技術(shù)編號：10684620
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 測量太赫茲波偏振的方法一般基于太赫茲波電光米樣或者光電導(dǎo)天線技術(shù)，太赫 茲波的偏振態(tài)可以通過旋轉(zhuǎn)太赫茲線柵起偏器，測量兩個正交方向的太赫茲波形而重建獲 得。作為這種方法的改進(jìn)，研究人員嘗試同時(shí)測量太赫茲偏振的正交分量。然而，隨著高功 率、超大帶寬太赫茲源的出現(xiàn)，基于固體探測器的傳統(tǒng)偏振探測技術(shù)由于有限的探測帶寬 和強(qiáng)度閾值已不再適合這些新穎的太赫茲源。 為了擴(kuò)展太赫茲波研究到更高的電場(超過lMV/cm)和超寬帶光譜(超過40THZ)， 亟需一種與高功率...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。