技術編號：11275143
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及微電子技術領域，特別是涉及一種SoC片上NBTI退化檢測系統(tǒng)。背景技術集成電路尤其是片上系統(tǒng)(SoC)可靠性受到高度關注，存在多種失效機理，例如熱載流子注入效應(HotCarrierInjection，HCI)、負偏置溫度不穩(wěn)定性(NegativeBiasTemperatureInstability，NBTI)、正偏置溫度不穩(wěn)定性(PositiveBiasTemperatureInstability，PBTI)、時間依賴電介質擊穿(TimeDependentDielectricBrea...
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