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      圖像傳感器、成像裝置以及成像方法

      文檔序號:7856829閱讀:294來源:國知局
      專利名稱:圖像傳感器、成像裝置以及成像方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本公開涉及圖像傳感器、成像裝置以及成像方法。更具體地,本公開涉及能夠更準確地校正混色(color mixing)的圖像傳感器、成像裝置以及成像方法。
      背景技術(shù)
      在現(xiàn)有技術(shù)中,已提出了預(yù)設(shè)混色校正系數(shù)、并通過使用混色校正系數(shù)來校正混色的方法(例如,參見日本專利特開(Laid-open) No. 2010-16419)。還提出了在有效像素之外的光學(xué)黑區(qū)(0ΡΒ區(qū))提供混色檢測像素的方法作為動態(tài)校正混色的方法(例如,參見日本專利特開No. 2010-239192)。
      此外,還提出了在有效像素內(nèi)提供OPB的方法(例如,參見日本專利特開No.2010-147785)。

      發(fā)明內(nèi)容
      然而,在日本專利特開No. 2010-16419中描述的預(yù)設(shè)混色校正系數(shù)的方法中,未考慮制造差異(例如,濾色器的膜厚,或片載(on-chip)透鏡的位置偏差)。由于混色率取決于光波長以及光源或者要拍攝的對象而變化,所以,預(yù)設(shè)混色校正系數(shù)的方法未能考慮到這樣的情況。此外,在日本專利特開No. 2010-239192中描述的方法中,如果在有效像素之外的區(qū)域提供混色檢測像素,則有效像素內(nèi)的入射角與有效像素外的入射角不同,這是因為,混色量是取決于光入射角而變化的值。因而,不可能得到準確的混色量。此外,在日本專利特開No. 2010-147785中描述的方法中,未考慮Si內(nèi)產(chǎn)生的混色。如果僅在特定顏色的像素上提供0ΡΒ,則連同黑電平一起輸出正進入該像素的混色。如果從其它顏色的像素中減去該值,則得到的混色率可能不準確,這是因為,混色取決于顏色而變化。另外,由于混色量取決于圖像高度(圖像傳感器內(nèi)的位置)而變化,所以,有必要執(zhí)行考慮到光學(xué)距離的操作。然而,在日本專利特開No. 2010-147785中描述的方法未考慮到這一點。考慮到前述內(nèi)容,期望提供能夠更準確地校正混色的技術(shù)。根據(jù)本公開的實施例,提供了一種圖像傳感器,包括由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。所述檢測像素還可包括遮光膜,其被配置為遮蔽從外部入射到所述檢測像素上的入射光。 可由布線層形成所述遮光膜。可由多個布線層形成所述遮光膜。每個所述布線層可在其上的彼此不同的位置形成間隙。
      可取決于入射光的入射角來布置每個所述布線層??捎杀恢糜谒龉怆娹D(zhuǎn)換器件上的金屬來形成所述遮光膜。所述圖像傳感器可包括多個所述檢測像素。該圖像傳感器還可包括濾光器,其被配置為透射預(yù)定波長的入射光。使用通過由所述檢測像素檢測來自相鄰像素的入射光所得到的結(jié)果,來校正常規(guī)像素的像素值,所述常規(guī)像素被提供有被配置為與在所述檢測像素上提供的濾光器透射具有相同波長的入射光的濾光器??稍诒舜瞬贿B續(xù)的位置中提供所述檢測像素。
      根據(jù)本公開的另一實施例,提供了一種成像裝置,包括圖像傳感器和減法單元。圖像傳感器包括由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。減法單元被配置為通過使用所述圖像傳感器的所述檢測像素檢測到的光的光量,從所述常規(guī)像素的像素值中減去從所述常規(guī)像素的相鄰像素入射的光的光量。所述減法單元可包括選擇單元,其被配置為選擇要被用于減去所述光量的檢測像素;光量計算單元,其被配置為使用由所述選擇單元選擇的檢測像素的像素值,計算在要處理的常規(guī)像素的像素值中包括的光量;以及光量減法單元,其被配置為從要處理的常規(guī)像素的像素值中減去由所述光量計算單元計算的光量。 所述選擇單元可選擇多個檢測像素。所述光量計算單元可通過取決于由所述選擇單元選擇的多個檢測像素與要處理的常規(guī)像素之間的位置關(guān)系而對所述多個檢測像素的每個像素值加權(quán),來計算所述光量。當(dāng)由所述選擇單元選擇的檢測像素的相鄰像素的像素值飽和時,所述光量計算單元可將用來計算所述光量的檢測像素改變?yōu)榱硪粰z測像素,或禁止使用該檢測像素。當(dāng)由所述選擇單元選擇的檢測像素是缺陷像素時,所述光量計算單元可將用來計算所述光量的檢測像素改變?yōu)榱硪粰z測像素,或禁止使用該檢測像素。當(dāng)要處理的常規(guī)像素與檢測像素相鄰時,所述光量計算單元還可校正所計算的光量,以減小光量。所述減法單元可從常規(guī)像素的像素值減去黑電平以及所述光量。所述減法單元可包括選擇單元,其被配置為選擇要被用于減去所述光量的檢測像素;比率計算單元,其被配置為使用由所述選擇單元選擇的檢測像素的像素值,計算在要處理的常規(guī)像素的像素值中包括的所述光量的比率;以及乘法單元,其被配置為將要處理的常規(guī)像素的像素值乘以從外部輸入到要處理的常規(guī)像素的入射光的比率,所述入射光的比率對應(yīng)于由所述比率計算單元計算的所述光量的比率。所述圖像傳感器的常規(guī)像素和檢測像素可具有縱向分光結(jié)構(gòu)(verticalspectral structure)0根據(jù)本公開的另一實施例,提供了一種成像裝置的成像方法,所述成像裝置具有圖像傳感器。所述圖像傳感器包括由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。所述成像方法包括通過使用所述圖像傳感器的所述檢測像素檢測到的光的光量,從所述常規(guī)像素的像素值中減去從所述常規(guī)像素的相鄰像素入射的光的光量。根據(jù)本公開的一實施例,提供了一種配置,其包括由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組、以及檢測像素。每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件。檢測像素被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。根據(jù)本公開的另一實施例,通過使用所述圖像傳感器的所述檢測像素檢測到的光的光量,從所述常規(guī)像素的像素值中減去從所述常規(guī)像素的相鄰像素入射的光的光量。根據(jù)上述本公開的實施例,有可能校正在成像裝置中產(chǎn)生的混色。尤其是,可更準確地校正混色,而不取決于諸如光入射角、色溫、被攝對象等的成像環(huán)境。



      圖I是圖示根據(jù)本公開的實施例的成像裝置的配置的示意框圖;圖2是圖示如何產(chǎn)生混色的示例的圖;圖3是圖示混色檢測像素的示例的圖;圖4A和4B是圖示遮光膜的示例的圖;圖5A、5B和5C是圖示遮光膜的示例的圖;圖6A和6B是圖示遮光膜的示例的圖;圖7是圖示拜耳(Bayer)陣列的示例的圖;圖8是圖示混色檢測像素的布置示例的圖;圖9是圖示混色檢測像素的布置示例的圖;圖10是圖示混色檢測像素的不理想的布置示例的圖;圖11是圖示混色檢測像素的另一布置示例的圖;圖12是圖示如何減去混色量的示例的圖;圖13是圖示混色減法單元的配置示例的圖;圖14是圖示計算混色量的示例的圖;圖15是圖示計算混色量的示例的圖;圖16是圖示計算混色量的示例的圖;圖17是圖示計算混色量的示例的圖;圖18是圖示如何減去混色量的示例的圖;圖19是圖示如何校正缺陷的示例的圖;圖20是圖示成像處理的過程示例的流程圖;圖21是圖示混色減法處理的過程示例的流程圖;圖22是圖示成像裝置的另一配置示例的圖;圖23是圖示如何減去混色量的另一示例的圖;圖24是圖示如何遮蔽暗電流的示例的圖;圖25是圖示成像處理的另一過程示例的流程圖;圖26是圖示混色和黑電平減法處理的過程示例的流程圖;圖27是圖示混色減法單元的另一配置示例的圖28是圖示混色量減法的另一操作示例的圖;圖29是圖示混色減法處理的過程示例的流程圖;圖30是圖示當(dāng)光量飽和時的示例的圖;圖31是圖示當(dāng)光量飽和時的混色減法的另一示例的圖;圖32是圖示混色檢測像素指定處理的過程示例的流程圖;圖33是圖示混色檢測像素的相鄰像素的混色校正處理的圖;圖34是圖示混色減法處理的過程示例的流程圖;圖35是圖示成像裝置的另一配置示例的框圖;
      圖36是圖示縱向分光結(jié)構(gòu)的示例的框圖;圖37是圖示縱向分光結(jié)構(gòu)的混色檢測像素的布置示例的圖;圖38是圖示縱向分光結(jié)構(gòu)的混色檢測像素的示例的圖;圖39是圖示成像處理的另一示例的流程圖;圖40是圖示成像裝置的另一配置示例的框圖;圖41是圖示成像處理的另一示例的流程圖;圖42是圖示成像裝置的另一配置示例的框圖;圖43是圖示個人計算機的配置示例的框圖。
      具體實施例方式下文中將參照附圖來詳細描述本公開的優(yōu)選實施例。注意,在此說明書和附圖中,用相同的附圖標記來表示具有基本相同的功能和結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)元素,并省略這些結(jié)構(gòu)元素的重復(fù)說明。下面將描述實現(xiàn)本公開的實施例(下文中簡稱為“實施例”)。另外,將以如下次序來描述。I、第一實施例(混色量和黑電平的依次(sequential)校正)2、第二實施例(混色量和黑電平的同時校正)3、第三實施例(應(yīng)用示例)4、第四實施例(縱向分光結(jié)構(gòu)混色量和黑電平的依次校正)5、第五實施例(縱向分光結(jié)構(gòu)混色量和黑電平的同時校正)6、第六實施例(應(yīng)用示例成像裝置)7、第七實施例(個人計算機)第一實施例[成像裝置的配置]圖I是圖示根據(jù)本公開的實施例的成像裝置的配置示例的圖。如圖I所示,成像裝置100拍攝對象,將對象的圖像轉(zhuǎn)換為電信號,并輸出電信號。如圖I所示,成像裝置100包括透鏡101、光圈102、具有濾色器的圖像傳感器103、模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器104、鉗位(clamping)單元105、混色減法單元106、以及缺陷校正單元107。成像裝置100還包括去馬賽克(demosaic)單元108、線性矩陣單元109、伽馬校正單元110、亮度和色度信號生成單元111、以及接口(I/F)單元112。透鏡101被配置為調(diào)節(jié)入射在具有濾色器的圖像傳感器103上的光的焦距。光圈102被配置為調(diào)節(jié)入射在具有濾色器的圖像傳感器103上的光量。透鏡101和光圈102形成光學(xué)系統(tǒng)的處理單元,并且,其詳細配置不限于任何具體配置。例如,透鏡101可被配置為包括多個透鏡。如圖I中的虛線箭頭所示,入射光透射通過透鏡101和光圈102,并照射具有濾色器的圖像傳感器103。具有濾色器的圖像傳感器103包括用于每個像素的光電轉(zhuǎn)換器件,并將入射光轉(zhuǎn)換為電信號。光電轉(zhuǎn)換器件可為光電二極管。具體地,具有濾色器的圖像傳感器103包括具有多個常規(guī)像素的常規(guī)像素組。多個常規(guī)像素中的每個包括用于將入射光轉(zhuǎn)換為電信號的光電轉(zhuǎn)換器件。具有濾色器的圖像傳感器103可為電荷耦合器件(CCD)圖像傳感器。在CCD圖像傳感器中,光電轉(zhuǎn)換器件使用被稱為CCD的電路器件來執(zhí)行光傳送,以讀出從光產(chǎn)生的電荷。并且,具有濾色器的圖像傳感器103可為使用互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)的CMOS圖像傳感器,其具有用于每個單位單元的放大器。具有濾色器的圖像傳感器103在光電轉(zhuǎn)換器件的光入射的位置上包括濾色器。在·濾色器中,每個紅(R)、綠(G)、以及藍(B)色例如以拜耳陣列的方式被布置在他們各自的光電轉(zhuǎn)換器件上。具體地,具有濾色器的圖像傳感器103將透射通過各個濾色器的每個顏色的入射光轉(zhuǎn)換為電信號,并將該電信號提供到模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器104。具有濾色器的圖像傳感器103可具有可選的顏色,并還可具有RGB之外的顏色??梢圆皇褂肦GB色的某些或全部。另外,每個顏色的布置也是可選的,并且,可使用除了拜耳陣列之外的其它陣列。例如,位清除型(clear bit type)像素陣列、基于染料的濾色器、白像素(參見日本專利特開No. 2010-296276)等用于每個顏色的布置。下面,假定以拜耳陣列的方式布置具有濾色器的圖像傳感器103的RGB濾色器。A/D轉(zhuǎn)換器104被配置為將從具有濾色器的圖像傳感器103提供的RGB的電信號(模擬信號)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(圖像數(shù)據(jù))。A/D轉(zhuǎn)換器104將數(shù)字數(shù)據(jù)的圖像信號(RAW數(shù)據(jù))提供到鉗位單元105。鉗位單元105被配置為從圖像數(shù)據(jù)中減去黑電平。黑電平是被確定為黑色的電平。鉗位單元105將從中減去了黑電平的圖像數(shù)據(jù)提供到混色減法單元106。混色減法單元106被配置為從圖像數(shù)據(jù)中減去混色成分?;焐煞质峭干渫ㄟ^相鄰像素的濾色器的一類光成分?;焐珳p法單元106將從中減去了混色成分的圖像數(shù)據(jù)提供到缺陷校正單元107。缺陷校正單元107被配置為校正不能從其得到正確的像素值的缺陷像素的像素值。缺陷校正單元107將其中校正了缺陷像素的圖像數(shù)據(jù)提供到去馬賽克單元108。去馬賽克單元108被配置為通過對RAW數(shù)據(jù)執(zhí)行去馬賽克處理、并補償顏色信息,將RAW數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為RGB數(shù)據(jù)。去馬賽克單元108將被執(zhí)行了去馬賽克處理的圖像數(shù)據(jù)(RGB數(shù)據(jù))提供到線性矩陣單元109。線性矩陣單元109被配置為使用矩陣系數(shù)來校正圖像數(shù)據(jù)的每個顏色信號,并執(zhí)行用于改變顏色再現(xiàn)性的處理,以便彌合規(guī)范定義的基色(RGB)的色度點與相機的實際色度點之間的間隙。線性矩陣單元109將執(zhí)行了用于改變顏色再現(xiàn)性的處理的圖像數(shù)據(jù)提供到伽馬校正單元110。伽馬校正單元110被配置為調(diào)節(jié)圖像數(shù)據(jù)的顏色和輸出器件的特性之間的相對關(guān)系,并執(zhí)行用于獲得更接近于原始的表示的伽馬校正處理。伽馬校正單元110將處理后的圖像數(shù)據(jù)(RGB數(shù)據(jù))提供到亮度和色度信號生成單元111。亮度和色度信號生成單元111被配置為從自伽馬校正單元110提供的RGB數(shù)據(jù)生成亮度信號(Y)和色度信號(Cr、Cb)。亮度和色度信號生成單元111將生成的亮度和色度信號(Y、Cr、Cb)提供到接口(I/F)單元112。接口( I/F)單元112將從亮度和色度信號生成單元111提供的圖像數(shù)據(jù)(亮度/色度信號)提供到成像裝置100的外部(例如,用于存儲圖像數(shù)據(jù)的存儲設(shè)備、或用于顯示圖像數(shù)據(jù)的圖像的顯示設(shè)備)。[具有濾色器的圖像傳感器] 隨后,將詳細描述成像裝置的每個單元。首先,下面將詳細描述具有濾色器的圖像傳感器103。如圖2所示,在相關(guān)技術(shù)中的圖像傳感器中,在常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域的外部提供光學(xué)黑區(qū)(0ΡΒ),并且,在OPB區(qū)中檢測黑電平。在有效像素區(qū)域內(nèi)的每個像素中,通過片載透鏡、濾色器、以及波導(dǎo)的入射光被照射到光電二極管(Si光電二極管)上。光電二極管將入射光轉(zhuǎn)換為電信號,累積電荷,隨后在預(yù)定時刻輸出電荷。如圖2所示,根據(jù)相關(guān)技術(shù)的圖像傳感器,存在通過片載透鏡、濾色器、以及波導(dǎo)的入射光將被照射到硅光電二極管內(nèi)的目標像素的光電二極管之外的任何相鄰像素上的可能性。此外,還存在入射光將泄漏到諸如波導(dǎo)等的硅光電二極管外部的相鄰像素中的可能性。結(jié)果,存在透射通過與目標像素相鄰的相鄰像素的濾色器的入射光的一部分、以及目標像素的入射光將被照射到特定像素(目標像素)的光電二極管上的可能性。換句話說,存在入射在目標像素上的光以及與入射在目標像素上的光具有不同顏色的光將引起混色的可能性。然而,在根據(jù)實施例的具有濾色器的圖像傳感器103中,如圖3所示,在常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi)提供了被配置為檢測混色量的混色檢測像素121。在混色檢測像素121中,用遮光膜122來覆蓋光電二極管。這基本阻止了源自比Si光電二極管更上層部分的任何光進入Si光電二極管。也就是說,在混色檢測像素121中,透射通過目標像素的濾色器的入射光成分被遮光膜122阻擋,并且,光電二極管僅檢測到透射通過任何相鄰像素的濾色器的入射光成分。如圖3所示,多個混色檢測像素121被置于有效像素區(qū)域內(nèi)。在圖3的示例中,35個混色檢測像素121 (7行X5列=35)被提供在有效像素區(qū)域內(nèi)。另外,混色檢測像素121的數(shù)目不被具體限制,且可被適當(dāng)?shù)剡x擇。如果混色檢測單元的數(shù)目增大,則有可能更準確地計算混色量。然而,由于混色檢測像素不具有常規(guī)信號值,所以,混色檢測像素最終被視為缺陷像素,并隨后被常規(guī)像素值取代。因此,可通過使混色檢測像素的數(shù)目盡可能的小,來減小被視為和處理為缺陷像素的像素的數(shù)目。這允許防止由缺陷矯正引起的故障(例如,錯誤的顏色或分辨率下降)?;焐珯z測像素121在有效像素區(qū)域內(nèi)的位置不被具體限制。然而,為了通過增大針對于有效像素區(qū)域內(nèi)的混色量(像素特征)的偏差(bias)的健壯性而準確地執(zhí)行混色校正,期望將混色檢測像素121布置為使其可以被盡可能均勻地分布在有效像素區(qū)域內(nèi)。
      遮光膜122可由任意材料制成,只要該材料防止透射通過目標像素的濾色器的光進入光電二極管即可。例如,對于前表面照射型傳感器來說,如圖4A所示,遮光膜122可為由金屬(例如,銅(Cu)或鋁(Al))制成的布線層。此外,對于后表面照射型傳感器來說,如圖4B所示,遮光膜122可由在光電二極管上形成的金屬(例如,鎢(W))制成。當(dāng)然,可使用除了上述之外的適當(dāng)方法來形成遮光膜122。對于遮光膜的形成圖案來說,可使用能夠遮光的任何技術(shù)。例如,如圖5A所示,通過使用多個布線層(多個布線層用作遮光膜122)來實現(xiàn)遮光。然而,如果布線層被形成為大到足以覆蓋整個像素,則存在遮光膜在形成膜的處理期間將被削剝(peel off)的可能性(例如,在表面拋光(化學(xué)機械拋光(CMP))時產(chǎn)生的凹陷))。因而,存在每個布線層的厚度變薄的可能性,由此,目標像素的入射光將透射通過布線層,而不被阻擋。例如,如圖5C所示,有可能提供這樣的配置在每個布線層的各個部分形成間隙,并且,一個布線層遮蔽從在另一個布線層中形成的間隙泄漏的光。如圖6所示,還有可能提供這樣的配置遮光膜具有最小尺寸,并且,與入射角相對應(yīng)地執(zhí)行最佳出射光瞳校正。例 如,在圖6A的情況下,由于進入目標像素的入射光具有O度的入射角,所以,遮光膜122(布線層)被置于該像素的中央附近,以便防止入射光進入該像素的中央附近。在圖6B的情況下,由于光從斜向入射到目標像素,所以,取決于光入射的角度,分別布置片載透鏡、濾色器和用作遮光膜122的布線層。這允許減小遮蔽該像素不進光所需的遮蔽面積(用作遮光膜122的布線層的面積大小)。由此,有可能防止遮光膜在形成膜的處理期間被削剝(例如,CMP產(chǎn)生的凹陷)。如圖7所示,以拜耳陣列圖案的形式布置紅(R)、藍(B)、Gr (紅(R)行中的綠)、以及Gb (藍(B)行中的綠)的濾色器。每個顏色的濾色器對應(yīng)于它們各自不同的一個像素。由此,在圖7的示例中,透射通過Gb、B、R和Gr的每個濾色器的光主要入射到它們各自的、彼此不同的像素的光電二極管上。然而,如上所述,光還入射到每個相鄰像素上,由此產(chǎn)生了混色。通過這樣布置每種顏色,相鄰像素的顏色根據(jù)目標像素的每種顏色而變化。由此,每種顏色的混色量根據(jù)目標像素的每種顏色而變化。結(jié)果,在R、B、Gr和Gb的每個上提供混色檢測像素121。在圖8的示例中,混色檢測像素121-1檢測對于顏色R的像素的混色量?;焐珯z測像素121-2檢測對于顏色Gr的像素的混色量?;焐珯z測像素121-3檢測對于顏色Gb的像素的混色量?;焐珯z測像素121-4檢測對于顏色B的像素的混色量。光從其任意方向的相鄰像素入射到目標像素。換句話說,任意方向的相鄰像素產(chǎn)生混色(例如,上、下、左、右和斜向)。由此,每個混色檢測像素被布置在在空間離散的位置上,使得混色檢測像素可以不彼此連續(xù),如圖9所示。遮光膜阻止目標像素上的入射光進入混色檢測像素。由此,基本上不會產(chǎn)生(或者可忽略不計)從混色檢測像素到其相鄰像素的方向上的混色(光進入)。例如,如圖10所示,如果混色檢測像素被置于彼此相鄰的關(guān)系中,則在相鄰的混色檢測像素之間通常不會產(chǎn)生混色。因此,存在這樣的高可能性在具有這樣的布置的混色檢測像素中檢測到的混色量將不等同于光從所有方向的相鄰像素入射的常規(guī)像素的混色量。也就是說,在這樣的布置中,存在混色檢測像素將不能準確地檢測到混色量的可能性。由此,混色檢測像素被布置為彼此分離,使得它們彼此不被置于相鄰關(guān)系中,如圖9所示。如果斜向的混色量足夠小,則可以在斜向上以彼此相鄰的關(guān)系布置多個混色檢測像素,如圖11所示。此外,只要混色量的檢測將不被包括斜向的任意布置方向影響,就可以以彼此相鄰的關(guān)系布置多個混色檢測像素。如上所述,通過在有效像素區(qū)域內(nèi)提供混色檢測像素,能夠更準確地檢測和計算混色量。此外,通過為每種顏色提供混色檢測像素,能夠更準確地計算混色量。此外,通過在混色檢測像素處提供遮光層,能夠更容易地計算混色量。可以諸如通過形成布線層或通過提供光電二極管形式的金屬層,簡單地實現(xiàn)遮光層。此外,利用此方法,可取決于入射光的量或角度等,來提供適當(dāng)?shù)恼诠鈱樱纱烁行У刈钃豕?。[信號校正]如圖12所示,校正如上所述的具有濾色器的圖像傳感器103得到的圖像信號(圖 像傳感器信號)。在鉗位單元105中,從常規(guī)像素的像素值和混色檢測像素121的像素值兩者中移除在OPB區(qū)中檢測到的黑電平。隨后,在混色減法單元106中,從常規(guī)像素的像素值減去混色檢測像素121的像素值(混色量)。這允許常規(guī)像素的像素值變?yōu)閮H與目標像素上的入射光相對應(yīng)的正確像素值。相比之下,混色檢測像素121上沒有入射光,由此,混色檢測像素121的像素值不是與常規(guī)像素的像素值等同的正確像素值。結(jié)果,缺陷校正單元107通過將混色檢測像素121視為缺陷像素而校正像素值。在實踐中,可能存在這樣的情況混色檢測像素的像素值與常規(guī)像素的實際混色量不同。由此,例如,如下所述,可以提供這樣的配置通過使用多個實際的混色檢測像素來估計常規(guī)像素的位置的混色量,并從常規(guī)像素減去通過該估計所得到的值。檢測OPB區(qū)中的黑電平的方法、以及通過鉗位單元105來減去黑電平的方法類似于相關(guān)技術(shù)中的方法。[混色減法單元]圖13是圖示圖I的混色減法單元106的配置示例的框圖。如圖13所示,混色減法單元106包括控制部分131、存儲部分132、混色檢測像素指定部分133、混色量計算部分134、以及減法部分135??刂撇糠?31被配置為確定要處理的目標像素是否為混色檢測像素121??刂撇糠?31預(yù)先知道混色檢測像素121的位置。如果要處理的目標像素被確定為混色檢測像素121,則控制部分131將目標像素的像素值提供到存儲部分132,并使存儲部分132存儲該像素值。另一方面,如果要處理的目標像素未被確定為混色檢測像素121,則控制部分131使混色檢測像素指定部分133指定要被用來減去混色量的混色檢測像素121。存儲部分132被配置為存儲從控制部分131提供的混色檢測像素的像素值。存儲部分132在預(yù)定時刻、或響應(yīng)于來自外部的請求,將存儲的像素值提供到混色檢測像素指定部分133?;焐珯z測像素指定部分133被配置為指定要被用來減去目標像素的混色量的混色檢測像素121?;焐珯z測像素指定部分133優(yōu)選地從目標像素周圍選擇盡可能最接近于目標像素而定位的混色檢測像素121,作為要被用來減去混色量的混色檢測像素121。混色檢測像素指定部分133從存儲部分132得到所指定的混色檢測像素121的像素值,并且,將得到的像素值提供到混色量計算部分134。
      混色量計算部分134被配置為使用混色檢測像素指定部分133所指定的混色檢測像素121的像素值,來計算目標像素的混色量?;焐坑嬎悴糠?34將所計算的混色量提供到減法部分135。減法部分135被配置為從目標像素的像素值減去混色量計算部分134提供的混色量。減法部分135將減去了混色量的目標像素的像素值提供到缺陷校正單元107。[混色量的計算]下面將描述混色量計算部分134計算混色量的方法?;焐珯z測像素指定部分133選擇目標像素的多個相鄰的混色檢測像素?;焐坑嬎悴糠?34使用所述多個混色檢測像素來計算目標像素的混色量。如圖14所示,混色量計算部分134使用在混色檢測像素141和混色檢測像素142 (這兩個像素都是對應(yīng)于藍色(B)的混色檢測像素)中檢測的混色量來計算藍色(B)的目標像素(常規(guī)像素)的混色量。另外,假定在混色檢測像素141中檢測的光量是混色量A。假定在混色檢測像素142中檢測的光量是混色量B。在此情況下,混色量計算部分134可通過根據(jù)從目標像素到混色檢測像素141的距離以及從目標像素到混色檢測像素142的距離而加權(quán),來得到混色量A和混色量B。作為圖14中示出的示例,在混色檢測像素141和混色檢測像素142之間存在藍色
      (B)的兩個常規(guī)像素。這些常規(guī)像素將所述兩個混色檢測像素之間的空間分為三等份。如果具有混色量A的混色檢測像素141附近的兩個像素之中的藍色像素(Bluel) 143是目標像素,則可根據(jù)如下等式(I)來得到藍色像素的混色量(Bluel的混色成分)。Bluel 的混色成分=(2ΧΑ) + (1ΧΒ)/(2+1) (I)此外,作為圖14中示出的示例,如果具有混色量B的混色檢測像素142附近的藍色像素(Blue2)144是目標像素,則可根據(jù)如下等式(2)來得到藍色像素的混色量(Blue2的混色成分)。Blue2 的混色成分=(1ΧΑ) + (2ΧΒ)/(1+2) (2)作為圖15中示出的示例,假定得到了框150中的藍色像素152和藍色像素153的混色量。如圖15所示,藍色像素152和藍色像素153均位于藍色的混色檢測像素151和藍色的混色檢測像素154之間。由此,如圖15的圖表所示,通過使用混色檢測像素151的混色量A和混色檢測像素154的混色量B來進行線性插值,而計算藍色像素152和藍色像素153的混色量。此外,例如,藍色像素155和藍色像素156均位于藍色的混色檢測像素154和藍色的混色檢測像素157之間。由此,如圖15的圖表所示,通過使用混色檢測像素154的混色量A和混色檢測像素157的混色量C來進行線性插值,而計算藍色像素155和藍色像素156的混色量。計算混色量的方法不限于上述這些。例如,作為圖16中示出的示例,可提供劃分到每個區(qū)域并均勻地減去每個區(qū)域中的混色量的方法。在此方法中,作為圖16中示出的示例,采用最接近的相鄰混色檢測像素的混色量作為要處理的相關(guān)區(qū)域的混色量。由此,如圖16的圖表所示,將框160中的藍色像素162的混色量設(shè)置為藍色的混色檢測像素161的混色量A。另外,將框170中的藍色像素171和藍色像素173的混色量設(shè)置為藍色的混色檢測像素172的混色量B。將框180中的藍色像素181的混色量設(shè)置為藍色的混色檢測像素182的混色量C。該方法允許比上述使用權(quán)重相加的方法更容易地得到相關(guān)區(qū)域的混色量。然而,由于混色量一般不易于突變,所以,上述使用權(quán)重相加的方法能夠更準確地得到混色量。盡管已描述了一維布置作為示例,但可使用二維布置來執(zhí)行上述操作。具體地,可使用在二維布置上(在諸如上、下、左、右、斜的任意方向上)較接近于目標像素定位的混色檢測像素來計算混色量。作為圖17中示出的示例,混色檢測像素185至187是藍色的混色檢測像素。通過將在二維布置中接近目標像素定位的兩個像素的混色量的權(quán)重相加,來計算其他藍色像素的混色量。 例如,在二維布置中,具有距計算了混色量的目標像素較近距離的混色檢測像素(兩個像素)被假定為混色檢測像素185和186。在此情況下,通過根據(jù)各個混色檢測像素以及目標像素之間的距離、將權(quán)重加到混色檢測像素185的混色量A和混色檢測像素186的混色量B,來計算目標像素的混色量。不特定限制、且可適當(dāng)?shù)剡x擇用來計算混色量的混色檢測像素的數(shù)目。例如,混色檢測像素的數(shù)目可為三個或更多。如上所述,由于混色量取決于周邊結(jié)構(gòu)的顏色(相鄰顏色)而變化,所以,僅具有與相關(guān)區(qū)域相同顏色的混色檢測像素才被用來計算混色量。例如,為了計算藍色像素的混色量,使用較接近于藍色像素的藍色的混色檢測像素的混色量。[混色量的校正]如圖18所示,減法部分135從移除了黑電平的像素值191減去如上所述計算出的混色量192,由此得到作為減去了黑電平和混色量的值的像素值193。[缺陷校正]缺陷校正單元107通過將混色檢測像素視為缺陷像素來校正混色檢測像素。由于混色檢測像素僅輸出混色量,所以,在無進一步處理的情況下不能得到正確的圖像。由此,缺陷校正單元107將混色檢測像素視為缺陷像素,并將該像素替換為從常規(guī)像素得到的信號值。校正缺陷的方法不限于特定方法。作為圖19中的示例,可提供從具有相同顏色的每個相鄰常規(guī)像素的輸出值(減去混色之后的值)進行估計的方法(例如,線性插值)。在圖19中示出的示例中,校正并將藍色的混色檢測像素的像素值A(chǔ)改變?yōu)橄噜彽乃{色像素的兩個像素值100和80中的像素值80。如上所述,通過校正混色量等,成像裝置100可更準確地校正混色。[成像處理的過程]將描述成像裝置100的各個單元執(zhí)行的處理。參照圖20的流程圖,將描述在拍攝對象時由成像裝置100執(zhí)行的成像處理的示例過程。當(dāng)開始成像處理時,在步驟S101,具有濾色器的圖像傳感器103將每個像素的入射光轉(zhuǎn)換為電信號,并讀出每個像素信號。在步驟S102,A/D轉(zhuǎn)換器104對在步驟SlOl中得到的各個像素信號執(zhí)行A/D轉(zhuǎn)換。在步驟S103,鉗位單元105從各個像素值中減去在OPB區(qū)中檢測到的黑電平。在步驟S104,混色減法單元106從像素值中減去混色量。在步驟S105,缺陷校正單元107校正具有混色檢測像素的缺陷像素的像素值。
      在步驟S106,去馬賽克單元108執(zhí)行去馬賽克處理,并將RAW數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為RGB數(shù)據(jù)。在步驟S107,線性矩陣單元109取決于輸入設(shè)備的特征來執(zhí)行顏色校正處理。在步驟S108,伽馬校正單元110取決于輸出設(shè)備的特征來執(zhí)行伽馬校正處理。在步驟S109,亮度和色度信號生成單元111從RGB數(shù)據(jù)生成亮度信號和色度信號(Y、Cr和Cb數(shù)據(jù))。在步驟S110,接口(I/F)單元112將在步驟S109中生成的亮度和色度信號輸出到外部存儲設(shè)備或顯示設(shè)備,隨后完成成像處理。[混色減法處理的過程]將通過參照圖21的流程圖來描述在圖20的步驟S104執(zhí)行的混色減法處理的示例過程。當(dāng)開始混色減法處理時,在步驟S131,控制部分131確定要處理的目標像素是否為混色檢測像素。如果確定目標像素為混色檢測像素,則控制部分131將處理移向步驟 S132。在步驟S132,存儲部分132存儲混色檢測像素的像素值,并且,處理前進到步驟S137。在步驟S131,如果確定目標像素不是混色檢測像素,則控制部分131將處理移向步驟S133。在步驟S133,混色檢測像素指定部分133根據(jù)預(yù)定方法來指定要被用來計算目標像素的混色量的混色檢測像素。例如,混色檢測像素指定部分133將較接近于目標像素的預(yù)定數(shù)目的混色檢測像素指定為要被用來計算目標像素的混色量的混色檢測像素。在步驟S134,混色檢測像素指定部分133從存儲部分132得到在步驟S133中指定的混色檢測像素的像素值。在步驟S135,混色量計算部分134通過使用在步驟S134中得到的混色檢測像素的像素值,計算目標像素的混色量。在步驟S136,減法部分135從目標像素(關(guān)注的像素)的像素值中減去在步驟S135中計算的混色量。當(dāng)完成了減法處理時,減法部分135將處理移向步驟S137。在步驟S137,控制部分131確定是否存在任何未處理的像素。當(dāng)確定存在未執(zhí)行減法的像素時,處理返回到步驟S131,隨后重復(fù)后續(xù)步驟。此外,在步驟S137,如果確定從常規(guī)像素中減去了所有混色量,則控制部分131完成處理,并將其返回到圖20中的步驟。通過執(zhí)行如上所述的處理,成像裝置100可更準確地校正混色。具體地,可以取決于諸如光量、光的色溫、入射角、對象等的任何成像條件,最佳地校正混色量。此外,在實際設(shè)備中布置混色檢測像素,由此,可以更準確地校正混色,并可以通過糾錯來防止生成錯誤顏色。另外,盡管混色引起信噪比或顏色再現(xiàn)性的下降,但可以根據(jù)本公開的實施例來改善混色和信噪比。還可通過改善混色來增強分辨率。盡管已描述了混色引起當(dāng)光子或電子在相鄰像素之間移動時出現(xiàn)的模糊(blur),但可以校正引起模糊的此混色。由此,可以得到具有更清晰度分辨率而不模糊的輸出。此外,可將混色校正應(yīng)用于大范圍的應(yīng)用,并且,其不限于拜耳陣列。并且,這個技術(shù)可用于改善諸如位清除類型或縱向分光結(jié)構(gòu)的很多設(shè)備的混色。第二實施例[成像裝置的配置]可以同時執(zhí)行黑電平的減法和混色的校正。圖22是圖示根據(jù)本公開的實施例的成像裝置的配置的圖。圖22中示出的成像裝置200基本上類似于圖I中示出的成像裝置100。也就是說,成像裝置200具有與成像裝置100相似的配置,且執(zhí)行與成像裝置100相似的處理。成像裝置200包括混色和黑電平減法單元205,其替代了成像裝置100的鉗位單元105和混色減法單元106?;焐秃陔娖綔p法單元205對執(zhí)行了 A/D轉(zhuǎn)換的像素數(shù)據(jù)同時執(zhí)行混色和黑電平的減法。更具體地,混色和黑電平減法單元205從移除黑電平之前的狀態(tài)中的常規(guī)像素的像素值減去混色檢測像素的像素值,如圖23所示。混色檢測像素原始為黑電平,這是因為,混色檢測像素被遮光。將來自其相鄰像素的混色加到黑電平。從圖像傳感器輸出黑電平和混色相加得到的總計值。由此,可通過從常規(guī)像素減去該總計值來獲取期望要得到的僅入射光的信號。
      在第一實施例中,通過使用有效區(qū)域之外的OPB區(qū)來檢測黑電平。根據(jù)第二實施例,在傳感器內(nèi)布置的多個混色檢測像素中檢測黑電平和混色量兩者。因此,根據(jù)第二實施例,可以消除OPB區(qū)的需要。由此,具有更小的芯片尺寸的具有濾色器的圖像傳感器是可能的,并可減小成本。如圖24所示,由于制造差異,包含暗輸出(暗電流)的黑電平在傳感器中不一定均勻。在此情況下,因為針對作為混色的每個區(qū)域得到各個黑電平,所以,可同時校正暗電流遮蔽。類似于第一實施例,混色檢測像素的像素值不一定與常規(guī)像素的實際混色量完全一致。在此情況下,以與第一實施例中描述的類似方式,可使用多個混色檢測像素的像素值來估計與常規(guī)像素的位置相對應(yīng)的混色檢測像素的像素值(從黑電平和混色量的相加得到的總計值),隨后,可從常規(guī)像素的像素值減去估計值。[成像處理的過程]將通過參照圖25的流程圖來描述上述情況下的成像處理的過程示例。如圖25的流程圖所示,執(zhí)行與以上參照圖20的流程圖描述的情況基本類似的處理。具體地,在圖25的步驟S201、步驟S202以及步驟S204至S209將執(zhí)行的每個處理類似于在圖20的步驟S101、步驟S102以及步驟S105至SllO執(zhí)行的各個處理。作為圖20和圖25的處理之間的差異,代替圖20的步驟S103和S 104,執(zhí)行圖25的步驟S203的處理。在步驟S203,混色和黑電平減法單元205執(zhí)行混色和黑電平減法處理。[混色和黑電平減法處理的過程]接下來,參照圖26的流程圖,將描述在圖25的步驟S203執(zhí)行的混色和黑電平減法處理的過程示例。除了混色和黑電平減法處理執(zhí)行黑電平以及混色的減法之外,混色和黑電平減法處理的過程基本上類似于上面參照圖21的流程圖描述的混色減法處理的過程。下面將描述與圖21的混色減法處理不同的處理。在步驟S223,混色和黑電平減法單元205指定要被用于計算混色和黑電平的混色檢測像素。此外,在步驟S225,混色和黑電平減法單元205使用在步驟S224中得到的混色檢測像素的像素值,計算要處理的目標像素的混色和黑電平。在步驟S226,混色和黑電平減法單元205從要處理的目標像素(關(guān)注的像素)的像素值減去混色和黑電平。與成像裝置100類似,成像裝置200可通過執(zhí)行如上所述的每個處理,更準確地校正混色。第三實施例[應(yīng)用示例I]作為估計混色量的方法,可考慮計算混色率并隨后計算混色量的方法。例如,可考慮這樣的情況取決于被攝對象,混色檢測像素和要校正的像素在亮度方面可能彼此不同。在此情況下,由于混色量取決于光量而變化,所以,混色檢測像素和要校正的像素在混色量方面可能彼此有很大的不同。例如,如果從暗部的信號值中減去從亮部得到的混色量,則導(dǎo)致過校正(overcorrection)(因為光量或信號變得越大,混色量就增加得越多)。為了抑制這樣的現(xiàn)象,可比混色量更早地得到混色率。圖27是圖示上述情況下的混色減法單元106的配置示例的框圖。如圖27所示,除了混色減法單元106包括混色率計算部分304而不是混色量計算部分134、且包括乘法部·分305而不是減法部分135之外,混色減法單元106具有與圖13所示類似的配置?;焐视嬎悴糠?04計算混色率,其表示整個像素值的混色成分的比率,而不是要處理的目標像素的混色量。乘法部分305將要處理的目標像素的像素值乘以與混色率對應(yīng)的入射光的信號比率。在此情況下,例如,如圖28示出的示例那樣,執(zhí)行混色校正(減法)。不同之處在于,將混色檢測像素的鄰接像素或相鄰像素(即,周邊像素)的輸出值用于操作。在鉗位單元105的輸出中,假定校正混色所需的要處理的目標像素(常規(guī)像素)的每個像素值、要被用于校正混色的混色檢測像素、以及混色檢測像素的周邊像素(混色檢測像素的相鄰像素)具有如下的相應(yīng)值要校正混色的常規(guī)像素的像素值50混色檢測像素的像素值30混色檢測像素的相鄰像素的像素值100假定混色檢測像素的相鄰像素更接近于該混色檢測像素而不是要校正混色的常規(guī)像素。在混色檢測像素未被遮光的假定下,從混色檢測像素的相鄰像素具有像素值“100”的事實,估計混色檢測像素具有“100”的像素值。具體地,可發(fā)現(xiàn)總信號值100之中,混色量為“30”,而入射光信號為“70”。換句話說,混色率為總信號值的30% (入射光比率為70%)。因此,混色減法單元106將這些相應(yīng)像素值乘以作為與混色率相對應(yīng)的入射光的信號比率的值70%。要校正混色的常規(guī)像素的像素值50X0. 7=35混色檢測像素的像素值30Χ0· 7=21混色檢測像素的相鄰像素的像素值100 X O. 7=70缺陷校正單元107還執(zhí)行混色檢測像素的缺陷校正(被相鄰像素值替換等等)。要校正混色的常規(guī)像素的輸出值35混色檢測像素70混色檢測像素的相鄰像素70
      這允許得到無混色的期望信號值。可以將上面通過參照圖14至17描述的估計方法與上述混色量類似的方式應(yīng)用于混色率。[混色減法處理的過程]下面將參照圖29的流程圖來描述混色減法處理的過程。除了該混色減法處理使用混色率而不是混色量之外,該混色減法處理的過程基本上類似于上面通過參照圖21的流程圖描述的混色減法處理的過程。下文中,將描述與圖21的混色減法處理不同的處理。在步驟S304,混色檢測像素指定部分133得到在步驟S303中指定的混色檢測像素的像素值?;焐珯z測像素指定部分133還得到在步驟S303中指定的混色檢測像素的相鄰像素的像素值?!?br> 在步驟S305,混色率計算部分304通過使用在步驟S304中得到的混色檢測像素的像素值以及混色檢測像素的相鄰像素的像素值來計算混色率。在步驟S306,乘法部分305將要處理的目標像素(關(guān)注的像素)的像素值乘以與在步驟S305中計算的混色率相對應(yīng)的入射光的信號比率。如同成像裝置100那樣,混色減法單元106可通過執(zhí)行上述每個處理,更準確地減去混色。[應(yīng)用示例2]作為示例,如果混色檢測像素的周邊飽和,則在上述方法中,存在將不能得到正確的混色量或混色率的可能性。例如,通過計算混色量對包含入射光信號和混色量的總信號值的比率,來得到混色率。然而,如果混色量大于飽和量,則存在總信號量變?yōu)轭A(yù)定量、但被遮蔽的混色檢測像素的輸出取決于光量而增大或減小的可能性。如果將此值應(yīng)用于其它非飽和像素,則很可能引起錯誤的混色校正。作為圖30中示出的示例,當(dāng)如圖30的左部所示、像素的光量未飽和時,混色檢測像素的像素值對混色檢測像素的相鄰像素的像素值的比率對應(yīng)于混色率。相比之下,當(dāng)如圖30的右部所示、像素的光量過飽和時,混色檢測像素的像素值對混色檢測像素的相鄰像素的像素值的比率不對應(yīng)于混色率。也就是說,可想到變得難以得到正確的混色率。因此,當(dāng)混色檢測像素的相鄰像素飽和時,可使用混色檢測像素的未飽和的相鄰像素的值、而不使用所關(guān)注的混色檢測像素的值,來得到混色率(混色量)。圖31圖示了更具體的示例。在圖31中示出的示例中,混色檢測像素B的周邊像素飽和。在圖31中,當(dāng)要校正目標像素331時,將考慮取決于它們的距離而混合混色檢測像素B和C的混色量或混色率的方法。然而,由于混色檢測像素B的周邊像素飽和,所以,存在將不能得到上述準確的混色量或混色率的高可能性。由此,在此情況下,可使用混色檢測像素A和C而不使用混色檢測像素B,由此防止引起錯誤的校正。[混色檢測像素指定處理的過程]將通過參照圖32的流程圖來描述混色檢測像素指定處理的過程。例如,混色檢測像素指定處理是在圖21的步驟S133執(zhí)行的處理。當(dāng)開始混色檢測像素指定處理時,在步驟S331,混色檢測像素指定部分133指定要用于計算混色的混色檢測像素。在步驟S332,混色檢測像素指定部分133得到在步驟S331指定的混色檢測像素的每個相鄰像素的預(yù)定數(shù)目(一個或多個)像素值。
      在步驟S333,混色檢測像素指定部分133確定相鄰像素的一個或多個像素值是否飽和。如果確定相鄰像素的一個或多個像素值飽和,則處理前進到步驟S334。在步驟S334,混色檢測像素指定部分133將用來計算混色的混色檢測像素更新為其它混色檢測像素。也就是說,當(dāng)相鄰像素飽和時,可避開該混色檢測像素。如果完成了步驟S334的處理,則混色檢測像素指定部分133將處理移向步驟S335。此外,在步驟S333,如果確定每個相鄰像素的任一像素值均不飽和,則混色檢測像素指定部分133將處理移向步驟S335。在步驟S335,混色檢測像素指定部分13 3確定是否有任何用來計算混色量的未處理的混色檢測像素。在步驟S331,如果確定在用來計算混色量的指定混色檢測像素之中有未檢查每個相鄰像素的像素值的未處理像素,則混色檢測像素指定部分133將處理返回到步驟S332,并重復(fù)后續(xù)步驟。如果在步驟S335確定全部檢查了在步驟S331指定的用來計算混色量的混色檢測像素的相鄰像素,則混色檢測像素指定部分133將處理移向步驟S336。在步驟S336,混色檢測像素指定部分133決定通過上述處理縮窄范圍的混色檢測像素的候選,作為要被用來計算混色量的混色檢測像素,并隨后完成混色檢測像素指定處理?;焐珳p法單元106可通過取決于相鄰像素的像素值是否飽和適當(dāng)?shù)剡x擇要被用來計算混色量的混色檢測像素,而更準確地得到混色量(混色率)。圖像傳感器可能包含諸如白點(輸出升高)或黑點(輸出下降)的任何缺陷,正由于諸如Si或傳送故障的多種因素造成。類似地,混色檢測像素也可能包含這樣的缺陷。由于這樣的缺陷產(chǎn)生錯誤的混色量,所以,有必要防止這樣的缺陷。由此,可考慮確定混色檢測像素是否為缺陷像素。如果確定了混色檢測像素是缺陷像素,則可考慮將不使用該像素。作為圖31中示出的示例,如果混色檢測像素B是缺陷像素,則可使用其它混色檢測像素A或C來得到混色量和混色率。可通過通常在校正缺陷時執(zhí)行的方法,來執(zhí)行混色檢測像素是否為缺陷像素的確定。例如,可考慮確定在混色檢測像素的多個值之中是否存在跳變值的方法。更具體地,例如,當(dāng)位于混色檢測像素A和C之間的混色檢測像素B的像素值與混色檢測像素A和C的像素值顯著不同(例如,大于兩倍)時,混色檢測像素B可被視為缺陷像素,由此禁止混色檢測像素B用于計算混色量(混色率)。作為針對目標像素的相鄰像素的像素值被確定為飽和的情況、或者所關(guān)注的混色檢測像素被確定為缺陷像素的情況的方法,可采用除了上述方法之外的任何方法。盡管上面已描述了將被用來計算混色量的混色檢測像素從所關(guān)注的混色檢測像素改變(更新)為其它混色檢測像素的方法,但可采用除了上述方法之外的任何方法作為用來避免這樣的情形的方法。例如,可禁止所關(guān)注的混色檢測像素被用來計算混色量。例如,假定使用多個混色檢測像素來計算混色量。在多個混色檢測像素中的任一個中,如果相鄰像素的光量飽和、或者如果如上所述確定該混色檢測像素為缺陷像素,則僅禁止使用所關(guān)注的混色檢測像素,隨后可防止其它混色檢測像素被新使用。也就是說,在此情況下,減少了用來計算混色量的混色檢測像素的數(shù)目。[應(yīng)用示例3]
      如同圖33中示出的像素351那樣,由于被遮光的像素一般不會引起混色,所以,被遮光的混色檢測像素的相鄰像素的混色量小于其它像素的混色量。由此,如果以類似于其它像素的方式對相鄰像素執(zhí)行混色量減法,則存在引起過校正的可能性。由此,對于混色檢測像素的相鄰像素(上、下、左、右、斜),可減小混色校正量(例如,減小量為從混色檢測像素得到的混色量或混色率的O. 8倍),或者,可將它們視為缺陷像素,并由此可通過缺陷校正重構(gòu)信號值。[混色減法處理的過程]將通過參照圖34的流程圖,來描述在減小了混色檢測像素的每個相鄰像素的混色校正量時執(zhí)行的混色減法處理的過程。在此情況下,在圖34的步驟S351至S355、S358以及S359執(zhí)行的每個處理類似于 在圖21的步驟S131至S137執(zhí)行的相應(yīng)處理。在圖34中示出的示例中,附加地執(zhí)行步驟S356和S357。具體地,在步驟S356,混色量計算部分134確定要處理的目標像素是否為與混色檢測像素相鄰的像素。如果確定目標像素是與混色檢測像素相鄰的像素(也就是說,相鄰像素位于從作為常規(guī)像素的混色檢測像素產(chǎn)生混色的位置),則混色量計算部分134將處理移向步驟S357。在步驟S357,混色量計算部分134還校正在步驟S355中計算的混色量(例如,將其乘以預(yù)定值(例如,O. 8倍))。如果完成了步驟S357的處理,則混色量計算部分134將處理移向步驟S358。此夕卜,在步驟S356,如果確定要處理的目標像素不是與混色檢測像素相鄰的像素,則混色量計算部分134將處理移向步驟S358。根據(jù)上述處理,混色減法單元106可更準確地得到混色量(混色率),并可更準確地校正混色。可以與混色檢測像素的方式類似的方式來執(zhí)行校正缺陷的方法。[應(yīng)用示例4]如上所述,已描述了為濾色器的每種顏色提供混色檢測像素,并校正所有顏色。但是,存在要校正的缺陷像素的數(shù)目將隨著混色檢測像素的數(shù)目變大而增大的可能性。由于通過從相鄰常規(guī)像素的值進行估計來執(zhí)行缺陷校正,所以,如果這樣的估計值是錯誤的,則存在將出現(xiàn)錯誤顏色或分辨率下降的可能性。由此,為了盡可能地防止估計值錯誤,并且為了通過混色校正改善圖像質(zhì)量,考慮僅在特定顏色上提供混色檢測像素,并對該特定顏色執(zhí)行混色量的校正。例如,在正在開發(fā)的傳感器中,當(dāng)確定紅色像素的混色量大于其它顏色像素時,可以僅在紅色像素上提供混色檢測像素,并對紅色像素執(zhí)行混色量的校正。由此,可以不在綠色和藍色像素上提供混色檢測像素,并且,也可僅對紅色的混色檢測像素執(zhí)行缺陷校正。第四實施例[縱向分光結(jié)構(gòu)]本公開的實施例可通過提供被遮光的像素來校正混色量,并且,它們可被應(yīng)用于任何像素結(jié)構(gòu)。例如,本公開的實施例可被應(yīng)用于無濾色器的圖像傳感器。例如,作為在曰本專利特開No. 2011-29453中描述的方法,提供了縱向分光結(jié)構(gòu),其中,在同一像素內(nèi)的縱向方向上以三級(stage)的方式布置光電二極管,并且,從同一像素得到多個顏色信號。在這種縱向分光結(jié)構(gòu)中,可僅利用每個光電二極管來識別每種顏色。還提供了用于使用有機光電轉(zhuǎn)換膜來得到顏色信號的方法。本公開的實施例還可以與使用上述濾色器的圖像傳感器類似的方式,應(yīng)用于具有縱向分光結(jié)構(gòu)的像素的圖像傳感器。下面將描述使用縱向分光結(jié)構(gòu)的圖像傳感器的情況。[成像裝置]圖35是圖示在使用縱向分光結(jié)構(gòu)的圖像傳感器的情況下的成像裝置的配置示例的框圖。圖35中示出的成像裝置400基本上類似于圖I中示出的成像裝置100。具體地,成像裝置400具有與成像裝置100類似的配置,并執(zhí)行與成像裝置100類似的處理。不同之處在于,成像裝置400包括無濾色器的圖像傳感器403而不是具有濾色器的圖像傳感器103。 作為圖36中示出的截面圖,圖像傳感器403是表面照射型的能夠縱向分光(spectroscopy)的固態(tài)圖像傳感器。例如,縱向分光結(jié)構(gòu)是在日本專利特開No. 2011-29453中描述的結(jié)構(gòu)。在此結(jié)構(gòu)中,以縱向方向堆疊三個光電二極管(PN結(jié))??赏ㄟ^在頂級轉(zhuǎn)換藍色、中級轉(zhuǎn)換綠色、下級轉(zhuǎn)換紅色,從單個像素得到具有三種顏色的顏色信號。例如,在圖36中,在距半導(dǎo)體襯底14的光入射面約O. 5微米(μ m)的深度的區(qū)域中形成表面型光電二極管(PD)36,以通過藍色(B)光生成信號電荷。在距半導(dǎo)體襯底14的光入射面約O. 5至I. 5微米(μ m)的深度的區(qū)域中形成第一掩埋型光電二極管(PD) 23,以通過綠色(G)光生成信號電荷。對于半導(dǎo)體襯底14的整個厚度為例如3微米(μ m)的情況,在距半導(dǎo)體襯底14的光入射面約I. 5至3微米(μ m)的深度的區(qū)域中形成第二掩埋型光電二極管(PD)57,以通過紅色(R)光生成信號電荷。對于半導(dǎo)體襯底14的整個厚度厚于3微米(μ m)的情況,第二掩埋型光電二極管(PD) 57可在襯底的深度方向上擴展。由此,在半導(dǎo)體襯底14的光照部分,可以不對能夠縱向分光的圖像傳感器403提供濾色器層。在單個像素內(nèi),因為所有RGB光可被光電轉(zhuǎn)換,所以,單個像素的光利用率比相關(guān)技術(shù)中的使用濾色器執(zhí)行分光的像素高三倍,由此改善了靈敏度。如果圖像傳感器403的像素具有這樣的縱向分光結(jié)構(gòu),則如圖37所示,則以類似于上述實施例的方法的方式提供混色檢測像素。然而,在縱向分光結(jié)構(gòu)的情況下,如上所述,單個像素中的整個RGB光可被光電轉(zhuǎn)換。由此,在混色檢測像素的情況下,也可在單個像素中檢測對于RGB中的每種顏色的混色。更具體地,如圖38所示,即使在縱向分光結(jié)構(gòu)的情況下,在Si內(nèi)也產(chǎn)生混色。被布線層遮光的混色檢測像素(圖38的中部)的輸出變?yōu)閮H來自相鄰像素連同R、G、B的塊(bulk)混色。通過與上述實施例相同的方法來校正此混色。與上述方法的不同之處在于,可在單個像素中彼此區(qū)分多個像素(例如,R、G、B)的混色(日本專利特開No. 2011-29453中描述了讀出結(jié)構(gòu)的示例)。在圖35中示出的成像裝置400中,由于圖像傳感器403具有縱向分光結(jié)構(gòu),并且從每個像素得到每種顏色的數(shù)據(jù),所以,可以去除去馬賽克單元108。也就是說,缺陷校正單元107的輸出被直接提供到線性矩陣單元109。[成像處理的過程]將通過參照圖39的流程圖來描述成像處理的過程。基本上,以類似于圖20的方式來執(zhí)行成像處理。
      然而,在圖39的步驟S401中,從單個像素讀出多個顏色的像素信號。由此,在此情況下,省略對應(yīng)于步驟S106的去馬賽克處理。如同成像裝置100那樣,這允許成像裝置400更準確地校正混色。此外,例如,可以提供這樣配置對綠色提供單個光電二極管,對紅和藍色提供具有縱向分光結(jié)構(gòu)的光電二極管。在此情況下,需要去馬賽克處理。第五實施例[成像裝置]即使在如第四實施例中描述的那樣使用無濾色器的圖像傳感器403的情況下,也 可如在第二實施例中描述的那樣同時校正黑電平和混色量。圖40是圖示在使用無濾色器的圖像傳感器的情況下的成像裝置的配置示例的框圖。在圖40中,成像裝置500具有基本上類似于圖35的成像裝置400的配置。然而,如同圖22中示出的成像裝置200那樣,成像裝置500包括混色和黑電平減法單元205,而不是鉗位單元105和混色減法單元106。更具體地,如成像裝置200那樣,成像裝置500同時校正黑電平和混色量。與成像裝置200相比,成像裝置500包括圖像傳感器403而不是具有濾色器的圖像傳感器103。并且,省略了去馬賽克單元108。[成像處理的過程]將通過參照圖41來描述上述情況的成像處理的過程。以基本上類似于圖25的方式來執(zhí)行這個成像處理。然而,在圖41的步驟S501中,從單個像素讀出多個顏色的像素信號。由此,在此情況下,省略了對應(yīng)于步驟S205的去馬賽克處理。這允許成像裝置500能夠如同成像裝置200那樣更準確地校正混色。第六實施例[成像裝置]上述成像裝置可被配置為其它裝置的一部分。例如,上述成像裝置可被配置為圖42中示出的成像裝置的一部分。圖42是圖示根據(jù)本公開的實施例的成像裝置的配置示例的框圖。如圖42所示,成像裝置600包括透鏡單元611、CMOS傳感器612、模數(shù)(A/D )轉(zhuǎn)換器613、操作單元614、控制單元615、圖像處理單元616、顯示單元617、編解碼處理單元618、以及存儲單元619。透鏡單元611調(diào)節(jié)至對象的焦距,從聚焦位置聚光,并將其提供到CMOS傳感器612。CMOS傳感器612是具有上述配置的固態(tài)圖像傳感器,并被在有效像素區(qū)域中提供混色檢測像素。A/D轉(zhuǎn)換器613將在預(yù)定時刻從CMOS傳感器612提供的每個像素的電壓信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像信號(下文中,適當(dāng)?shù)胤Q為“圖像信號”)。A/D轉(zhuǎn)換器613還在預(yù)定時刻將圖像信號依次提供到圖像處理單元616。操作單元614可被配置為包括轉(zhuǎn)盤(Jog Dial,注冊商標)、鍵、按鈕或觸摸板。操作單元614接收用戶的操作輸入,并將與用戶的操作輸入相對應(yīng)的信號提供到控制單元615。
      控制單元615基于與輸入到操作單元614的用戶操作輸入相對應(yīng)的信號,控制透鏡單元611、CMOS傳感器612、A/D轉(zhuǎn)換器613、圖像處理單元616、顯示單元617、編解碼處理單元618、以及存儲單元619。圖像處理單元616對從A/D轉(zhuǎn)換器613提供的圖像信號執(zhí)行各種處理,諸如上述混色校正、黑電平校正、白平衡調(diào)節(jié)、去馬賽克處理、矩陣處理、伽馬校正、YC轉(zhuǎn)換等。圖像處理單元616將執(zhí)行了圖像處理的圖像信號提供到顯示單元617以及編解碼處理單元618。顯示單元617可被配置為包括液晶顯示器。顯示單元617基于來自圖像處理單元616的圖像信號來顯示對象的圖像。編解碼處理單元618對來自圖像處理單元616的圖像信號執(zhí)行預(yù)定編碼處理,并 將通過編碼處理得到的圖像數(shù)據(jù)提供到存儲單元619。存儲單元619存儲從編解碼處理單元618提供的圖像數(shù)據(jù)。在存儲單元619中存儲的圖像數(shù)據(jù)通過根據(jù)需要讀出到圖像處理單元616而被提供到顯示單元617。顯示單元617顯示與圖像數(shù)據(jù)相對應(yīng)的圖像。根據(jù)本公開的實施例的包括固態(tài)圖像傳感器或圖像處理單元的成像裝置不限于上述配置,并可采用其它配置。如已經(jīng)描述的,可將各個裝置配置為包括與上述不同的配置??蓪⒀b置配置為單個裝置或包括多個裝置的系統(tǒng)。第七實施例[個人計算機]上述系列處理可由硬件、軟件、或其組合執(zhí)行。在此情況下,可在圖43中示出的個人計算機中執(zhí)行系列處理。在圖43中,個人計算機700的中央處理單元(CPU) 701根據(jù)存儲在只讀存儲器(ROM) 702中的程序執(zhí)行各種處理。CPU 701還根據(jù)從存儲單元713加載到隨機存取存儲器(RAM) 703的程序來執(zhí)行各種處理。例如,CPU701執(zhí)行各種處理所需的數(shù)據(jù)也被適當(dāng)?shù)卮鎯υ赗AM 703中。CPU 70KROM 702、以及RAM 703經(jīng)由總線704彼此連接。輸入/輸出接口 710也連接到總線704。輸入/輸出接口 710連接到諸如鍵盤和鼠標的輸入單元711。輸入/輸出接口710還連接到輸出單元712。輸出單元712可包括揚聲器和顯示器,諸如陰極射線管顯示器(CRT)或液晶顯示器(IXD)。輸入/輸出接口 710還連接到存儲單元713。存儲單元713可包括硬盤或固態(tài)驅(qū)動器(SSD),如閃存。輸入/輸出接口 710連接到通信單元714。通信單元714可包括調(diào)制解調(diào)器或諸如有線或無線局域網(wǎng)(LAN)的接口。通信單元714經(jīng)由包括因特網(wǎng)的網(wǎng)絡(luò)執(zhí)行通信處理。輸入/輸出接口 710還根據(jù)需要連接到驅(qū)動器715。此外,諸如磁盤、光盤、磁光盤、或半導(dǎo)體存儲器的可移動介質(zhì)721適當(dāng)?shù)馗浇拥津?qū)動器715。從可移動介質(zhì)721讀出的計算機程序根據(jù)需要被安裝到存儲單元713中。當(dāng)通過軟件執(zhí)行上述系列處理時,從網(wǎng)絡(luò)或記錄介質(zhì)安裝構(gòu)成該軟件的程序。此記錄介質(zhì)可被配置為包括可移動介質(zhì)721,其中,與裝置獨立地存儲程序,該程序被分發(fā)以傳送到用戶,如圖43所示。可移動介質(zhì)721的示例包括磁盤(包括軟盤)或光盤(包括⑶-ROM或DVD)。此外,可移動介質(zhì)721的示例包括磁光盤(包括MD (Mini-Disc))或半導(dǎo)體存儲器。記錄介質(zhì)可被配置為ROM 702,其中,存儲以預(yù)先并入裝置的狀態(tài)分發(fā)給用戶的程序,或者,記錄介質(zhì)可被配置為在存儲單元713中包括的硬盤。此外,計算機執(zhí)行的程序可不僅包括根據(jù)這里描述的過程以時間順序執(zhí)行的處理,還可包括諸如在執(zhí)行調(diào)用或例程時并行或在必要適當(dāng)?shù)臅r刻執(zhí)行的處理。此外,在本說明書中,描述存儲在記錄介質(zhì)中的程序的步驟不僅包括根據(jù)這里描述的過程以時間順序執(zhí)行的處理,還可包括并行或分別執(zhí)行的處理而不是必須以時間次序執(zhí)行的處理。并且,在本說明書中,該系統(tǒng)可為被配置為包括多個設(shè)備(裝置)的整體集合。 應(yīng)理解,這里描述的包括單個裝置(或處理單元)的配置可被配置為包括多個裝置(或處理單元)。相反,這里描述的包括多個裝置(或處理單元)的配置可被配置為包括單個裝置(或處理單元)。并且,可將上述之外的配置添加到每個裝置(或處理單元)的配置。此夕卜,任一裝置(或處理單元)的配置的一部分可被包括在其它裝置(或處理單元)的配置中,只要整個系統(tǒng)的配置或操作基本彼此相同即可。本公開的示例實施例不應(yīng)被解釋為限于這里描述的本公開的實施例。應(yīng)理解,可在其中做出各種改變、替換和變更,而不會背離本公開的范圍。另外,還可如下配置本技術(shù)。(I) 一種圖像傳感器,包括由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。( 2)根據(jù)(I)的圖像傳感器,其中,所述檢測像素還包括遮光膜,其被配置為遮蔽從外部入射到所述檢測像素的入射光。(3)根據(jù)(2)的圖像傳感器,其中,由布線層形成所述遮光膜。(4)根據(jù)(3)的圖像傳感器,其中,由多個布線層形成所述遮光膜。( 5 )根據(jù)(4)的圖像傳感器,其中,每個所述布線層在其上的彼此不同的位置形成間隙。(6)根據(jù)(4)或(5)的圖像傳感器,其中,取決于入射光的入射角來布置每個所述布線層。(7)根據(jù)(2)至(6)中的任一個的圖像傳感器,其中,由被置于所述光電轉(zhuǎn)換器件上的金屬來形成所述遮光膜。(8)根據(jù)(I)至(7)中的任一個的圖像傳感器,其中,所述圖像傳感器包括多個所述檢測像素。(9)根據(jù)(8)的圖像傳感器,還包括濾光器,其被配置為透射預(yù)定波長的入射光;其中,使用通過由所述檢測像素檢測來自相鄰像素的入射光所得到的結(jié)果,來校正被提供有配置為與所述檢測像素上提供的濾光器透射具有相同波長的入射光的濾光器的常規(guī)像素的像素值。
      (10)根據(jù)(8)或(9)的圖像傳感器,其中,在彼此不連續(xù)的位置中提供所述檢測像素。(11) 一種成像裝置,包括圖像傳感器,其包括由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光,以及·
      減法單元,其被配置為通過使用所述圖像傳感器的所述檢測像素檢測到的光的光量,從所述常規(guī)像素的像素值中減去從所述常規(guī)像素的相鄰像素入射的光的光量。(12)根據(jù)(11)的成像裝置,其中,所述減法單元包括選擇單元,其被配置為選擇要被用于減去所述光量的檢測像素;光量計算單元,其被配置為使用由所述選擇單元選擇的檢測像素的像素值,計算在要處理的常規(guī)像素的像素值中包括的光量;以及光量減法單元,其被配置為從要處理的常規(guī)像素的像素值中減去由所述光量計算單元計算的光量。(13)根據(jù)(12)的成像裝置,其中,所述選擇單元選擇多個檢測像素,并且,其中,所述光量計算單元通過取決于由所述選擇單元選擇的多個檢測像素以及要處理的常規(guī)像素之間的位置關(guān)系、對所述多個檢測像素的每個像素值加權(quán),來計算所述光量。(14)根據(jù)(12)或(13)的成像裝置,其中,當(dāng)由所述選擇單元選擇的檢測像素的相鄰像素的像素值飽和時,所述光量計算單元將用來計算所述光量的檢測像素改變?yōu)榱硪粰z測像素或禁止使用該檢測像素。(15)根據(jù)(12)至(14)中的任一個的成像裝置,其中,當(dāng)由所述選擇單元選擇的檢測像素是缺陷像素時,所述光量計算單元將用來計算所述光量的檢測像素改變?yōu)榱硪粰z測像素或禁止使用該檢測像素。(16)根據(jù)(12)至(15)中的任一個的成像裝置,其中,當(dāng)要處理的常規(guī)像素與檢測像素相鄰時,所述光量計算單元還校正所計算的光量,以減小光量。(17)根據(jù)(11)至(16)中的任一個的成像裝置,其中,所述減法單元從常規(guī)像素的像素值減去黑電平以及所述光量。(18 )根據(jù)(11)至(17 )中的任一個的成像裝置,其中,所述減法單元包括選擇單元,其被配置為選擇要被用于減去光量的檢測像素;比率計算單元,其被配置為使用由所述選擇單元選擇的檢測像素的像素值,計算在要處理的常規(guī)像素的像素值中包括的所述光量的比率;以及乘法單元,其被配置為將要處理的常規(guī)像素的像素值乘以從外部輸入到要處理的常規(guī)像素的入射光的比率,所述入射光的比率對應(yīng)于由所述比率計算單元計算的所述光量的比率。(19)根據(jù)(11)至(18)中的任一個的成像裝置,其中,所述圖像傳感器的常規(guī)像素和檢測像素具有縱向分光結(jié)構(gòu)。(20)—種成像裝置的成像方法,所述成像裝置具有圖像傳感器,所述圖像傳感器包括由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光,所述成像方法包括在減法單元中通過使用所述圖像傳感器的所述檢測像素檢測到的光的光量,從所述常規(guī)像素的像素值中減去從所述常規(guī)像素的相鄰像素入射的光的光量。 本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解,可取決于設(shè)計需要和其他因素出現(xiàn)各種修改、組合、子組合和變化,只要它們在所附權(quán)利要求及其等價物的范圍內(nèi)即可。本公開包含與2011年8月2日提交至日本專利局的日本在先專利申請JP2011-168946中公開的主題相關(guān)的主題,這里通過引用將其全部內(nèi)容包含于此。
      權(quán)利要求
      1.一種圖像傳感器,包括 由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及 檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I的圖像傳感器,其中,所述檢測像素還包括遮光膜,其被配置為遮蔽從外部入射到所述檢測像素的入射光。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2的圖像傳感器,其中,由布線層形成所述遮光膜。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3的圖像傳感器,其中,由多個布線層形成所述遮光膜。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4的圖像傳感器,其中,每個所述布線層在其上的彼此不同的位置形成間隙。
      6.根據(jù)權(quán)利要求4的圖像傳感器,其中,取決于入射光的入射角來布置每個所述布線層。
      7.根據(jù)權(quán)利要求2的圖像傳感器,其中,由被置于所述光電轉(zhuǎn)換器件上的金屬來形成所述遮光膜。
      8.根據(jù)權(quán)利要求I的圖像傳感器,其中,所述圖像傳感器包括多個所述檢測像素。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8的圖像傳感器,還包括 濾光器,其被配置為透射預(yù)定波長的入射光; 其中,使用通過由所述檢測像素檢測來自相鄰像素的入射光所得到的結(jié)果,來校正被提供有配置為與所述檢測像素上提供的濾光器透射具有相同波長的入射光的濾光器的常規(guī)像素的像素值。
      10.根據(jù)權(quán)利要求8的圖像傳感器,其中,在彼此不連續(xù)的位置中提供所述檢測像素。
      11.一種成像裝置,包括 圖像傳感器,其包括 由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及 檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過 所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光,以及 減法單元,其被配置為通過使用所述圖像傳感器的所述檢測像素檢測到的光的光量,從所述常規(guī)像素的像素值中減去從所述常規(guī)像素的相鄰像素入射的光的光量。
      12.根據(jù)權(quán)利要求11的成像裝置,其中,所述減法單元包括 選擇單元,其被配置為選擇要被用于減去光量的檢測像素; 光量計算單元,其被配置為使用由所述選擇單元選擇的檢測像素的像素值,計算在要處理的常規(guī)像素的像素值中包括的光量;以及 光量減法單元,其被配置為從要處理的常規(guī)像素的像素值中減去由所述光量計算單元計算的光量。
      13.根據(jù)權(quán)利要求12的成像裝置, 其中,所述選擇單元選擇多個檢測像素,并且, 其中,所述光量計算單元通過取決于由所述選擇單元選擇的多個檢測像素與要處理的常規(guī)像素之間的位置關(guān)系,對所述多個檢測像素的每個像素值加權(quán),來計算所述光量。
      14.根據(jù)權(quán)利要求12的成像裝置,其中,當(dāng)由所述選擇單元選擇的檢測像素的相鄰像素的像素值飽和時,所述光量計算單元將用來計算所述光量的檢測像素改變?yōu)榱硪粰z測像素或禁止使用該檢測像素。
      15.根據(jù)權(quán)利要求12的成像裝置,其中,當(dāng)由所述選擇單元選擇的檢測像素是缺陷像素時,所述光量計算單元將用來計算所述光量的檢測像素改變?yōu)榱硪粰z測像素或禁止使用該檢測像素。
      16.根據(jù)權(quán)利要求12的成像裝置,其中,當(dāng)要處理的常規(guī)像素與檢測像素相鄰時,所述光量計算單元還校正所計算的光量,以減小光量。
      17.根據(jù)權(quán)利要求11的成像裝置,其中,所述減法單元從所述常規(guī)像素的像素值減去黑電平以及所述光量。
      18.根據(jù)權(quán)利要求11的成像裝置,其中,所述減法單元包括 選擇單元,其被配置為選擇要被用于減去所述光量的檢測像素; 比率計算單元,其被配置為使用由所述選擇單元選擇的檢測像素的像素值,計算在要處理的常規(guī)像素的像素值中包括的光量的比率;以及 乘法單元,其被配置為將要處理的常規(guī)像素的像素值乘以從外部輸入到要處理的常規(guī)像素的入射光的比率,所述入射光的比率對應(yīng)于由所述比率計算單元計算的光量的比率。
      19.根據(jù)權(quán)利要求11的成像裝置,其中,所述圖像傳感器的常規(guī)像素和檢測像素具有縱向分光結(jié)構(gòu)。
      20.一種成像裝置的成像方法,所述成像裝置具有圖像傳感器,所述圖像傳感器包括 由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及 檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光, 所述成像方法包括 在減法單元中通過使用所述圖像傳感器的所述檢測像素檢測到的光的光量,從所述常規(guī)像素的像素值中減去從所述常規(guī)像素的相鄰像素入射的光的光量。
      全文摘要
      本公開提供了一種圖像傳感器,包括由多個常規(guī)像素構(gòu)成的常規(guī)像素組,每個所述常規(guī)像素具有用于對入射光進行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規(guī)像素組的有效像素區(qū)域內(nèi),通過所述光電轉(zhuǎn)換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。
      文檔編號H04N5/357GK102917181SQ20121026166
      公開日2013年2月6日 申請日期2012年7月26日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月2日
      發(fā)明者中田征志 申請人:索尼公司
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