技術(shù)編號：10620459
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。按，現(xiàn)今科技在不斷研發(fā)與創(chuàng)新下，以往必需由許多大型電子電路結(jié)合才能完成的工作已完全由集成電路(integrated circuit，簡稱IC)所取代，由于IC在生產(chǎn)過程中乃經(jīng)過多道的加工程序，因此為了確保產(chǎn)品品質(zhì)，業(yè)者于IC制作完成后，均會進(jìn)行電路測試作業(yè)，以檢測出IC于制作過程中，是否遭受損壞，進(jìn)而檢測出不良品。請參閱圖1，其是本申請人先前申請之中國臺灣發(fā)明第I 468329號電子元件拾料單元及其應(yīng)用的測試設(shè)備專利案，其測試設(shè)備系于機(jī)臺10上配置有供料裝...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。