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      一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)的制作方法技術(shù)資料下載

      技術(shù)編號(hào):10421486

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      電阻率是評(píng)價(jià)電介質(zhì)材料的高低溫絕緣性能的一個(gè)重要指標(biāo),傳統(tǒng)的電阻率測(cè)試裝置多為在測(cè)試箱體兩側(cè)開(kāi)設(shè)導(dǎo)線孔,測(cè)試探針穿入導(dǎo)線孔內(nèi),對(duì)樣品的電阻率進(jìn)行測(cè)試,導(dǎo)線孔開(kāi)設(shè)較多時(shí),將會(huì)影響測(cè)試箱體的密封性,另外,在高溫環(huán)境下測(cè)量時(shí),由于導(dǎo)線的外層保護(hù)層的耐用溫度存在限制導(dǎo)致測(cè)試箱體內(nèi)的高溫環(huán)境測(cè)量的溫度存在制約,溫度不能過(guò)高,溫度過(guò)高將會(huì)使測(cè)試探針連接的導(dǎo)線燒毀,而且由于測(cè)試箱體的氣密性較差,測(cè)試探針的探頭在高溫環(huán)境下極易氧化,不僅大大縮減了測(cè)試探針的使用壽命,而且影...
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