體地說，涉及判定被檢驗裝置是否合格，以及檢測被檢驗裝置的不良部分，所述被檢驗裝置具有若干功能塊(functional block)。
背景技術(shù)：
為了檢驗具有若干功能塊的設(shè)備，裝置，和/或集成電路(以下簡記為“被檢驗裝置”)，通常將檢驗用數(shù)據(jù)輸入被檢驗裝置，以便使得被檢驗裝置生成處理數(shù)據(jù)。然后，將上述處理數(shù)據(jù)與作為處理數(shù)據(jù)期望值的參照數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
例如，在復(fù)印機中，在CCD等圖像讀取部從原稿讀取圖像數(shù)據(jù)，對所讀取的圖像數(shù)據(jù)，通過各圖像處理功能塊，進行例如(1)光源明暗補正，(2)圖像有效區(qū)域的切取等領(lǐng)域設(shè)定，(3)圖樣識別，(4)色變換處理等各種圖像處理，處理后的數(shù)據(jù)送向打印輸出部。
以往，對這種具有一個以上的圖像處理功能塊的圖像處理裝置，進行檢驗時，根據(jù)一張原稿，向圖像處理裝置輸入圖像數(shù)據(jù)，進行圖像處理，根據(jù)圖像處理后的圖像數(shù)據(jù)，判斷各功能塊的圖像處理是否正常。
當(dāng)檢驗為不良時，需要判斷哪個圖像處理功能塊不良，這時，需要對各圖像處理功能一個個地進行判斷，例如，除了被檢驗的功能塊，一時停止其他功能塊的動作。
在例如特開平9-102839號公報中，公開了在圖像處理裝置側(cè)設(shè)置特別的結(jié)構(gòu)，以便容易判定不良處。在該技術(shù)中，在圖像處理裝置內(nèi)的各圖像處理功能塊預(yù)先內(nèi)藏試驗圖樣，切取區(qū)域，輸出試驗圖樣，能一次表示與全部功能塊的試驗圖樣相對應(yīng)的輸出結(jié)果。
但是，在上述技術(shù)中，需要在圖像處理裝置內(nèi)的各圖像處理功能塊內(nèi)藏試驗圖樣，必須對各圖像處理功能塊實行區(qū)域切取，不得不在圖像處理裝置側(cè)設(shè)置特別的結(jié)構(gòu)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明就是為解決上述先有技術(shù)所存在的問題而提出來的，本發(fā)明的目的在于，提供檢驗裝置，檢驗系統(tǒng)，檢驗方法，能例如通過特定一個不良功能塊，檢知具有若干功能塊的被檢驗裝置的不良處。
例如，根據(jù)若干功能塊的各功能塊，生成若干檢驗用數(shù)據(jù)要素。準(zhǔn)備檢驗用數(shù)據(jù)，將一個或多個這樣的檢驗用數(shù)據(jù)要素存儲在一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)。檢驗用數(shù)據(jù)要素和檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)之間的相對應(yīng)關(guān)系可以預(yù)先決定，或者在每次檢驗時決定。
根據(jù)檢驗用數(shù)據(jù)，分別生成參照用數(shù)據(jù)以及處理數(shù)據(jù)，上述參照用數(shù)據(jù)存儲一個或多個參照用數(shù)據(jù)要素，上述處理數(shù)據(jù)存儲一個或多個處理數(shù)據(jù)要素。接著，將處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果。根據(jù)該比較結(jié)果，檢知被檢驗裝置的不良處，判定被檢驗裝置是否合格。
例如，判定處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)不一致，可以檢知與該處理數(shù)據(jù)相對應(yīng)的檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)。此外，可以檢知與上述已檢知的檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的功能塊，作為不良功能塊。
按照本發(fā)明，不需要在被檢驗裝置側(cè)設(shè)置特別的結(jié)構(gòu)，能以簡單結(jié)構(gòu)很容易地判定被檢驗裝置內(nèi)的各功能塊的不良處。


通過下面參照附圖進行的詳細說明，可以很容易地獲得對于本發(fā)明內(nèi)容更完整的評價及其許多附帶的優(yōu)點，同時其也將會變得更加易于理解，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)的功能構(gòu)成方框圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)的功能構(gòu)成方框圖；
圖3是根據(jù)本發(fā)明又一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)的功能構(gòu)成方框圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明又一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)的功能構(gòu)成方框圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明又一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)的功能構(gòu)成方框圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)的硬件構(gòu)成方框圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例的檢驗一被檢驗裝置的流程圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實施例的檢驗一被檢驗裝置的流程圖；圖9是根據(jù)本發(fā)明又一優(yōu)選實施例的檢驗一被檢驗裝置的流程圖。
具體實施例方式
在對附圖中所示優(yōu)選實施例進行描述的處理中，為了清楚起見，采用具體的術(shù)語。但是，該專利說明書公開的內(nèi)容并不僅僅局限于這樣選擇的具體術(shù)語，并且，可以理解的是，每個具體的元件都包括按照類似方式操作的所有等同物。
現(xiàn)在參照附圖，在多個附圖中，相同的參考數(shù)字指示相同或相應(yīng)部分。參照附圖，尤其是圖1，說明本發(fā)明一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)100。
檢驗系統(tǒng)100包括一檢驗裝置10以及一被檢驗裝置1。檢驗裝置10與被檢驗裝置1通過控制線60，輸入數(shù)據(jù)線70以及輸出數(shù)據(jù)線80互相連接?？刂凭€60包括任何種類接口，其許可檢驗裝置10發(fā)送控制信號，以便使得被檢驗裝置1動作。輸入數(shù)據(jù)線70包括任何種類接口，其將數(shù)據(jù)從檢驗裝置10輸送到被檢驗裝置1。輸出數(shù)據(jù)線80包括任何種類接口，其將數(shù)據(jù)從被檢驗裝置1輸送到檢驗裝置10。
檢驗裝置10能檢驗，解析，確認(rèn)，和/或判定被檢驗裝置1是否合格。
被檢驗裝置1可以包括任何種類電路板和/或裝置，其具有若干功能塊，各功能塊提供特定功能。功能塊的數(shù)以及各功能塊提供的功能決定被檢驗裝置1的通常特征。
下面以圖像處理裝置例如復(fù)印機，傳真機，打印機，計算機，多功能裝置為例進行說明。如圖1所示，被檢驗裝置1至少包括三個功能塊1a，1b，1c，各功能塊提供一特定的圖像處理功能。
例如，功能塊1a提供控制文書數(shù)據(jù)要素(element)的功能(以下簡記為“文書數(shù)據(jù)功能”)。該文書數(shù)據(jù)要素包括任何種類的數(shù)據(jù)，例如其具有特征，記號，數(shù)字等。功能塊1b提供控制圖形數(shù)據(jù)要素的功能(以下簡記為“圖形數(shù)據(jù)功能”)。該圖形數(shù)據(jù)要素包括任何種類的數(shù)據(jù)，例如其具有照片，圖等。功能塊1c提供控制噪音數(shù)據(jù)要素的功能(以下簡記為“噪音數(shù)據(jù)功能”)。該噪音數(shù)據(jù)要素包括任何種類的經(jīng)圖像處理所產(chǎn)生的不合適或無用的數(shù)據(jù)，例如損傷或塵埃所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)。
該被檢驗裝置1還可以包括其他功能塊(沒有圖示)，例如所包括的功能塊用于提供控制秘密數(shù)據(jù)要素的功能。該秘密數(shù)據(jù)要素包括任何種類的秘密性高的數(shù)據(jù)，例如關(guān)于金錢或安全的數(shù)據(jù)?；蛘?，被檢驗裝置1也可以只包括上述功能塊1a-1c之中的一個或二個功能塊。
如圖1所示，檢驗裝置10包括檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13，參照用數(shù)據(jù)存儲器14，處理數(shù)據(jù)接收器15，數(shù)據(jù)比較器16，判定器17。
檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)12，其包括各種類型的檢驗用數(shù)據(jù)，用于檢驗被檢驗裝置1的功能塊1a-1c中的至少一個功能。各數(shù)據(jù)要素存儲在檢驗用數(shù)據(jù)12的各數(shù)據(jù)區(qū)。
例如，檢驗用數(shù)據(jù)12包括在檢驗用文書數(shù)據(jù)區(qū)12a的檢驗用數(shù)據(jù)要素，用于檢驗功能塊1a的文書數(shù)據(jù)功能(以下簡記為“檢驗用文書數(shù)據(jù)要素”)；在檢驗用圖形數(shù)據(jù)區(qū)12b的檢驗用數(shù)據(jù)要素，用于檢驗功能塊1b的圖形數(shù)據(jù)功能(以下簡記為“檢驗用圖形數(shù)據(jù)要素”)；以及在檢驗用噪音數(shù)據(jù)區(qū)12c的檢驗用數(shù)據(jù)要素，用于檢驗功能塊1c的噪音數(shù)據(jù)功能(以下簡記為“檢驗用噪音數(shù)據(jù)要素”)。或者，檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11可以將各檢驗用數(shù)據(jù)要素以及指示各檢驗用數(shù)據(jù)要素位置的位置信息存儲在檢驗用數(shù)據(jù)12中。該位置信息可以用例如XY坐標(biāo)系統(tǒng)表示。
檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11可以從例如一張或多張紙文件讀取檢驗用數(shù)據(jù)12。在另一實施例中，檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11可以從例如光記錄媒體等記錄媒體讀取檢驗用數(shù)據(jù)12。在又一實施例中，檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11可以從外部系統(tǒng)通過網(wǎng)絡(luò)得到檢驗用數(shù)據(jù)12。
參照用數(shù)據(jù)存儲器14預(yù)先存儲與檢驗用數(shù)據(jù)12相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)。更具體地說，參照用數(shù)據(jù)包括在參照用文書數(shù)據(jù)區(qū)的參照用數(shù)據(jù)要素，其根據(jù)檢驗用文書數(shù)據(jù)要素生成(以下簡記為“參照用文書數(shù)據(jù)要素”)；在參照用圖形數(shù)據(jù)區(qū)的參照用數(shù)據(jù)要素，其根據(jù)檢驗用圖形數(shù)據(jù)要素生成(以下簡記為“參照用圖形數(shù)據(jù)要素”)；以及在參照用噪音數(shù)據(jù)區(qū)的參照用數(shù)據(jù)要素，其根據(jù)檢驗用噪音數(shù)據(jù)要素生成(以下簡記為“參照用噪音數(shù)據(jù)要素”)。
更好的是，通過參照存儲在檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11的位置信息，參照用文書數(shù)據(jù)區(qū)可以位于與檢驗用文書數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的區(qū)。同樣，參照用圖形數(shù)據(jù)區(qū)可以位于與檢驗用圖形數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的區(qū)，參照用噪音數(shù)據(jù)區(qū)可以位于與檢驗用噪音數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的區(qū)。
參照用數(shù)據(jù)可以通過將檢驗用數(shù)據(jù)12輸入任何種類的電路板或裝置預(yù)先準(zhǔn)備，上述裝置具有與被檢驗裝置1相同的功能，且處于正常動作之中?；蛘?，參照用數(shù)據(jù)可以使用公知的模擬模式預(yù)先準(zhǔn)備。
檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13從檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11讀取檢驗用數(shù)據(jù)12，將其通過輸入數(shù)據(jù)線70輸入被檢驗裝置1。接著，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13可以通過例如控制線60發(fā)送控制信號，使得被檢驗裝置1動作。
使用檢驗用數(shù)據(jù)12，被檢驗裝置1生成處理數(shù)據(jù)。該處理數(shù)據(jù)包括在處理文書數(shù)據(jù)區(qū)的處理數(shù)據(jù)要素，其根據(jù)檢驗用文書數(shù)據(jù)要素生成(以下簡記為“處理文書數(shù)據(jù)要素”)；在處理圖形數(shù)據(jù)區(qū)的處理數(shù)據(jù)要素，其根據(jù)檢驗用圖形數(shù)據(jù)要素生成(以下簡記為“處理圖形數(shù)據(jù)要素”)；以及在處理噪音數(shù)據(jù)區(qū)的處理數(shù)據(jù)要素，其根據(jù)檢驗用噪音數(shù)據(jù)要素生成(以下簡記為“處理噪音數(shù)據(jù)要素”)。
更好的是，通過參照存儲在檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11的位置信息，處理文書數(shù)據(jù)區(qū)可以位于與檢驗用文書數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的區(qū)。同樣，處理圖形數(shù)據(jù)區(qū)可以位于與檢驗用圖形數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的區(qū)，處理噪音數(shù)據(jù)區(qū)可以位于與檢驗用噪音數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的區(qū)。
處理數(shù)據(jù)接收器15從被檢驗裝置1通過輸出數(shù)據(jù)線80得到處理數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)比較器16從處理數(shù)據(jù)接收器15得到處理數(shù)據(jù)，并且，從參照用數(shù)據(jù)存儲器14得到參照用數(shù)據(jù)。然后，數(shù)據(jù)比較器16比較處理數(shù)據(jù)和參照用數(shù)據(jù)，生成比較結(jié)果。更具體地說，數(shù)據(jù)比較器16比較處理文書數(shù)據(jù)要素與參照用文書數(shù)據(jù)要素，處理圖形數(shù)據(jù)要素與參照用圖形數(shù)據(jù)要素，處理噪音數(shù)據(jù)要素與參照用噪音數(shù)據(jù)要素。接著，數(shù)據(jù)比較器16生成比較結(jié)果，該比較結(jié)果表示處理數(shù)據(jù)是否包括處理文書數(shù)據(jù)要素，處理圖形數(shù)據(jù)要素，處理噪音數(shù)據(jù)要素，參照上述參照用數(shù)據(jù)，該參照用數(shù)據(jù)包括參照用文書數(shù)據(jù)要素，參照用圖形數(shù)據(jù)要素，參照用噪音數(shù)據(jù)要素。
判定器17根據(jù)上述比較結(jié)果，判斷被檢驗裝置1是否合格或不合格。例如，當(dāng)比較結(jié)果表示處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)一致(match)，判定器17判定被檢驗裝置1合格。否則，判定器17判定被檢驗裝置1不合格。更具體地說，如果各處理數(shù)據(jù)要素與參照用數(shù)據(jù)要素的相應(yīng)者一致，則判定器17判定被檢驗裝置1合格。
參照圖2，圖2是根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)200的功能構(gòu)成方框圖。
檢驗系統(tǒng)200在構(gòu)成及動作上除了用檢驗裝置20代替檢驗裝置10之外，與檢驗系統(tǒng)100大致相同。
如圖2所示，檢驗裝置20包括檢驗用數(shù)據(jù)存儲器21，數(shù)據(jù)區(qū)指定器22，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13，參照用數(shù)據(jù)存儲器14，處理數(shù)據(jù)接收器15，數(shù)據(jù)比較器16，判定器17。
檢驗用數(shù)據(jù)存儲器21預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)121，其包括檢驗用文書數(shù)據(jù)要素，檢驗用圖形數(shù)據(jù)要素，檢驗用噪音數(shù)據(jù)要素，但是，檢驗用數(shù)據(jù)要素的各位置沒有被預(yù)先特定。
數(shù)據(jù)區(qū)指定器22分別對檢驗用數(shù)據(jù)要素指定檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)。例如，數(shù)據(jù)區(qū)指定器22指定檢驗用文書數(shù)據(jù)要素的位置，并且將表示其位置的信息以與檢驗用文書數(shù)據(jù)要素相對應(yīng)的方式存儲在檢驗用數(shù)據(jù)存儲器21中。同樣，數(shù)據(jù)區(qū)指定器22指定檢驗用圖形數(shù)據(jù)要素的位置，并且將表示其位置的信息以與檢驗用圖形數(shù)據(jù)要素相對應(yīng)的方式存儲在檢驗用數(shù)據(jù)存儲器21中。數(shù)據(jù)區(qū)指定器22指定檢驗用噪音數(shù)據(jù)要素的位置，并且將表示其位置的信息以與檢驗用噪音數(shù)據(jù)要素相對應(yīng)的方式存儲在檢驗用數(shù)據(jù)存儲器21中。
或者，如果被檢驗裝置1能實行這種功能，則數(shù)據(jù)區(qū)指定器22的上述功能可以通過被檢驗裝置1實現(xiàn)。
這樣，檢驗裝置20可以將檢驗用數(shù)據(jù)12存儲在檢驗用數(shù)據(jù)存儲器21。
參照圖3，圖3是根據(jù)本發(fā)明又一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)300的功能構(gòu)成方框圖。
檢驗系統(tǒng)300在構(gòu)成及動作上除了檢驗裝置30之外，與檢驗系統(tǒng)100大致相同。
如圖3所示，檢驗裝置30包括檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13，參照用數(shù)據(jù)存儲器14，處理數(shù)據(jù)接收器15，數(shù)據(jù)比較器16，區(qū)檢測器48，判定器17。
區(qū)檢測器48預(yù)先存儲表示檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)與功能塊之間對應(yīng)關(guān)系的相關(guān)信息。更具體地說，區(qū)檢測器48存儲表示檢驗用文書數(shù)據(jù)區(qū)對應(yīng)于功能塊1a的信息，表示檢驗用圖形數(shù)據(jù)區(qū)對應(yīng)于功能塊1b的信息，表示檢驗用噪音數(shù)據(jù)區(qū)對應(yīng)于功能塊1c的信息。當(dāng)判定被檢驗裝置1不合格之后，用上述相關(guān)信息，判定器17可以檢知因功能塊1a-1c之一的缺陷所引起。
例如，如果數(shù)據(jù)比較器16的比較結(jié)果表示處理文書數(shù)據(jù)要素與參照用文書數(shù)據(jù)要素不一致，則判定器17通過參照存儲在檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11中的位置信息，特定存儲檢驗用文書數(shù)據(jù)要素的檢驗用文書數(shù)據(jù)區(qū)的位置。檢驗用文書數(shù)據(jù)區(qū)的位置一旦被特定，判定器17通過參照存儲在區(qū)檢測器48中的相關(guān)信息，檢知與檢驗用文書數(shù)據(jù)區(qū)相應(yīng)的功能塊。
在另一實施例中，如果數(shù)據(jù)比較器16的比較結(jié)果表示沒有處理數(shù)據(jù)要素與參照用數(shù)據(jù)要素的對應(yīng)要素一致，則判定器17可以表示缺陷因功能塊1a-1c所引起。在這種場合，還應(yīng)考慮上述功能塊1a-1c以外的一個或多個功能塊還可能有缺陷。換句話說，缺陷還可能因被檢驗裝置1的基本功能所引起。
參照圖4，圖4是根據(jù)本發(fā)明又一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)400的功能構(gòu)成方框圖。
檢驗系統(tǒng)400在構(gòu)成及動作上除了檢驗裝置40之外，與檢驗系統(tǒng)200大致相同。
如圖4所示，檢驗裝置40包括檢驗用數(shù)據(jù)存儲器21，數(shù)據(jù)區(qū)指定器22，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13，參照用數(shù)據(jù)存儲器14，處理數(shù)據(jù)接收器15，數(shù)據(jù)比較器16，區(qū)檢測器48，判定器17。
在該檢驗裝置40的檢驗用數(shù)據(jù)121中，不特別分區(qū)，若干數(shù)據(jù)要素例如文書數(shù)據(jù)要素，圖形數(shù)據(jù)要素，噪音數(shù)據(jù)要素，有價證券數(shù)據(jù)要素等混在。
在檢驗中，在檢驗裝置40，通過檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13從檢驗用數(shù)據(jù)存儲器讀取檢驗用數(shù)據(jù)121，其包括各數(shù)據(jù)要素，上述各數(shù)據(jù)要素是功能塊1a-1c進行處理的對象，將所讀取的檢驗用數(shù)據(jù)輸入被檢驗裝置1。
在本實施例中，在被檢驗裝置1，通過操作者操作，設(shè)定各功能塊1a-1c進行處理的對應(yīng)區(qū)域，各功能塊1a-1c在所指定的區(qū)域進行處理，處理后的數(shù)據(jù)作為處理結(jié)果向檢驗裝置40輸出。
在檢驗裝置40中，預(yù)先將參照用數(shù)據(jù)存儲在參照用數(shù)據(jù)存儲器14中，該參照用數(shù)據(jù)是通過具有與被檢驗裝置相同功能且正常運轉(zhuǎn)的裝置在相同的區(qū)域設(shè)定條件下進行處理輸出得到的。處理數(shù)據(jù)接收器15從被檢驗裝置1接收到處理數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)比較器16，對處理數(shù)據(jù)和預(yù)先存儲在參照用數(shù)據(jù)存儲器中的參照用數(shù)據(jù)進行比較。在區(qū)檢測器48，檢測通過上述比較，數(shù)據(jù)不一致的區(qū)域。
若在區(qū)檢測器48檢測到數(shù)據(jù)不一致的區(qū)域，則通過判定器17，特定被檢驗裝置1的功能塊，判定該功能塊為不良。在判定器17，相對各區(qū)域，用表等對應(yīng)存儲將該區(qū)域作為處理對象的所指定的被檢驗裝置1的各功能塊。
在本實施例的檢驗裝置40中，可以例如在第一區(qū)域及第二區(qū)域分別使用包含塵埃數(shù)據(jù)，損傷數(shù)據(jù)等的進行若干處理的數(shù)據(jù)。
即，在圖1檢驗裝置10中，即使在上述第一區(qū)域發(fā)生數(shù)據(jù)不一致，也不能判定塵埃數(shù)據(jù)用還是損傷數(shù)據(jù)用的處理功能塊的不良。而在本實施例中，通過對第一區(qū)域僅僅指定塵埃數(shù)據(jù)除去處理用的處理功能塊，對第二區(qū)域僅僅指定損傷數(shù)據(jù)除去處理用的處理功能塊，能檢知各處理功能塊的不良。
根據(jù)這種構(gòu)成，檢驗裝置40可以特定功能塊1a-1c中某個或某幾個引起被檢驗裝置1的缺陷。
參照圖5，圖5是根據(jù)本發(fā)明又一優(yōu)選實施例的檢驗系統(tǒng)500的功能構(gòu)成方框圖。
檢驗系統(tǒng)500在構(gòu)成及動作上除了檢驗裝置50之外，與檢驗系統(tǒng)100大致相同。
如圖5所示，檢驗裝置50包括檢驗用數(shù)據(jù)生成器31，參照用數(shù)據(jù)生成器34，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13，處理數(shù)據(jù)接收器15，數(shù)據(jù)比較器16，判定器17。
通過檢驗用數(shù)據(jù)生成器31及參照用數(shù)據(jù)生成器34，檢驗裝置50提供用于生成檢驗用數(shù)據(jù)及參照用數(shù)據(jù)的追加功能。
在動作中，檢驗用數(shù)據(jù)生成器31得到功能信息，該功能信息表示被檢驗裝置1進行圖像處理時所使用的功能塊。根據(jù)該功能信息，檢驗用數(shù)據(jù)生成器31生成檢驗用數(shù)據(jù)12。更具體地說，檢驗用數(shù)據(jù)生成器31得到被檢驗裝置1使用功能塊1a-1c的功能信息。根據(jù)該功能信息，檢驗用數(shù)據(jù)生成器31生成檢驗用文書數(shù)據(jù)要素，檢驗用圖形數(shù)據(jù)要素，檢驗用噪音數(shù)據(jù)要素。
檢驗用數(shù)據(jù)生成器31可以追加生成除上述數(shù)據(jù)要素之外的數(shù)據(jù)要素。在這種場合的一例中，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置13可以抽取根據(jù)上述功能信息的數(shù)據(jù)要素。
檢驗用數(shù)據(jù)生成器31生成檢驗用數(shù)據(jù)，參照用數(shù)據(jù)生成器34生成與該生成的檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)，例如，通過使用具有被檢驗裝置1的相同功能的正常動作的裝置。
在另一實施例中，檢驗裝置50還可以追加數(shù)據(jù)區(qū)指定器22。在這種實施例中，檢驗用數(shù)據(jù)存儲器11由存儲檢驗用數(shù)據(jù)121的檢驗用數(shù)據(jù)存儲器21代替。
在又一實施例中，檢驗裝置50還可以追加區(qū)檢測器48。在這種實施例中，檢驗系統(tǒng)500動作與檢驗系統(tǒng)300相同。
在又一實施例中，檢驗裝置50還可以追加數(shù)據(jù)區(qū)指定器22及區(qū)檢測器48。在這種實施例中，檢驗系統(tǒng)500動作與檢驗系統(tǒng)400相同。
在上述任一實施例中，檢驗裝置和被檢驗裝置通過連接線60，輸入數(shù)據(jù)線70及輸出數(shù)據(jù)線80連接，但是，本發(fā)明并不局限于此。例如，上述連接線60，輸入數(shù)據(jù)線70及輸出數(shù)據(jù)線80可以合并為一條線，只要該合并線能實現(xiàn)相同作用就行。
本發(fā)明的上述任一實施例或其他實施例可以由具有例如圖6所示的硬件構(gòu)成的檢驗系統(tǒng)600實行。
檢驗系統(tǒng)600包括處理裝置240，顯示裝置210，輸入裝置220，存儲裝置230，通信裝置270，記錄媒體250，以及記錄媒體讀取器260。其中處理裝置240由控制器241，主存儲器242及接口243構(gòu)成。
控制器241包括任何種類的處理器，例如中央處理器，能控制檢驗系統(tǒng)600全部動作。
主存儲器242包括任何種類的存儲器，其能作為控制器241的工作存儲器。
接口243包括任何種類的接口，例如串行接口，并行接口，模擬接口，能在處理裝置240和外部裝置之間易輸入和/或輸出信息。
存儲裝置230包括任何種類的存儲裝置，例如硬磁盤裝置。該存儲裝置230可以存儲指令，以一種對控制器241來說可讀的形式，以便使得控制器241按照本發(fā)明動作。
顯示裝置210包括任何種類的顯示裝置，例如陰極射線管，液晶顯示器，能由控制器241使用，顯示指令和/或數(shù)據(jù)。
輸入裝置220包括任何種類的輸入裝置，例如鼠標(biāo)器，鍵盤，用戶將指令輸入控制器241。
記錄媒體250包括任何種類的記錄媒體，例如CDs，DVDs，軟盤，光磁盤等。記錄媒體250可以存儲使得控制器241按照本發(fā)明動作的指令。記錄媒體250還可以存儲能供控制器241使用的數(shù)據(jù)，如檢驗用數(shù)據(jù)。在一實施例中，記錄媒體250可以包括任何種類的紙文件。
記錄媒體讀取器260包括任何種類的裝置，其能從上述記錄媒體250讀取指令。記錄媒體讀取器260可以追加具有將數(shù)據(jù)或指令寫入記錄媒體250的功能。
通信裝置270包括任何種類的通信裝置，例如LAN卡及調(diào)制解調(diào)器，其具有允許處理器240與其他裝置通信的功能，在本發(fā)明的一實施例中，通過網(wǎng)絡(luò)進行通信。使用通信裝置270，處理器240可以從外部系統(tǒng)下載指令。
處理器240可以通過通常用途處理器例如計算機實現(xiàn)。在該實施例中，與處理器240連接的其他裝置可以稱為外圍設(shè)備。但是，本發(fā)明并不局限于上述實施例。例如，可以不提供某些外圍設(shè)備，或者由檢驗系統(tǒng)600提供的某些功能或動作可以通過網(wǎng)絡(luò)提供。
參照圖7，圖7是根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例的通過檢驗系統(tǒng)600實行檢驗的流程圖。檢驗系統(tǒng)600為檢驗系統(tǒng)100，200中某一個。
更具體地說，當(dāng)記錄媒體讀取器260從記錄媒體250讀取指令時，該指令被存儲到上述存儲裝置230。接著，當(dāng)控制器241被啟動，存儲在上述存儲裝置230中的指令被存入主存儲器242。同時，控制器241開始按指令動作。
在步驟S101，控制器241抽取檢驗用數(shù)據(jù)。在本實施例中，控制器241可以從預(yù)先存儲在上述存儲裝置230或記錄媒體250中的若干檢驗用數(shù)據(jù)要素選擇一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素，用于檢驗。進一步說，檢驗用數(shù)據(jù)可以包括檢驗用數(shù)據(jù)12或檢驗用數(shù)據(jù)121。
在步驟S103，控制器241將檢驗用數(shù)據(jù)輸入被檢驗裝置1。接收到該檢驗用數(shù)據(jù)，被檢驗裝置1生成與該檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)。
在步驟S105，判定控制器241是否從被檢驗裝置1接收到處理數(shù)據(jù)，如果接收到處理數(shù)據(jù)(步驟S105的“是”)，則處理進入步驟S107，否則，處理返回到步驟S105。
在步驟S107，控制器241得到與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)，并且將處理數(shù)據(jù)與該參照用數(shù)據(jù)進行比較。例如，控制器241比較處理文書數(shù)據(jù)要素與參照用文書數(shù)據(jù)要素，處理圖形數(shù)據(jù)要素與參照用圖形數(shù)據(jù)要素，處理噪音數(shù)據(jù)要素與參照用噪音數(shù)據(jù)要素。
在步驟S109，判定處理數(shù)據(jù)是否與參照用數(shù)據(jù)一致，如果一致(步驟S109的“是”)，則處理進入步驟S111，判定為合格的被檢驗裝置1。如果不一致(步驟S109的“否”)，則處理進入步驟S113，判定為不合格的被檢驗裝置1。例如，如果至少一個處理數(shù)據(jù)要素與相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)要素不一致，則控制器241判定處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)不一致，并進一步判定被檢驗裝置不合格。
參照圖8，圖8是根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實施例的通過檢驗系統(tǒng)600實行檢驗的流程圖。該檢驗系統(tǒng)600為檢驗系統(tǒng)500，或任何其他檢驗系統(tǒng)，其能生成根據(jù)本發(fā)明的檢驗用數(shù)據(jù)及參照用數(shù)據(jù)。
圖8的流程圖與圖7的流程圖相比，除了用步驟S201代替步驟S101之外，其他大致相同。
在步驟S201，控制器241生成檢驗用數(shù)據(jù)。在本實施例中，控制器241可以特定包含在被檢驗裝置1中的至少一個功能塊，生成一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素，以便用于檢驗特定的功能塊。
參照圖9，圖9是根據(jù)本發(fā)明又一優(yōu)選實施例的通過檢驗系統(tǒng)600實行檢驗的流程圖。該檢驗系統(tǒng)600為檢驗系統(tǒng)300，400中某一個。
圖9的流程圖與圖7的流程圖相比，除了增加了步驟S207和步驟S211之外，其他大致相同。
在步驟S207，控制器241特定與不一致數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的功能塊，可以認(rèn)為其是被檢驗裝置1不合格的原因。
在步驟S211，控制器241判定該特定的功能塊不合格，并進一步判定被檢驗裝置不合格。
上面參照

了本發(fā)明的實施例，但本發(fā)明并不局限于上述實施例。在本發(fā)明技術(shù)思想范圍內(nèi)可以作種種變更，它們都屬于本發(fā)明的保護范圍。
例如，上述不同實施例的要素和/或特征可以在本發(fā)明說明書及權(quán)利要求書范圍內(nèi)互相組合，和/或互相替換。
本專利說明書基于向日本專利廳提出的日本專利申請JPAP2003-405575(2003年12月4日申請日)，上述申請的全部內(nèi)容被合并在本申請中。
權(quán)利要求
1.一種檢驗裝置，用于對具有若干功能塊的被檢驗裝置進行檢驗，包括檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置，用于取得檢驗用數(shù)據(jù)以及各檢驗用數(shù)據(jù)要素，該檢驗用數(shù)據(jù)是將一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素存儲在一個或多個預(yù)先設(shè)定的檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，上述各檢驗用數(shù)據(jù)要素根據(jù)所選擇的若干功能塊之一生成，將檢驗用數(shù)據(jù)輸入到被檢驗裝置，使得被檢驗裝置生成與該檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)比較器，用于取得表示處理數(shù)據(jù)的期望值的參照用數(shù)據(jù)，對處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；判定器，根據(jù)比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
2.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括處理數(shù)據(jù)取得器，用于從被檢驗裝置取得處理數(shù)據(jù)，并將處理數(shù)據(jù)供給數(shù)據(jù)比較器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括檢驗用數(shù)據(jù)存儲器，預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或3中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括參照用數(shù)據(jù)存儲器，預(yù)先存儲參照用數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括檢驗用數(shù)據(jù)生成器，選擇若干功能塊中一個或多個，用于檢驗，生成與上述所選擇的一個或多個功能塊相對應(yīng)的一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或5中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括參照用數(shù)據(jù)生成器，生成參照用數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗裝置，其特征在于，參照用數(shù)據(jù)是將一個或多個參照用數(shù)據(jù)要素存儲在一個或多個預(yù)先設(shè)定的參照用數(shù)據(jù)區(qū)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7中所述的檢驗裝置，其特征在于，各參照用數(shù)據(jù)區(qū)與各檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1，7，8中任一個所述的檢驗裝置，其特征在于，處理數(shù)據(jù)是將一個或多個處理數(shù)據(jù)要素存儲在一個或多個預(yù)先設(shè)定的處理數(shù)據(jù)區(qū)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9中所述的檢驗裝置，其特征在于，各處理數(shù)據(jù)區(qū)與各檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9中所述的檢驗裝置，其特征在于，數(shù)據(jù)比較器對各處理數(shù)據(jù)要素與相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)要素進行比較。
12.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗裝置，其特征在于，當(dāng)比較結(jié)果表示處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)一致時，判定器判定被檢驗裝置合格。
13.根據(jù)權(quán)利要求11中所述的檢驗裝置，其特征在于，當(dāng)比較結(jié)果表示各處理數(shù)據(jù)要素與相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)一致時，判定器判定被檢驗裝置合格。
14.根據(jù)權(quán)利要求11中所述的檢驗裝置，其特征在于，當(dāng)比較結(jié)果表示至少一個處理數(shù)據(jù)要素與相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)不一致時，判定器判定被檢驗裝置不合格。
15.根據(jù)權(quán)利要求14中所述的檢驗裝置，其特征在于，判定器檢測被檢驗裝置的不良處。
16.根據(jù)權(quán)利要求15中所述的檢驗裝置，其特征在于，判定器根據(jù)比較結(jié)果檢知一個檢驗用數(shù)據(jù)要素不良，檢知一個檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，該檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)具有上述已檢測到的不良的檢驗用數(shù)據(jù)要素。
17.根據(jù)權(quán)利要求15中所述的檢驗裝置，其特征在于進一步包括區(qū)檢測器，預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息；判定器根據(jù)比較結(jié)果以及上述檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息，檢知一個功能塊不良。
18.根據(jù)權(quán)利要求16中所述的檢驗裝置，其特征在于進一步包括區(qū)檢測器，預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息；判定器根據(jù)已檢測到的檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，檢知一個功能塊不良。
19.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗裝置，其特征在于，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置從記錄媒體得到檢驗用數(shù)據(jù)。
20.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗裝置，其特征在于，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置通過網(wǎng)絡(luò)得到檢驗用數(shù)據(jù)。
21.一種檢驗裝置，用于對具有若干功能塊的被檢驗裝置進行檢驗，包括檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置，用于取得存儲一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素的檢驗用數(shù)據(jù)，以及取得根據(jù)所選擇的若干功能塊之一所生成的各檢驗用數(shù)據(jù)要素，將檢驗用數(shù)據(jù)輸入到被檢驗裝置，使得被檢驗裝置生成與該檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)區(qū)指定器，分別對一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素指定檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)；數(shù)據(jù)比較器，用于取得表示處理數(shù)據(jù)的期望值的參照用數(shù)據(jù)，對處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；判定器，根據(jù)比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
22.根據(jù)權(quán)利要求21中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括處理數(shù)據(jù)取得器，用于從被檢驗裝置取得處理數(shù)據(jù)，并將處理數(shù)據(jù)供給數(shù)據(jù)比較器。
23.根據(jù)權(quán)利要求21中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括檢驗用數(shù)據(jù)存儲器，預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)。
24.根據(jù)權(quán)利要求21或23中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括參照用數(shù)據(jù)存儲器，預(yù)先存儲參照用數(shù)據(jù)。
25.根據(jù)權(quán)利要求21中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括檢驗用數(shù)據(jù)生成器，選擇若干功能塊中一個或多個，用于檢驗，生成與上述所選擇的一個或多個功能塊相對應(yīng)的一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素。
26.根據(jù)權(quán)利要求21或25中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括參照用數(shù)據(jù)生成器，生成參照用數(shù)據(jù)。
27.根據(jù)權(quán)利要求21中所述的檢驗裝置，其特征在于，參照用數(shù)據(jù)是將一個或多個參照用數(shù)據(jù)要素存儲在一個或多個預(yù)先設(shè)定的參照用數(shù)據(jù)區(qū)。
28.根據(jù)權(quán)利要求27中所述的檢驗裝置，其特征在于，各參照用數(shù)據(jù)區(qū)與各檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)。
29.根據(jù)權(quán)利要求21，27，28中任一個所述的檢驗裝置，其特征在于，處理數(shù)據(jù)是將一個或多個處理數(shù)據(jù)要素存儲在一個或多個預(yù)先設(shè)定的處理數(shù)據(jù)區(qū)。
30.根據(jù)權(quán)利要求29中所述的檢驗裝置，其特征在于，各處理數(shù)據(jù)區(qū)與各檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)。
31.根據(jù)權(quán)利要求29中所述的檢驗裝置，其特征在于，數(shù)據(jù)比較器對各處理數(shù)據(jù)要素與相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)要素進行比較。
32.根據(jù)權(quán)利要求21中所述的檢驗裝置，其特征在于，當(dāng)比較結(jié)果表示處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)一致時，判定器判定被檢驗裝置合格。
33.根據(jù)權(quán)利要求31中所述的檢驗裝置，其特征在于，當(dāng)比較結(jié)果表示各處理數(shù)據(jù)要素與相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)一致時，判定器判定被檢驗裝置合格。
34.根據(jù)權(quán)利要求31中所述的檢驗裝置，其特征在于，當(dāng)比較結(jié)果表示至少一個處理數(shù)據(jù)要素與相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)不一致時，判定器判定被檢驗裝置不合格。
35.根據(jù)權(quán)利要求34中所述的檢驗裝置，其特征在于，判定器檢測被檢驗裝置的不良處。
36.根據(jù)權(quán)利要求35中所述的檢驗裝置，其特征在于，判定器根據(jù)比較結(jié)果檢知一個檢驗用數(shù)據(jù)要素不良，檢知一個檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，該檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)具有上述已檢測到的不良的檢驗用數(shù)據(jù)要素。
37.根據(jù)權(quán)利要求35中所述的檢驗裝置，其特征在于進一步包括區(qū)檢測器，預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息；判定器根據(jù)比較結(jié)果以及上述檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息，檢知一個功能塊不良。
38.根據(jù)權(quán)利要求36中所述的檢驗裝置，其特征在于進一步包括區(qū)檢測器，預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息；判定器根據(jù)已檢測到的檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，檢知一個功能塊不良。
39.根據(jù)權(quán)利要求21中所述的檢驗裝置，其特征在于，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置從記錄媒體得到檢驗用數(shù)據(jù)。
40.根據(jù)權(quán)利要求21中所述的檢驗裝置，其特征在于，檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置通過網(wǎng)絡(luò)得到檢驗用數(shù)據(jù)。
41.一種檢驗裝置，用于對具有若干功能塊的被檢驗裝置進行檢驗，包括檢驗用數(shù)據(jù)輸入裝置，用于取得檢驗用數(shù)據(jù)以及各檢驗用數(shù)據(jù)部分，上述檢驗用數(shù)據(jù)是將一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素存儲在一個或多個預(yù)先設(shè)定的檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，上述各檢驗用數(shù)據(jù)要素根據(jù)所選擇的若干功能塊之一生成，將檢驗用數(shù)據(jù)輸入到被檢驗裝置，使得被檢驗裝置生成與該檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)區(qū)指定器，特定一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)要素和一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)之間的對應(yīng)；數(shù)據(jù)比較器，用于取得表示處理數(shù)據(jù)的期望值的參照用數(shù)據(jù)，對處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；判定器，根據(jù)比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
42.根據(jù)權(quán)利要求41中所述的檢驗裝置，其特征在于，進一步包括處理數(shù)據(jù)取得器，用于從被檢驗裝置取得處理數(shù)據(jù)，并將處理數(shù)據(jù)供給數(shù)據(jù)比較器。
43.根據(jù)權(quán)利要求41中所述的檢驗裝置，其特征在于，當(dāng)比較結(jié)果表示處理數(shù)據(jù)與參照用數(shù)據(jù)不一致時，判定器判定被檢驗裝置不合格。
44.根據(jù)權(quán)利要求43中所述的檢驗裝置，其特征在于，判定器檢測被檢驗裝置不良處。
45.根據(jù)權(quán)利要求44中所述的檢驗裝置，其特征在于，判定器根據(jù)比較結(jié)果檢知一個檢驗用數(shù)據(jù)要素不良，檢知一個檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，該檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)具有上述已檢測到的不良的檢驗用數(shù)據(jù)要素。
46.根據(jù)權(quán)利要求44中所述的檢驗裝置，其特征在于進一步包括區(qū)檢測器，預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息；判定器根據(jù)比較結(jié)果以及上述檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息，檢知一個功能塊不良。
47.根據(jù)權(quán)利要求45中所述的檢驗裝置，其特征在于進一步包括區(qū)檢測器，預(yù)先存儲檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息；判定器根據(jù)已檢測到的檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，檢知一個功能塊不良。
48.一種檢驗系統(tǒng)，用于對被檢驗裝置進行檢驗，該檢驗系統(tǒng)包括處理器；以及存儲裝置，存儲若干指令，當(dāng)由上述處理器驅(qū)動時，上述指令使得處理器實行檢驗動作；上述檢驗動作包括取得檢驗用數(shù)據(jù)以及檢驗用數(shù)據(jù)要素，該檢驗用數(shù)據(jù)是將檢驗用數(shù)據(jù)要素存儲在檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，上述檢驗用數(shù)據(jù)要素根據(jù)被檢驗裝置的功能塊生成；取得與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)，以及與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)；對處理數(shù)據(jù)和參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；根據(jù)上述比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
49.一種檢驗系統(tǒng)，用于對被檢驗裝置進行檢驗，該檢驗系統(tǒng)包括處理器；以及存儲裝置，存儲若干指令，當(dāng)由上述處理器驅(qū)動時，上述指令使得處理器實行檢驗動作；上述檢驗動作包括取得檢驗用數(shù)據(jù)以及檢驗用數(shù)據(jù)要素，該檢驗用數(shù)據(jù)存儲檢驗用數(shù)據(jù)要素，上述檢驗用數(shù)據(jù)要素根據(jù)被檢驗裝置的功能塊生成；對檢驗用數(shù)據(jù)要素指定檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)；取得與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)，以及與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)；對處理數(shù)據(jù)和參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；根據(jù)上述比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
50.一種檢驗系統(tǒng)，用于對被檢驗裝置進行檢驗，該檢驗系統(tǒng)包括處理器；以及存儲裝置，存儲若干指令，當(dāng)由上述處理器驅(qū)動時，上述指令使得處理器實行檢驗動作；上述檢驗動作包括選擇被檢驗裝置的功能塊；生成檢驗用數(shù)據(jù)要素，以便由該功能塊處理；供給檢驗用數(shù)據(jù)，該檢驗用數(shù)據(jù)是將檢驗用數(shù)據(jù)要素存儲在檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)；供給與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)，以及與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)；對處理數(shù)據(jù)和參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；根據(jù)上述比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
51.根據(jù)權(quán)利要求48-50中任一個所述的檢驗系統(tǒng)，其特征在于，上述檢驗動作進一步包括檢測被檢驗裝置的不良處。
52.根據(jù)權(quán)利要求51中所述的檢驗系統(tǒng)，其特征在于，上述檢測包括根據(jù)比較結(jié)果，特定因不良為起因的檢驗用數(shù)據(jù)要素；特定檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，在該檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)具有已被特定的檢驗用數(shù)據(jù)要素。
53.根據(jù)權(quán)利要求51中所述的檢驗系統(tǒng)，其特征在于，上述檢驗動作進一步包括生成表示檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間相對應(yīng)關(guān)系的相對應(yīng)信息。
54.根據(jù)權(quán)利要求53中所述的檢驗系統(tǒng)，其特征在于，上述檢測包括根據(jù)比較結(jié)果以及上述檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)和功能塊之間的相對應(yīng)信息，特定引起不良的功能塊。
55.根據(jù)權(quán)利要求52中所述的檢驗系統(tǒng)，其特征在于，上述檢測進一步包括特定與已特定的檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)相對應(yīng)的功能塊。
56.一種檢驗方法，對被檢驗裝置進行檢驗，其包括取得檢驗用數(shù)據(jù)以及檢驗用數(shù)據(jù)要素，該檢驗用數(shù)據(jù)是將檢驗用數(shù)據(jù)要素存儲在檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)，上述檢驗用數(shù)據(jù)要素根據(jù)被檢驗裝置的功能塊生成；取得與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)，以及與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)；對處理數(shù)據(jù)和參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；根據(jù)上述比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
57.一種檢驗方法，對被檢驗裝置進行檢驗，其包括取得檢驗用數(shù)據(jù)以及檢驗用數(shù)據(jù)要素，該檢驗用數(shù)據(jù)存儲檢驗用數(shù)據(jù)要素，上述檢驗用數(shù)據(jù)要素根據(jù)被檢驗裝置的功能塊生成；對檢驗用數(shù)據(jù)要素指定檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)；取得與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)，以及與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)；對處理數(shù)據(jù)和參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；根據(jù)上述比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
58.一種檢驗方法，對被檢驗裝置進行檢驗，其包括選擇被檢驗裝置的功能塊；生成檢驗用數(shù)據(jù)要素，以便由該功能塊處理；供給檢驗用數(shù)據(jù)，該檢驗用數(shù)據(jù)是將檢驗用數(shù)據(jù)要素存儲在檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)；供給與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的處理數(shù)據(jù)，以及與檢驗用數(shù)據(jù)相對應(yīng)的參照用數(shù)據(jù)；對處理數(shù)據(jù)和參照用數(shù)據(jù)進行比較，生成比較結(jié)果；根據(jù)上述比較結(jié)果，判定被檢驗裝置是否合格。
59.根據(jù)權(quán)利要求56-58中任一個所述的方法，其特征在于，進一步包括檢測被檢驗裝置的不良處。
全文摘要
本發(fā)明涉及檢驗裝置，檢驗系統(tǒng)，檢驗方法。被檢驗裝置具有若干功能塊，檢測該被檢驗裝置的不良處。根據(jù)若干功能塊的各功能塊，生成若干檢驗用數(shù)據(jù)要素。準(zhǔn)備檢驗用數(shù)據(jù)，將一個或多個這種檢驗用數(shù)據(jù)要素存儲在一個或多個檢驗用數(shù)據(jù)區(qū)。根據(jù)該檢驗用數(shù)據(jù)，生成參照用數(shù)據(jù)以及處理數(shù)據(jù)。通過對處理數(shù)據(jù)和參照用數(shù)據(jù)進行比較，檢知被檢驗裝置的不良處。
文檔編號H04N1/40GK1625211SQ20041010019
公開日2005年6月8日 申請日期2004年12月3日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月4日
發(fā)明者湯本拓也 申請人:株式會社理光