一種超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)，包括用于測試的發(fā)射機，該測試系統(tǒng)包括依次連接的控制面板、控制處理板、測試板和信號轉接盒，所述信號轉接盒和所述發(fā)射機相連接，以及還包括用于產(chǎn)生所述發(fā)射機混頻頻率的本振頻率源，所述本振頻率源分別與所述控制處理板和所述發(fā)射機相連接，其中，所述控制處理板還與所述信號轉接盒相連接。本實用新型該測試平臺能夠向發(fā)射機提供本振頻率源、產(chǎn)生控制信號、實現(xiàn)信號轉接、提供測試接口等功能。該測試平臺增強了發(fā)射機對鏡像頻率和雜波的抑制能力、提高了輸入動態(tài)范圍和整機靈敏度，滿足了無線通信系統(tǒng)通信距離、數(shù)據(jù)傳輸誤碼率和語音通訊可懂度性能指標要求。
【專利說明】
【技術領域】
[0001] 本實用新型涉及通信設備【技術領域】，尤其涉及一種超短波通信設備通用發(fā)射機測 試系統(tǒng)。 一種超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)

【背景技術】
[0002] 在無線通信領域，通信設備越來越復雜，高科技含量越來越多，功能越來越強大， 因此對無線通信設備的發(fā)射機提出了更高的要求，要求發(fā)射機鏡像頻率和雜波抑制能力 強，輸入動態(tài)范圍和整機靈敏度高，因此，我們必須對發(fā)射機高精度的技術指標及龐大信息 流提供測試平臺。 實用新型內容
[0003] 本實用新型主要是解決現(xiàn)有技術中所存在的技術問題，從而提供一種超短波通信 設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)。
[0004] 本實用新型的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的：
[0005] 本實用新型的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)，包括用于測試的發(fā)射機，該 測試系統(tǒng)包括依次連接的控制面板、控制處理板、測試板和信號轉接盒，所述信號轉接盒和 所述發(fā)射機相連接，以及還包括用于產(chǎn)生所述發(fā)射機混頻頻率的本振頻率源，所述本振頻 率源分別與所述控制處理板和所述發(fā)射機相連接，其中，所述控制處理板還與所述信號轉 接盒相連接。
[0006] 進一步地，所述本振頻率源包括第一本振頻率和第二本振頻率，所述第一、第二 本振頻率均包括依次連接的鑒相頻率源、鎖相環(huán)鑒相器、壓控振蕩器、分頻電路、DDS處理 器和時鐘源，其中，所述時鐘源與所述鑒相頻率源相連接，以及還包括與所述DDS處理器 相連接的控制電路，所述控制電路和所述鑒相頻率源與所述控制處理板相連接，且所述第 一本振頻率產(chǎn)生的本振頻率范圍為960?1018MHz，所述第二本振頻率產(chǎn)生的本振頻率為 909.84MHz〇
[0007] 進一步地，所述本振頻率源還包括有源比例積分濾波器和低通濾波器，所述有源 比例積分濾波器分別與所述鎖相環(huán)鑒相器、壓控振蕩器相連接，所述低通濾波器分別與所 述DDS處理器和時鐘源相連接。
[0008] 進一步地，所述時鐘源為溫補晶體振蕩器。
[0009] 進一步地，所述鎖相環(huán)鑒相器采用PFD結構，且其輸入標稱頻率為12. 288MHz。
[0010] 本實用新型的有益效果在于：該測試平臺能夠向發(fā)射機提供本振頻率源、產(chǎn)生控 制信號、實現(xiàn)信號轉接、提供測試接口等功能。該測試平臺增強了發(fā)射機對鏡像頻率和雜波 的抑制能力、提高了輸入動態(tài)范圍和整機靈敏度，滿足了無線通信系統(tǒng)通信距離、數(shù)據(jù)傳輸 誤碼率和語音通訊可懂度性能指標要求。

【專利附圖】

【附圖說明】 toon] 為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例 或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅 是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提 下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0012] 圖1是本實用新型的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)的框架圖；
[0013] 圖2是本實用新型的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)的本振頻率源的框架 圖。

【具體實施方式】
[0014] 下面結合附圖對本實用新型的優(yōu)選實施例進行詳細闡述，以使本實用新型的優(yōu)點 和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本實用新型的保護范圍做出更為清楚明確 的界定。
[0015] 參閱圖1-2所示，本實用新型的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)，包括用于 測試的發(fā)射機1，該測試系統(tǒng)包括依次連接的控制面板2、控制處理板3、測試板4和信號轉 接盒5,信號轉接盒5和發(fā)射機1相連接，以及還包括用于產(chǎn)生發(fā)射機1混頻頻率的本振頻 率源6,本振頻率源6分別與控制處理板3和發(fā)射機1相連接，其中，控制處理板3還與信號 轉接盒5相連接。
[0016] 具體的，本振頻率源6包括第一本振頻率和第二本振頻率，第一本振頻率和第二 本振頻率采用DDS+PLL(直接數(shù)字合成+鎖相環(huán)）技術產(chǎn)生。第一、第二本振頻率均包括依 次連接的鑒相頻率源7、鎖相環(huán)鑒相器8、壓控振蕩器10、分頻電路11、DDS處理器12和時 鐘源14,其中，時鐘源14為溫補晶體振蕩器且與鑒相頻率源7相連接，鎖相環(huán)鑒相器8輸入 標稱頻率優(yōu)選為12. 288MHz。以及本振頻率源6還包括與DDS處理器12相連接的控制電路 15,控制電路15和鑒相頻率源7與控制處理板3相連接，且第一本振頻率產(chǎn)生的本振頻率 范圍優(yōu)選為960?1018MHz，第二本振頻率產(chǎn)生的本振頻率優(yōu)選為909. 84MHz。其中，本振 頻率源6還包括有源比例積分濾波器9和低通濾波器13,有源比例積分濾波器9分別與鎖 相環(huán)鑒相器8、壓控振蕩器10相連接，低通濾波器13分別與DDS處理器12和時鐘源14相 連接。
[0017] 本實用新型中，第一本振頻率的DDS處理器12收到來自控制處理板3的32位頻 率控制字后，經(jīng)過鎖相環(huán)路產(chǎn)生頻率范圍為（960?1018)MHz的本振頻率。改變控制面板2 頻率控制數(shù)據(jù)，可改變本振頻率源6產(chǎn)生的頻率。DDS處理器12的控制來源控制處理板3 的FPGA，接口方式采用SPI接口，32位控制數(shù)據(jù)，傳輸速率達到兆赫茲級，頻率分辨率和頻 率切換速率高。鎖相環(huán)鑒相器8采用PFD結構，具有較大的頻率鎖定范圍。由于采用組合 式環(huán)路，輸出頻率相位噪聲、遠近端雜散、頻率切換時間等參數(shù)均滿足系統(tǒng)高速跳頻時對頻 率的要求。第二本振頻率的組成與第一本振頻率相同，其DDS處理器12頻率控制字在控制 箱上電正常工作后產(chǎn)生，產(chǎn)生頻率固定，不可調節(jié)。
[0018] 本實用新型的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)的測試方法，包括如下步驟：
[0019] S10、在控制面板2上設置發(fā)射機1內數(shù)控電調濾波器接收頻點；
[0020] S20、在控制面板2上設置本振頻率源6的頻率；
[0021] S30、控制處理板3接收控制面板2的頻率控制信息，并轉化為發(fā)射機1的控制信 息，且傳輸至測試板4;
[0022] S40、用標準測試儀器儀表檢測本振頻率源6的頻率和測試板4上頻率控制信息是 否正確，若是則執(zhí)行步驟S50,反之，則返回步驟S10、步驟S20 ;
[0023] S50、用標準測試儀器儀表測試發(fā)射機1的性能指標。
[0024] 本實用新型中，標準測試儀器儀表包括矢量信號發(fā)生器，以及用于檢測發(fā)射機性 能的頻譜分析儀、數(shù)字萬用表、四通道示波器、矢量信號分析儀、功率計、矢量網(wǎng)絡分析儀 等，其中矢量信號發(fā)生器用于向發(fā)射機1注入頻率范圍為（fO)MHz的射頻信號。本振頻 率源6包括第一本振頻率和第二本振頻率，第一本振頻率產(chǎn)生的本振頻率范圍為960? 1018MHz，第二本振頻率產(chǎn)生的本振頻率為909. 84MHz，第一、第二本振頻率的頻率步進不大 于ΙΟΚΗζ，幅度+7dBm，相位噪聲不大于一 90dBc/Hz@lKHz，雜散電平不大于一 60dBc，頻率切 換時間不大于70 μ s。
[0025] 本實用新型中，首先在控制面板2上設置數(shù)控電調濾波器接收頻點（fO)MHz的控 制數(shù)據(jù)，在控制面板2鍵盤鍵入相應的頻率數(shù)字，顯示屏顯示鍵盤鍵入的數(shù)字，數(shù)控電調濾 波器接收頻點設置完畢；然后在控制面板2上設置本振頻率源6,其中主要設置為本振頻率 源6的第一本振頻率（f0+930)MHz的控制數(shù)據(jù)，第二本振頻率為定值，不可調節(jié)。在控制面 板2鍵盤鍵入相應的頻率數(shù)字，顯示屏顯示鍵盤鍵入的數(shù)字，本振頻率源頻率設置完畢。控 制處理板3接收到控制面板2輸入的控制信息后，轉換成發(fā)射機1的控制信息，經(jīng)電纜傳輸 至測試板4,用標準測試儀器測試對應頻率源頻率和輸出控制信息是否準確，確認頻率源工 作正常和控制信息無誤后，即可打開矢量信號發(fā)生器向發(fā)射機注入頻率范圍為（f〇)MHz的 射頻信號，最后用標準測試儀器儀表測試發(fā)射機性能指標，其中f〇優(yōu)選為20. 16MHz。
[0026] 以上，僅為本實用新型的【具體實施方式】，但本實用新型的保護范圍并不局限于此， 任何不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動想到的變化或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內。因此， 本實用新型的保護范圍應該以權利要求書所限定的保護范圍為準。
【權利要求】
1. 一種超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)，包括用于測試的發(fā)射機（1)，其特征在 于：該測試系統(tǒng)包括依次連接的控制面板（2)、控制處理板（3)、測試板（4)和信號轉接盒 (5)，所述信號轉接盒（5)和所述發(fā)射機（1)相連接，以及還包括用于產(chǎn)生所述發(fā)射機（1) 混頻頻率的本振頻率源￠)，所述本振頻率源（6)分別與所述控制處理板（3)和所述發(fā)射機 (1)相連接，其中，所述控制處理板（3)還與所述信號轉接盒（5)相連接。
2. 根據(jù)權利要求1所述的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)，其特征在于：所述本 振頻率源（6)包括第一本振頻率和第二本振頻率，所述第一、第二本振頻率均包括依次連 接的鑒相頻率源（7)、鎖相環(huán)鑒相器（8)、壓控振蕩器（10)、分頻電路（11)、DDS處理器（12) 和時鐘源（14)，其中，所述時鐘源（14)與所述鑒相頻率源（7)相連接，以及還包括與所述 DDS處理器（12)相連接的控制電路（15)，所述控制電路（15)和所述鑒相頻率源（7)與所 述控制處理板（3)相連接，且所述第一本振頻率產(chǎn)生的本振頻率范圍為960?1018MHz，所 述第二本振頻率產(chǎn)生的本振頻率為909. 84MHz。
3. 根據(jù)權利要求2所述的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)，其特征在于：所述本 振頻率源（6)還包括有源比例積分濾波器（9)和低通濾波器（13)，所述有源比例積分濾波 器（9)分別與所述鎖相環(huán)鑒相器（8)、壓控振蕩器（10)相連接，所述低通濾波器（13)分別 與所述DDS處理器（12)和時鐘源（14)相連接。
4. 根據(jù)權利要求2所述的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)，其特征在于：所述時 鐘源（14)為溫補晶體振蕩器。
5. 根據(jù)權利要求4所述的超短波通信設備通用發(fā)射機測試系統(tǒng)，其特征在于：所述鎖 相環(huán)鑒相器（8)采用PFD結構，且其輸入標稱頻率為12. 288MHz。
【文檔編號】H04B17/00GK203896359SQ201420265990
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2014年5月23日 優(yōu)先權日:2014年5月23日
【發(fā)明者】吳佩倫, 余松, 魏旭 申請人:貴州航天天馬機電科技有限公司