專(zhuān)利名稱(chēng)：一種無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元多通道的測(cè)試裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元(Radio Remote Unit, RRU)射頻指標(biāo)測(cè)試技術(shù)，尤其涉及一種RRU多通道的測(cè)試裝置及方法。
背景技術(shù)：
無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元(Radio Remote Unit,RRU)的技術(shù)特點(diǎn)是將基站分成室內(nèi)基帶單元BBU(Base band Unit)和遠(yuǎn)端機(jī)即射頻拉遠(yuǎn)RRU兩部分。RRU的一個(gè)射頻通道包含了發(fā)射通道和接收通道。根據(jù)實(shí)際組網(wǎng)及應(yīng)用場(chǎng)景，RRU通道數(shù)可以是1，2，4，6，8等。發(fā)射機(jī)重點(diǎn)無(wú)線指標(biāo)包括輸出功率，鄰道泄露，誤差向量幅度(Error Vector Magnitude, EVM)，輻射模板，雜散，占用帶寬，頻率誤差以及動(dòng)態(tài)范圍等，RRU天線口通過(guò)射頻線纜和頻譜儀如FSG頻譜儀相連，后臺(tái)PC機(jī)控制頻譜儀自動(dòng)測(cè)試相應(yīng)項(xiàng)目，并記錄和分析測(cè)試結(jié)果。接收機(jī)重點(diǎn)無(wú)線指標(biāo)包括靈敏度，相鄰信道掃描(adjacent channel scan, ACS)，信道內(nèi)選擇性(In-channel selectivity, ICS)，動(dòng)態(tài)范圍，接收互調(diào)等，RRU天線口通過(guò)射頻線纜和信號(hào)源如源測(cè)量單元(Source Measure Unit,SMU)相連，后臺(tái)PC機(jī)控制信號(hào)源測(cè)試自動(dòng)相應(yīng)項(xiàng)目，并記錄和分析測(cè)試結(jié)果。RRU出廠要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的無(wú)線指標(biāo)測(cè)試，而當(dāng)批量生產(chǎn)RRU時(shí)，通常RRU數(shù)量成千上萬(wàn)，而通常RRU又是多通道的，短期之類(lèi)無(wú)法覆蓋RRU的指標(biāo)測(cè)試，加劇了測(cè)試強(qiáng)度和任務(wù)量。而且，現(xiàn)有的RRU測(cè)試基本都是人工操作測(cè)試通道切換，手動(dòng)設(shè)置儀表參數(shù)，手動(dòng)保存和分析測(cè)試結(jié)果，效率低下而且準(zhǔn)確度難以保證。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是需要提供一種無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元測(cè)試技術(shù)，解決現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法對(duì)RRU進(jìn)行批量自動(dòng)測(cè)試的技術(shù)缺陷。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元測(cè)試裝置，包括控制電路以及測(cè)試電路，其中所述控制電路，用于接收測(cè)試指令，將該測(cè)試指令轉(zhuǎn)換為控制指令；所述測(cè)試電路，用于接收上行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述上行射頻信號(hào)對(duì)兩個(gè)或兩個(gè)以上的無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元(RRU)進(jìn)行上行測(cè)試；并用于接收兩個(gè)或兩個(gè)以上的RRU發(fā)送的下行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU進(jìn)行下行測(cè)
試O優(yōu)選地，所述測(cè)試電路包括接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)及通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)，其中所述接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)，用于分別連接信號(hào)源及頻譜儀，接收所述信號(hào)源發(fā)送的所述上行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給各RRU，接收各RRU發(fā)送的所述下行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給所述頻譜儀；所述通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)，用于根據(jù)所述控制指令及上行射頻信號(hào)對(duì)各RRU的各通道分別進(jìn)行所述上行測(cè)試，根據(jù)所述控制指令及下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU的各通道分別進(jìn)行所述下行測(cè)試。優(yōu)選地，各RRU不支持上下行閉塞/解閉塞功能時(shí)，所述通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)進(jìn)一步包含切換控制開(kāi)關(guān)，所述切換控制開(kāi)關(guān)用于實(shí)現(xiàn)各RRU各通道之間的切換。優(yōu)選地，前述接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)包含選擇控制開(kāi)關(guān)，所述選擇控制開(kāi)關(guān)用于選擇性地傳輸所述上行射頻信號(hào)和下行射頻信號(hào)，對(duì)所述上行測(cè)試和下行測(cè)試進(jìn)行切換。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明還提供了一種無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元測(cè)試方法，該方法用于一無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元(RRU)測(cè)試裝置對(duì)兩個(gè)或兩個(gè)以上的多通道RRU進(jìn)行測(cè)試，該 RRU測(cè)試裝置包括控制電路以及測(cè)試電路；該方法包括所述控制電路接收測(cè)試指令，并將該測(cè)試指令轉(zhuǎn)換為控制指令；所述測(cè)試電路接收上行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述上行射頻信號(hào)對(duì)各 RRU進(jìn)行上行測(cè)試，并接收各RRU發(fā)送的下行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU進(jìn)行下行測(cè)試。優(yōu)選地，所述測(cè)試電路接收所述上行射頻信號(hào)，并根據(jù)所述控制指令及所述上行射頻信號(hào)進(jìn)行所述上行測(cè)試的步驟，包括所述測(cè)試電路接收信號(hào)源發(fā)送的所述上行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給各RRU，并根據(jù)所述控制指令及上行射頻信號(hào)對(duì)各RRU的各通道分別進(jìn)行所述上行測(cè)試。優(yōu)選地，所述測(cè)試電路接收所述下行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述下行射頻信號(hào)進(jìn)行所述下行測(cè)試的步驟，包括所述測(cè)試電路接收各RRU發(fā)送的所述下行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給頻譜儀，并根據(jù)所述控制指令及所述下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU的各通道分別進(jìn)行所述下行測(cè)試。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明解決了批量RRU射頻自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)，提供了待測(cè)RRU整機(jī)自動(dòng)切換，待測(cè)RRU測(cè)試通道自動(dòng)切換，接收機(jī)發(fā)射機(jī)測(cè)試自動(dòng)切換的測(cè)試方法及硬件設(shè)備。本發(fā)明的技術(shù)方案提高了測(cè)試效率，減輕了測(cè)試強(qiáng)度。


附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說(shuō)明書(shū)的一部分，與本發(fā)明的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的RRU測(cè)試裝置的組成示意圖；圖2是圖1所示實(shí)施例中測(cè)試電路的組成示意圖；圖3是圖2所示實(shí)施例中通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)包含繼電器開(kāi)關(guān)的示意圖；圖4是圖2所示實(shí)施例中通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)不含繼電器開(kāi)關(guān)的示意圖；圖5是本發(fā)明實(shí)施例提供的RRU測(cè)試方法的流程示意圖。
具體實(shí)施例方式以下將結(jié)合附圖及實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，借此對(duì)本發(fā)明如何應(yīng)用技術(shù)手段來(lái)解決技術(shù)問(wèn)題，并達(dá)成技術(shù)效果的實(shí)現(xiàn)過(guò)程能充分理解并據(jù)以實(shí)施。首先，如果不沖突，本發(fā)明實(shí)施例以及實(shí)施例中的各個(gè)特征可以相互結(jié)合，均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。另外，在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中執(zhí)行，并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。實(shí)施例一、一種RRU測(cè)試裝置如圖1所示，本實(shí)施例的RRU測(cè)試裝置主要包括供電電路110、控制電路120以及測(cè)試電路130，其中供電電路110，用于為控制電路及測(cè)試電路供電；控制電路120，與外部PC連接并進(jìn)行通訊，與該供電電路110連接，用于在該供電電路110提供的控制能量的支持下，接收用戶(hù)通過(guò)PC發(fā)送的測(cè)試指令；將測(cè)試指令轉(zhuǎn)換為控制指令發(fā)送給測(cè)試電路130 ；測(cè)試電路130，與該供電電路110及控制電路120連接，用于上行測(cè)試時(shí)接收信號(hào)源發(fā)送的上行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給兩個(gè)或兩個(gè)以上的RRU，并用于下行測(cè)試時(shí)將RRU發(fā)送的下行射頻信號(hào)轉(zhuǎn)發(fā)給頻譜儀進(jìn)行解調(diào)，在該供電電路110提供的測(cè)試能量的支持下，根據(jù)該控制電路120發(fā)送的控制指令對(duì)兩個(gè)或兩個(gè)以上的RRU進(jìn)行多通道的上行和/或下行測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果并輸出。本實(shí)施例中，供電電路110包括一電源輸入接口和一電源輸出接口，該電源輸入接口用于接入外部電源，該電源輸出接口用于為待測(cè)RRU提供上述控制能量信號(hào)和測(cè)試能
量信號(hào)。上述控制電路120提供了 PC與測(cè)試裝置的通訊功能，PC可控該裝置的內(nèi)部開(kāi)關(guān)。本實(shí)施例的RRU測(cè)試裝置還包括一接地電路，用于設(shè)備接地，供電電路110、控制電路120以及測(cè)試電路130的電路地均匯集于該接地電路。如圖2所示，該測(cè)試電路130包括上電控制網(wǎng)絡(luò)131、接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)132以及通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)133，其中上電控制網(wǎng)絡(luò)131，用于為兩個(gè)或兩個(gè)以上的RRU提供可控供電P ；接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)132，用于連接信號(hào)源及頻譜儀，接收信號(hào)源發(fā)送的上行射頻信號(hào)并發(fā)送給通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)133和各RRU，并將各RRU發(fā)送的下行射頻信號(hào)轉(zhuǎn)發(fā)給通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)133和頻譜儀；通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)133，用于根據(jù)該控制指令及上行射頻信號(hào)和下行射頻信號(hào)，對(duì)各 RRU各通道C分別進(jìn)行上下行測(cè)試，輸出測(cè)試結(jié)果。上述上電控制網(wǎng)絡(luò)131也可以作為供電電路110的一部分而設(shè)置在該供電電路 110 中。上述接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)132包括一信號(hào)源射頻接口、一頻譜儀射頻接口、一個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)電路以及一個(gè)以上的射頻通道接口，其中信號(hào)源射頻接口，用于連接信號(hào)源，接收信號(hào)源發(fā)送的上行射頻信號(hào)；頻譜儀射頻接口，用于連接頻譜儀，將下行射頻信號(hào)轉(zhuǎn)發(fā)給頻譜儀；射頻通道接口，用于連接各RRU的各個(gè)射頻通道。通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)133可以包含切換控制開(kāi)關(guān)，也可以不包含切換控制開(kāi)關(guān)。如圖3 是包含繼電器K這一切換控制開(kāi)關(guān)的情形，圖4是不包含切換控制開(kāi)關(guān)的情形。若RRU不支持上下行閉塞功能，通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)133可采用包含切換控制開(kāi)關(guān)的情形，通過(guò)切換控制開(kāi)關(guān)來(lái)實(shí)現(xiàn)RRU各通道之間的切換。若RRU支持上下行閉塞功能，可采用包含切換控制開(kāi)關(guān)的情形，也可采用不包含切換控制開(kāi)關(guān)的情形。圖4是不包含切換控制開(kāi)關(guān)的情形，正在測(cè)試的通道是通過(guò)RRU自身的控制而處于解閉塞狀態(tài)，其他待測(cè)試的通道處于閉塞狀態(tài)。通過(guò)控制前述接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)132中的選擇控制開(kāi)關(guān)，選擇性地傳輸上行射頻信號(hào)和下行射頻信號(hào)，可以在上行測(cè)試和下行測(cè)試之間進(jìn)行切換。實(shí)施例二、RRU測(cè)試方法如圖5所示，本實(shí)施例主要包括如下步驟步驟S510，測(cè)試本發(fā)明上述測(cè)試裝置各測(cè)試通道到頻譜儀、各測(cè)試通道到信號(hào)源、 連接到各測(cè)試通道的外接線纜及器件的線損；測(cè)試線損值用于補(bǔ)償信號(hào)源和頻譜儀的幅度
偏置；步驟S520，將待測(cè)RRU和測(cè)試儀表連接到本發(fā)明上述測(cè)試裝置上；步驟S530，將測(cè)試儀器、本發(fā)明測(cè)試裝置連接到PC上；步驟S540，接收信號(hào)源發(fā)送的上行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給待測(cè)的兩個(gè)或兩個(gè)以上的 RRU ；步驟S550，通過(guò)PC接收用戶(hù)發(fā)送的測(cè)試指令，根據(jù)該測(cè)試指令以及該上行射頻信號(hào)，對(duì)待測(cè)的各RRU的各通道進(jìn)行上行測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果并輸出；步驟S560，接收待測(cè)的兩個(gè)或兩個(gè)以上的RRU發(fā)送的下行射頻信號(hào)，并將該下行射頻信號(hào)轉(zhuǎn)發(fā)給頻譜儀；步驟S570，通過(guò)PC接收用戶(hù)發(fā)送的測(cè)試指令，根據(jù)該測(cè)試指令以及該下行射頻信號(hào)，對(duì)待測(cè)的各RRU的各通道分別進(jìn)行下行測(cè)試，獲得測(cè)試結(jié)果并輸出。需要說(shuō)明的是，上述步驟S540以及步驟S560在實(shí)際應(yīng)用中，并不一定具有明顯的先后順序，可以是二者交互在一起同時(shí)進(jìn)行。本發(fā)明的上述方法實(shí)施例和裝置實(shí)施例，提供了自動(dòng)控制多個(gè)RRU多個(gè)通道之間自動(dòng)測(cè)試以及自動(dòng)切換的技術(shù)方案，在一次連接好線路后，就可對(duì)大量的RRU進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，避免人工更換RRU，降低測(cè)試成本的同時(shí)，提高了測(cè)試效率和測(cè)試精度。在本實(shí)施例的一個(gè)應(yīng)用實(shí)例中，是對(duì)兩臺(tái)兩通道的RRU進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。設(shè)置選擇射頻要測(cè)試的項(xiàng)目及通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)置線損，設(shè)置批量測(cè)試RRU的個(gè)數(shù)以及RRU的通道個(gè)數(shù)。第一臺(tái)RRU上電后，本發(fā)明測(cè)試裝置完成第一臺(tái)RRU第一個(gè)通道的射頻指標(biāo)測(cè)試， 其中包括上行測(cè)試和下行測(cè)試的切換，并控制儀表完成射頻測(cè)試項(xiàng)目。完成第一臺(tái)RRU第一個(gè)通道的射頻指標(biāo)測(cè)試后，進(jìn)行第一臺(tái)RRU第二個(gè)通道的射頻指標(biāo)測(cè)試，其中包括上行測(cè)試和下行測(cè)試的切換，并控制儀表完成射頻測(cè)試項(xiàng)目。第一臺(tái)RRU測(cè)試完畢后下電，第二臺(tái)RRU上電。跟測(cè)試第一臺(tái)RRU兩個(gè)通道一樣， 分別對(duì)該第二臺(tái)RRU的兩個(gè)通道進(jìn)行射頻指標(biāo)測(cè)試(其中包括上行測(cè)試和下行測(cè)試的切換)，并控制儀表完成射頻測(cè)試項(xiàng)目。兩臺(tái)RRU各通道的測(cè)試完成，自動(dòng)輸出記錄和分析結(jié)果。上述應(yīng)用實(shí)例中的RRU可以是不支持上下行通道閉塞的。在本實(shí)施例的另一個(gè)實(shí)際應(yīng)用中，是對(duì)兩臺(tái)兩通道的RRU進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，其中RRU支持上下行通道閉塞。本發(fā)明測(cè)試裝置在完成第一臺(tái)RRU的第一個(gè)通道的上下行解閉塞以及第二個(gè)通道的上下行閉塞之后，再執(zhí)行第一個(gè)通道的射頻指標(biāo)測(cè)試(其中包括上行測(cè)試和下行測(cè)試的切換)，并完成射頻測(cè)試指標(biāo)條目。在完成第一臺(tái)RRU的第二個(gè)通道的上下行解閉塞以及第一個(gè)通道的上下行閉塞之后，再執(zhí)行第二個(gè)通道的射頻指標(biāo)測(cè)試(其中包括上行測(cè)試和下行測(cè)試的切換)，并完成射頻測(cè)試指標(biāo)條目。第一臺(tái)RRU的兩個(gè)通道測(cè)試完畢后，對(duì)第二臺(tái)RRU進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試第二臺(tái)RRU的第一個(gè)通道時(shí)，完成第一個(gè)通道的上下行解閉塞和第二個(gè)通道的上下行閉塞之后，再執(zhí)行第一個(gè)通道的射頻指標(biāo)測(cè)試(其中包括上行測(cè)試和下行測(cè)試的切換)，并完成射頻測(cè)試指標(biāo)項(xiàng)目。在完成第二臺(tái)RRU的第二個(gè)通道的上下行解閉塞以及第一個(gè)通道的上下行閉塞之后，再執(zhí)行第二個(gè)通道的射頻指標(biāo)測(cè)試 (其中包括上行測(cè)試和下行測(cè)試的切換)，并完成射頻測(cè)試指標(biāo)條目。兩臺(tái)RRU各通道的測(cè)試完成，自動(dòng)輸出記錄和分析結(jié)果。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，上述的本發(fā)明的各模塊或各步驟可以用通用的計(jì)算裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)，它們可以集中在單個(gè)的計(jì)算裝置上，或者分布在多個(gè)計(jì)算裝置所組成的網(wǎng)絡(luò)上，可選地，它們可以用計(jì)算裝置可執(zhí)行的程序代碼來(lái)實(shí)現(xiàn)，從而，可以將它們存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置中由計(jì)算裝置來(lái)執(zhí)行，或者將它們分別制作成各個(gè)集成電路模塊，或者將它們中的多個(gè)模塊或步驟制作成單個(gè)集成電路模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的硬件和軟件結(jié)合。雖然本發(fā)明所揭露的實(shí)施方式如上，但所述的內(nèi)容只是為了便于理解本發(fā)明而采用的實(shí)施方式，并非用以限定本發(fā)明。任何本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明所揭露的精神和范圍的前提下，可以在實(shí)施的形式上及細(xì)節(jié)上作任何的修改與變化， 但本發(fā)明的專(zhuān)利保護(hù)范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書(shū)所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元測(cè)試裝置，其特征在于，包括控制電路以及測(cè)試電路，其中所述控制電路，用于接收測(cè)試指令，將該測(cè)試指令轉(zhuǎn)換為控制指令；所述測(cè)試電路，用于接收上行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述上行射頻信號(hào)對(duì)兩個(gè)或兩個(gè)以上的無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元(RRU)進(jìn)行上行測(cè)試；并用于接收兩個(gè)或兩個(gè)以上的 RRU發(fā)送的下行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU進(jìn)行下行測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路包括接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)及通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)，其中所述接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)，用于分別連接信號(hào)源及頻譜儀，接收所述信號(hào)源發(fā)送的所述上行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給各RRU，接收各RRU發(fā)送的所述下行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給所述頻譜儀；所述通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)，用于根據(jù)所述控制指令及上行射頻信號(hào)對(duì)各RRU的各通道分別進(jìn)行所述上行測(cè)試，根據(jù)所述控制指令及下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU的各通道分別進(jìn)行所述下行測(cè)試。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于各RRU不支持上下行閉塞/解閉塞功能時(shí)，所述通道測(cè)試網(wǎng)絡(luò)進(jìn)一步包含切換控制開(kāi)關(guān)，所述切換控制開(kāi)關(guān)用于實(shí)現(xiàn)各RRU各通道之間的切換。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于前述接收發(fā)射測(cè)試網(wǎng)絡(luò)包含選擇控制開(kāi)關(guān)，所述選擇控制開(kāi)關(guān)用于選擇性地傳輸所述上行射頻信號(hào)和下行射頻信號(hào)，對(duì)所述上行測(cè)試和下行測(cè)試進(jìn)行切換。
5.一種無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元測(cè)試方法，其特征在于，該方法用于一無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元 (RRU)測(cè)試裝置對(duì)兩個(gè)或兩個(gè)以上的多通道RRU進(jìn)行測(cè)試，該RRU測(cè)試裝置包括控制電路以及測(cè)試電路；該方法包括所述控制電路接收測(cè)試指令，并將該測(cè)試指令轉(zhuǎn)換為控制指令；所述測(cè)試電路接收上行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述上行射頻信號(hào)對(duì)各RRU進(jìn)行上行測(cè)試，并接收各RRU發(fā)送的下行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU進(jìn)行下行測(cè)試。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試電路接收所述上行射頻信號(hào)，并根據(jù)所述控制指令及所述上行射頻信號(hào)進(jìn)行所述上行測(cè)試的步驟，包括所述測(cè)試電路接收信號(hào)源發(fā)送的所述上行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給各RRU，并根據(jù)所述控制指令及上行射頻信號(hào)對(duì)各RRU的各通道分別進(jìn)行所述上行測(cè)試。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試電路接收所述下行射頻信號(hào)，根據(jù)所述控制指令及所述下行射頻信號(hào)進(jìn)行所述下行測(cè)試的步驟，包括所述測(cè)試電路接收各RRU發(fā)送的所述下行射頻信號(hào)并轉(zhuǎn)發(fā)給頻譜儀，并根據(jù)所述控制指令及所述下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU的各通道分別進(jìn)行所述下行測(cè)試。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元多通道的測(cè)試裝置及方法，解決現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法對(duì)RRU進(jìn)行批量自動(dòng)測(cè)試的技術(shù)缺陷，其中該裝置主要包括控制電路，用于接收測(cè)試指令，將該測(cè)試指令轉(zhuǎn)換為控制指令；測(cè)試電路，用于接收上行射頻信號(hào)，根據(jù)控制指令及上行射頻信號(hào)對(duì)兩個(gè)或兩個(gè)以上的無(wú)線射頻拉遠(yuǎn)單元(RRU)進(jìn)行上行測(cè)試；并用于接收兩個(gè)或兩個(gè)以上的RRU發(fā)送的下行射頻信號(hào)，根據(jù)控制指令及下行射頻信號(hào)對(duì)各RRU進(jìn)行下行測(cè)試。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明解決了批量RRU射頻自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)，提高了測(cè)試效率，減輕了測(cè)試強(qiáng)度。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102299749SQ20101021123
公開(kāi)日2011年12月28日 申請(qǐng)日期2010年6月23日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月23日
發(fā)明者劉戰(zhàn)忠 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司