專利名稱：一種手機(jī)射頻測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本申請(qǐng)涉及手機(jī)射頻測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種手機(jī)射頻測(cè)試治具。
背景技術(shù)：
射頻就是射頻電流，它是一種高頻交流變化電磁波的簡(jiǎn)稱。每秒變化小于1000次的交流電稱為低頻電流，大于10000次的稱為高頻電流，而射頻就是這樣一種高頻電流。CDMA2000是其中一種3G移動(dòng)通信標(biāo)準(zhǔn)，其相關(guān)產(chǎn)品進(jìn)入各國(guó)市場(chǎng)均需要進(jìn)行強(qiáng)制測(cè)試。在手機(jī)的射頻測(cè)試中常常要用到射頻測(cè)試治具?，F(xiàn)有手機(jī)射頻測(cè)試治具中的導(dǎo)向
裝置，是連接上測(cè)試架與底板的雙桿氣缸。造成手機(jī)射頻測(cè)試治具的導(dǎo)向裝置的整體剛性較差，導(dǎo)向精度差。因此在測(cè)試的時(shí)候，上測(cè)試架沿著雙桿氣缸向下運(yùn)動(dòng)時(shí)，上測(cè)試架與底板連接雙桿氣缸的一端平行閉合后，上測(cè)試架與底板的另一端會(huì)受壓翹起，造成上測(cè)試架與底板平行度誤差大，導(dǎo)致測(cè)試探針接觸不穩(wěn)定，影響測(cè)試效果。并且由于雙桿氣缸的剛性不好，形變較大，導(dǎo)致機(jī)架整體的穩(wěn)定性差，影響了使用壽命，使用壽命不到15萬(wàn)次。因而本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的問(wèn)題是提供一種手機(jī)射頻測(cè)試治具，提高手機(jī)射頻測(cè)試治具導(dǎo)向裝置的整體剛性和導(dǎo)向精度；并且提高治具的整體穩(wěn)定性，增加手機(jī)射頻測(cè)試治具的機(jī)架的使用壽命。

實(shí)用新型內(nèi)容本申請(qǐng)所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種手機(jī)射頻測(cè)試治具，提高手機(jī)射頻測(cè)試治具導(dǎo)向裝置的整體剛性和導(dǎo)向精度；并且提高治具的整體穩(wěn)定性，增加手機(jī)射頻測(cè)試治具的機(jī)架的使用壽命。為了解決上述問(wèn)題，本申請(qǐng)公開(kāi)了一種手機(jī)射頻測(cè)試治具，所述手機(jī)射頻測(cè)試治具固定在電磁屏蔽箱內(nèi)，可以包括上測(cè)試架通過(guò)鋼珠導(dǎo)柱組件及氣缸組件連接到底板上；所述底板固定在射頻測(cè)試電磁屏蔽箱內(nèi)；所述手機(jī)射頻測(cè)試治具在工作過(guò)程中通過(guò)氣缸組件推動(dòng)上測(cè)試架，上測(cè)試架通過(guò)鋼珠導(dǎo)柱組件的導(dǎo)向，平行于底板做上下往返運(yùn)動(dòng)。優(yōu)選的是，所述上測(cè)試架與鋼珠導(dǎo)柱組件之間可以通過(guò)兩個(gè)通孔與鋼珠導(dǎo)柱組件導(dǎo)套部分配合連接。優(yōu)選的是，所述鋼珠導(dǎo)柱組件為高剛性模架結(jié)構(gòu)，可以包括兩根導(dǎo)柱和兩個(gè)導(dǎo)套，所述導(dǎo)柱中有保持架，所述導(dǎo)套中有鋼珠；所述導(dǎo)套外直徑大于所述通孔直徑，所述導(dǎo)套固定在通孔中；所述導(dǎo)柱一端穿入導(dǎo)套，另一端固定在底板與鋼珠導(dǎo)柱組件連接端。優(yōu)選的是，所述氣缸組件可以包括一個(gè)氣缸桿、一個(gè)氣缸體和氣控閥；所述氣缸桿一端固定在所述上測(cè)試架上；[0018]所述氣控閥連接在氣缸體上；所述氣缸體固定在底板上。優(yōu)選的是，所述氣缸組件在原始狀態(tài)下，所述氣缸桿伸出氣缸，支撐所述上測(cè)試架
停止在最高位置。優(yōu)選的是，所述通過(guò)氣控閥可以控制所述氣缸組件工作，驅(qū)動(dòng)所述氣缸桿伸出氣缸推動(dòng)所述上測(cè)試架平行于底板向上運(yùn)動(dòng)；或驅(qū)動(dòng)所述氣缸桿縮進(jìn)氣缸拉動(dòng)所述上測(cè)試架平行于底板向下運(yùn)動(dòng)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請(qǐng)具有以下優(yōu)點(diǎn)本申請(qǐng)?zhí)峁┑氖謾C(jī)射頻測(cè)試治具，采用鋼珠導(dǎo)柱組件作為上測(cè)試架和底板的連接組件，鋼珠導(dǎo)柱組件為高剛性模具結(jié)構(gòu)，更具剛性和導(dǎo)向精度。氣缸組件驅(qū)動(dòng)上測(cè)試架平行 于底板做上下往返運(yùn)動(dòng)，使上測(cè)試架和底板的貼合更嚴(yán)密。并且，鋼珠導(dǎo)柱組件作為連接件和提供動(dòng)力，使機(jī)架整體更為穩(wěn)定性，增加手機(jī)射頻測(cè)試治具的使用壽命，壽命可以達(dá)到30萬(wàn)次。

圖I是本申請(qǐng)的手機(jī)射頻測(cè)試機(jī)架正面的示意圖；圖2是本申請(qǐng)的手機(jī)射頻測(cè)試機(jī)架背面的示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本申請(qǐng)的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。本申請(qǐng)實(shí)施例的核心構(gòu)思之一在于，采用鋼珠導(dǎo)柱組件作為上測(cè)試架和底板的連接組件，鋼珠導(dǎo)柱組件為高剛性模具結(jié)構(gòu)，更具剛性和導(dǎo)向精度。氣缸組件驅(qū)動(dòng)上測(cè)試架平行于底板做上下往返運(yùn)動(dòng)，使上測(cè)試架和底板的貼合更嚴(yán)密。并且，鋼珠導(dǎo)柱組件作為連接件和提供動(dòng)力，使機(jī)架整體更為穩(wěn)定性，增加手機(jī)射頻測(cè)試治具的使用壽命，壽命可以達(dá)到30萬(wàn)次。參照?qǐng)DI所示的本申請(qǐng)的手機(jī)射頻測(cè)試治具的機(jī)架正面的示意圖、圖2所示的本申請(qǐng)的手機(jī)射頻測(cè)試治具的機(jī)架背面的示意圖，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述手機(jī)射頻測(cè)試治具的機(jī)架，具體可以包括上測(cè)試架101通過(guò)鋼珠導(dǎo)柱組件102及氣缸組件103連接到底板104上。在本申請(qǐng)的一種優(yōu)選實(shí)施例中，所述上測(cè)試架101與鋼珠導(dǎo)柱組件102之間通過(guò)兩個(gè)通孔11與鋼珠導(dǎo)柱組件導(dǎo)套12部分配合連接。在本申請(qǐng)的一種優(yōu)選實(shí)施例中，所述鋼珠導(dǎo)柱組件102具體可以包括兩根導(dǎo)柱13和兩個(gè)導(dǎo)套12，所述導(dǎo)柱13中有保持架，所述導(dǎo)套12中有鋼珠。所述導(dǎo)套12外直徑大于所述通孔11直徑，所述導(dǎo)套12可以采用過(guò)盈配合，或間隙用膠水粘合等方法固定在通孔11中；所述導(dǎo)柱13 —端穿入導(dǎo)套11，另一端可以固定在底板104與鋼珠導(dǎo)柱組件102連接端；在具體實(shí)現(xiàn)中，導(dǎo)套12采用過(guò)盈配合與通孔11連接，即通過(guò)壓力將略粗于通孔11的導(dǎo)套12壓入通孔12中，使得導(dǎo)套12穩(wěn)固的卡在通孔11之中。導(dǎo)套12內(nèi)壁可以使用潤(rùn)滑材料，保證與導(dǎo)柱13之間的滑動(dòng)順暢。在本申請(qǐng)的一種優(yōu)選實(shí)施例中，所述氣缸組件103具體可以包括一個(gè)氣缸桿14、一個(gè)氣缸體15和氣控閥16。氣缸桿14 一端可以固定在所述上測(cè)試架101與鋼珠導(dǎo)柱組件102連接端的兩個(gè)通孔11之間，另一端可以固定在所述底板103與鋼珠導(dǎo)柱組件102連接端。所述氣控閥16連接在氣缸體15上；所述氣缸體15可以固定在底板104上。所述底板104固定在射頻測(cè)試電磁屏蔽箱105內(nèi)。在具體實(shí)現(xiàn)中，氣缸體15和氣缸桿14可以用螺釘固定在上測(cè)試架101和底板104 上。底板104可以用螺釘固定在射頻測(cè)試電磁屏蔽箱105內(nèi)壁。上述連接也可以包括任意能達(dá)到同樣效果的固定方法。為了讓本領(lǐng)域技術(shù)人員更好的理解本申請(qǐng)的內(nèi)容，下面結(jié)合手機(jī)射頻測(cè)試治具先壓合再開(kāi)啟的連貫動(dòng)作加以說(shuō)明I、所述手機(jī)射頻測(cè)試治具壓合前，氣缸組件103處于原始狀態(tài)，所述氣缸桿14伸出氣缸15，支撐所述上測(cè)試架101停止在最高位置。2、通過(guò)氣控閥16控制氣缸桿14縮進(jìn)氣缸15，氣缸桿14向下縮進(jìn)氣缸15的過(guò)程中，氣缸桿14拉動(dòng)上測(cè)試架101，上測(cè)試架通過(guò)通孔11和導(dǎo)套12順著導(dǎo)柱13平行于底板104向下運(yùn)動(dòng)。3、當(dāng)上測(cè)試架101壓合在底板104的頂面時(shí)，手機(jī)射頻測(cè)試機(jī)架壓合過(guò)程結(jié)束，此時(shí)上測(cè)試架101與底板104的平行度在O. 02mm范圍內(nèi)。4、通過(guò)氣控閥16控制氣缸桿14伸出氣缸15，氣缸桿14向上伸出氣缸15的過(guò)程中，氣缸桿14推動(dòng)上測(cè)試架101，上測(cè)試架通過(guò)通孔11和導(dǎo)套12順著導(dǎo)柱13平行于底板104向上運(yùn)動(dòng),直至運(yùn)動(dòng)到最高位。需要說(shuō)明的是，對(duì)于本申請(qǐng)實(shí)施例，為了簡(jiǎn)單描述，故將其都表述為一系列的部件組合，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知悉，本申請(qǐng)的裝置并不受所描述的材料和部件的限制，因?yàn)橐罁?jù)本申請(qǐng)，某些材料和部件可以采用其他材料和部件代替。例如鋼珠導(dǎo)柱組件可以用普通導(dǎo)柱導(dǎo)套、直線滑軌直線軸承等代替。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員也應(yīng)該知悉，說(shuō)明書中所描述的實(shí)施例均屬于優(yōu)選實(shí)施例，所涉及的動(dòng)作并不一定是本申請(qǐng)所必須的。在具體實(shí)現(xiàn)中，所述裝置實(shí)施例可以設(shè)置單獨(dú)運(yùn)用，或根據(jù)實(shí)際情況設(shè)置多個(gè)配套使用，本申請(qǐng)也可用于眾多通用或?qū)Ｓ玫纳漕l測(cè)試治具中本申請(qǐng)對(duì)此不作限制。以上對(duì)本申請(qǐng)所提供的一種手機(jī)射頻測(cè)試治具進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本申請(qǐng)的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本申請(qǐng)的方法及其核心思想；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本申請(qǐng)的思想，在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說(shuō)明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本申請(qǐng)的限制。
權(quán)利要求1.一種手機(jī)射頻測(cè)試治具，其特征在于，所述手機(jī)射頻測(cè)試治具固定在電磁屏蔽箱內(nèi)，包括 上測(cè)試架通過(guò)鋼珠導(dǎo)柱組件及氣缸組件連接到底板上； 所述底板固定在射頻測(cè)試電磁屏蔽箱內(nèi)； 所述手機(jī)射頻測(cè)試治具在工作過(guò)程中通過(guò)氣缸組件推動(dòng)上測(cè)試架，上測(cè)試架通過(guò)鋼珠導(dǎo)柱組件的導(dǎo)向，平行于底板做上下往返運(yùn)動(dòng)。
2.如權(quán)利要求1所述的手機(jī)射頻測(cè)試機(jī)架，其特征在于，所述上測(cè)試架與鋼珠導(dǎo)柱組件之間通過(guò)兩個(gè)通孔與鋼珠導(dǎo)柱組件導(dǎo)套部分配合連接。
3.如權(quán)利要求2所述的手機(jī)射頻測(cè)試機(jī)架，其特征在于，所述鋼珠導(dǎo)柱組件為高剛性模架結(jié)構(gòu)，包括 兩根導(dǎo)柱和兩個(gè)導(dǎo)套，所述導(dǎo)柱中有保持架，所述導(dǎo)套中有鋼珠； 所述導(dǎo)套外直徑大于所述通孔直徑，所述導(dǎo)套固定在通孔中； 所述導(dǎo)柱一端穿入導(dǎo)套，另一端固定在底板與鋼珠導(dǎo)柱組件連接端。
4.如權(quán)利要求3所述的手機(jī)射頻測(cè)試機(jī)架，其特征在于，所述氣缸組件包括 一個(gè)氣缸桿、一個(gè)氣缸體和氣控閥； 所述氣缸桿一端固定在所述上測(cè)試架上； 所述氣控閥連接在氣缸體上； 所述氣缸體固定在底板上。
5.如權(quán)利要求4所述的手機(jī)射頻測(cè)試治具，其特征在于，所述氣缸組件在原始狀態(tài)下，所述氣缸桿伸出氣缸，支撐所述上測(cè)試架停止在最高位置。
6.如權(quán)利要求5所述的手機(jī)射頻測(cè)試治具，其特征在于，所述通過(guò)氣控閥控制所述氣缸組件工作，驅(qū)動(dòng)所述氣缸桿伸出氣缸推動(dòng)所述上測(cè)試架平行于底板向上運(yùn)動(dòng)；或驅(qū)動(dòng)所述氣缸桿縮進(jìn)氣缸拉動(dòng)所述上測(cè)試架平行于底板向下運(yùn)動(dòng)。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種手機(jī)射頻測(cè)試治具，所述手機(jī)射頻測(cè)試治具固定在電磁屏蔽箱內(nèi)，包括上測(cè)試架通過(guò)鋼珠導(dǎo)柱組件及氣缸組件連接到底板上；所述底板固定在射頻測(cè)試電磁屏蔽箱內(nèi)；所述手機(jī)射頻測(cè)試治具在工作過(guò)程中通過(guò)氣缸組件推動(dòng)上測(cè)試架，上測(cè)試架通過(guò)鋼珠導(dǎo)柱組件的導(dǎo)向，平行于底板做上下往返運(yùn)動(dòng)。本實(shí)用新型能夠提高手機(jī)射頻測(cè)試治具導(dǎo)向裝置的整體剛性和導(dǎo)向精度；并且提高治具的整體穩(wěn)定性，增加手機(jī)射頻測(cè)試治具的機(jī)架的使用壽命。
文檔編號(hào)H04M1/24GK202652322SQ20122019278
公開(kāi)日2013年1月2日 申請(qǐng)日期2012年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月28日
發(fā)明者劉敬華 申請(qǐng)人:趙躍慶