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      三維集成電路芯片的制作方法

      文檔序號:10858118閱讀:1282來源:國知局
      三維集成電路芯片的制作方法
      【專利摘要】本實用新型提供一種三維集成電路芯片。所述三維集成電路芯片包括:系統(tǒng)集成芯片,所述系統(tǒng)集成芯片包括電源網(wǎng)絡;動態(tài)隨機存儲器芯片,所述動態(tài)隨機存儲器芯片包括電容單元;所述系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡的中間區(qū)域與所述動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元連通,所述電容單元作為去耦單元用于濾除所述電源網(wǎng)絡上的電源噪聲。本實用新型的三維集成電路芯片,通過將系統(tǒng)集成芯片的電源網(wǎng)絡中間區(qū)域與動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元連通,利用動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元作為去耦單元,濾除系統(tǒng)集成芯片電源網(wǎng)絡上的電源噪聲,改善系統(tǒng)集成芯片中間區(qū)域的供電效果,提高電源網(wǎng)絡的供電穩(wěn)定性和抗噪聲性能。
      【專利說明】
      三維集成電路芯片
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001]本實用新型涉及集成電路領(lǐng)域,尤其涉及一種三維集成電路芯片。
      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著SOC(系統(tǒng)集成芯片)的規(guī)模越來越大,其電源網(wǎng)絡設(shè)計逐漸成為難點和瓶頸。如何保證SOC芯片中每一個模塊,尤其是位于芯片中間區(qū)域的模塊供電穩(wěn)定,減小PoweK電源)及Gnd(Ground,地)上的噪聲,往往成為決定SOC芯片性能甚至能否正確工作的關(guān)鍵技術(shù)。
      [0003]如圖1所示,在傳統(tǒng)單片SOC芯片110中,外部電源通過位于邊緣區(qū)域的焊盤112進入芯片,并借由芯片內(nèi)部的電源網(wǎng)絡111傳遞到芯片各處。顯然這種供電方式下,芯片邊緣區(qū)域靠近焊盤112的電路能夠獲得較為穩(wěn)定可靠的供電,噪聲較小,而芯片中間區(qū)域的電路供電穩(wěn)定性會較差,噪聲較大,從而影響電路的性能。在傳統(tǒng)SOC設(shè)計中,會在電路各處插入去親單元(decouple cell,一種提供電源與地之間去親合電容的標準單元,圖1中未示出),來降低電源波動和噪聲。然而由于標準CMOS工藝的限制,通常這種去耦單元所能提供的電容值非常有限,因此帶來的供電改善也很小。
      [0004]如圖2所示,新型3DIC(三維集成電路)芯片包括至少一層SOC芯片和至少一層DRAM(動態(tài)隨機存儲器)芯片,在此示出為一層SOC芯片210和一層DRAM芯片220,其中,DRAM芯片220上的供電可以通過位于其中間區(qū)域的硅通孔或微凸塊(未示出)在中間任意位置提供,然而SOC芯片210的供電仍通過位于其邊緣區(qū)域的焊盤212提供,與傳統(tǒng)單片SOC相同,因此SOC芯片210的中間區(qū)域的電路仍然存在供電穩(wěn)定性較差,噪聲較大的問題,從而影響電路的性能。
      【實用新型內(nèi)容】
      [0005]本實用新型的目的在于提供一種三維集成電路芯片,改善系統(tǒng)集成芯片中間區(qū)域的供電效果,提高電源網(wǎng)絡的供電穩(wěn)定性和抗噪聲性能。
      [0006]基于以上考慮,本實用新型提供一種三維集成電路芯片,包括:系統(tǒng)集成芯片,所述系統(tǒng)集成芯片包括電源網(wǎng)絡;動態(tài)隨機存儲器芯片,所述動態(tài)隨機存儲器芯片包括電容單元;所述系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡的中間區(qū)域與所述動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元連通,所述電容單元作為去耦單元用于濾除所述電源網(wǎng)絡上的電源噪聲。
      [0007]優(yōu)選地,所述動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元的電容值為所述系統(tǒng)集成芯片上相同面積電容單元的電容值的100-1000倍。
      [0008]優(yōu)選地,所述系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡與所述動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元通過硅通孔或微凸塊連通。
      [0009]優(yōu)選地,包括多層系統(tǒng)集成芯片和/或多層動態(tài)隨機存儲器芯片,其中一層系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡與其中一層動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元連通。
      [0010]優(yōu)選地,所述系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡通過位于邊緣區(qū)域的焊盤與外部電源連通。
      [0011]本實用新型的三維集成電路芯片,通過將系統(tǒng)集成芯片的電源網(wǎng)絡中間區(qū)域與動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元連通,利用動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元作為去耦單元,濾除系統(tǒng)集成芯片電源網(wǎng)絡上的電源噪聲,改善系統(tǒng)集成芯片中間區(qū)域的供電效果,提高電源網(wǎng)絡的供電穩(wěn)定性和抗噪聲性能。
      【附圖說明】
      [0012]通過參照附圖閱讀以下所作的對非限制性實施例的詳細描述,本實用新型的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯。
      [0013]圖1為現(xiàn)有的單片系統(tǒng)集成芯片的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0014]圖2為現(xiàn)有的三維集成電路芯片的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0015]圖3為本實用新型的三維集成電路芯片的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0016]在圖中,貫穿不同的示圖,相同或類似的附圖標記表示相同或相似的裝置(模塊)或步驟。
      【具體實施方式】
      [0017]為解決上述現(xiàn)有技術(shù)中的問題,本實用新型提供一種三維集成電路芯片,通過將系統(tǒng)集成芯片的電源網(wǎng)絡中間區(qū)域與動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元連通,利用動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元作為去耦單元,濾除系統(tǒng)集成芯片電源網(wǎng)絡上的電源噪聲,改善系統(tǒng)集成芯片中間區(qū)域的供電效果,提高電源網(wǎng)絡的供電穩(wěn)定性和抗噪聲性能。
      [0018]在以下優(yōu)選的實施例的具體描述中,將參考構(gòu)成本實用新型一部分的所附的附圖。所附的附圖通過示例的方式示出了能夠?qū)崿F(xiàn)本實用新型的特定的實施例。示例的實施例并不旨在窮盡根據(jù)本實用新型的所有實施例??梢岳斫?,在不偏離本實用新型的范圍的前提下,可以利用其他實施例,也可以進行結(jié)構(gòu)性或者邏輯性的修改。因此,以下的具體描述并非限制性的,且本實用新型的范圍由所附的權(quán)利要求所限定。
      [0019]本實用新型的三維集成電路芯片的電源噪聲濾波方法包括:提供系統(tǒng)集成芯片310,所述系統(tǒng)集成芯片310包括電源網(wǎng)絡311;提供動態(tài)隨機存儲器芯片320,所述動態(tài)隨機存儲器芯片320包括電容單元321;將所述系統(tǒng)集成芯片310的所述電源網(wǎng)絡311的中間區(qū)域與所述動態(tài)隨機存儲器芯片320的所述電容單元321連通,所述電容單元321作為去親單元濾除所述電源網(wǎng)絡311上的電源噪聲。
      [0020]具體地,如圖3所示,提供系統(tǒng)集成芯片310,所述系統(tǒng)集成芯片310包括電源網(wǎng)絡311,該電源網(wǎng)絡311通過位于邊緣區(qū)域的焊盤312與外部電源(未示出)連通,從而將外部電源引入系統(tǒng)集成芯片310中;提供動態(tài)隨機存儲器芯片320,所述動態(tài)隨機存儲器芯片320包括電容單元321,由于動態(tài)隨機存儲器芯片320的特殊工藝,能夠在相同面積上制造比系統(tǒng)集成芯片310上大幾百倍的電容,一般來說,動態(tài)隨機存儲器芯片320上的電容單元321的電容值可以為系統(tǒng)集成芯片310上相同面積電容單元的電容值的100-1000倍,所以僅需利用動態(tài)隨機存儲器芯片320上很小的面積,就能提供較大的去耦電容;將所述系統(tǒng)集成芯片310的所述電源網(wǎng)絡311的中間區(qū)域與所述動態(tài)隨機存儲器芯片320的所述電容單元321連通,優(yōu)選通過硅通孔或微凸塊330連通,利用動態(tài)隨機存儲器芯片320上的電容單元321作為去耦單元,濾除系統(tǒng)集成芯片310的電源網(wǎng)絡311上的電源噪聲,改善系統(tǒng)集成芯片310中間區(qū)域的供電效果,提高電源網(wǎng)絡311的供電穩(wěn)定性和抗噪聲性能。
      [0021]這種方法在系統(tǒng)集成芯片310上僅需事先規(guī)劃好硅通孔或微凸塊330的位置,耗費系統(tǒng)集成芯片310的面積幾乎可以忽略不計,并且理論上可以在系統(tǒng)集成芯片310的電源網(wǎng)絡311中間區(qū)域的任何位置通過硅通孔或微凸塊330與動態(tài)隨機存儲器芯片320的電容單元321相連,僅需保證該區(qū)域不是動態(tài)隨機存儲器芯片320上的存儲單元所在位置即可。
      [0022]本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,根據(jù)實際需要,所述三維集成電路芯片可以包括多層系統(tǒng)集成芯片310和/或多層動態(tài)隨機存儲器芯片320,將其中一層系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡與其中一層動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元連通,利用該動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元作為去耦單元用于濾除系統(tǒng)集成芯片電源網(wǎng)絡上的電源噪聲。
      [0023]如圖3所示,本實用新型的三維集成電路芯片包括:系統(tǒng)集成芯片310,所述系統(tǒng)集成芯片310包括電源網(wǎng)絡311;動態(tài)隨機存儲器芯片320,所述動態(tài)隨機存儲器芯片320包括電容單元321;所述系統(tǒng)集成芯片310的所述電源網(wǎng)絡311的中間區(qū)域與所述動態(tài)隨機存儲器芯片320的所述電容單元321連通,所述電容單元321作為去耦單元用于濾除所述電源網(wǎng)絡311上的電源噪聲。
      [0024]優(yōu)選地,所述動態(tài)隨機存儲器芯片320的所述電容單元321的電容值為所述系統(tǒng)集成芯片310上相同面積電容單元的電容值的100-1000倍。
      [0025]優(yōu)選地,所述系統(tǒng)集成芯片310的所述電源網(wǎng)絡311與所述動態(tài)隨機存儲器芯片320的所述電容單元321通過硅通孔或微凸塊330連通。
      [0026]優(yōu)選地,所述三維集成電路芯片包括多層系統(tǒng)集成芯片310和/或多層動態(tài)隨機存儲器芯片320,其中一層系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡與其中一層動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元連通。
      [0027]優(yōu)選地,所述系統(tǒng)集成芯片310的所述電源網(wǎng)絡311通過位于邊緣區(qū)域的焊盤312與外部電源連通。
      [0028]本實用新型的三維集成電路芯片,通過將系統(tǒng)集成芯片的電源網(wǎng)絡中間區(qū)域與動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元連通,利用動態(tài)隨機存儲器芯片上的電容單元作為去耦單元,濾除系統(tǒng)集成芯片電源網(wǎng)絡上的電源噪聲,改善系統(tǒng)集成芯片中間區(qū)域的供電效果,提高電源網(wǎng)絡的供電穩(wěn)定性和抗噪聲性能。
      [0029]對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言,顯然本實用新型不限于上述示范性實施例的細節(jié),而且在不背離本實用新型的精神或基本特征的情況下,能夠以其他的具體形式實現(xiàn)本實用新型。因此,無論如何來看,均應將實施例看作是示范性的,而且是非限制性的。此外,明顯的,“包括”一詞不排除其他元素和步驟,并且措辭“一個”不排除復數(shù)。裝置權(quán)利要求中陳述的多個元件也可以由一個元件來實現(xiàn)。第一,第二等詞語用來表示名稱,而并不表示任何特定的順序。
      【主權(quán)項】
      1.一種三維集成電路芯片,其特征在于,包括: 系統(tǒng)集成芯片,所述系統(tǒng)集成芯片包括電源網(wǎng)絡; 動態(tài)隨機存儲器芯片,所述動態(tài)隨機存儲器芯片包括電容單元; 所述系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡的中間區(qū)域與所述動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元連通,所述電容單元作為去耦單元用于濾除所述電源網(wǎng)絡上的電源噪聲。2.如權(quán)利要求1所述的三維集成電路芯片,其特征在于,所述動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元的電容值為所述系統(tǒng)集成芯片上相同面積電容單元的電容值的100-1000倍。3.如權(quán)利要求1所述的三維集成電路芯片,其特征在于,所述系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡與所述動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元通過硅通孔或微凸塊連通。4.如權(quán)利要求1所述的三維集成電路芯片,其特征在于,包括多層系統(tǒng)集成芯片和/或多層動態(tài)隨機存儲器芯片,其中一層系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡與其中一層動態(tài)隨機存儲器芯片的所述電容單元連通。5.如權(quán)利要求1所述的三維集成電路芯片,其特征在于,所述系統(tǒng)集成芯片的所述電源網(wǎng)絡通過位于邊緣區(qū)域的焊盤與外部電源連通。
      【文檔編號】H01L27/108GK205542781SQ201620072706
      【公開日】2016年8月31日
      【申請日】2016年1月26日
      【發(fā)明人】俞大立, 方曉東
      【申請人】格科微電子(上海)有限公司
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