一種端帽熔接指向誤差測試工裝的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于端帽與光纖熔接測試領(lǐng)域，尤其涉及一種端帽熔接指向誤差測試工裝。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，用于端帽與光纖熔接之后的指向誤差測試還沒有一個標(biāo)準(zhǔn)的工裝和儀器設(shè)備進行測試，只是通過簡易裝置查看光斑中心位置變化來推算相關(guān)性能，這樣不僅效率無法提高，產(chǎn)品性能也無法量化和保證。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型實施例的目的在于提供一種端帽熔接指向誤差測試工裝，至少可克服現(xiàn)有技術(shù)的部分缺陷。
[0004]本實用新型實施例涉及的一種端帽熔接指向誤差測試工裝，包括:產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝1、端帽吸附夾持工裝2和橫向位置探測器3;
[0005]所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I包括平行于所述橫向位置探測器3的固定部分和垂直于所述橫向位置探測器3的旋轉(zhuǎn)部分；
[0006]所述端帽吸附夾持工裝2設(shè)置于所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I的所述旋轉(zhuǎn)部分上，靠近所述橫向位置探測器3，吸附夾持端帽使端帽和光纖的連接結(jié)構(gòu)垂直于所述橫向位置探測器3。
[0007]作為實施例一涉及的一種端帽熔接指向誤差測試工裝，所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I的固定部分為中間設(shè)置有圓形通孔的板狀，所述旋轉(zhuǎn)部分穿過所述圓形通孔設(shè)置，繞所述通孔的軸向方向360°旋轉(zhuǎn)。
[0008]所述測試工裝還包括底座4;
[0009]所述底座4為長條形，所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I和所述橫向位置探測器3分別垂直設(shè)置在所述底座4上。
[0010]所述測試工裝還包括旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具5，所述旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具5垂直設(shè)置在底座4上；
[0011]所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I設(shè)置在所述旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具5上端通過所述旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具5固定在所述底座4上。
[0012]所述測試工裝還包括探測器固定治具6，所述探測器固定治具6垂直設(shè)置在所述底座4上；
[0013]所述橫向位置探測器3設(shè)置在所述探測器固定治具6上端通過所述探測器固定治具6固定在所述底座4上。
[0014]本實用新型實施例提供的一種端帽熔接指向誤差測試工裝的有益效果包括:
[0015]本實用新型實施例提供的一種端帽熔接指向誤差測試工裝，通過旋轉(zhuǎn)不同角度，測試光斑的位置變化，進而計算指向誤差的偏差，當(dāng)產(chǎn)品在旋轉(zhuǎn)的時候，通過端帽吸附夾持工裝的吸力裝置吸附端帽，保證與底部緊配合，確保端帽和光纖的連接結(jié)構(gòu)與探測器的垂直度，測試其是否滿足產(chǎn)品設(shè)計需求，篩選不合格產(chǎn)品，保證產(chǎn)品符合要求。
[0016]設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單實用，可以對端帽熔接指向誤差指標(biāo)進行篩選，保證了熔接產(chǎn)品的性能一致性，滿足生產(chǎn)質(zhì)量需求，提高成品的質(zhì)量。
【附圖說明】
[0017]為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0018]圖1是本實用新型實施例提供的一種端帽熔接指向誤差測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖中，I為產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝，2為端帽吸附夾持工裝，3為橫向位置探測器，4為底座，5為探測器固定治具，6為旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具。
【具體實施方式】
[0020]為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0021]為了說明本實用新型所述的技術(shù)方案，下面通過具體實施例來進行說明。
[0022]如圖1所示為本實用新型提供的一種端帽熔接指向誤差測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖，由圖1可知，該測試工裝包括:產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝1、端帽吸附夾持工裝2和橫向位置探測器3。
[0023]產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I包括平行于橫向位置探測器3的固定部分和垂直于橫向位置探測器3的旋轉(zhuǎn)部分。
[0024]端帽吸附夾持工裝2設(shè)置于產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I的旋轉(zhuǎn)部分上，靠近橫向位置探測器3，吸附夾持端帽使端帽和光纖的連接結(jié)構(gòu)垂直于橫向位置探測器3。
[0025]進一步的，產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I的固定部分為中間設(shè)置有圓形通孔的板狀，旋轉(zhuǎn)部分穿過該圓形通孔設(shè)置，繞該通孔的軸向方向360°旋轉(zhuǎn)。
[0026]具體測試時，端帽和光纖的連接結(jié)構(gòu)夾持好后，穿過產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝的旋轉(zhuǎn)部分，然后使用頂絲固定緊產(chǎn)品，保證產(chǎn)品與橫向位置探測器的垂直度和同軸度，通過旋轉(zhuǎn)不同角度，測試光斑的位置變化，進而計算指向誤差的偏差，當(dāng)產(chǎn)品在旋轉(zhuǎn)的時候，通過端帽吸附夾持工裝的吸力裝置吸附端帽，保證與底部緊配合，確保端帽和光纖的連接結(jié)構(gòu)與探測器的垂直度，測試其是否滿足產(chǎn)品設(shè)計需求，篩選不合格產(chǎn)品，保證產(chǎn)品符合要求。
[0027]本實用新型實施例提供的一種端帽熔接指向誤差測試工裝，設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單實用，可以對端帽熔接指向誤差指標(biāo)進行篩選，保證了熔接產(chǎn)品的性能一致性，滿足生產(chǎn)質(zhì)量需求，提高成品的質(zhì)量。
[0028]此處所提到的端帽指石英材料產(chǎn)品，以及可與光纖熔融的相關(guān)產(chǎn)品。
[0029]進一步的，本實用新型提供的一種端帽熔接指向誤差測試工裝，還包括底座4、旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具5和探測器固定治具6。
[0030]底座4為長條形，旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具5和探測器固定治具6垂直設(shè)置在底座4上，產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝I設(shè)置在旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具5上端通過該旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具5固定在底座4上，橫向位置探測器3設(shè)置在探測器固定治具6上端通過該探測器固定治具6固定在底座4上。
[0031]本實用新型提供的一種端帽熔接指向誤差測試工裝的實施例中，橫向位置探測器包括探測器、驅(qū)動電源、固定板和上位機。
[0032]當(dāng)光垂直入射到探測器上，上位機軟件可以自動檢測出其(XI，Y1)坐標(biāo)I位置，通過旋轉(zhuǎn)指定角度，得到(Χ2，Υ2)坐標(biāo)2位置以及(Χη，Υη)坐標(biāo)η的位置。進而計算出其指向位置偏差暈弧度(mrad)值。
[0033]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種端帽熔接指向誤差測試工裝，其特征在于，所述測試工裝包括:產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝(I)、端帽吸附夾持工裝(2)和橫向位置探測器(3); 所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝(I)包括平行于所述橫向位置探測器(3)的固定部分和垂直于所述橫向位置探測器(3)的旋轉(zhuǎn)部分； 所述端帽吸附夾持工裝(2)設(shè)置于所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝(I)的所述旋轉(zhuǎn)部分上，靠近所述橫向位置探測器(3)，吸附夾持端帽使端帽和光纖的連接結(jié)構(gòu)垂直于所述橫向位置探測器⑶。2.如權(quán)利要求1所述的測試工裝，其特征在于，所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝(I)的固定部分為中間設(shè)置有圓形通孔的板狀，所述旋轉(zhuǎn)部分穿過所述圓形通孔設(shè)置，繞所述通孔的軸向方向360°旋轉(zhuǎn)。3.如權(quán)利要求1所述的測試工裝，其特征在于，所述測試工裝還包括底座(4); 所述底座(4)為長條形，所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝(I)和所述橫向位置探測器(3)分別垂直設(shè)置在所述底座(4)上。4.如權(quán)利要求3所述的測試工裝，其特征在于，所述測試工裝還包括旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具(5)，所述旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具(5)垂直設(shè)置在底座(4)上； 所述產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝(I)設(shè)置在所述旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具(5)上端通過所述旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤固定治具(5)固定在所述底座(4)上。5.如權(quán)利要求3所述的測試工裝，其特征在于，所述測試工裝還包括探測器固定治具(6)，所述探測器固定治具(6)垂直設(shè)置在所述底座(4)上； 所述橫向位置探測器(3)設(shè)置在所述探測器固定治具(6)上端通過所述探測器固定治具(6)固定在所述底座(4)上。
【專利摘要】本實用新型適用于端帽與光纖熔接測試領(lǐng)域，提供了一種端帽熔接指向誤差測試工裝，包括：產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝、端帽吸附夾持工裝和橫向位置探測器。產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝包括平行于橫向位置探測器的固定部分和垂直于橫向位置探測器的旋轉(zhuǎn)部分。端帽吸附夾持工裝設(shè)置于產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤工裝的旋轉(zhuǎn)部分上，靠近橫向位置探測器，吸附夾持端帽使端帽和光纖的連接結(jié)構(gòu)垂直于橫向位置探測器。設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單實用，可以對端帽熔接指向誤差指標(biāo)進行篩選，保證了熔接產(chǎn)品的性能一致性，滿足生產(chǎn)質(zhì)量需求，提高成品的質(zhì)量的一種檢測平臺。
【IPC分類】G01B11/00
【公開號】CN205300499
【申請?zhí)枴?br>【發(fā)明人】李其軍
【申請人】武漢銳科光纖激光技術(shù)股份有限公司
【公開日】2016年6月8日
【申請日】2015年12月9日