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      一種基于虛像相位陣列的掃頻式光譜測量方法技術資料下載

      技術編號:10651278

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      光譜測量有兩個重要的參數(shù)光譜精細度和光譜測量密度。光譜精細度對應于選 用的光學濾波器的光譜帶寬。光譜測量密度即光譜測量間隔。 掃頻式光譜測量可以同時獲得高光譜精細度和高密度光譜采樣。例如,目前采用 法布里一泊羅(Fabry-P6rot)干涉儀作為光學濾波器,干涉儀輸出的單個干涉條紋帶寬就 是測量光譜精細度。通過調節(jié)法布里一珀羅干涉儀兩片反射鏡的間距,調整干涉條紋對應 的中心波長,進行多次測量,從而實現(xiàn)小于其自由光譜范圍的高密度光譜采樣。發(fā)明內容 本發(fā)明的...
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